1.一种输出用于测试半导体器件的时钟信号的时钟转换器，所述时钟转换器包括：
时钟输入端，用于接收具有输入频率的输入时钟；
第一频率转换电路，用于接收输入时钟，并通过使用固定乘数增大输入频率来输出具有第一频率的第一转换时钟；
第二频率转换电路，用于接收输入时钟，并通过使用可变乘数增大输入频率来并输出具有大于第一频率的第二频率的第二转换时钟；和
选择电路，用于根据模式选择信号输出所述第一转换时钟或所述第二转换时钟。
2.根据权利要求1所述的时钟转换器，其中，所述输入时钟包括第一输入时钟和第二输入时钟，所述第一频率转换电路用于接收所述第一输入时钟和所述第二输入时钟，并且所述第二频率转换电路用于接收所述第一输入时钟。
3.如权利要求2所述的时钟转换器，还包括从所述时钟输入端分支到所述第一频率转换电路和所述第二频率转换电路的传输线，
其中所述第一频率转换电路和所述第二频率转换电路中的每一个都用于接收所述第一输入时钟。
4.根据权利要求2所述的时钟转换器，其中：
所述第一频率转换电路通过对所述第一输入时钟和所述第二输入时钟执行异或xor运算来输出所述第一转换时钟，并且
所述第二频率转换电路基于对分频时钟和第一输入时钟之间的相位差的检测来输出所述第二转换时钟，其中所述分频时钟是反馈的分频的所述第二转换时钟。
5.根据权利要求4所述的时钟转换器，其中：
所述第二频率转换电路包括多个压控振荡器，并且
所述第二频率转换电路基于振荡器选择信号从所述多个压控振荡器中的一个输出振荡信号。
6.如权利要求5所述的时钟转换器，其中所述振荡器选择信号激活所述多个压控振荡器中的一个，并且对其它压控振荡器去激活。
7.根据权利要求5所述的时钟转换器，其中，所述第二频率转换电路还包括振荡电压选择电路，并且
所述振荡电压选择电路基于所述振荡器选择信号选择从所述多个压控振荡器接收的振荡信号中的一个，并输出所选择的振荡信号和所选择的振荡信号的反相信号。
8.根据权利要求2所述的时钟转换器，其中：
所述第一频率转换电路输出反相的第一转换时钟，
所述第一转换时钟通过对所述第一输入时钟和所述第二输入时钟执行xor运算来获得，并且
所述反相的第一转换时钟具有与所述第一转换时钟反相的相位。
9.根据权利要求1所述的时钟转换器，其中，所述输入时钟包括第一输入时钟和第二输入时钟，并且所述第一转换时钟包括第一时间段和第二时间段，其中：
在所述第一时间段中，所述第一转换时钟是对所述第一输入时钟和具有与所述第一输入时钟差90度的相位的所述第二输入时钟执行了xor运算的时钟，并且
在所述第二时间段中，所述第一转换时钟包括具有低于所述输入频率和所述第一频率的频率的信号。
10.根据权利要求9所述的时钟转换器，其中：
所述第一时间段包括所述半导体器件用于执行写操作或读操作的频率，并且
所述第二时间段包括半导体器件用于执行初始化操作的频率。
11.根据权利要求1所述的时钟转换器，还包括输入端，其中所述输入端并联连接到所述时钟输入端和所述第一频率转换电路，并且所述输入端的阻抗匹配所述时钟转换器的输入阻抗。
12.根据权利要求1所述的时钟转换器，其中所述选择电路包括复用器和放大器，其中：
所述复用器经由所述复用器的输入端接收所述第一转换时钟和所述第二转换时钟，经由所述复用器的控制端接收所述模式选择信号，并将所述第一转换时钟或所述第二转换时钟输出到所述放大器，并且
所述放大器基于所述放大器的驱动电压放大并输出所述第一转换时钟或所述第二转换时钟。
13.一种被配置为测试半导体器件的半导体测试系统，所述半导体测试系统包括：
包括测试逻辑的自动测试装备ate，所述测试逻辑发送并接收用于测试所述半导体器件的数据，输出具有输入频率的输入时钟，并根据用于测试所述半导体器件的输出时钟的频带输出具有不同值的模式选择信号；以及
电连接到ate的插座板，所述插座板包括时钟转换器，
其中所述时钟转换器包括：
时钟输入端，用于接收输入时钟；
第一频率转换电路，用于接收所述输入时钟并输出具有大于所述输入频率的第一频率的第一转换时钟；
第二频率转换电路，用于接收所述输入时钟并输出具有大于所述第一频率的第二频率的第二转换时钟，以及
选择电路，用于根据所述模式选择信号向所述半导体器件输出基于所述第一转换时钟或所述第二转换时钟的所述输出时钟。
14.根据权利要求13所述的半导体测试系统，其中：
所述插座板包括多个插座芯片，并且
所述多个插座芯片中的至少一个在所述时钟转换器中。
15.根据权利要求14所述的半导体测试系统，其中所述插座板还包括多个时钟输入端，其中：
第一时钟输入端电连接到第一插座芯片中的所述时钟转换器的时钟输入端，并且
第二时钟输入端电连接到第二插座芯片中的所述时钟转换器的时钟输入端。
16.根据权利要求15所述的半导体测试系统，其中所述插座板的所述多个时钟输入端的数量与所述插座板的所述多个时钟输出端的数量相同。
17.如权利要求14所述的半导体测试系统，其中输入到所述插座板的信号被分支并且被输入到所述多个插座芯片，并且所述信号控制所述多个插座芯片中的至少一个中的所述时钟转换器。
18.根据权利要求13所述的半导体测试系统，其中：
所述输入时钟包括第一输入时钟和第二输入时钟，
所述第一频率转换电路接收所述第一输入时钟和所述第二输入时钟，并且
所述第二频率转换电路接收所述第一输入时钟。
19.根据权利要求18所述的半导体测试系统，其中：
所述第一频率转换电路通过对所述第一输入时钟和所述第二输入时钟执行异或xor运算来输出所述第一转换时钟，并且
所述第二频率转换电路基于对分频时钟和所述第一输入时钟之间相位差的检测来输出所述第二转换时钟，所述分频时钟是被反馈并被分频的所述第二转换时钟。
20.根据权利要求19所述的半导体测试系统，其中：
所述第二频率转换电路包括多个压控振荡器，并基于振荡器选择信号输出从所述多个压控振荡器中的一个输出的振荡信号。
21.一种转换用于测试半导体器件的时钟信号的方法，该方法包括：
接收具有输入频率的输入时钟；
通过将所述输入频率乘以固定乘数，产生具有大于所述输入频率的第一频率的第一转换时钟；
通过将所述输入频率乘以可变乘数，产生具有大于所述第一频率的第二频率的第二转换时钟；以及
根据模式选择信号输出所述第一转换时钟或所述第二转换时钟。
22.如权利要求21所述的方法，还包括：
当所述模式选择信号是第一值时，放大并输出所述第一转换时钟，以及
当所述模式选择信号是第二值时，放大并输出所选择的第二转换时钟。
23.如权利要求22所述的方法，放大包括：
接收最大驱动电压电平和驱动电压摆动电平；并且
将所述第一转换时钟或所述第二转换时钟放大到小于等于所述最大驱动电压电平并且大于等于通过从所述最大驱动电压电平减去所述驱动电压摆动电平而获得的电平。
24.如权利要求22所述的方法，其中产生所述第二转换时钟还包括：
接收振荡器选择信号；以及
基于所述振荡器选择信号选择具有不同频带的多个压控振荡器中的一个。
25.如权利要求24所述的方法，其中选择所述多个压控振荡器中的一个还包括：
基于所述振荡器选择信号激活所述多个压控振荡器中的压控振荡器；并且
输出从激活的压控振荡器输出的振荡信号和所述振荡信号的反相信号。