一种非晶带厚度测量装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种非晶带厚度测量装置。现有技术中很难在非晶带生产时对非晶带的厚度进行测量。本实用新型提供一种非晶带厚度测量装置，包括机架，其特征在于：还包括张力辊、厚度测量装置和调节装置，机架上设置有转轴，张力辊套装在转轴上，张力辊的数量为两组，这两组张力辊平行设置，调节装置包括一号升降电机、升降架、固定架和一号丝杆，厚度测量装置固定在升降架上，厚度测量装置位于张力辊的上方，一号升降电机固定在固定架上，固定架固定在机架上，一号升降电机与一号丝杆连接，升降架配合在丝杆上且由一号丝杆控制其升降。本实用新型结构简单，设计合理；使用简单，可在线测量，可根据不同的需求进行调整。
【专利说明】一种非晶带厚度测量装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种非晶带厚度测量装置，用于在线监测非晶带的厚度。
【背景技术】
[0002]非晶喷带机是将熔体通过快速冷却形成厚度很薄的非晶带。非晶带材的厚度、厚度均匀性对其性能有决定性的影响，因此需要准确测量和严格控制。现有技术中很难在非晶带生产时对非晶带的厚度进行测量，因而无法将非晶带的厚度信息反馈给非晶喷带机，从而及时的进行调整，因此可能生产处品质不合格的非晶带，造成浪费。如果要队非晶带进行在线的监测，还需要解决以下的问题:1、需要将待测量的非晶带铺平，然后进行测量；2、需要防止张力辊损坏非晶带材；2、厚度测量装置需要根据不同的非晶带的规格进行调整。
[0003]综上所述，现有的非晶带的厚度测量机构很难进行在线的测量，无法及时将非晶带的厚度信息反馈给非晶喷带机。
实用新型内容
[0004]本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的上述不足，而提供一种结构设计合理，使用简单，可在线测量，可根据不同的需求进行调整的非晶带厚度测量装置。
[0005]本实用新型解决上述问题所采用的技术方案是:该非晶带厚度测量装置包括机架，其特征在于:还包括张力辊、用于测试非晶带厚度的厚度测量装置和用于调节厚度测量装置的调节装置，所述机架上设置有转轴，所述张力辊套装在转轴上，所述张力辊的数量为两组，这两组张力辊平行设置，所述调节装置包括一号升降电机、升降架、固定架和一号丝杆，所述厚度测量装置固定在升降架上，所述厚度测量装置位于张力辊的上方，所述一号升降电机固定在固定架上，所述固定架固定在机架上，所述一号升降电机与一号丝杆连接，所述升降架配合在丝杆上且由一号丝杆控制其升降。使用时，该非晶带厚度测量装置设置在非晶喷带机与卷带机之间，通过厚度测量装置检测其到非晶带材表面的距离变化，从而确定非晶带材的厚度，可保证非晶带材的质量，如在厚度上有质量问题，可及时发现，便于进行调整，调节装置用于调节厚度测量装置的高度，使之与张力辊的位置匹配。
[0006]本实用新型所述调节装置还包括一号滑块和一号导轨，所述一号导轨固定在固定架上，所述一号滑块固定在升降架上，所述一号滑块和一号导轨匹配。升降架可沿一号导轨进行上下移动，其移动更加平稳。
[0007]本实用新型所述一号导轨与张力辊垂直设置。厚度测量装置可相对非晶带表面在垂直方向上进行升降。
[0008]本实用新型与现有技术相比，具有以下优点和效果:结构简单，设计合理；使用时，该非晶带厚度测量装置设置在非晶喷带机与卷带机之间，通过厚度测量装置检测其到非晶带材表面的距离变化，从而确定非晶带材的厚度，可保证非晶带材的质量，如在厚度上有质量问题，可及时发现，便于进行调整，调节装置用于调节厚度测量装置的高度，使之与张力辊的位置匹配。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1是本实用新型实施例中非晶带厚度测量装置的结构示意图。
[0010]图2是图1的剖视结构示意图。
[0011]图3是图1的俯视结构示意图。
[0012]图4是升降架的结构示意图。
【具体实施方式】
[0013]下面结合附图并通过实施例对本实用新型作进一步的详细说明，以下实施例是对本实用新型的解释而本实用新型并不局限于以下实施例。
[0014]实施例。
[0015]参见图1至图4，本实施例中的非晶带厚度测量装置包括机架1、张力辊2、用于测试非晶带厚度的厚度测量装置3、用于调节厚度测量装置3的调节装置4和用于将非晶带张紧的机架升降装置5和移动装置6。
[0016]本实施例中的张力辊2的数量为两组，机架I上设置有两组转轴11，张力辊2套装在转轴11上且以转轴11为轴进行转动，非晶带生产时，非晶带材与张力辊2是滚动连接，可减小两者之间的摩擦，防止张力辊2损坏非晶带材，这两组张力辊2设置在同一高度，且平行设置，从而可将非晶带材平铺于两组张力辊2之上，即位于两组张力辊2上的非晶带材为平直状，便于厚度测量装置3进行测量。
[0017]本实施例中调节装置4包括一号升降电机41、升降架42、固定架43、一号丝杆44、一号滑块45和一号导轨46，厚度测量装置3固定在升降架42上，厚度测量装置3位于张力棍2的上方,一号升降电机41固定在固定架43上，固定架43固定在机架I上,一号升降电机41与一号丝杆44连接，升降架42配合在一号丝杆44上且由一号丝杆44控制其升降，一号导轨46固定在固定架43上，一号滑块45固定在升降架42上，升降架42可沿一号导轨46进行上下移动，机架I固定在机架升降装置5上，一号升降电机41控制一号丝杆44转动，从而实现升降架42沿一号导轨方向进行升降，从而调节厚度测量装置3与张力辊2之间的距离。本实施例中的厚度测量装置3为现有技术，厚度测量装置3是通过测量其到非晶带材表面的距离变化，从而确定非晶带材的厚度，其厚度为厚度测量装置3到张力辊的距离与厚度测量装置3到非晶带材表面的距离的差值。
[0018]本实施例中的一号导轨46与张力辊2垂直设置，从而使厚度测量装置3可相对非晶带表面在垂直方向上进行升降，便于进行调节和测量。
[0019]本实施例中的升降架42包括移动板421、安装板422和加强板423，移动板421与一号导轨46平行设置，安装板422垂直固定在移动板421上，一号滑块45固定在移动板421上，加强板423分别与移动板421和安装板422固定并且到加强作用，厚度测量装置3安装在移动板421的下方，该升降架42结构简单，成本低，连接可靠。
[0020]本实施例中的机架升降装置5包括二号升降电机51、二号丝杆52、支座53、导杆54和导向套55, 二号升降电机51固定在支座53上,二号丝杆52与二号升降电机51连接，机架I与二号丝杆52配合并由二号丝杆52控制其升降，支座53上设有导杆54，机架I上设有与导杆54相配的导向套55，机架升降装置5通过二号丝杆52与机架I的配合，来进行机架I的升降，二号丝杆52由二号升降电机51控制，结构简单，操作方便，机架升降装置5通过升降机架1，可将位于张力辊2上的非晶带材张紧并平铺于张力辊2上，从而可更加准确的进行测量，导杆54与导向套55配合后，机架I的升降更加稳定。
[0021 ] 本实施例中的移动装置6包括底座61、三号电机62和三号丝杆63，三号电机62固定在底座61上，三号丝杆63与三号电机62连接，三号丝杆63与机架升降装置5配合，具体是三号丝杆63配合在支座53的底部，机架升降装置5的底部设有二号滑块56，底座61上设有与二号滑块56匹配的二号导轨611，可实现该非晶带厚度测量装置整体的平移。本实施例中的三号电机62为伺服电机。
[0022]非晶喷带机与卷带机工作时，移动装置6将其移动至与非晶带材相配的位置，并使非晶带材位于张力辊2与厚度测量装置3之间，然后调节机架升降装置5，使非晶带材张紧，厚度测量装置3的位置为事先调整好，并记录下厚度测量装置3到张力辊2之间的距离，从而便可实现非晶带材的在线测量，非晶喷带机喷带完成后，移动装置6将该非晶带厚度测量装置退出。
[0023]此外，需要说明的是，本说明书中所描述的具体实施例，其零、部件的形状、所取名称等可以不同，本说明书中所描述的以上内容仅仅是对本实用新型结构及附图所作的举例说明。凡依据本实用新型专利构思所述的构造、特征及原理所做的等效变化或者简单变化，均包括于本实用新型专利的保护范围内。本实用新型所属【技术领域】的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离本实用新型的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种非晶带厚度测量装置，包括机架，其特征在于:还包括张力辊、用于测试非晶带厚度的厚度测量装置和用于调节厚度测量装置的调节装置，所述机架上设置有转轴，所述张力辊套装在转轴上，所述张力辊的数量为两组，这两组张力辊平行设置，所述调节装置包括一号升降电机、升降架、固定架和一号丝杆，所述厚度测量装置固定在升降架上，所述厚度测量装置位于张力辊的上方，所述一号升降电机固定在固定架上，所述固定架固定在机架上，所述一号升降电机与一号丝杆连接，所述升降架配合在丝杆上且由一号丝杆控制其升降。
2.根据权利要求1所述的非晶带厚度测量装置，其特征在于:所述调节装置还包括一号滑块和一号导轨，所述一号导轨固定在固定架上，所述一号滑块固定在升降架上，所述一号滑块和一号导轨匹配。
3.根据权利要求2所述的非晶带厚度测量装置，其特征在于:所述一号导轨与张力辊垂直设置。
【文档编号】B22D11/12GK203972796SQ201420377664
【公开日】2014年12月3日 申请日期:2014年7月9日 优先权日:2014年7月9日
【发明者】周增跃 申请人:浙江正耀环保科技有限公司