一种冶金级多晶硅掺磷吸杂的方法

文档序号:8423496阅读:907来源:国知局
一种冶金级多晶硅掺磷吸杂的方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种冶金级多晶硅,尤其是涉及一种冶金级多晶硅生产过程中通过掺 磷实现吸杂目的的方法。
【背景技术】
[0002] 进入21世纪以来,世界光伏产业飞速发展,但是当前多晶硅的严重脱销和价格暴 涨,制约了光伏发电产业的发展。此外,由于硅材料的成本约占太阳能电池总成本的30%, 硅材料价格高也成为阻碍光伏产业发展的重要因素之一。为了提高性价比,目前市场上的 太阳能电池多采用太阳能级多晶硅制造,其纯度一般达到99. 9999% (6N)以上。冶金级多 晶硅,是市场上最便宜的硅原料,其纯度一般为95%~99%。经过进一步提纯后冶金级多 晶硅的纯度可达99. 999% (5N),并称为新冶金级多晶硅,用新冶金级多晶硅代替太阳能级 硅,可以使太阳能级电池的生产成本更低。然而,相对于太阳能级硅,冶金硅含有大量的镍、 铁、钴、铬、钛等杂质元素,这些杂质形成深能级,成为少数载流子的复合中心,影响少子寿 命和太阳能电池性能。磷吸杂是利用磷在高温半导体内部的扩散,硅晶体中的硅-自间隙 原子增多,为金属杂质从替代位置移动到间隙位置提供条件,从而加快金属杂质的扩散。现 有的磷吸杂方法主要是通过在硅晶体表面提供磷源,磷原子不断由表面进入晶体内部,对 于冶金级多晶硅内部的杂质元素不易吸除,并且吸杂过程所用的时间较长。

【发明内容】

[0003] 针对现有技术中存在不足,本发明提供了一种冶金级多晶硅掺磷吸杂的方法,由 于磷的扩散系数比杂质金属大,更容易扩散到冶金级多晶硅表面而被清除,而不必对所述 该方法掺入的磷元素进行再次处理。
[0004] 所述冶金级多晶硅掺磷吸杂的方法包括以下步骤:
[0005] (1)将高纯硅粉与分析纯的红磷混合;
[0006] (2)以氩气作为保护气,使用行星球磨机对步骤(1)的混合物进行球磨,使单质磷 充分固溶到硅晶体中;
[0007] (3)将步骤(2)的产物放置在特制模具中,并采用压片机对其进行压制,压强为10 兆帕,得到Si 96P4^金块;
[0008] (4)在太阳能级多晶硅片中加入适量步骤(3)的产物,并在真空环境中反复多次 熔炼,之后得到硅磷合金块,真空退火,水中淬火;
[0009] (5)采用碳化硅砂纸将步骤(4)产物的表面磨光,之后采用抛光机对其进行抛光, 然后用无水乙醇将基体表面清洗干净、烘干,作为扩散偶基体;
[0010] (6)使用高纯镍粉、铁粉、钴粉将步骤(5)的产物包裹住,并放到特制的模具中,采 用压片机对其进行加压,压强为10兆帕,分别得到NV(Si-P)、FeASi-P)、CcV(Si-P)三种 扩散偶;
[0011] (7)将步骤(6)的产物置于经过氩气冲洗三到五次的高真空石英管中,经退火处 理后在水中淬火;
[0012] (8)将步骤(7)的产物先在预磨机上进行粗磨,然后在4#、5#碳化硅砂纸上进行精 磨,再使用抛光机对其进行抛光,制备金相试样;将其浸泡在HF溶液中,去除扩散到多晶硅 表面的金属杂质和磷元素,清洗后吹干,烘干,得到磷吸杂后的新冶金级多晶硅。
[0013] 所述步骤⑴中,Si :P物质的量之比为96 :4。
[0014] 所述步骤⑵中,球磨时间为5小时,球磨时的球料比为:10:1。
[0015] 步骤(4)在冶金级多晶硅生产过程中,在其内部掺入分析纯赤磷,使磷在硅磷合 金块中的含量为〇~1.0 at. % ;
[0016] 所述步骤(4)中,真空熔炼用的是真空非自耗钨极磁控电弧炉。
[0017] 步骤(4)的真空退火处理为:将产物放入真空退火炉中,加热至赤磷熔点以下 300~590°C,保温0. 5~5小时,使赤磷在冶金级多晶硅中分布均匀;
[0018] 步骤(7)中,所述退火处理的温度为800-1000°C,时间为2-5h。
[0019] 采用SEM-EDS手段,对步骤(8)的产物进行形貌和成分分析,每一个扩散偶中各取 10个点测量杂质金属在硅磷合金中的扩散系数,再求平均值;
[0020] 将步骤(9)中所得到的扩散系数与对应杂质金属在同一温度下不含磷多晶硅中 的不纯扩散系数进行对比,其比值如表一所示。
[0021] 本发明的有益效果:
[0022] (1)本发明提供了一种掺磷效果好,工艺简单、成本较低,能耗小效率高的除杂方 法,制备过程中不受传统方式限制,更适合工业化生产的冶金硅吸杂方法。对空气环境造成 较小污染。
[0023] (2)该方法利用磷在高温半导体内扩散,增多硅-自间隙原子,使杂质元素通过间 隙扩散到多晶硅表面,从而达到吸杂目的,所制得的多晶硅杂质含量少,成分均匀。
【附图说明】
[0024] 图1为本发明金属杂质(镍、铁、钴等)与磷含量为0~1.0 at. %的多晶硅所构成 扩散偶的SEM图片。
【具体实施方式】
[0025] 下面结合附图以及具体实施例对本发明作进一步的说明,但本发明的保护范围并 不限于此。
[0026] 实施例1
[0027] 所述实例具体步骤如下:
[0028] (1)采用高纯硅粉与分析纯的红磷,按Si :P物质的量为96 ;1混合;
[0029] (2)使用行星球磨机并以氩气作为保护气,按球料比为10:1,对步骤(1)的产物进 行球磨,球磨时间为5小时,使单质磷充分固溶到硅晶体中;
[0030] (3)将步骤(2)的产物放置在特制模具中,并采用压片机对其进行压制,压强为10 兆帕,得到Si 96P4硅磷合金块;
[0031] (4)在太阳能级多晶硅片中加入适量步骤(3)的产物,并在真空非自耗钨极磁控 电弧炉中反复多次熔炼,之后得到实际含磷量为〇. Iat. %的硅磷合金块;加热至赤磷熔点 以下400°C,保温3小时,使赤磷在冶金级多晶硅中分布均匀,之后在水中淬火;
[0032] (5)采用碳化硅砂纸将步骤(4)产物的表面磨光,之后采用抛光机对其进行抛光, 然后用无水乙醇将基体表面清洗干净、烘干,作为扩散偶基体;
[0033] (6)使用高纯镍粉、铁粉、钴粉将步骤(5)的产物包裹住,并放到特制的模具中,采 用压片机对其进行加压,压强为10兆帕,分别得到NiASi-O. Iat. % P)、FeASi-O. Iat. % P)、CoASi-O. Iat. % P)三种扩散偶;
[0034] (7)将步骤(6)的产物各取三个,分别封装到经过氩气冲洗三到五次的高真空石 英管中,再将每一类扩散偶中的三个扩散偶分别在800°C退火5小时、900°C下退火5小时, 在1000°C下退火2小时,之后在水中淬火;
[0035] (8)将步骤(7)的产物先在预磨机上进行粗磨,然后在4#、5#碳化硅砂纸上进行精 磨,再使用抛光机对其进行抛光,制备金相试样;
[0036] (9)采用SEM-EDS手段,对步骤(8)的产物进行形貌和成分分析,每一个扩散偶中 各取10个点测量杂质金属在磷含量为〇. Iat. %硅磷合金中的扩散系数,再求平均值;
[0037] (10)将步骤(9)中所得到的扩散系数与对应杂质金属在同一温度下不含磷多晶 硅中的不纯扩散系数进行对比,其比值如表一所示。
[0038] 如图1所示,颜色较亮的部分为单一金属杂质(镍、铁、钴等),灰色部分为磷含量 为0~1.0 at. %的多晶硅。
[0039] 实施例2
[0040] 所述实例具体步骤如下:
[0041] (1)采用高纯硅粉与分析纯的红磷,按Si :P物质的量为96 ;1混合;
[0042] (2
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