固态成像器件、驱动固态成像器件的方法和拍摄装置的制作方法

专利名称：固态成像器件、驱动固态成像器件的方法和拍摄装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及固态成像器件、驱动固态成像器件的方法和拍摄装置。
背景技术：
在固态成像器件中，暗缺陷(dark defect)现象是个问题。公开了下面的技术作为避免暗缺陷现象的技术(例如，见JP-A-2004-248304(专利文献1))。
该技术是使用用于校正依靠检测电路的输出，执行差分处理的结果(event)的装置的技术。如图9所示，通常，在由用于光电转换的装置完成的光电转换中产生信号，该信号输入到放大器晶体管以输出信号Vs。信号Vs包含由光电转换所产生的信号和复位信号Vn。因此，当差分放大器读取信号Vs作为光电转换所产生的信号时，从信号Vs中减去噪声成分的复位信号Vn，以输出由光电转换所产生的信号作为信号Vs-Vn。
然后，当入射光量比B点处的入射光量强时，信号饱和，输出常数值。当强得多的光进入时，复位电平Vn改变了，使得信号Vs-Vn变小。这就成为暗缺陷现象。
更具体地，当非常强的光进入光电转换部分时，由于漏光，漏光噪声信号增加到在放大器晶体管输入部分的噪声成分的复位信号。在入射光量比C点强的区域中的状态下，差分放大器的输出Vs-Vn变小。当漏光噪声信号Vn饱和时，差分放大器信号的输出Vs-Vn变为零。这种状态意味着即使对确实明亮的被摄体成像，暗缺陷现象也会出现，其中图像变暗。
利用该特性以判断来自Vn变化的区域的光、以及来自Vs饱和的区域的光是否很强。这足够光检测电路判断信号是否在此校正。如图10中所示，当校正信号时，有一个方案，在该方案中在模拟-数字转换器电路A/D之前校正信号，而不执行差分处理。另外，如图11中所示，当读取存储模拟-数字转换器电路A/D的值的存储器时，有一个方案，在该方案中转换器电路校正信号，以输出该信号，转换器电路校正依靠亮度级检测电路的输出执行差分处理的结果。
在图10中所示的技术中，当检测到暗缺陷以在模拟-数字转换器电路A/D之前校正信号时，必须提供校正信号电路例如恒定电压电路，而不是检测电路，这导致作为暗缺陷校正电路配置的电路规模增加。
在图11中所示的技术中，必须提供中断进入存储器的校正信号的电路，这也导致电路规模的增加。在每条信号线内执行模拟-数字转换的电路系统中，该区域受到了极大影响。
在以前的任何技术中，为了检测暗缺陷，必须额外提供专门用于检测暗缺陷的亮度级检测电路。另外，因为必须在模拟信号路径中提供模拟读出(sense)检测电路，所以又出现模拟信号本身可能受到不利影响的问题。

发明内容
本发明处理与现有技术相关的上述问题以及其它问题，在现有技术中，因为必须额外提供专门用于检测暗缺陷的亮度级检测电路，所以电路配置是大规模的，并且因为必须在模拟信号路径中额外提供模拟读出检测电路，所以模拟信号本身可能受到不利影响。
期望通过额外提供不影响模拟信号的简单电路配置，来防止发生暗缺陷现象。
本发明的实施例是一种固态成像器件，包括按照列并行排列的模拟-数字转换器单元，该模拟-数字转换器单元具有多个像素，其被排列来转换入射光量为电信号，其中从像素获取的模拟信号被转换为数字信号；其中模拟-数字转换器单元配置有比较器，其可操作以比较列信号线的数值与参考线的数值，其中从列信号线输出由像素获取的模拟信号；计数器，其可操作以测量当由比较器所作的比较完成时的时间段，并且存储比较结果，其中固态成像器件还包括用于控制比较器输出的装置，其可操作以依靠比较器的输出来控制比较器的输出。
根据本发明的实施例，暗缺陷检测本身由比较器来执行，该比较器是按照列并行排列的模拟-数字转换器单元的组件，并且仅通过额外提供用于控制比较器输出的装置来防止暗缺陷现象，该装置可操作以依靠比较器的输出来控制比较器的输出。因此，与以前必须提供专门使用的检测电路的技术相比，具有电路配置简化的优势。另外，因为在模拟区域内不额外提供电路，所以还具有模拟信号不会受到不利影响的优势。


图1显示描绘本发明的实施例(第一实施例)的方框图；图2显示描绘单位像素的示例性电路配置的电路图；图3显示描绘比较器的示例性电路配置的电路图；图4显示描绘用于控制比较器输出的装置的示例性电路配置的电路图；图5显示描绘第一实施例的时序图；图6显示描绘本发明的实施例(第二实施例)的方框图；图7显示描绘第二实施例的时序图；图8显示描绘用于校正的装置的示例性电路配置的电路图；图9显示描绘用来描述暗缺陷现象的信号强度与入射光量之间的关系的图；图10显示描绘现有技术配置的方框图；图11显示描绘现有技术配置的方框图；以及图12显示描绘根据本发明实施例的拍摄装置的截面图。
具体实施例方式
将参照如图1中所示的方框图来描述本发明的实施例(第一实施例)。为了描述本发明的第一实施例，图1显示在其上面安装了列并行模拟/数字转换器单元的CMOS图像传感器。
如图1中所示，固态成像器件1具有多个按照矩阵二维排列的单位像素(以下简称像素)12，例如该固态成像器件1配置像素阵列11。例如，每个像素12在像素中配置有光电二极管和放大器。
列并行A/DC方块15(列并行模拟/数字转换单元)比较由数字-模拟转换单元(以下简写为DAC，DAC是数字-模拟转换器的简写)19产生的参考线RAMP的参考信号、和通过列信号线V0、V1等，从在每条行线H0、H1等的单位像素12获取的模拟信号，其中DAC19产生参考信号(参考电压)。例如，列并行A/DC方块15配置有比较器13，其为了每条列信号线V0、V1等排列提供；用于控制比较器输出的模块21，为了校正暗缺陷检测，其可操作以依靠比较器13的输出来比较器13的输出；以及计数器14，其可操作以计数比较的时间段，该模块具有n位(n是自然数)的数字信号转换功能。
水平输出线16配置有n位宽度(n是自然数)的输出线；以及n条读出电路(sense circuits)；以及n条输出电路，其中每条电路对应于输出线。另外，对于连续读取像素阵列11的信号的控制电路，安排时序控制电路20，其可操作以产生内部时钟；行扫描电路18，其可操作以控制行选址和行扫描；以及列扫描17，其可操作以控制列选址和列扫描。对于计数器14，为了对单位像素12的复位成分和信号成分的读取结果计算两次，可以单独提供计数器。另外，为了简化配置，加减计数器配置是理想的。更优选地，还提供可操作以存储计数结果的存储器模块，以允许由列并行A/DC方块15并行操作比较、计数和输出。
另外，水平输出线16配置有n位宽(n是自然数)的输出线、数量在此为n的传感电路和输出电路。每个输出线、传感电路和输出电路可以按n*m(m是自然数)并行排列，以加速输出。在传感电路和输出电路之间，放置并行-串行转换器电路或串行-并行转换器电路也是有效的，其中输出线和传感电路的数目为n*m，并且输出电路的数目为n*1(m≠1，1是自然数)。
图2显示了单位像素12的示例性电路配置。单位像素12配置有光电二极管31；传输晶体管32，其可操作，以将光电二极管31的电荷传输到浮动扩散层(floating diffusion layer)36；放大器晶体管34，其可操作以通过读取在Vx端提供的电流源和源级跟随器(source follower)，对浮动扩散层36的电荷进行信号放大；复位晶体管33，其可操作以重置浮动扩散层36的电荷；以及选择晶体管35，其可操作以将信号读取到Vx。在该示例性的配置中，所有晶体管都是N沟道晶体管。但是，也可实现其中部分或全部的晶体管都是P沟道晶体管的类似配置。另外，可实现以下配置不具有传输晶体管32的配置、由电源本身进行选择控制而不具有选择晶体管35的配置、由多个单位像素均分给定成分的配置等。
图3显示比较器13的示例性电路配置。比较器13配置有差分放大部分，其接收N沟道对晶体管43作为输入、以及形成有P沟道对晶体管41、以及自由偏置栅极以用作常电流源的N沟道晶体管45；P沟道晶体管，其用作连接输入N沟道晶体管43的漏极和栅极的开关晶体管42；以及电容44，其切断N沟道晶体管43的栅极DC电平以作为每个部分的输入。
在电容44中，一端连接到差分放大器的输入N沟道晶体管43，以及另一端连接到单位像素12的模拟输出Vx、或连接到来自DAC19的参考线RAMP。对于输入晶体管，可实现具有依靠输入值的P沟道晶体管的类似配置。另外，对于差分放大部分，可实现包括输出的侧向反转的配置。
图4显示用于比较器输出的控制模块21的示例性电路配置。控制模块21配置有锁存器51，其将比较器13的输出作为输入接收、并通过XRST信号初始化、以及通过SUNLAT信号锁存比较器13的输出；具有比较器13的输出在一个输入处以及锁存器51的输出在另一个输入处的NOR逻辑门52；以及反相器53，其接收NOR逻辑门52的输出，并将其输出到计数器14。依靠比较器13的输出，允许逻辑反转的类似配置。通过XRST信号进行的初始化是令NOR逻辑门52的输出为由比较器13所确定的输出。
在电路配置中，锁存器51提供在比较器13内，其中无论复位电平结束后比较器13的输出是否反相，锁存器51保持情形以依靠情形测量后续信号电平。形成电路配置，其中当正在测量信号电平时，能够对比较器13的输出为固定高电平或测量的信号电平进行切换。
接下来，将参考如图1中所示的方框图、如图2、3和4所示的电路图、以及如图5所示的时序图，描述在第一实施例中所讨论的固态成像器件1(CMOS图像传感器)的工作。
大概在当从给定的行Hx(H0、H1等等)的单位像素12中至列信号线V0、V1等的第一次稳定读取时，在由自动清零(以下简称AZ)信号产生的AZ以下动作中，由列信号线Vx的值与参考线RAMP的值对比较器13的工作点初始化。换句话说，当处于复位电平时，初始化比较器13以将参考线RAMP的值和列信号线Vx的值与0点相匹配。这意味着在如图3中所示的比较器的电路配置中，电容44切断DC成分，将去除DC成分的数值应用到与列信号线Vx和参考线RAMP相关的自动清零操作，因此将低于AZ信号的值存储在电容44中以匹配0点。
之后，为了避免由自动清零操作导致的初始变化，DAC19暂时对参考线RAMP的参考信号值增加少量偏移(offset)，输入参考信号数值随时间变化的阶梯波，并且比较器13将其与给定的列信号线Vx的电压相比较。在将阶梯波输入到参考线RAMP的基础上，计数器14进行第一次计数。
当参考线RAMP的电压与列信号线Vx的电压相等时，比较器13的输出反转，并且同时根据比较时间将计数数值存储在计数器14中。在第一次读取中，由单位像素12的选择(SEL)信号启动选择晶体管35，然后由复位(RST)信号启动复位晶体管33以读取复位成分ΔV。在复位成分ΔV中，包括对于每个单位像素12不同的噪声作为偏移。
但是，复位成分ΔV中的变化通常很小，并且所有像素中的复位成分ΔV的数值是相同的。因此，给定的列信号线Vx的输出几乎是已知的。此外，启动AZ信号，以通过在此时的列信号线Vx的值和参考线RAMP的值，初始化比较器13的工作点。因此，当第一次读取复位成分ΔV时，以使奇数次的比较时间段等于或短于偶数次的比较时间段的方式，调整参考线RAMP的参考电压，由此可大大缩短比较时间段。在第一实施例中，复位成分ΔV比较了7位(128个时钟)计数时段。在从第一次读取结束到第二次读取开始期间，启动SUNTAL信号，由此用于比较器输出的控制模块2 1在此时锁存比较器13的输出。
在第二次读取时，进行与第一次读取几乎相同的操作，其中传输晶体管32由TR信号启动，而选择晶体管35通过单位像素12的SEL信号保持在启动状态，，由此根据入射光量为每个单位像素12读取除复位成分ΔV之外的信号成分。换句话说，在当从给定行Hx至列信号线V0、V1等的单位像素12中第二次读取稳定之后，DAC19将参考信号(参考电压)随时间变化的阶梯波输入到参考线RAMP，并且比较器13将其与给定列信号线Vx的电压相比较。在将阶梯波输入到参考线RAMP的基础上，计数器14进行第二次计数。
当参考线RAMP的电压和列信号线Vx的电压相等时，反转比较器13的输出，并且同时在计数器14中，存储根据比较时间段的计数数值。这时，在第一次计数和第二次计数中，第一次计数是递减计数，相反第二次计数是递增计数，由此将(第二次的计数值)-(第一次的计数值)自动存储在计数器中。在第二次读取信号成分+复位成分ΔV中，因为必须在宽的信号范围内进行计数，所以在实施例中将信号成分+复位成分ΔV与12位(4096个时钟)的计数时段比较。
当模拟/数字转换(以下表示为A/D转换)的周期结束之后，列扫描电路17通过n条水平输出线16向外输出存储在计数器14中的n位数字信号。之后，对每行连续重复相似操作，并且产生了二维图像。
在上述操作中，在正常操作内，因为在第一次读取结束后反转了比较器13的输出，所以比较器13反转的输出通过SUNLAT信号，锁存在控制模块21内部的锁存器51内以用于比较器的输出。本来，NOR逻辑门52的输出被配置，以通过XRST信号，依靠比较器13的输出确定。因为在比较器13反转的输出锁存之后，NOR逻辑门52的输出连续依靠比较器13的输出决定，所以第二次读取将依靠比较器13的输出来确定。
通常情况下，当提供复位电平时，列信号线Vx的数值是常数。但是，当极度过强的光进入单位像素12的光电二极管31时，光电二极管31的电荷在第一次读取中有时泄漏到浮动扩散层36。当发生这种情况时，列信号线Vx的数值在第一次读取中突然下降(图5中的虚线)。当复位电平与自动清零(AZ)电平的比较结束时，该下降方式与参考信号的复位电平幅度的下降方式相比更大。当列信号线Vx的数值下降时，比较器13处于不可比较的状态。
通常，在当列信号线Vx的数值和参考线RAMP的参考信号数值，等于自动清零(AZ)电平时的时间点，反转比较器13的输出。但是，当(第二次的计数值)-(第一次的计数值)完成时，因为该差值很小，所以信号作为黑信号或接近黑信号输出，这导致暗缺陷现象。
当由于暗缺陷现象而高强度的光入射时，列信号线Vx的数值下降。这样，当下降方式变得特别大，并且变得比参考线RAMP的输出数值的幅度大得多时，不反转比较器13的输出，并且其保持在高电平状态。简而言之，是利用从AZ启动结束到在第一次读取中Vx下降的情况下，第一次计数的时间的第一次的下降量等于或大于RAMP的幅度时，比较器13的输出不反转的结果。换句话说，在这种情况下，在第一次读取结束后，当比较器13的未反转的输出通过SUNLAT信号，锁存在控制模块21内部的锁存器51内用于比较器的输出时，即使在用比较器保持的输出测量的随后的连续信号电平保持原样，直到启动XRST信号的时间，由于锁存器51的输出，NOR逻辑门52的输出固定在高电平。因此，复位电平和信号电平保持高电平状态。因此，第二次读取是处于计数器14一直都工作，用以不依靠比较器13输出的第二次计数数值的状态下。换句话说，计数完全是白状态(white state)。
这是根据能够产生该状态的本发明实施例的配置特性。实现该特性的电路是参照图4所描述的电路配置。因此，本发明的实施例是锁存模块，该锁存模块具有一个优点不提供用于检测暗缺陷现象的模块能够防止暗缺陷。
这里，读出的次数限于两次，通过等于或大于两次的偶数次实现类似的配置得到相同优点。换句话说，由于该比较是为了通过一次比较来检测的第一次读取(比较器的输出已测量)中的异常情况，用以控制而作的，所以必须做至少两次的比较。因此，必须作偶数次比较。在偶数次的读取中，奇数次的读取是在偶数次读取中，读取参考的模拟信号(复位成分)，并且偶数次的读取包含信号成分和复位成分。换句话说，在奇数次读取中读取复位成分以测量比较器13的输出、在偶数次读取中读取信号成分、然后控制比较器的输出的方式进行操作。
另外，在根据第一实施例的配置中计数器14可排列在每个像素列的端部。另外，可以部分地共享计数器，以排列在像素列的端部、或者排列在像素列的外部。
接下来，将参考图6所示的方框图描述本发明的实施例(第二实施例)。为了描述本发明的第二实施例，图6显示了CMOS图像传感器，在其上提供了列并行模拟/数字转换单元。另外，图7显示了描述本发明第二实施例的时序图。
根据第二实施例的固态成像器件2考虑到当更高强度的光进入时，垂直信号线Vx的数值在开始比较之前就完全下降的情况。在这种情况中，因为难以产生未反转比较器的输出的状态，所以可能无法使用第一实施例中所述的操作原理。然后，对于根据第二实施例的固态成像器件2，将校正列信号线Vx数值的校正模块22增加到第一实施例中。其它配置和操作与第一实施例的那些配置和操作类似，但是额外提供校正模块22，以使得即使在第一次读取中列信号线Vx的下降比率(drop rate)、和下降量很大也能够消除暗缺陷现象。
在第一实施例中，当列信号线Vx数值的下降量“从当AZ启动结束到第一次计数的时间，等于或大于第一次参考线RAMP的幅度”时，能够防止暗缺陷现象。换句话说，当列信号线Vx数值的下降量“从AZ启动结束到第一次计数的时间，等于或低于第一次参考线RAMP的幅度”时，不能防止暗缺陷现象。
例如，如图7所示，在列信号线Vx内，实线描绘正常时间，并且在该情况中，不发生暗缺陷现象。虚线描绘在第一次读取时列信号线Vx数值下降的情况。但是，该情况是“从AZ启动结束到第一次计数的时间，等于或大于第一次参考线RAMP幅度”的情况。因此，通过根据第一实施例的配置能够防止暗缺陷现象。另一条虚线表示列信号线Vx的下降比率大得多，并且当AZ启动结束时，列信号线Vx的数值完全下降的情况。该情况落入“从AZ启动结束到第一次计数的时间，等于或低于参考线第一次RAMP幅度”的情况。很难由根据第一实施例的配置来防止暗缺陷现象。
然后，在第二实施例中，校正列信号线Vx数值的校正模块22校正在AZ启动的期间快速地完全下降的列信号线Vx数值，由此产生了“从AZ启动结束到第一次计数的时间，等于或大于参考线RAMP的幅度”的情况，并且防止了暗缺陷现象。
换句话说，当列信号线Vx数值完全下降时，在输入箝位(clamp)(CLP)脉冲期间，列信号线Vx的数值暂时提高了，并且产生了与第一实施例类似的状态。更具体的，在测量复位电平的开始和结尾，产生了列信号线Vx以等于或大于参考线RAMP的参考信号的幅度运行的模拟状态。因此，在比较器13的异常输出电平能够保持，也就是说，保持在没有反转的高电平状态。假设能产生该状态，之后，与第一实施例类似，通过SANLAT信号锁存输出，并且将比较器13的输出固定在高电平，由此能够防止发生暗缺陷现象。
然后，图8显示描绘校正列信号线Vx数值的校正模块22的、示例性电路配置的电路图。
如图8中所示，校正模块22配置有驱动晶体管61，其可操作以在任何情况下，向列信号线Vx提供等于或大于第一次参考线RAMP幅度的值；以及箝位晶体管(clamp transistor)62，其可操作以仅在AZ期间控制列信号线Vx。为了在任何情况下向列信号线Vx提供等于或大于第一次参考线RAMP幅度的数值，必须将VSUN的数值变为具有(列信号线Vx的最小值)+(第一次参考线RAMP的幅度值)+(驱动晶体管61的阈值)+α。
在该配置中，当由来自箝位(CLP)的信号打开由箝位晶体管62形成的开关时，列信号线Vx连接到连接模拟电平VSUN的驱动晶体管61，由此能够防止暗缺陷现象。
在输入箝位(CLP)信号时，当以正常电平输出列信号线Vx的数值时，由于施加了反向偏置，所以VSUN的驱动晶体管61没有打开。另一方面，当列信号线Vx的输出数值下降、也就是说，其比VSUN的电平下降更多、其比驱动晶体管61的阈值电平下降更多时，驱动晶体管61打开以提高列信号线Vx的值。对于要提高的电平，提供模拟电平VSUN以等于或大于参考线RAMP的参考信号的幅度，由此产生类似第一实施例的状态，以形成比较器13的输出不反转的状态。
另外，在配置中，还可实现不使用箝位晶体管62就能开关VSUN和电源的配置。
在第二实施例中，额外提供模拟电路到模拟区域，但是其以操作程度(degree of the operation)和时间受限制的方式、和在可能不由根据第一实施例的电路防止暗缺陷的受限制区域内使用。因此，与之前的模拟检测和模拟校正相比，该模拟电路的运行几乎没有受到不利影响。
图12显示描绘根据本发明实施例的拍摄装置(camera，照相机/摄像机)的截面图。根据实施例的拍摄装置是能拍摄移动图像的示例性摄像机。
根据实施例的拍摄装置具有固态成像器件1或2、光学系统110、快门单元111、驱动电路112、和信号处理电路113。
光学系统110在固态成像器件1或2的成像区域上，对来自被摄体的光(入射光)形成图像。因此，信号电荷在固态成像器件1或2中存储预定的时间段。
快门单元111控制应用光的时间段、和阻挡光进入固态成像器件1的时间段。
驱动电路112提供驱动信号，以控制固态成像器件1或2的传输(transfer)操作、以及快门单元111的快门操作。固态成像器件1的电荷由从驱动电路112提供的驱动信号(定时信号)传输。信号处理电路113以各种方式执行信号处理。将已应用信号处理的视频信号存储在存储介质如存储器中，或者输出到监视器。
本领域的技术人员应该理解，根据设计需要和其它因素，可进行各种修改、组合、子组合和替换，只要它们在权利要求或其等效的范围内。
相关申请的交叉引用本发明包括的主题内容涉及于2006年3月6日向日本专利局提交的日本专利申请JP2006-059023，其全部内容通过引用包含于此。
权利要求
1.一种固态成像器件，包括按照列并行排列的模拟-数字转换器单元，该模拟-数字转换器单元具有多个像素，其被排列来转换入射光量为电信号，其中从像素获取的模拟信号被转换为数字信号，其中模拟-数字转换器单元配置有比较器，其可操作以比较列信号线的数值与参考线的数值，其中从列信号线输出由像素获取的模拟信号；以及计数器，其可操作以测量当由比较器所作的比较完成时的时间段，并且存储比较结果，其中固态成像器件还包括用于控制比较器输出的装置，其可操作以依靠比较器的输出来控制比较器的输出。
2.如权利要求1所述的固态成像器件，其中比较器对参考线的数值与垂直信号线的数值作偶数次比较，并且依靠在奇数次比较的比较器的输出，通过在偶数次的比较控制比较器的输出。
3.如权利要求2所述的固态成像器件，其中在奇数次的比较是将从像素获取的、要作为参考的模拟信号读取到列信号线，并且在偶数次的比较是将与从像素获取的、与入射光量相关的模拟信号读取到列信号线。
4.如权利要求3所述的固态成像器件，其中在奇数次的比较时间段等于或短于在偶数次的比较时间段。
5.如权利要求1所述的固态成像器件，其中用于控制比较器输出的装置依靠比较器的输出，将比较器的输出形成为固定值或比较结果输出值。
6.如权利要求2所述的固态成像器件，包括用于初始化的装置，其可操作以在做奇数次比较之前，通过列信号线和参考线的预定值初始化比较器的工作点。
7.如权利要求1所述的固态成像器件，包括用于校正的装置，其可操作以依靠列信号线的数值校正列信号线的数值。
8.如权利要求7所述的固态成像器件，其中校正装置检测列信号线数值的下降，并且校正等于或大于在奇数次的比较的参考线幅度的数值。
9.如权利要求8所述的固态成像器件，其中检测列信号线的数值的下降的范围，从列信号线可能采取的最小值，到对最小值增加了在奇数次比较的参考线幅度的数值。
10.如权利要求9所述的固态成像器件，其中依靠列信号线数值的校正，仅在比较器的工作点被初始化的期间内执行。
11.一种驱动固态成像器件的方法，该固态成像器件具有按照列并行排列的模拟-数字转换器单元，该模拟-数字转换器单元具有多个像素，其被排列来转换入射光量为电信号，其中从像素获取的模拟信号被转换为数字信号，该方法包括以下步骤通过比较器比较列信号线的数值与参考线的数值，其中从列信号线输出由像素获取的模拟信号；由计数器测量当由比较器所作的比较完成时的时间段，并且存储比较结果；以及依靠比较器的输出来控制比较器的输出。
12.一种拍摄装置，包括固态成像器件，其具有按照列并行排列的模拟-数字转换器单元，该模拟-数字转换器单元具有多个像素，其被排列来转换入射光量为电信号，其中从像素获取的模拟信号被转换为数字信号，其中模拟-数字转换器单元配置有比较器，其可操作以比较列信号线的数值与参考线的数值，其中从列信号线输出由像素获取的模拟信号；以及计数器，其可操作以测量当由比较器所作的比较完成时的时间段，并且存储比较结果，其中固态成像器件还包括用于控制比较器输出的装置，其可操作以依靠比较器的输出来控制比较器的输出。
13.一种固态成像器件，包括按照列并行排列的模拟-数字转换器单元，该模拟-数字转换器单元具有多个像素，其被排列来转换入射光量为电信号，其中从像素获取的模拟信号被转换为数字信号，其中模拟-数字转换器单元配置有比较器，其可操作以比较列信号线的数值与参考线的数值，其中从列信号线输出由像素获取的模拟信号；以及计数器，其可操作以测量当由比较器所作的比较完成时的时间段，并且存储比较结果，其中固态成像器件还包括用于控制比较器输出的模块，其可操作以依靠比较器的输出来控制比较器的输出。
14.一种拍摄装置，包括固态成像器件，具有按照列并行排列的模拟-数字转换器单元，该模拟-数字转换器单元具有多个像素，其被排列来转换入射光量为电信号，其中从像素获取的模拟信号被转换为数字信号，其中模拟-数字转换器单元配置有比较器，其可操作以比较列信号线的数值与参考线的数值，其中从列信号线输出由像素获取的模拟信号；计数器，其可操作以测量当由比较器所作的比较完成时的时间段，并且存储比较结果，其中固态成像器件还包括用于控制比较器输出的模块，其可操作以依靠比较器的输出来控制比较器的输出。
全文摘要
固态成像器件包括按照列并行排列的模拟－数字转换器单元，该模拟－数字转换器单元具有多个像素，其被排列来转换入射光量为电信号，其中从像素获取的模拟信号被转换数字信号，其中模拟－数字转换器单元配置有比较器，其可操作以比较列信号线的数值与参考线的数值，其中从列信号线输出由像素获取的模拟信号；以及计数器，其可操作以测量当由比较器所作的比较完成时的时间段，并且存储比较结果，其中固态成像器件还包括用于控制比较器输出的模块，其可操作以依靠比较器的输出来控制比较器的输出。
文档编号H04N5/374GK101083725SQ200710128879
公开日2007年12月5日 申请日期2007年3月6日 优先权日2006年3月6日
发明者村松良德, 天野清贵, 铃木敦史, 福岛范之 申请人:索尼株式会社