漏电保护装置的制作方法

本实用新型属于供电领域，尤其涉及一种具备过温保护功能的漏电保护装置。

背景技术：

目前，越来越多的家庭或工业用电器在各个领域中被采用。随着用电器的增加，用电器的安全越来越值得关注。随着用电器的使用，供电线往往存在线路老化损坏(譬如，电线外表皮损坏)的情形，当上述情形产生时，往往会造成供电线的局部短路，如此将会在用电器内产生大电流，进而在用电器中产生热量。当漏电保护装置中存在电路接触不良的情形时，也容易在内部产生热量，甚至是高温。当上述的热量积累到一定程度就会引起产品燃烧或是用电器的损坏。

因此，亟需一种具备过温保护功能的漏电保护装置。

技术实现要素：

针对因供电线老化或是其它异常情形而产生高温的问题，本实用新型提出了一种通过添加过温保护电路而实现漏电保护器，进而提升产品安全性。

本实用新型一方面提出了一种漏电保护装置，其包括：开关模块，其耦接在输入端和输出端之间，所述开关模块用于控制所述输入端和所述输出端之间的电力连接；开关驱动模块，其耦接至所述开关模块，以驱动所述开关模块在打开和闭合状态间转换；漏电流检测模块，其耦接至所述开关驱动模块，用于在漏电检测处检测漏电流；以及温度检测模块，其耦接至所述开关驱动模块并且至少部分地设置于温度检测处，其中，当所述漏电流检测模块检测到漏电流或所述温度检测处的温度大于等于温度阈值时，所述开关驱动模块驱动所述开关模块，以断开所述输入端和所述输出端之间的电力连接。

在一实施方式中，所述温度检测模块包括相互串联的第一分压部和第二分压部，其中，所述第二分压部耦接至所述开关驱动模块中的电流开关的控制极，从而控制所述电流开关是否导通。

在一实施方式中，所述第一分压部包括串联连接的温控开关和第一电阻，并且，所述第一分压部的第一端耦接至相线或所述开关驱动模块中的螺线管，第二端耦接至所述第二分压部。

在一实施方式中，所述第一分压部包括串联连接的二极管和第二电阻，所述第二分压部包括串联连接的温控开关和第三电阻。

在一实施方式中，所述漏电流检测模块包括屏蔽线，所述屏蔽线经由温控开关耦接至相线，并且经由第三电阻耦接至所述第二分压部。

在一实施方式中，所述电流开关为可控硅元件。

在一实施方式中，所述漏电保护装置还包括测试开关，所述测试开关连接在相线和所述漏电流检测模块之间，当所述测试开关闭合时，所述开关驱动模块驱动所述开关模块，以断开所述输入端和所述输出端之间的电力连接。

在一实施方式中，所述温控开关为常开或常闭开关。

在一实施方式中，所述温控开关位于所述输入端处、所述输出端处或所述输入端和所述输出端之间的壳体内，以满足应用时的不同需求。

本实用新型还提出了一种漏电保护装置，包括：开关模块，其耦接在输入端和输出端之间，所述开关模块用于控制所述输入端和所述输出端之间的电力连接；开关驱动模块，其耦接至所述开关模块，以驱动所述开关模块在打开和闭合状态间转换；漏电流检测模块，其耦接至所述开关驱动模块，用于在漏电检测处检测漏电流；以及温度检测模块，其耦接至所述开关驱动模块并且至少部分地设置于温度检测处，其中，所述温度检测模块包括相互串联的第一分压部和第二分压部，当所述漏电流检测模块检测到漏电流或所述温度检测处的温度大于等于温度阈值时，所述开关驱动模块驱动所述开关模块，以断开所述输入端和所述输出端之间的电力连接，其中，所述第一分压部包括串联连接的温控开关和第一电阻，并且，所述第一分压部的第一端直接耦接至相线或经由所述开关驱动模块中的螺线管耦接至相线，第二端耦接至所述第二分压部。

通过采用本实用新型的技术方案，漏电保护装置中增添了过温检测模块，使得漏电保护装置能够避免长时间工作在高温条件下，极大地提升了电路的安全性。

附图说明

参考附图示出并阐明实施例。这些附图用于阐明基本原理，从而仅仅示出了对于理解基本原理必要的方面。这些附图不是按比例的。在附图中，相同的附图标记表示相似的特征。

图1示出了根据本实用新型的漏电保护装置的架构示意图；

图2示出了根据本实用新型第一实施例的电路结构示意图；

图3示出了根据本实用新型第二实施例的电路结构示意图；

图4示出了根据本实用新型第三实施例的电路结构示意图；

图5示出了根据本实用新型第四实施例的电路结构示意图；

图6示出了根据本实用新型第五实施例的电路结构示意图。

具体实施方式

在以下优选的实施例的具体描述中，将参考构成本实用新型一部分的所附的附图。所附的附图通过示例的方式示出了能够实现本实用新型的特定的实施例。示例的实施例并不旨在穷尽根据本实用新型的所有实施例。可以理解，在不偏离本实用新型的范围的前提下，可以利用其他实施例，也可以进行结构性或者逻辑性的修改。因此，以下的具体描述并非限制性的，且本实用新型的范围由所附的权利要求所限定。

本实用新型的漏电保护装置包括开关模块13、开关驱动模块14、温度检测模块15、漏电流检测模块16以及用于容纳该些模块的绝缘性壳体。具体而言，开关模块13耦接在输入端11和输出端12之间，用于控制输入端 11和输出端12之间的电力连接。开关驱动模块14耦接至开关模块13，以驱动开关模块13在打开和闭合状态间转换。漏电流检测模块16耦接至开关驱动模块14，用于在漏电检测处检测漏电流。温度检测模块15耦接至开关驱动模块14并且至少部分地设置于温度检测处，用于根据温度检测处的温度进行操作。

当漏电流检测模块16检测到漏电流(譬如，大于等于电流阈值)时，漏电流检测模块16驱动与其耦接的开关驱动模块14进而断开输入端11与输出端12之间的电力连接，进而避免损坏用电器。当温度检测模块15检测到温度高于温度阈值时，温度检测模块15将驱动该开关驱动模块14，以使得开关驱动模块14驱动开关模块13断开输入端11与输出端12之间的连接。

通过设置温度检测电路，能够避免因供电线老化损坏或是接触不良而造成的高温，进而提升用电器的安全性。下面结合图1-6所示的实施例来具体阐述本实用新型的思想。

实施例1：

如图2所示，漏电保护装置100包括设置在输入端与输出端之间的复位开关、耦接到火线(L)和零线(N)的螺线管SOL以及温度检测电路 T1。在本实施例中，温度检测电路T1包括相互串联的第一分压部和第二分压部，其中，第二分压部耦接至开关驱动模块中的电流开关(即，可控硅 SCR)的控制极，从而控制可控硅SCR是否导通。参照图2，第一分压部包括串联连接的温控开关K1和第一电阻R1，并且第一分压部的第一端耦接至开关驱动模块中的螺线管SOL，第二端耦接至第二分压部。在本实施例中，第二分压部包括与电阻R1串联的电阻R2。

当电路正常工作室，图2中的复位开关为闭合状态，以实现输入至输出之间的供电通路。当螺线管SOL上产生较大的电流增量时，螺线管SOL 将产生足够的磁力以将复位开关从闭合位置磁吸到断开位置，从而断开输入至输出之间的供电通路。

温度检测电路T1或温控开关K1可以设置在如图2中的实线框所示的输入侧的N线处、漏电保护装置壳体内的特定位置或输出位置侧的N线处，从而感应所需检测处的实际温度。图2中的温度检测电路T1包括串联连接的温控开关K1和电阻R1，其中，温控开关K1为常开接点。当温控开关 K1检测到检测处的温度高于温度阈值时，温控开关K1将闭合。可控硅SCR 的控制极耦接至电阻R1和R2之间，温控开关K1通过螺线管SOL连接到 N线。

基于上述电路设置，对该电路的工作流程进行如下描述：

1)检测处温度正常

温控开关K1处于断开状态，可控硅SCR未导通，此时螺线管SOL中的电流未产生变化，输入端与输出端保持供电连通。

2)检测处温度过高

当检测处的温度达到预设值时，温控开关K1闭合，此时螺线管SOL、电阻R1、R2形成电流通路。如此，通过设置电阻R1、R2的电阻值，能够将使得电阻R2上的电压在可控硅SCR能承受的范围内，同时又能触发可控硅SCR导通。当可控硅SCR导通时，螺线管SOL上的电流线圈中将产生电流增量，该电流增量能够使得螺线管SOL产生足够的磁力以将复位开关断开，从而避免检测处的温度进一步升高。

由上可知，通过设置温度检测电路T1，能够及时将复位开关断开，从而提升了电路的安全性。

实施例2：

相较于图2中的实施例，图3中的漏电保护装置200包括了测试电路，该测试电路的一端连接到耦接L、N线之间的电阻MOV，测试电路的另一端经由电阻R3连接到电阻R1、R2之间的节点。屏蔽线设置于L、N线上，屏蔽线的外侧经由电阻R3连接到电阻R2。因此，当屏蔽线与L线或N线之间因线路老化或其它原因而存在漏电压时，屏蔽线与电阻R2、R3形成电流通路。

另外，如图3所示，第一分压部的第一端耦接至L线。温度检测电路 T1或温控开关K1可以设置在如图3所示的输入侧的L线处、漏电保护装置壳体内的特定位置或输出侧的L线处，从而感应所需检测处的实际温度。温度检测电路T1的一端连接到L线，另一端连接到R2，可控硅SCR的控制极耦接至电阻R1和R2之间。

基于上述电路设置，对该电路的工作流程进行如下描述：

1)测试过程

当需要检测电路是否具有漏电流检测功能时，可以闭合测试开关，从而L线与电阻R2、R3形成电流通路。通过设置电阻R2、R3的电阻值，可以使得电阻R2上的电压在可控硅SCR能承受的范围内，同时又能触发可控硅SCR导通。当可控硅SCR导通时，螺线管SOL上的电流线圈中将产生电流增量，该电流增量能够使得螺线管SOL产生足够的磁力以将复位开关断开，从而完成测试过程。

2)屏蔽线检测漏电流

当屏蔽线与L线之间因线路老化或其它原因而存在漏电压时，屏蔽线与电阻R2、R3形成电流通路，从而使得可控硅SCR导通。

3)检测处温度正常

温控开关K1处于断开状态，可控硅SCR未导通，此时螺线管SOL中的电流未产生变化，输入端与输出端保持供电连通。

4)检测处温度过高

当检测处的温度达到预设值时，温控开关K1闭合，此时L线、电阻 R1、R2形成电流通路。如此，通过设置电阻R1的电阻值，能够将使得电阻R2上的电压在可控硅SCR能承受的范围内，同时又能触发可控硅SCR 导通。

由上可知，虽然温度检测电路T1电连接的位置有变化，但仍能够响应于温度过高或存在漏电流时来使得可控硅SCR导通。

实施例3：

相较于图2，图4中的温度检测电路T2包括温控开关K1，并且开关 K1的一端与屏蔽线连接，另一端与电源火线连接。温度检测电路T2或温控开关K1可以设置在所需检测处，譬如由图4中实线框K1所示的输入侧的L线处、漏电保护装置壳体内的特定位置或输出侧的L线处。

当温度检测处的温度达到预设定值时，温控开关K1闭合，从而在屏蔽线与L线间产生泄漏电流，进而触发可控硅SCR导通，断开复位开关。可以理解的是，温度检测电路T2还可以包括与温控开关K1串联的电阻。

实施例4：

相较于图2，图5所示出的漏电保护装置400包括过温检测电路T3，其中，温控开关K2为常闭接点开关，并且温控开关K2的位置可以根据需要设置在相应位置，譬如由实线框K2所示出的位置。

在此实施例中，第一分压部包括串联连接的二极管D1和电阻R4，第二分压部包括串联连接的温控开关K2和电阻R5。如图5方框内所示，二极管D1的正极通过SOL与N线连接，二极管D1的负极与电阻R4串联后与可控硅SCR的控制极连接，温控开关K2一端与可控硅SCR的控制极连接，另一端与电阻R5串联后与可控硅SCR的阴极连接。

常温时，温控开关K2处于闭合状态，二极管D3保证了电阻R4中的电流单向流通。另外，当屏蔽线与L线或N线之间存在漏电流时，该漏电流将流经电阻R3以及电阻R2、R5。由于电阻R2与R5并联，因此，通过设置电阻R2-R5的阻值，可以使得在常温时，可控硅SCR不被导通，并且该漏电保护装置的漏电保护功能也能正常工作。检测处的温度升高且达到预设定值时，温控开关K2打开，如此，将使得可控硅SCR的控制极的电位升高，进而触发SCR导通，使得螺线管SOL上的线圈通电，进而断开复位开关。

实施例5：

相较于图5，图6中的二极管D1正极直接与L线连接。当温控开关 K2因检测处的温度升高而断开时，此时可控硅SCR的控制极的电压将等于电阻R2上的电压，即可控硅SCR的控制极的电位升高，进而触发SCR导通，使得螺线管SOL上的线圈通电，进而断开复位开关。

本实用新型通过在漏电保护装置中增添了过温检测电路，使得漏电保护装置能够避免长时间工作在高温条件下，极大地提升了电路的安全性。

因此，虽然参照特定的示例来描述了本实用新型，其中这些特定的示例仅仅旨在是示例性的，而不是对本实用新型进行限制，但对于本领域普通技术人员来说显而易见的是，在不脱离本实用新型的精神和保护范围的基础上，可以对所公开的实施例进行改变、增加或者删除。