效地使在照度低且曝光时间长的拍摄中对画质带来较大的影响的白缺陷降低，能够获得高品质的图像。
[0106]固体摄像装置14在通常模式中，对于登记有位置信息44的指定像素，无论缺陷判定的结果如何，都优先实施映射缺陷校正。固体摄像装置14在指定像素以外的像素是对象像素且进行了该对象像素是缺陷的判定的情况下，实施动态缺陷校正。固体摄像装置14在通常的曝光时间的拍摄的情况下，实施与缺陷的数目的减少相比更重视析像感的缺陷校正。固体摄像装置14能够有效地抑制在通常的曝光时间下的拍摄中的析像感的降低，能够获得闻品质的图像。
[0107]由此，固体摄像装置14起到如下效果，即，对于延长曝光时间的情况和通常的曝光时间的情况这两方，都能够通过恰当的缺陷校正来获得高品质的图像。
[0108]缺陷校正电路28对于包含缺陷判定电路34以及选择器35的缺陷校正所用的构成，追加插补处理所用的水平插补部30和对水平插补部30输入地址信号47的线路。水平插补部30只要是具备小规模的信号延迟线作为信号延迟所用的构成的部件即可。通过水平插补部30的追加，与需要进行垂直方向上的插补处理所用的线存储器的增设的情况相t匕，缺陷校正电路28能够使被扩张的电路规模变小。因此，固体摄像装置14能够通过在缺陷校正电路28中应用水平插补部30来抑制由插补处理的追加引起的电路规模的增大。
[0109]例如，设为相对于按每个内核能够预先登记位置信息44的缺陷的数目被设定为2个、而在摄像机模块11的缺陷检查中确认出包含3个以上缺陷的像素块的存在。摄像机模块11能够通过适当选择该缺陷中的2个并登记位置信息44，来实现缺陷校正。通过本实施方式，即使是上述的摄像机模块11，也能够不直接作为不良品而作为良品进行处理。摄像机模块11通过能够放宽作为缺陷检查的通过基准的规格，从而能够提高成品率。
[0110]对本发明的几个实施方式进行了说明，但这些实施方式是作为例子而提示的，意图不在于限定发明的范围。这些新的实施方式能够以其他各种方式实施，能够在不脱离发明的主旨的范围内进行各种省略、置换、变更。这些实施方式及其变形包含于发明的范围、主旨，并且包含于权利要求书记载的发明及其等同的范围。
【主权项】
1.一种图像处理装置， 具有实施对图像信号的缺陷校正的缺陷校正电路， 所述缺陷校正电路具备: 缺陷判定部，对于位于排列了多个像素的像素块的中央的对象像素，实施缺陷判定，该缺陷判定使用包含于所述像素块的周边像素的像素值； 第一校正部，基于所述缺陷判定的结果，对于检测到缺陷的所述对象像素实施像素值的置换；以及 第二校正部，对于作为缺陷并被预先登记有位置信息的指定像素，实施像素值的插补处理， 在所述第二校正部实施了所述插补处理的情况下，所述缺陷判定部实施使用经所述插补处理后的像素值的所述缺陷判定。2.如权利要求1所述的图像处理装置， 所述第二校正部实施所述插补处理，该插补处理使用位于所述指定像素的水平方向的位置的像素的像素值。3.如权利要求1所述的图像处理装置， 在通过第一模式下的摄像而取得了所述图像信号的情况下，所述第二校正部使所述插补处理的实施停止， 在通过被设定了相对于所述第一模式的曝光时间而言较长的曝光时间的第二模式下的摄像而取得了所述图像信号的情况下，所述第二校正部实施所述插补处理。4.如权利要求3所述的图像处理装置， 在所述第一模式下，所述第一校正部对于所述指定像素实施像素值的置换。5.如权利要求4所述的图像处理装置， 所述缺陷校正电路具备地址信号生成部，该地址信号生成部根据所述位置信息而生成用于确定所述指定像素的地址信号， 在所述第一模式下，所述地址信号生成部向所述缺陷判定部输出所述地址信号， 在所述第二模式下，所述地址信号生成部向所述第二校正部输出所述地址信号。6.如权利要求1所述的图像处理装置， 所述缺陷校正电路具备保存部，该保存部保存被预先登记的所述位置信息， 所述保存部保存与包含于所述像素块的二个所述指定像素有关的所述位置信息。7.如权利要求2所述的图像处理装置， 在登记有与在所述水平方向上排列的二个所述指定像素有关的所述位置信息的情况下，所述第二校正部实施包含权重的所述插补处理，该权重与距所述指定像素的距离相应。8.—种固体摄像装置，具有: 摄像元件，对被拍体像进行摄像；以及 缺陷校正电路，实施对来自所述摄像元件的图像信号的缺陷校正， 所述缺陷校正电路具备: 缺陷判定部，对于位于排列了多个像素的像素块的中央的对象像素，实施缺陷判定，该缺陷判定使用包含于所述像素块的周边像素的像素值； 第一校正部，基于所述缺陷判定的结果，对于检测到缺陷的所述对象像素实施像素值的置换；以及 第二校正部，对于作为缺陷并被预先登记有位置信息的指定像素，实施像素值的插补处理， 在所述第二校正部实施了所述插补处理的情况下，所述缺陷判定部实施使用经所述插补处理后的像素值的所述缺陷判定。9.如权利要求8所述的固体摄像装置， 所述第二校正部实施所述插补处理，该插补处理使用位于所述指定像素的水平方向的位置的像素的像素值。10.如权利要求8所述的固体摄像装置， 所述摄像元件在第一模式、及被设定了相对于所述第一模式的曝光时间而言较长的曝光时间的第二模式下，对所述被拍体像进行摄像， 在所述第一模式下，所述第二校正部使所述插补处理的实施停止， 在所述第二模式下，所述第二校正部实施所述插补处理。11.如权利要求10所述的固体摄像装置， 在所述第一模式下，所述第一校正部对于所述指定像素实施像素值的置换。12.如权利要求11所述的固体摄像装置， 所述缺陷校正电路具备地址信号生成部，该地址信号生成部根据所述位置信息而生成用于确定所述指定像素的地址信号， 在所述第一模式下，所述地址信号生成部向所述缺陷判定部输出所述地址信号， 在所述第二模式下，所述地址信号生成部向所述第二校正部输出所述地址信号。13.如权利要求8所述的固体摄像装置， 所述缺陷校正电路具备保存部，该保存部保存被预先登记的所述位置信息， 所述保存部保存与包含于所述像素块的二个所述指定像素有关的所述位置信息。14.如权利要求9所述的固体摄像装置， 在登记有与在所述水平方向上排列的二个所述指定像素有关的所述位置信息的情况下，所述第二校正部实施包含与距所述指定像素的距离相应的权重的所述插补处理。15.一种图像处理装置， 具有实施对图像信号的缺陷校正的缺陷校正电路， 所述缺陷校正电路具备: 缺陷判定部，对于位于排列了多个像素的像素块的中央的对象像素，实施缺陷判定，该缺陷判定使用包含于所述像素块的周边像素的像素值； 第一校正部，基于所述缺陷判定的结果，对于检测到缺陷的所述对象像素实施像素值的置换；以及 第二校正部，对于作为缺陷并被预先登记有位置信息的指定像素，实施像素值的插补处理， 所述第二校正部实施所述插补处理，该插补处理使用位于所述指定像素的水平方向的位置的像素的像素值。16.如权利要求15所述的图像处理装置， 在登记有与在所述水平方向上排列的二个所述指定像素有关的所述位置信息的情况下，所述第二校正部实施包含与距所述指定像素的距离相应的权重的所述插补处理。17.如权利要求15所述的图像处理装置， 在通过第一模式下的摄像而取得了所述图像信号的情况下，所述第二校正部使所述插补处理的实施停止， 在通过被设定了相对于所述第一模式的曝光时间而言较长的曝光时间的第二模式下的摄像而取得了所述图像信号的情况下，所述第二校正部实施所述插补处理。18.如权利要求17所述的图像处理装置，在所述第一模式下，所述第一校正部对于所述指定像素实施像素值的置换。19.如权利要求18所述的图像处理装置， 所述缺陷校正电路具备地址信号生成部，该地址信号生成部根据所述位置信息而生成用于确定所述指定像素的地址信号，在所述第一模式下，所述地址信号生成部向所述缺陷判定部输出所述地址信号， 在所述第二模式下，所述地址信号生成部向所述第二校正部输出所述地址信号。20.如权利要求15所述的图像处理装置，所述缺陷校正电路具备保存部，该保存部保存被预先登记的所述位置信息， 所述保存部保存与包含于所述像素块的二个所述指定像素有关的所述位置信息。
【专利摘要】本发明提供通过恰当的缺陷校正而获得高品质的图像的固体摄像装置。固体摄像装置具有缺陷校正电路(28)。缺陷校正电路(28)具备作为缺陷判定部的缺陷判定电路(34)、作为第一校正部的选择器(35)及作为第二校正部的水平插补部(30)。缺陷判定部实施对于对象像素的缺陷判定。第一校正部基于缺陷判定的结果，对于被检测到缺陷的对象像素，实施像素值的置换。第二校正部对于指定像素，实施像素值的插补处理。指定像素作为缺陷是预先登记有位置信息(44)的像素。在第二校正部实施了插补处理的情况下，缺陷判定部实施使用经插补处理后的像素值的缺陷判定。
【IPC分类】H04N5/367, H04N5/378
【公开号】CN104917979
【申请号】CN201410347590
【发明人】立泽之康
【申请人】株式会社东芝
【公开日】2015年9月16日
【申请日】2014年7月21日
【公告号】US20150264285