基板处理装置、液体原料补充系统、半导体装置的制造方法、程序与流程

文档序号:16808769发布日期:2019-02-10 13:21阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
抑制形成于基板的膜的面内均匀性的值发生偏差。具备:包含处理室的处理部;形成为包括具有凹部的底部和壁部,且储存液体原料的储存罐;将液体原料气化而生成原料气体的气化部;向处理室供给原料气体的供给部;探测储存于储存罐的液体原料的液面水平,并且具有配置于凹部的传感器元件的连续传感器;向储存罐补充液体原料的补充部;以及控制部,该控制部控制供给部,向处理室供给原料气体而进行处理基板的基板处理,并且每次进行预先决定的次数的基板处理时,基于连续传感器探测到的液体原料的液面水平,控制补充部,以储存于储存罐的液体原料的液面水平成为预先决定的水平的方式向储存罐补充液体原料。

技术研发人员:矶边纪之;寿崎健一;葛西健;河原喜隆;岛田真一
受保护的技术使用者:株式会社国际电气
技术研发日:2017.09.21
技术公布日:2019.02.05
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