一种光学集成芯片与光纤组件的自动耦合方法及系统的制作方法_4

文档序号:9563681阅读:来源:国知局
实际参数值,具体包括:
[0118] 在固定所述实际位置参数的至少一个自由度的情况下,获取所述光纤组件与待对 准光学集成芯片的多组实际参数值。
[0119] 在其中一个实施例中:
[0120] 所述自由度包括:横向位错、坚向位错、纵向间距、俯仰角度、横摆角度和旋转角 度。
[0121] 在其中一个实施例中:
[0122] 所述获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片的多组实际参数值,具体包括:
[0123] 固定所述光纤组件与所述待对准光学集成芯片的纵向间距、俯仰角度、横摆角度 和旋转角度;
[0124] 获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片在不同的横向位错和坚向位错组合下 的多组实际参数值。
[0125] 在其中一个实施例中,所述获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片在多个横向 位错和坚向位错组合下的多组实际参数值,具体包括:
[0126] 通过栅格扫描法获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片在不同的横向位错和 坚向位错组合下的多组实际参数值。
[0127] 以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并 不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员 来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保 护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1. 一种光学集成芯片与光纤组件的自动耦合方法,其特征在于,包括: 构建包括输入层、隐层和输出层的神经网络; 预先获取所述光纤组件与多个样本光学集成芯片进行对准的多组样本参数值,每组所 述样本参数值包括所述光纤组件的样本位置参数,以及所述光纤组件在所述样本位置参数 下与所述样本光学集成芯片的耦合功率,所述样本位置参数包括至少一个自由度; 以多组所述样本参数值训练所述神经网络,每组所述样本参数值作为训练所述神经网 络的一个训练样本; 获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片的多组实际参数值,每组所述实际参数值作 为所述神经网络输入层的一个输入量输入所述神经网络,从所述神经网络输出层得到一个 包括一组输出参数的输出量,每组所述实际参数值包括所述光纤组件的实际位置参数,以 及所述光纤组件在所述实际位置参数下与所述待对准光学集成芯片的耦合功率,所述实际 位置参数具有与所述样本位置参数相同数量的自由度,所述输出参数包括:通过所述神经 网络得到的最大耦合功率,以及与所述最大耦合功率对应的待移动位置参数,所述待移动 位置参数具有与所述样本位置参数相同数量的自由度; 根据所述待移动位置参数调整所述光纤组件相对所述光学集成芯片的位置。2. 根据权利要求1所述的光学集成芯片与光纤组件的自动耦合方法,其特征在于: 所述样本位置参数包括多个自由度; 所述获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片的多组实际参数值,具体包括: 在固定所述实际位置参数的至少一个自由度的情况下,获取所述光纤组件与待对准光 学集成芯片的多组实际参数值。3. 根据权利要求1所述的光学集成芯片与光纤组件的自动耦合方法,其特征在于: 所述自由度包括:横向位错、坚向位错、纵向间距、俯仰角度、横摆角度和旋转角度。4. 根据权利要求3所述的光学集成芯片与光纤组件的自动耦合方法,其特征在于: 所述获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片的多组实际参数值,具体包括: 固定所述光纤组件与所述待对准光学集成芯片的纵向间距、俯仰角度、横摆角度和旋 转角度; 获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片在不同的横向位错和坚向位错组合下的多 组实际参数值。5. 根据权利要求4所述的光学集成芯片与光纤组件的自动耦合方法,其特征在于,所 述获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片在多个横向位错和坚向位错组合下的多组实 际参数值,具体包括: 通过栅格扫描法获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片在不同的横向位错和坚向 位错组合下的多组实际参数值。6. -种光学集成芯片与光纤组件的自动耦合系统,其特征在于,包括: 神经网络构建模块,用于构建包括输入层、隐层和输出层的神经网络; 样本获取模块,用于预先获取所述光纤组件与多个样本光学集成芯片进行对准的多组 样本参数值,每组所述样本参数值包括所述光纤组件的样本位置参数,以及所述光纤组件 在所述样本位置参数下与所述样本光学集成芯片的耦合功率,所述样本位置参数包括至少 一个自由度; 训练模块,用于以多组所述样本参数值训练所述神经网络,每组所述样本参数值作为 训练所述神经网络的一个训练样本; 输出量获取模块,用于获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片的多组实际参数值, 每组所述实际参数值作为所述神经网络输入层的一个输入量输入所述神经网络,从所述神 经网络输出层得到一个包括一组输出参数的输出量,每组所述实际参数值包括所述光纤组 件的实际位置参数,以及所述光纤组件在所述实际位置参数下与所述待对准光学集成芯片 的耦合功率,所述实际位置参数具有与所述样本位置参数相同数量的自由度,所述输出参 数包括:通过所述神经网络得到的最大耦合功率,以及与所述最大耦合功率对应的待移动 位置参数,所述待移动位置参数具有与所述样本位置参数相同数量的自由度; 光纤组件移动模块,根据所述待移动位置参数调整所述光纤组件相对所述光学集成芯 片的位置。7. 根据权利要求6所述的光学集成芯片与光纤组件的自动耦合系统,其特征在于: 所述样本位置参数包括多个自由度; 所述获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片的多组实际参数值,具体包括: 在固定所述实际位置参数的至少一个自由度的情况下,获取所述光纤组件与待对准光 学集成芯片的多组实际参数值。8. 根据权利要求6所述的光学集成芯片与光纤组件的自动耦合系统,其特征在于: 所述自由度包括:横向位错、坚向位错、纵向间距、俯仰角度、横摆角度和旋转角度。9. 根据权利要求8所述的光学集成芯片与光纤组件的自动耦合系统,其特征在于: 所述获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片的多组实际参数值,具体包括: 固定所述光纤组件与所述待对准光学集成芯片的纵向间距、俯仰角度、横摆角度和旋 转角度; 获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片在不同的横向位错和坚向位错组合下的多 组实际参数值。10. 根据权利要求9所述的光学集成芯片与光纤组件的自动耦合系统,其特征在于,所 述获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片在多个横向位错和坚向位错组合下的多组实 际参数值,具体包括: 通过栅格扫描法获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片在不同的横向位错和坚向 位错组合下的多组实际参数值。
【专利摘要】本发明公开一种光学集成芯片与光纤组件的自动耦合方法及系统,方法包括:构建包括输入层、隐层和输出层的神经网络;预先获取所述光纤组件与多个样本光学集成芯片进行对准的多组样本参数值;以多组所述样本参数值训练所述神经网络;获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片的多组实际参数值,每组所述实际参数值作为所述神经网络输入层的一个输入量输入所述神经网络,从所述神经网络输出层得到一个包括一组输出参数的输出量;根据所述待移动位置参数调整所述光纤组件相对所述光学集成芯片的位置。本发明具有对准时间短、耦合效率高、重复性好、应用广泛等优点,有效地克服了传统的爬山算法搜索定位时间长,容易陷入局部极值的缺点。
【IPC分类】G02B6/42
【公开号】CN105319655
【申请号】CN201410306812
【发明人】刘银, 刘铁权, 徐辉
【申请人】北京世维通科技发展有限公司
【公开日】2016年2月10日
【申请日】2014年6月30日
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