阵列基板测试电路和阵列基板的制作方法

本发明涉及测试设备领域，特别是涉及一种阵列基板测试电路和阵列基板。

背景技术：

随着LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)显示技术的不断发展，LTPS(Low Temperature Poly-silicon，低温多晶硅技术)工艺面板被认为是目前全球高端应用市场最具发展前景的主流显示技术之一。但因LTPS工艺面板中的阵列制程复杂导致产品良率不高，出货需求缺口大。而阵列测试(Array Tester，缩写ATS)检查可以监控LTPS制程，反馈产线，达到不断提高良率之目的。所以大多产都会对产品进行ATS检查。

现有技术中ATS检查中主要采用全接脚探针(Full-Pin Contact Probing)方式进行。请参阅图1，现有技术中测试电路主要包括子像素31、源极信号源32、开关控制电路33和开关34。开关控制电路33控制开关34的导通，从而控制源极信号到达子像素31，从而进行测试。这种ATS测试电路的缺点在于，需要占用面板的边框空间，会影响产品设计架构。尤其对于窄边框产品的边框较小，因此无法放置测试所需要的测试电路，造成制程无法监控的现象。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供阵列基板测试电路，该测试电路的排布可以充分利用阵列基板的长度方向的空间，从而该测试电路可以适应窄边框阵列基板的设计要求。

本发明的另一目的在于提供采用上述测试电路的阵列基板。

为了实现上述目的，本发明实施方式提供如下技术方案：

本发明提供一种阵列基板测试电路，包括测试单元和多个切换控制单元，所述测试单元包括源极信号源、多个第一开关单元和与所述多个第一开关单元一一对应对应的多个子像素，每个所述子像素经一所述第一开关单元连接至所述源极信号源，所述源极信号源与所述多个切换控制单元沿第一方向排布，所述多个切换控制单元、所述多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制对应的第一开关单元导通，以使得源极信号传输至对应的所述子像素。

其中，所述测试单元的数量为多个，所述多个切换控制单元与每一所述测试单元中的多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制每一测试单元中对应的第一开关单元导通，以使得每一测试单元中的源极信号传输至对应的子像素。

其中，所述多个测试单元中的多个源极信号源沿所述第一方向依次排布。

其中，所述多个切换控制单元均匀分布于所述多个源极信号源中。

其中，所述阵列基板测试电路还包括开关电路，所述测试单元还包括第二开关单元，所述第二开关单元连接在所述源极信号源和所述第一开关单元之间，所述开关电路控制所述第二开关单元的导通，以使得源极信号传输至所述第一开关单元。

本发明还提供一种阵列基板，包括测试电路，所述测试电路包括测试单元和多个切换控制单元，所述测试单元包括源极信号源、多个第一开关单元和多个子像素，每个所述子像素经一所述第一开关单元连接至所述源极信号源，所述源极信号源与所述多个切换控制单元沿第一方向排布，所述多个切换控制单元、所述多个第一开关单元及所述多个子像素电极一一对应，所述切换控制单元控制对应的第一开关单元导通，以使得源极信号传输至对应的所述子像素。

其中，所述测试单元的数量为多个，所述多个切换控制单元与每一所述测试单元中的多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制每一测试单元中对应的第一开关单元导通，以使得每一测试单元中的源极信号传输至对应的子像素。

其中，所述多个测试单元中的多个源极信号源沿所述第一方向依次排布。

其中，所述多个切换控制单元均匀分布于所述多个源极信号源中。

其中，所述阵列基板测试电路还包括开关电路，所述测试单元还包括第二开关单元，所述第二开关单元连接在所述源极信号源和所述第一开关单元之间，所述开关电路控制所述第二开关单元的导通，以使得源极信号传输至所述第一开关单元。

本发明实施例具有如下优点或有益效果：

本发明的实施例中，源极信号源S、所述第一开关单元(Q1-Qn)和所述子像素依次连接，所述源极信号源S与所述多个切换控制单元(sw1-swn)沿第一方向排布，所述多个切换控制单元(sw1-swn)、所述多个第一开关单元(Q1-Qn)及所述多个子像素电极21一一对应，实现对子像素的测试，该测试电路的排布可以充分利用Array Test区域11的长度方向的空间，从而可以节省Array Test区域11宽度方向的空间，从而该测试电路可以适应窄边框阵列基板的设计要求。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术阵列基板测试电路结构示意图。

图2是本发明所述的阵列基板结构示意图。

图3是图2所述的阵列基板中的测试电路的一种结构示意图。

图4是图2所述的阵列基板中的测试电路的另一种结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

此外，以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明中所提到的方向用语，例如，“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“内”、“外”、“侧面”等，仅是参考附加图式的方向，因此，使用的方向用语是为了更好、更清楚地说明及理解本发明，而不是指示或暗指所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸地连接，或者一体地连接；可以是机械连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

此外，在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。若本说明书中出现“工序”的用语，其不仅是指独立的工序，在与其它工序无法明确区别时，只要能实现该工序所预期的作用则也包括在本用语中。另外，本说明书中用“～”表示的数值范围是指将“～”前后记载的数值分别作为最小值及最大值包括在内的范围。在附图中，结构相似或相同的用相同的标号表示。

请参阅图2。图2为本发明的阵列基板结构示意图。本发明的阵列基板包括：测试电路区域11(也即Array Test区域)、显示区域12(AA区)，GOA(Gate On Array)区域13、多路复用选择(Demux)区域14、扇出(Fanout)区域15、WOA(Wire On Array)区域16、驱动芯片(IC)区域17、柔性连接器(FPC)区域18。其中，Array Test区域11用于在阵列(Array)基板制作完成之后，对Array基板的电性进行测试，本发明的阵列基板测试电路除子像素外都位于Array Test区域11；AA区12包括多个像素单元，每个像素单元包括红色子像素、蓝色子像素、绿色子像素，AA区用于像素的显示；GOA区域13，用于产生显示区域内的TFT的栅极驱动信号；Fanout区域15，用于实现IC与AA区的数据线之间的走线连接；Demux区域14，用于将从IC侧引出的输出端进行拆分，以实现多条Dataline的驱动；WOA区域16，用于面板周围走线的连接；IC区域17，用于IC的粘合(Bonding)，该驱动芯片用于提供AA区域的数据信号；FPC区域18，用于FPC的Bonding，通过FPC连接电路板。其中测试电路区域11通过连接线与IC区域17连接，以向测试电路提供测试控制信号(ATEN)，具体地，在测试电路工作时，测试控制信号为高电平，当测试电路测试完成之后，测试控制信号为低电平，也即将测试电路关闭，防止测试电路对于AA区显示影响。

请结合参阅图3。图3是图2所述的阵列基板中的测试电路的一种结构示意图。本发明的阵列基板测试电路包括测试单元20和多个切换控制单元(即图3中的sw1-swn)。具体的，所述测试单元20包括源极信号源S、多个第一开关单元(即图2中的Q1-Qn)和多个子像素21。每个所述子像素21经一所述第一开关单元连接至所述源极信号源S，所述源极信号源S用于提供测试所需的源极信号。所述源极信号源S、所述第一开关单元(Q1-Qn)和所述子像素21大致沿第二方向的趋势(即图1和图2中的Y方向)依次连接。可以理解的是，所述第二方向大致为所述Array Test区域11的宽度方向。所述源极信号源S与所述多个切换控制单元(Q1-Qn)沿第一方向(即图1和图2中的X方向)排布。可以理解的是，所述第一方向大致为所述Array Test区域11的长度方向。所述多个切换控制单元(sw1-swn)、所述多个第一开关单元(Q1-Qn)及所述多个子像素电极21一一对应，每个切换控制单元控制一个第一开关单元的导通或断开，从而控制源极信号源S发出的信号是否到达对应的子像素，完成子像素的测试过程。

可以理解的是，在其他实施方式中，所述第一方向X还可以为其他不与第二方向Y平行的方向。

可以理解的是，上文中n可以为1、2、3、4、5……

本实施方式中，源极信号源S、所述第一开关单元(Q1-Qn)和所述子像素21大致沿第二方向趋势依次连接；所述源极信号源S与所述多个切换控制单元(sw1-swn)沿第一方向(即图1和图2中的X方向)排布，所述多个切换控制单元(sw1-swn)、所述多个第一开关单元(Q1-Qn)及所述多个子像素电极21一一对应，实现对子像素的测试，该测试电路的排布可以充分利用Array Test区域11的长度方向的空间，从而可以减少占用Array Test区域11宽度方向的空间，从而该测试电路可以适应窄边框阵列基板的设计要求。

请参阅图4。图4是图2所述的阵列基板中的测试电路的另一种结构示意图。在本实施方式中，所述测试单元20的数量为多个。可以理解的是，本实施方式中的测试单元20及切换控制单元与上一实施方式的测试单元结构大致相同，此处不再赘述。需要说明的是，本实施方式中为了方便表示，每个测试单元中包括6个第一开关单元(即Q1-Q6)及6个子像素。相应的，本实施方式中，切换控制单元的数量也为6个(即sw1-sw6)。在其他实施方式中，第一开关单元及子像素的数量还可以为1、2、3、4、5、7、8、9……此处不以为限。

本实施方式中，切换控制单元sw1控制每一测试单元20中第一开关单元Q1的状态(导通/断开)，也就是说控制单元sw1同时控制多个第一开关单元Q1的状态；切换控制单元sw2控制每一测试单元20中第一开关单元Q2的状态(导通/断开)，也就是说切换控制单元sw1同时控制多个第一开关单元Q1的状态；依此类推，切换控制单元sw6控制每一测试单元20中第一开关单元Q6的状态(导通/断开)。换而言之，所述多个切换控制单元与每一所述测试单元20中的多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制每一测试单元20中对应的第一开关单元导通，以使得每一测试单元中的源极信号传输至对应的子像素。

本发明一种可能的实现方式中，所述多个测试单元20沿第一方向X排布，从而减小测试电路占用的Array Test区域11宽度方向(及第二方向Y)的空间。优选的，所述多个源极信号源S沿所述第一方向X依次排布。

可以理解的是，所述多个测试单元20及所述多个切换控制单元均沿所述第一方向X排布。优选的，所述多个切换控制单元均匀分布于所述多个源极信号源S中。通常来说，在阵列基板测试电路中，测试单元20的数量远大于切换控制单元的数量。因此，可以将多个切换控制单元均匀分布于多个测试单元20之间。具体的，多个测试单元20可以沿所述第一方向X依次排布呈一条直线。换而言之，所述多个源极信号源S沿所述第一方向排列呈直线，所述多个切换控制单元穿插在多个源极信号源S形成的直线中，相邻两个切换控制单元之间间隔相同数量的测试单元20(源极信号源S)。将多个切换控制单元穿插设置于多个测试单元20之间，使得切换控制单元与第一开关单元间的连线可以穿插分布在源极信号源的走线中，使得布线更加紧凑，减小了对Array Test区域11空间的占用，特别是宽度方向的空间。此外，将所述多个切换控制单元均匀分布于所述多个源极信号源S中，是为了尽量使得切换控制单元与测试单元20的平均距离大致相同，避免多个切换控制单元过度集中，造成部分位置的测试单元接收到的切换信号延时，影响测试结果的准确性。

本发明一种可能的实现方式中，所述阵列基板测试电路还包括开关电路(图未示出)，所述测试单元还包括第二开关单元22，所述第二开关单元22连接在所述源极信号源S和所述第一开关单元之间，所述开关电路控制所述第二开关单元22的导通，以使得源极信号传输至所述第一开关单元。从而控制源极信号的通断。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述的实施方式，并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在该技术方案的保护范围之内。