116]当表示失配的匹配/失配信号从所有比较器102_1至102_n中的每个被输入到计数器值比较电路204a时，计数器值比较电路204a比较从计数器103_1至103_n输入的计数器值，并且选择计数器值中的最小一个。
[0117]当表示失配的匹配/失配信号从所有比较器102_1至102_n中的每个被输入到计数器值比较电路204b时，计数器值比较电路204b比较从计数器103_1至103_n输入的计数器值，并且选择计数器值中的最大一个。如果在从计数器103_1至103_n输入的计数器值中存在表示O的计数器值，则计数器值比较电路204b选择表示O的计数器值。
[0118]而且，每个集合的计数器值比较电路204都将表示输入所选计数器值的计数器103」的编号N0.“I”的选择信号输出到寄存器数目生成电路105。
[0119]当“最大达到”信号从组A或B的计数器103」被输入到邻近地址生成电路206时，邻近地址生成电路206使用从相应组的寄存器101」输入的行地址，并且计算所使用的行地址的邻近地址。然后，邻近地址生成电路206将所计算的邻近行地址输出到刷新命令生成电路107。
[0120]在图9中所示的安装配置中的每个其他元件都类似于本发明的第一示例性实施例中的安装配置的示例中的相应元件配置。
[0121]此后描述如上配置的访问计数设备20的操作的特定示例。假设在开始以下特定操作时，没有行地址被存储在组A和B的寄存器101_1至101_n中的每个中。
[0122]首先，当行地址I至η被顺序地输入到访问计数设备20时，组A和B的寄存器101_2至101_η基本类似于本发明的第一示例性实施例中的特定示例的寄存器操作。从而，寄存器101_2至101_η分别存储行地址2至η。而且，组A和B的计数器103_2至103_η存储计数器值I。
[0123]然后，当行地址I至η中的任一个被顺序地输入到组A和B时，在访问计数设备20中，组A和B基本类似于本发明的第一示例性实施例中的特定示例操作。该操作使得计数器103_1至103_η中的每个都相加其计数器值。
[0124]接下来，假设除了行地址I至η之外的行地址_新被输入到访问计数设备20。
[0125]此时，在组A中，没有比较器102_1至102_η存储行地址_新。从而，比较器102_1至102_η中的每个都输出表示失配的匹配/失配信号。并且，计数器值比较电路204a比较从计数器103_1至103_11输入的计数器值，并且选择计数器值中的最小一个。假设计数器值比较电路204a选择具有最小计数器值的计数器103_xl (I彡xl彡η)。然后，寄存器数目生成电路105将启用信号输出到寄存器101_xl，并且还将重置信号输出到计数器103_xl。启用信号和重置信号的输出使得寄存器101_xl通过用行地址_新代替行地址xl，存储行地址_新(步骤S14)。而且，计数器103_xl基于从比较器102_xl输出并且表示匹配的匹配/失配信号，通过加1，将被重置为O的其计数器值设置为I。
[0126]而且，此时，在组B中，没有比较器102_1至102_η存储行地址_新。从而，比较器102_1至102_η中的每个都输出表示失配的匹配/失配信号。并且，计数器值比较电路204b比较从计数器103_1至103_11输入的计数器值，并且选择计数器值中的最大一个。假设计数器值比较电路204a选择具有最大计数器值的计数器103_x2(l < x2 < η)。然后，寄存器数目生成电路105将启用信号输出到寄存器101_χ2，并且还将重置信号输出到计数器103_χ2。启用信号的输出使得寄存器101_χ2通过用新地址_新代替行地址χ2，存储行地址_新(步骤S14)。而且，计数器103_χ2基于从比较器102_χ2输出并且表示匹配的匹配/失配信号，通过加I，将被重置为O的其计数器值设置为I。
[0127]重复以上操作。从而，组A和B中的每个的η个寄存器101都存储不同结合的相应一个的η个行地址。
[0128]而且，假设在组A中，计数器103_yl(l彡yl彡η)的计数器值达到访问可允许数目。然后，计数器103_yl将“最大达到”信号输出到寄存器数目生成电路105和邻近地址生成电路206。
[0129]因为“最大达到”信号从组A的计数器103_yl被输入到邻近地址生成电路206，邻近地址生成电路206计算从该组的寄存器101_yl输入的行地址的邻近行地址。然后，邻近地址生成电路206将所计算的邻近行地址输出到刷新命令生成电路107。
[0130]而且，刷新命令生成电路107生成对输入邻近行地址的刷新命令。
[0131]而且，因为“最大达到”信号从组A的计数器103_yl被输入到寄存器数目生成电路105，寄存器数目生成电路105将重置信号输出到该组的相应寄存器101_yl和相应计数器103_yl中的每个。该输出使得寄存器101_yl为空。而且，由于该输出，计数器103_yl的计数器值变为O。
[0132]从而，安装配置的示例和访问计数设备20的操作的特定示例的说明结束。
[0133]接下来，此后描述本发明的第二示例性实施例的有益效果。
[0134]被配置为本发明的第二示例性实施例的访问计数设备可以通过较小电路规模对对行地址的访问数目计数。从而，通过较小电路规模并且不增加功率消耗和降低访问性能，本示例性实施例可以增加在半导体存储器中检测对其的访问集中在刷新间隔内的行地址的准确度。
[0135]原因如下。换句话说，第二示例性实施例包括m个集合(m是等于或大于2的整数)行地址存储单元、计数器、行地址选择器、以及重置控制器的结合，其分别基本类似于本发明的第一示例性实施例的那些。而且，在存储器访问中指定的行地址被存储在每个集合的行地址存储单元中。而且，当访问发生时，每个集合的行地址选择器基于访问频率，选择η个行地址之一，其指定除了存储在该组的行地址存储单元中的η个行地址之外的新行地址。每组的行地址选择器应用不同于在其他组中使用的选择条件的选择条件，作为用于该选择的条件。密集访问检测器在每组中检测对其的访问频率达到访问可允许数目的行地址。
[0136]从而，甚至在行地址存储单元存储η个行地址(S卩，η个寄存器通过行地址被填充)的状态下，频繁地发生指定新行地址的访问的情况下，第二示例性实施例可以有效地对对具有集中对其访问的高可能性的每个行地址的访问频率计数。本示例性实施例可以通过比需要在访问计数设备中提供行地址的数目的计数器电路的电路规模小很多的电路规模实现该配置。
[0137]在本发明的第二示例性实施例中，主要描述了 m = 2的情况下的示例。然而，该示例不限制行地址存储单元、计数器、行地址选择器、以及重置控制器的结合的数目。
[0138]而且，在本发明的每个示例性实施例的操作的特定示例的以上说明中，描述了顺序地输入行地址I至η的示例。然而，在每个示例性实施例中输入的行地址的年月日顺序和生成频率不限于在该示例中描述的那些。
[0139]而且，在本发明的每个以上示例性实施例中，低频条件和高频条件已被举例说明为由行地址选择器应用的选择条件。然而，由行地址选择器应用的选择条件可以是用于基于访问频率选择η个行地址之一的其他条件。
[0140]而且，在本发明的每个以上示例性实施例中，主要描述了将刷新发布至由密集访问检测器检测的行地址的邻近行地址的示例。由每个示例性实施例的密集访问检测器执行的处理不限于此。每个示例性实施例的密集访问检测器可以基于所检测的行地址执行其他类型的处理。而且，每个示例性实施例都可以被配置成将所检测的行地址输出到半导体存储器中的对访问集中的行地址执行处理的其他单元。
[0141](第三示例性实施例)
[0142]接下来，此后参考图10描述根据本发明的第三示例性实施例的访问计数设备100。
[0143]图10是示出根据本发明的第三示例性实施例的访问计数设备的最小配置的示例的视图。在图10中，访问计数设备100包括行地址存储单元11、计数器12、以及重置控制器 104。
[0144]行地址存储单元11和计数器12分别类似于在本发明的第一和第二示例性实施例中描述的行地址存储单元11和计数器12配置。
[0145]重置控制器104通知行地址存储单元11用新行地址代替存储在行地址存储单元11中的η个行地址之一，或者丢弃这样的η个行地址之一。例如，重置控制器104选择作为访问计数的目标的重要程度可以被确定为低于其他行地址的重要程度的行地址，作为将由新行地址代替或将被丢弃的行地址。然后，重置控制器104通知计数器12重置对被代替或丢弃的行地址的访问频率。
[0146]通过这样的配置，根据本发明的第三示例性实施例的访问计数设备100不需要在计数器中提供行地址的数目的计数器电路。访问计数设备100仅需要在计数器中提供η个计数器电路。从而，访问计数设备100可以有效地对对η个地址中的作为访问计数的目标的其重要程度为高的行地址的访问数目计数。
[0147]从而，根据本发明的第三示例性实施例，可以通过较小电路规模对半导体存储器中的行地址的访问进行计数。
[0148]在本发明的每个以上示例性实施例中，访问计数设备可以在半导体存储器或CPU(中央处理单元)或半导体存储器控制器集成电路中实现。而且，访问计数设备的各自功能框