一种有机发光二极管显示基板、检测电路及其隔离电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及有机显示技术领域，尤其涉及一种有机发光二极管显示基板、检测电路及其隔离电路。
【背景技术】
[0002]AMOLED(Active-Matrix Organic Light Emitting D1de，有源矩阵有机发光二极管)通常由有源阵列底板和OLED(Organic Light Emitting Display，有机发光二极管或有机发光显示器)两部分组成。0LED被誉为“梦幻显示器”。0LED显示技术与传统的IXD显示方式不同，无需背光灯，采用非常薄的有机材料涂层和玻璃基板，当有电流通过时，这些有机材料就会发光。其中，AMOLED所有的显示驱动电路和走线都包含在TFT (Thin FilmTransistor，薄膜晶体管)阵列部分中，0LED主要蒸镀有机显示材料。
[0003]在AMOLED的制造过程中，通常为了剔除前一工序的不良品，保证下一工序的产品不会因上一工序而产生浪费，在各工序之间都会有检测操作。而TFT阵列部分和0LED蒸镀部分为两个相对比较独立的部分，由此两者之间存在一个较为全面的阵列测试，用于剔除TFT阵列中的不良品，以免不良品流入0LED蒸镀工序，导致有机材料的浪费和时间成本的浪费；当TFT阵列检测通过后，产品将进入到0LED工序中进行蒸镀；蒸镀和封装完成后，再对产品进行大板(Mother Substrate)点亮检测。目前，大板点亮是指针对切割前的大板玻璃或有机发光二极管显示基板进行点亮，内部包含多个单片显示板，如4.5代线为730*920的单片显示面板；单片显示板是指切割后的显示面板，如手机显示屏为单片AMOLED显示屏。大板点亮检测的主要目的是对蒸镀均匀性和MASK(掩膜板)情况进行分析，用于调整前面的工艺。同时也可以快速检查存在严重问题的小片屏(Panel)。
[0004]TFT阵列测试和大板点亮测试对于AMOLED显示屏的制造都非常重要，但是，如果两种测试方式都需要进行的话，由于两个电路的部分信号在AMOLED显示屏内部是相连的，因此存在当一个电路打开时，另一个电路应当关闭，以避免发生漏电流或电路被打开的情况发生。
[0005]为了将两者的工作状态分离，使两个阶段的工作不会相互影响，传统的解决办法是:将阵列测试中的DE-MUX(分路器)开关信号通过引线引出到有机发光二极管(AMOLED)显示基板外围，与大板点亮测试采用相同的手段进行处理。当进行阵列测试时关闭大板点亮测试信号；当进行大板点亮测试时将阵列测试过程中的开关信号关闭，从而使大板点亮和阵列测试分离，实现两者工作状态之间的隔离。
[0006]该方法将引出大量引线，而且该部分引线随着显示器分辨率的不断提高其数量也会随之增加。为了尽量提高有机发光二极管显示基板利用率，通常希望小片屏Panel之间的空间越小越好，而有机发光二极管显示基板点亮测试需要各个小片屏之间的空间中设置多条测试导线，且由于点亮测试时整个大板同时点亮，导线的电流会很大而且负载较大，因此希望测试导线越宽越好，因此这部分空间非常关键。因此，若将阵列测试过程中的多条引线同样引出到有机发光二极管显示基板外围将降低显示板的空间利用率，限制显示屏点亮测试所需导线的线宽，即提高了引线的电阻，且增加了信号发生器的数量。
[0007]因此，现有的解决方案所引出的多条开关信号线需要占用小片屏之间的空间，既会减少整个有机发光二极管显示基板利用率又会使有机发光二极管显示基板点亮走线的线宽变小，同时还需要增加信号发生器的数量来提供开关信号。
【发明内容】
[0008]本发明所要解决的技术问题是，提供一种连接在有机发光二极管(AM0LED)显示基板的阵列测试电路与大板点亮检测电路之间的隔离电路，提高AM0LED显示基板利用率，减小AM0LED显示基板点亮走线电阻，减少信号发生器的数量、提高了稳定性，满足高分辨率的发展趋势。
[0009]为解决以上技术问题，一方面，本发明实施例提供一种隔离电路，连接在有机发光二极管显示基板的阵列测试电路与大板点亮检测电路之间，所述隔离电路包括多个薄膜晶体管；每个所述薄膜晶体管包括第一端口、第二端口和第三端口 ；每个所述薄膜晶体管的第一端口为栅极，并且各个所述第一端口共同连接作为控制信号端；各个所述薄膜晶体管的第二端口共同连接，作为关断电位信号端；每个所述薄膜晶体管的第三端口分别作为所述隔离电路的各个开关信号端；所述各个开关信号端用于连接所述有机发光二极管显示基板的阵列测试电路的DE-MUX开关信号。
[0010]在一种可实现的方式中，各个所述薄膜晶体管均为P型TFT晶体管；所述关断电位信号端用于在所述隔离电路工作时接入高电平信号。
[0011]在另一种可实现的方式中，各个所述薄膜晶体管均为N型TFT晶体管；所述关断电位信号端用于在所述隔离电路工作时接入低电平信号。
[0012]进一步地，所述第二端口为薄膜晶体管的源极，所述第三端口为薄膜晶体管的漏极；或者，所述第二端口为薄膜晶体管的漏极，所述第三端口为薄膜晶体管的源极。
[0013]另一方面，本发明实施例还提供了一种有机发光二极管(AM0LED)显示基板的检测电路，包括:阵列测试电路、大板点亮检测电路，以及，如上文任一项所述的隔离电路；所述隔离电路连接在所述阵列测试电路与所述大板点亮检测电路之间；所述大板点亮检测电路与基板上所有单片显示板的有效显示区域连接，用于检测有机发光二极管显示基板各区域的所有单片显示板(小片屏)颜色显示是否均匀，检测单片显示板颜色显示的均匀性，以判断0LED蒸镀的均匀性，测试所述有效显示区域是否正常工作；所述阵列测试电路用于检测有机发光二极管显示基板的薄膜晶体管阵列底板是否正常。
[0014]此外，本发明实施例还提供了一种有机发光二极管显示基板，包括至少一个显示片屏；所述显示片屏上设有如上文所述的有机发光二极管显示基板的检测电路，以及，有效显示区域；所述检测电路中的隔离电路包括第一隔离电路和第二隔离电路；所述检测电路中的大板点亮检测电路与所述有效显示区域连接，用于测试所述有效显示区域是否正常工作；所述第一隔离电路和所述第二隔离电路分别连接在阵列测试电路两侧，并且所述第一隔离电路与所第二隔离电路结构相同，并分别通过各自的多个开关信号端与所述阵列测试电路的DE-MUX开关信号连接；
[0015]所述第一隔离电路的控制信号端和所述第二隔离电路的控制信号端共同连接，用于通过接入外部控制信号，同步控制隔离电路中的各个薄膜晶体管的工作状态，从而连接或隔离所述阵列测试电路；
[0016]所述第一隔离电路的关断电位信号端和所述第二隔离电路的关断电位信号端共同连接，用于接入低电平信号或高电平信号，以控制第一隔离电路和第二隔离电路的工作状态。
[0017]进一步地，所述的有机发光二极管显示基板，包括多个所述显示片屏，形成行阵列的显示片屏；各个所述显示片屏中的两个隔离电路的控制信号端均共同连接；各个所述显示片屏中的两个隔离电路的关断电位信号端均共同连接。
[0018]进一步地，所述的有机发光二极管显示基板，包括多组的行阵列的显示片屏。
[0019]本发明实施例提供的技术方案，通过连接在有机发光二极管(AMOLED)显示基板的阵列测试电路与大板点亮检测电路之间的隔离电路，通过在将每个所述薄膜晶体管的栅极共同连接后引出整个电路的控制线，并在关断电位信号端通过不同的开关电压同步控制隔离电路上的所有薄膜晶体管的开关状态，从而实现在进行阵列测试时，可以通过控制信号端的输入信号控制隔离电路上的所有薄膜晶体管的处于截止状态而不工作；当进行AMOLED显示基板点亮测试时，通过控制信号端的输入信号控制隔离电路上的所有薄膜晶体管的处于导通状态而处于工作状态，各个薄膜晶体管的源漏极导通，从而将阵列测试电路与大板点亮测试电路隔离，因此，本发明提供的技术方案可以使得TFT阵列测试过程与大板点亮测