对准调整装置、库装置以及对准调整方法

专利名称：对准调整装置、库装置以及对准调整方法
技术领域：
本发明涉及一种用于运送已收纳有磁记录带等记录介质的盒(cartridge)等被运送物的自动运送装置的对准(alignment)调整，特别涉及对由于时效变化等而产生的对 准误差进行自动调整的对准调整装置、库(library)装置以及对准调整方法。
背景技术：
以往，在库装置中，为了提高相对于收纳有盒的收纳架运入和运出盒的精度，在自 动装置和收纳架之间进行对准调整。对于这种收纳架与自动装置之间的相对位置，在专利文献1中公开了如下内容 采用二维相对位置表，对未登录到该二维相对位置表中的收纳架进行以设定值为目标位置 的定位，并通过相对位置检测传感器来测定相对位置，进而定位于收纳架的中心，并将该相 对位置测定结果登录到相对位置表中，从而自动地制作和更新该表。在专利文献2中公开了如下内容包括为了测定存取装置的倾斜程度而设置的第 一至第三基准标志、以及安装在隔室鼓中的多个相对位置标志，利用被安装在存取装置操 纵机构中的标志传感器来检测第一至第三基准标志，并求得存取器的Y轴和Z轴的倾斜度。此外，在专利文献3中公开了如下内容通过准确地检测收纳架1的框的位置，相 对于目标位置进行位置修正，并将其结果(位置修正信息)保存在收纳架位置信息存储装 置13中，从而缩短了第二次之后的定位动作时间。专利文献1 日本特开平4-020404 (公报第3页左下栏第2行 第11行，图2和 图3等)专利文献2 日本特开平10-134458 (摘要，图1等)专利文献3 日本特开平7-101509 (摘要，图4等)然而，库装置的对准调整以往只是在对装置进行现场调整时实施，但是随着安装 在收纳架中的盒的高密度化，受到设置环境的变化、和自动装置的时效变化的影响，有时盒 的运送动作会产生误差，从而不能够准确地将盒相对于收纳架运出和运入。在发生这种意外事态的情况下，不得不停止系统，需要与现场调整时同样地重新 进行所有的隔室对准，该作业非常麻烦。对于这种课题，在专利文献1至3中并没有任何启示和公开，也并未公开其解决方法。

发明内容
因此，本发明的目的在于，使运送盒等被运送物的自动装置的对准调整自动化，能 够进行稳定的操作。此外，本发明的另一目的在于，在不影响与库装置连接的主计算机的情况下，使库 装置的自动装置的对准调整自动化，实现操作的稳定化。此外，本发明的又一目的在于，在对工作类自动装置和待机类自动装置的对准调整中，在工作类自动装置动作过程中使待机类自动装置的对准调整自动化。为了达成上述目的，本发明为运送盒等被运送物的自动装置的对准调整装置、库 装置以及对准调整方法，以设置于收纳被运送物的收纳架中的基准标志的测定条件成立为 触发时机对基准标志进行测定，并根据其测定结果对自动装置与收纳架之间的对准的变化 量进行检测，根据该变化量调整对准。对准调整能够在自动装置侧实施而不影响主计算机， 能够使自动装置的操作稳定化。此外，在工作类自动装置的动作过程中使待机类自动装置 的对准调整自动化，这样的话，在从工作类自动装置切换为待机类自动装置进行动作的情 况下，能够迅速地进行操作处理。此外，在本发明中，在进行将被运送物运入到收纳架中以及从收纳架中将被运送 物运出的运送动作的自动装置由至少两个构成的情况下，在所述自动装置中的一个自动装 置发生隔室访问异常的时候，在对所述基准标志进行测定之前从所述自动装置切换为另一 自动装置进行隔室访问，在所述自动装置中的两个自动装置均发生隔室访问异常的时候， 在对所述基准标志进行测定之前对对象隔室标志进行测定，由此，能够确定是在自动装置 侧还是在收纳架侧发生了时效变化并进行对准调整，能够实现操作的可靠性、稳定性。为了达成上述目的，本发明的第一方面为自动装置的对准调整装置，所述自动装 置进行将被运送物运入到收纳架中以及从收纳架中将被运送物运出的运送动作，该对准调 整装置具有至少两个基准标志，所述基准标志设置于所述收纳架；标志测定单元，该标志 测定单元从定位到所述基准标志处的所述自动装置上对所述基准标志进行测定；以及对准 调整单元，该对准调整单元依照所述自动装置的倾斜度来调整所述自动装置的对准偏差， 所述自动装置的倾斜度是根据所述标志测定单元对各所述基准标志的测定值的变化量所 求得的。根据所述结构，对于由自动装置的设置环境或自动装置的时效变化引起的对准偏 差，能够通过测定基准标志来执行对准调整，因此不对主计算机产生影响就能够进行对准 调整，并且能够使自动装置的操作稳定化，从而能够达成上述目的。为了达成上述目的，在上述对准调整装置中，优选的是，所述标志测定单元对所述 基准标志进行的测定以测定条件的成立为触发时机进行，所述测定条件在从所述基准标志 的测定起经过一定时间时成立、或者在所述自动装置发生了操作错误时成立；还优选的是， 所述标志测定单元将所述自动装置定位在离所述自动装置的当前位置最近的标志处，并在 检测到的标志的变化量大的情况下，对该标志所在的对象面上的基准标志进行测定；还优 选的是，基于对所述自动装置的最初的盒运送命令，所述标志测定单元对位于对象面的基 准标志进行测定；还优选的是，所述标志测定单元在电源接通后的一定期间内对位于所述 收纳架的对象面中的基准标志进行测定；还优选的是，该对准调整装置具有多个自动装置， 并且使用被搭载于待机状态下的自动装置中的标志测定单元，基于自动装置机构部的巡查 动作，对基准标志进行测定；还优选的是，该对准调整装置具有计时单元，该计时单元对 所述基准标志的测定时间进行计时；以及控制单元，在所述计时单元计时了至进入来自主 计算机的超时为止的预定时间时，该控制单元在转移至所述超时之前结束对所述基准标志 的测定动作；还优选的是，所述控制单元在结束了对所述基准标志的测定动作的情况下，使 待机状态下的自动装置继续所述运送动作；还优选的是，所述对准调整单元取得在多个位 置对基准标志进行测定的测定结果，在多个测定值之差大的情况下，至少使用两个以上测定值进行所述对准调整。根据所述结构，能够达成上述目的。为了达成上述目的，本发明的第二方面为一种对准调整装置，该对准调整装置具有至少两个自动装置，所述自动装置进行将被运送物运入收纳架中、以及将被运送物从收 纳架中运出的运送动作；基准标志，所述基准标志设置于所述收纳架；隔室标志，所述隔室 标志设置于所述收纳架的隔室中；以及标志测定单元，在所述自动装置中的一个自动装置 发生隔室访问异常的情况下，所述标志测定单元在对所述基准标志进行测定之前从所述自 动装置切换为另一自动装置进行隔室访问，在所述自动装置中的这两个自动装置都发生隔 室访问异常的情况下，所述标志测定单元在对所述基准标志进行测定之前对对象隔室标志 进行测定。根据所述结构，在一个自动装置发生隔室访问异常的情况下，切换为另一自动装 置进行访问，在该自动装置也发生访问异常的情况下，对对象隔室标志进行测定，因此，能 够掌握是在自动装置侧发生了异常，还是在收纳架侧发生了异常，能够确定例如是自动装 置侧的时效变化还是收纳架侧的时效变化，从而能够达成上述目的。为了达成上述目的，在上述的对准调整装置中，优选的是，在多个个自动装置均发 生错误的时候，所述标志测定单元判断为所述隔室侧的时效变化，并对对象隔室标志进行 再测定。根据所述结构也能够达成上述目的。为了达成上述目的，本发明的第三方面为一种库装置，该库装置具有运送盒的自 动装置，并且该库装置具有收纳架，该收纳架收纳所述盒；至少一个基准标志，所述基准 标志设置于所述收纳架；标志测定单元，该标志测定单元从定位于所述基准标志处的所述 自动装置上对所述基准标志进行测定；以及对准调整单元，该对准调整单元依照所述自动 装置的倾斜度来调整所述自动装置的对准偏差，所述自动装置的倾斜度是根据所述标志测 定单元的测定结果求得的。根据所述结构，能够达成上述目的。为了达成上述目的，在上述库装置中，优选的是，该库装置具有前述的对准调整装 置。根据所述结构，也能够达成上述目的。为了达成上述目的，本发明的第四方面为一种库装置，该库装置具有至少两个自 动装置，所述自动装置进行将被运送物运入收纳架中、以及将被运送物从收纳架中运出的 运送动作；基准标志，所述基准标志设置于所述收纳架中；隔室标志，所述隔室标志设置于 所述收纳架的隔室中；以及标志测定单元，在所述自动装置中的一个自动装置发生隔室访 问异常的时候，所述标志测定单元在对所述基准标志进行测定之前从所述自动装置切换为 另一自动装置进行隔室访问，在所述自动装置中的这两个自动装置都发生隔室访问异常的 时候，所述标志测定单元在对所述基准标志进行测定之前对对象隔室标志进行测定。根据 所述结构，也能够达成上述目的。为了达成上述目的，在上述库装置中，优选的是，在多个自动装置均发生错误的时 候，所述标志测定单元判断为所述隔室侧的时效变化，并对对象隔室标志进行再测定。根据 所述结构，也能够达成上述目的。为了达成上述目的，本发明的第五方面为将被运送物运入收纳架中以及将被运送 物从收纳架中运出的自动装置的对准调整方法，该对准调整方法包括如下工序标志测定 工序，在该标志测定工序中，从定位于被设置在所述收纳架中的至少一个基准标志处的所 述自动装置上对所述基准标志进行测定；以及对准调整工序，在该对准调整工序中，依照所述自动装置的倾斜度来调整所述自动装置的对准偏差，所述自动装置的倾斜度是根据在所 述标志测定工序中得到的测定值求得的。根据所述结构，能够达成上述目的。为了达成上述目的，在上述的对准调整方法中，优选的是，在所述标志测定工序 中，设定作为测定所述基准标志的触发时机的测定条件，并在该测定条件成立的时候测定 所述基准标志；另外，所述测定条件可以在从所述基准标志的测定起经过一定时间时成立、 或者在所述自动装置发生了操作错误时成立；另外，可以将所述自动装置定位于离所述自 动装置的当前位置最近的标志处，在检测到的标志的变化量大的情况下，对该标志所在的 对象面上的基准标志进行测定；另外，也可以基于对所述自动装置的最初的盒运送命令，对 位于对象面中的基准标志进行测定；另外，也可以在电源接通后的一定期间内对位于所述 收纳架的对象面中的基准标志进行测定；另外，也可以使用多个自动装置中的处于待机状 态下的自动装置，并基于自动装置机构部的巡查动作，对基准标志进行测定；另外，也可以 在经过了至进入来自与库装置所连接的主计算机的超时为止的预定时间时，在进入所述超 时之前结束对所述基准标志的测定动作；另外，可以取得在多个位置对基准标志进行测定 的测定值，在多个测定值之差大的情况下，使用至少两个以上测定值进行所述对准调整。根 据所述结构，能够达成上述目的。为了达成上述目的，本发明的第六方面为一种对准调整方法，在该对准调整方法 中采用至少两个自动装置，所述自动装置进行将被运送物运入收纳架中、以及将被运送物 从收纳架中运出的运送动作，该对准调整方法包括标志测定工序，在该标志测定工序中，在 发生隔室访问异常的时候，在对所述基准标志进行测定之前从发生访问异常时的自动装置 切换到另一自动装置进行访问，在多个自动装置均发生错误的时候，对对象隔室标志进行 测定。根据所述结构，也能够达成上述目的。为了达成上述目的，在上述的对准调整方法中，优选的是，在所述标志测定工序 中，在多个自动装置均发生错误的时候，判断为所述隔室侧的时效变化，并对对象隔室标志 进行再测定。根据所述结构，也能够达成上述目的。 根据本发明，能够得到如下效果。(1)能够使将被运送物运入到收纳架中以及将被运送物从收纳架中运出的自动装 置的对准调整自动化，能够进行稳定的操作。(2)不会对与库装置连接的主计算机产生影响，能够使库装置的自动装置的对准 调整自动化，能够实现操作的稳定化。(3)仅通过在更换自动装置等的时候对基准标志进行测定，就能够进行对准调整，无 需对整个装置进行对准测定，不影响从库装置到主计算机的响应时间，就能够进行对准调整。(4)在具有至少两个自动运送装置的情况下，能够进行如下等的适当的对准调整， 提高运送动作的可靠性通过选择自动装置来判断隔室访问异常是自动装置侧的时效变化 还是隔室侧的时效变化。并且，本发明的其他目的、特征和优点，通过参照附图和各实施方式能够进一步得 到明确。


图1是示出第一实施方式所述的库装置的图。
图2是示出自动装置的结构例的图。图3是示出自动装置的X轴运送机构部、Z轴运送机构部和把持机械部的图。图4是示出库系统的结构例的图。图5是示出自动装置、自动装置控制板以及库控制板的结构例的图。图6是示出收纳架和基准标志的结构例的图。图7是示出数据存储部的隔室的位置数据的图。图8是示出数据存储部的基准标志的位置数据的图。图9是示出基准标志的一个例子的图。图10是示出通过测定基准标志来检测自动装置的倾斜度的图。图11是将图10所示的自动装置的倾斜度放大来表示的图。图12是示出自动装置未发生倾斜的情况的图。图13是示出自动装置发生了倾斜的情况的图。图14是示出自动装置的倾斜与隔室和基准标志的关系的图。图15是用于说明通过标志测定得到的倾斜度的运算处理的图。图16是示出对准调整方法的处理步骤的流程图。图17是示出基准标志测定处理的处理步骤的流程图。图18是示出基准标志的配置的图。图19是示出基准标志测定处理的处理步骤的流程图。图20是示出用于测定隔室标志的自动装置的移动的图。图21是示出测定隔室标志的处理步骤的流程图。图22是示出主计算机和库装置的处理时序的图。图23是示出在运送动作中测定基准标志的处理步骤的流程图。图24是示出动作命令后的一定时间内处理的处理步骤的流程图。图25是示出通过待机侧自动装置的巡查动作进行基准标志的测定的处理步骤的 流程图。图26是示出发生操作错误时的基准标志测定的处理步骤的流程图。图27是示出接近动作超时时间的情况下的动作的处理步骤的流程图。图28是示出第二实施方式所述的库装置的收纳架和基准标志的设置例的图。图29是示出第三实施方式所述的动作的处理步骤的流程图。图30是示出动作监视、自动装置更换以及测定动作的处理步骤的流程图。标号说明2 库装置；4 盒；6、8 自动运送装置；10 收纳架；10L 左侧收纳架；10R 右侧收 纳架；10B 后侧收纳架；14 隔室；141、142、143 隔室组；18AU8BU8C 基准标志；19 :隔 室标志；50 标志传感器；62、64 自动装置控制板；70 主计算机。
具体实施例方式(第一实施方式)参照图1说明本发明的第一实施方式。图1是示出库装置的一个例子的图。该库装置2为运送被运送物(例如盒4)的自动运送装置6、8(以下简称做“自动装置6、8”)的对准调整装置的一个实施方式，该库装置2具有自动装置6、8、用于收纳盒4 的收纳架10以及多个驱动器装置12。盒4在其内部收纳有磁记录带等存储介质，并且盒4 是自动装置6或自动装置8的运送对象。自动装置6、8为如下这样的运送装置从收纳架 10向驱动器装置12运送盒4，并将盒4从驱动器装置12运送到收纳架10中。自动装置6、 8中的一方被设定为工作类自动装置，另一方自动装置被用作在工作类自动装置发生异常 的情况下使用的待机类自动装置。在收纳架10中形成有作为收纳空间部的隔室14，该隔 室14用于收纳盒4并被划分成多个部分。驱动器装置12为数据的写入和读取单元，是将 数据写入盒4内的存储单元中并从存储单元中读取数据的单元。在图1中作为收纳架10示出了左侧收纳架10L和后侧收纳架10B，在实际的装置 中，在左侧收纳架10L的对面侧设有右侧收纳架10R(图6)。与收纳架10的呈矩阵配置的 隔室14的隔室组对应地设定有多个基准标志显示部16。在后侧收纳架10B中设有多个驱 动器装置12，在这些驱动器装置12的下侧也设定有基准标志显示部16。在各基准标志显示部16中设置有至少一个或者多个作为标志的基准标志18A、 18B、18C，这些标志表示用于测定自动装置6、8的倾斜量的基准位置。各基准标志18A、18B、 18C为表示自动装置6、8相对于库装置2的收纳架10的基准位置的标志。通过自动装置6 或者自动装置8测定所述基准标志18A、18B、18C，能够测定自动装置6或者自动装置8的倾 斜度(变化量)，从而根据该测定值相对于隔室14对准调整自动装置6、8。该对准调整是 对自动装置6或者自动装置8与收纳架10的各隔室14的相对位置关系的修正，对盒4的 运入/运出位置进行修正。根据该种库装置2，使用自动装置6或者自动装置8将盒4从收纳架10的隔室14 侧取出，并运送到某个驱动器装置12进行装配，从而能够写入或者读出数据。此外，将数据 的写入或者读出结束了的盒4从驱动器装置12中取出并进行运送，并收纳到收纳架10的 隔室14中。在该种处理后，自动装置6或者自动装置8进行待机以接收来自主计算机70 (图 4)的动作命令。接着，参照图2说明自动装置6、8。图2是示出自动装置的运送机构部的图。在图 2中，对与图1相同的部分标以相同符号。自动装置6具有把持机构部20、X轴运送机构部22、Y轴运送机构部24和Z轴运 送机构部26作为自动装置机构部。把持机构部20是用于把持盒4的单元。X轴运送机构 部22是沿导轨28在X轴方向上运送把持机构部20的单元。Y轴运送机构部24是将搭载了把持机构部20的Z轴运送机构部26与把持机构 部20 —起沿Y轴方向运送的单元。相对于搭载有把持机构部20和X轴运送机构部22的 Z轴运送机构部26设置有配重(balancer) 30，该配重30的升降方向由导轨32、34来限制， 该配重30与Z轴运送机构部26经由同步带(timing belt) 36连结起来。同步带36悬挂 架设在带轮38、40上，搭载有把持机构部20和X轴运送机构部22的Z轴运送机构部26与 配重30通过同步带36取得平衡。Z轴运送机构部26是沿导轨42 (图3)在Z轴方向上运送搭载有把持机构部20的 X轴运送机构部22的单元。自动装置8与自动装置6相同，具有把持机构部20、X轴运送机构部22、Y轴运送 机构部24和Z轴运送机构部26，它们的结构与自动装置6的相同，因此标以相同符号并省
10略其说明。接着，图3是示出自动装置的X轴运送机构部、Z轴运送机构部和把持机构部的图。 在图3中，对与图1和图2相同的部分标以相同符号。把持机构部20具有作为把持盒4的把持装置的拾取臂部44、46，并且具有用于使 把持机构部20沿箭头S方向旋转的旋转机构部48。在该把持机构部20的上部设置有标志 传感器50作为标志测定单元。标志传感器50例如由CCD (Charge Coupled Device 电荷 耦合元件)传感器构成，并将标志作为图像检测出来。搭载有把持机构部20的X轴运送机构部22搭载于Z轴运送机构部26的导轨42 上，并在电动机52的驱动下，向与电动机52的旋转方向对应的方向移动。接着，参照图4和图5说明库装置的控制系统。图4是示出控制系统的图，图5是 示出控制板的结构例的图。在图4和图5中，对与图1至图3中相同的部分标以相同符号。如图4所示，在该库装置2的库系统60中，设置有作为自动装置6的控制单元和 对准调整单元的自动装置控制板62、作为自动装置8的控制单元和对准调整单元的自动装 置控制板64，并且设置有作为整个系统的控制单元的库控制板66。库控制板66与操作员 面板68连接，并且与主计算机70连接。操作员面板68为信息的输入输出单元，通过操作 员的操作来进行信息的输入输出。此外，各驱动器装置12与主计算机70连接，由主计算机70对装配在驱动器装置 12中的盒4的记录介质执行信息的写入或者读出。如图5所示，在自动装置控制板62中设置有CPU (Central ProcessingUnit 中央 处理单元)72、存储部74、RAM (Random-Access Memory 随机存取存储器)76以及计数器部 78，在自动装置控制板64中设置有CPU 80、存储部82、RAM 84以及计数器部86。CPU 72利 用存储部74中的OS (Operating System 操作系统)执行控制程序，并执行盒4的运送控 制和对准调整。CPU 80也同样地，利用存储部82中的OS执行控制程序，并执行盒4的运送 控制和对准调整。存储部74例如由非易失性存储器构成，在该存储部74中包括有程序存储部88和 数据存储部90，在程序存储部88中除了 0S之外，还保存有自动装置控制程序、对准调整程 序等。在数据存储部90中保存有与自动装置6对应的位置数据等。此外，存储部82也同样 地例如由非易失性存储器构成，在该存储部82中包括有程序存储部92和数据存储部94，在 程序存储部92中也同样地除了 0S之外，还保存有自动装置控制程序、对准调整程序等。在 数据存储部94中也保存有与自动装置8对应的位置数据等。保存在数据存储部90、94中 的位置数据为表示各隔室14的位置的数据、显示各基准标志和各隔室标志的位置的数据。计数器部78、86为计时单元的一个例子，例如可以将时钟信号作为计数器信号进 行计数，并用于测定基准标志的测定时间等。在实施巡查动作时，为了选择左侧收纳架10L 或者右侧收纳架10R，采用的是CPU 72或CPU 80中的计数器，然而也可以采用该计数器部 78、86。在库控制板66上设置有CPU 96、存储部98和RAM 100，CPU 96执行存储部98中 的程序，并对由主计算机70指定的盒4的存储介质进行信息的读取或者写入等控制。存储 部98例如由非易失性存储器构成，并包括有程序存储部102和数据存储部104，在程序存储 部102中保存有用于执行与主计算机70的通信控制以及相对于盒4的读取或者写入的程序等，在数据存储部104中保存有用于确定被保存在隔室14中的盒4的识别信息等。
在自动装置6侧设置有X轴运送机构部22的X轴驱动部106、Y轴运送机构部24 的Y轴驱动部108、以及Z轴运送机构部26的Z轴驱动部110，并且具有标志传感器50、与 旋转机构部48对应的旋转驱动部112、以及驱动拾取臂部44、46而使它们开闭的把持机构 驱动部114。所述部件由来自自动装置控制板62的驱动信号驱动，并且标志传感器50的传 感器输出被自动装置控制板62的CPU 72取得。 在自动装置8侧还设置有X轴运送机构部22的X轴驱动部116、Y轴运送机构部 24的Y轴驱动部118、以及Z轴运送机构部26的Z轴驱动部120，并且具有标志传感器50、 与旋转机构部48对应的旋转驱动部122、以及驱动拾取臂部44、46而使它们开闭的把持机 构驱动部124。所述部件由来自自动装置控制板64的驱动信号驱动，并且标志传感器50的 传感器输出被自动装置控制板64的CPU 80取得。接着，参照图6对收纳架10的标志配置进行说明。图6是示出设置有标志的收纳 架的图。在图6中，对与图1相同的部分标以相同符号。在左侧收纳架10L中，将矩阵状的多个隔室14分开设置为多个隔室组，例如三个 隔室组141、142、143，在隔室组141的上侧设有基准标志显示部16，在隔室组143的下侧也 设有基准标志显示部16。在隔室组141的第一行的首部和尾部、最后一行的尾部的各位置分别设置有隔室 标志19，在隔室组142的第一行的尾部、最后一行的首部和尾部的各位置分别设置有隔室 标志19，此外，在隔室组143的与隔室组141同样的位置设置有隔室标志19。隔室标志19是 如下这样的标志该隔室标志19以基准标志18A、18B、18C为基准，并且成为各隔室组141、 142、143、各隔室14相对于收纳架10的基准位置。各基准标志显示部16被设定为与隔室组141、142、143相同宽度，在各基准标志显 示部16的左右和中心位置处设置有例如三个基准标志18A、18B、18C。在后侧收纳架10B中将矩阵状的多个隔室14设置为一个隔室组144，在该隔室组 144的下侧设有驱动器组145，在隔室组144的上侧和驱动器组145的下侧设有基准标志显 示部16。在隔室组144的第一行的首部和尾部、最后一行的尾部的各位置处设有隔室标志 19，此外，在驱动器组145中对每个驱动器装置12分别设置驱动器标志21。后侧收纳架10B 的基准标志显示部16也同样地被设定为与隔室组144相同宽度，并且同样地设置有基准标 志 18A、18B、18C。此外，在右侧收纳架10R中，将矩阵状的多个隔室14分开设置为多个隔室组，例如 三个隔室组141、142、143，在隔室组141的上侧设置有基准标志显示部16，在隔室组143的 下侧设置有基准标志显示部16。在右侧收纳架10R的隔室组141、142、143中，在与左侧收纳架10L相对置的对置 位置设有隔室标志19，右侧收纳架10R和左侧收纳架10L的各隔室标志19处于左右对称的 位置关系，此外，在右侧收纳架10R的基准标志显示部16中，与左侧收纳架10L同样地设有 基准标志18A、18B、18C。因此，参照图7和图8对收纳架的隔室和基准标志的位置信息进行说明，如图7所 示，在数据存储部90、94中保存有收纳架10的各隔室14的位置数据，此外，如图8所示，在数据存储部90、94中保存有设置在收纳架10中的基准标志18A、18B、18C的位置数据。所 述数据通过对准调整进行修正和更新。接着，参照图9对标志进行说明。图9是表示基准标志的图。在图9中，对与图1 和图6相同的部分标以相同符号。基准标志18A、18B、18C例如为，在由长方形的板状部件构成的基部160上形成作 为第一区域的第一、第二和第三白色部162、164、166、以及作为第二区域的黑色部168。白 色部162、164、166涂布有白色或银色等反光率高的涂料，黑色部168涂布有黑色等反光率 低的涂料，白色部162、164、166和黑色部168构成了具有亮度显著不同的边界的区域。白色部166为形成于基部160的中心位置的长方形，各白色部162、164为以白色 部166的中心轴线为中心在左右形成的直角等腰三角形，白色部162、164的各斜边部夹持 白色部166地对置设置。S卩，将XY坐标的Y轴设定在白色部166的中心的话，白色部162、 164、166以Y轴为中心左右对称。由这种基准标志18A、18B或18C与作为标志测定单元的标志传感器50构成偏差 测定装置，通过该偏差测定装置进行偏差测定。接着，参照图10和图11对该基准标志的测定进行说明。图10是示出通过测定基 准标志来检测自动装置的倾斜度的图，图11是图10的局部放大图。在图10和图11中，对 与图1和图9相同的部分标以相同符号。Ll示出的是例如由CCD传感器构成的标志传感器50的检测线，在本例中，在检测 线Ll上含有由自动装置6的倾斜产生的旋转分量。角度θ是检测线Ll相对于X轴的旋 转角度。此外，在图10中，检测线Ll穿过基准标志18Α、18Β或者18C(以下简称作“标志 18”)的中心线0，L2示出的是与该中心线0存在交点Pl的目标检测线。在求取在标志18中形成的X、Y坐标下的检测线Ll时，由于检测线Ll为直线，因 此能够用算式(1)来表示。Y = -X · tan θ + Δ Y... (1)其中，Δ Y为检测线Ll与Y轴的交点的Y坐标，由于目标检测线L2穿过标志中心 Ρ0，因此能够用算式(2)来表示。Y = -X · tan θ. . . (2)检测线Ll与白色部166的一边相交的点P的坐标(XI、Χ2)在每个作为标志传感 器50的检测单位的图像的像点(dot)处，与白色部162、164和黑色部168对应，并成为ON/ OFF的输出。此外，通过白色部162与黑色部168的边界点、以及白色部164与黑色部168 的各边界点的像点数求得距离a、b、c。在本例中，由于在检测线Ll上含有旋转分量，因此c兴a，在a > c的情况下，检测 线Ll向右下倾斜，在a < c时，检测线Ll向右上倾斜。在本例中，a > C。将点P的附近放大并在图11中示出。设白色部162、164的垂直部之间的距离为 A(图10)，则点P的X坐标Xl可通过算式(3)求得。Xl = A/2-a · cos θ. · · (3)设白色部166的宽度为B (图10、图11)的话，同样地，点P的Y坐标Yl可通过算 式⑷求得Yl = (A-B)/4_a · cos θ. . . (4)
其中，cos θ = A/ (a+b+c)。此处，根据算式(3)，可通过算式(5)求得检测线Ll相对于标志中心PO在Y轴方 向上的位置偏差量Δ Y。Δ Y = Υ+Χ · tan θ…(5)将算式(3)、(4)代入到算式(5)中的话，可通过算式(6)求得位置偏差量ΔY。Δ Y = (A-B) /4-a · cos θ + (A/2_a · cos θ ) X tan θ. · · (6)在本实施方式中，对a > c的情况进行了说明，检测线Ll形成向右下方的倾斜。在 a < c的情况下，可以通过将a和c的值代入到算式(6)中而同样地求得位置偏差量ΔΥ。接着，参照图12和图13对自动装置的倾斜和其对准调整进行说明。图12是自动 装置未产生倾斜的情况的图，图13是自动装置产生了倾斜的情况的图。在图12和图13中， 对与图1、图3、图6相同的部分标以相同符号。图12示出了左侧收纳架IOL与自动装置6的关系，自动装置6未产生倾斜的话， 自动装置6维持与左侧收纳架IOL的各隔室组141、142、143平行的状态。与此相对地，当 自动装置6产生角度θ的倾斜的情况下，如图13所示，左侧收纳架IOL的各隔室组141、 142,143的各隔室位置与自动装置6对运送盒4进行运送的运送位置(运入或者运出的位 置)之间产生偏差，因此盒4的运出运入变得困难。在该情况下，自动装置6需要进行对准 调整。这种对准调整对于自动装置8来说也是同样的。参照图14和图15对自动装置6或者自动装置8这样发生了倾斜的情况下的对准 调整进行说明。图14是示出自动装置的倾斜与隔室和基准标志之间的关系的图，图15是 将图14简化并示出的图。在图14和图15中，对与图1、图6相同的部分标以相同符号。在图14所示的例子中，在收纳架10中，相对于作为多个隔室14且横向排列的隔 室SL1、SL2、SL3、SL4、SL5，在基准标志显示部16设置有基准标志18A、18B、18C。在该情况下，自动装置6或者自动装置8产生倾斜，在将自动装置6或自动装置8 的标志传感器50定位于基准标志18A处并对基准标志18A进行测定时没有问题，设在将标 志传感器50定位于基准标志18B并对基准标志18B进行测定时测定得到的偏差为n，并且 设在将标志传感器50定位于基准标志18C并对基准标志18C进行测定时测定得到的偏差
为 IIlo对于这样的偏差n、m,在自动装置6或者自动装置8存在倾斜而未发生弯曲的情 况下，以下述作为修正算式的算式(7)、(8)、(9)、(10)对偏差进行修正。在该情况下，设基 准标志18A与基准标志18C的距离为C，隔室SLl与隔室SL2的距离为D，隔室SLl与隔室 SL3的距离为E，隔室SLl与隔室SL4的距离为F，隔室SLl与隔室SL5的距离为C，设关于各 隔室 SLl、SL2、SL3、SL4、SL5 的倾斜调整量为 SL2y、SL3y、SL4y、SL5y 的话，则 SL2y、SL3y、 SL4y、SL5y 为SL2y = (D/C) Xm …(7)SL3y = (E/C) Xm …(8)SL4y = (F/C) Xm . . . (9)SL5y = m…(10)。此外，如图15所示，在自动装置6或自动装置8发生了弯曲的情况下，以下述作为修正算式的算式(11)、(12)、(13)、(14)对偏差进行修正。该情况下的倾斜调整量SL2y、SL3y、SL4y、SL5y 为，SL2y = (D/E) Xn ...(11)SL3y = η...(12)SL4y = n+ (F-E) / (C-E) X (m_n) ... (13)SL5y = m...(14)。接着，参照图16，对对准调整方法的处理工序进行说明。图16是示出对准调整方 法的一个例子的流程图。在该对准调整方法中，包括有a)测定条件监测工序(Si)、b)标志测定工序(S2)、 c)倾斜判断工序(S3)、d)对准调整工序(S4)。该对准调整方法通过前述的库系统60中的 计算机处理来实现，然而也可以通过进行手动处理来实现。a)测定条件监测工序(Si)在该测定条件监测工序中，监测测定条件是否成立，该测定条件可以设定为相对 于上一次标志测定经过了一定时间、或者是自动装置发生了操作错误等。此外，也可以将从 电源接通时起经过预定时间内设定为测定条件成立。b)标志测定工序(S2)在该标志测定工序中，通过将自动装置6或8定位于基准标志18A、18B、18C中 的任一或者全部标志处，从而利用标志传感器50通过图像如上所述地测定基准标志18A、 18B、18C中的任一个或者全部。c)倾斜判断工序(S3)在该倾斜判断工序中，根据基准标志18A、18B、18C的测定数据求得自动装置6或8 的倾斜度，并判断自动装置6或8是否存在倾斜或者需要进行对准调整的倾斜。如果存在 需要进行对准调整的倾斜的话，转移到对准调整工序(步骤S4)，如果不存在所述倾斜的话 (步骤S3中为否)，则不进行对准调整，结束该处理工序。d)对准调整工序(S4)对于自动装置6或8，根据由标志传感器50的测定值求得的自动装置6或8的倾 斜度，对自动装置6或8的对准偏差进行调整。该调整通过对位置数据(图7和图8)进行 修正来执行。根据这样的对准调整方法，在库装置2侧根据自动装置6或8的倾斜度对位置数 据进行修正，因此能够对自动装置6或8因时效变化、地震、维护等所产生的位置偏差自动 地进行修正，能够实现自动装置6或8相对于收纳架10的隔室14的控制的稳定化，即能够 实现盒4的运出运入的稳定化。因此，能够提供可靠性高的库装置，能够提高处理的可靠 性。接着，参照图17对基准标志测定动作进行说明。图17是示出基准标志测定动作 的处理步骤的流程图。该基准标志测定由库系统60的计算机处理来执行，该处理是通过使自动装置6或 8移动而进行的，且能够设定多个条件作为测定条件。例如，将是否在上一次基准标志测定 处理后经过了一定时间作为条件一，将自动装置6和8中被设定为工作类自动装置且动作 中的自动装置是否发生操作错误作为条件二。即，条件一将经过时间作为要素，即使未发生 操作错误等。通过设定条件一来定期地实施对准调整，因此能够吸收由时效变化引起的偏差。因此，在将长时间被设定为待机类自动装置用作工作类自动装置时，在被设定为工作类后无需对准调整，即能够迅速地继续进行处理。此外，通过设定条件一，在工作类自动装置 动作过程中，待机类自动装置自动进行对准调整。此外，条件二将发生错误作为要素，即使 尚未经过一定时间。通过条件二的设定，能够应对地震等意外事态。在该处理步骤中，使自动装置6、8开始动作，并判断是否符合测定条件(步骤 Sll)。该测定条件为前述的条件一或者条件二。如果符合所述测定条件的话(步骤Sll为 是)，对对象面的基准标志进行测定(步骤S12)，实施盒4的运送动作(步骤S13)，结束自 动装置6或8的移动。如果在步骤Sll中不符合测定条件的话(步骤Sll为否)，不进行步骤S12的对对 象面的基准标志的测定，实施盒4的运送动作(步骤S13)，结束自动装置6、8的移动。接着，参照图18和图19对基准标志测定处理进行说明。图18是示出基准标志的 配置的图，图19是示出基准标志测定处理的处理步骤的流程图。在图18中对与图1、图6 相同的部分标以相同符号。该基准标志测定处理通过将自动装置6或8定位到收纳架10的左侧收纳架10L、 后侧收纳架10B、右侧收纳架IOR中的基准标志18A、基准标志18B和基准标志18C来进行。因此，该用于测定基准标志18A、18B、18C的处理步骤为主程序(图17)的子程序， 是步骤S12的具体处理工序，执行对基准标志18A、18B和18C的测定。在该处理步骤中，在转移到基准标志测定时，对被保存在保存着基准数据的数据 存储部90或者数据存储部94中的基准数据(图7、图8)进行清除(步骤S21)，除去以前 的基准数据。在清除该基准数据之后，测定基准标志18A(步骤S22)，并根据基准标志18A 的测定结果判断是否正常结束(步骤S23)。如果并非正常结束(步骤S23为否)，则执行 基准数据的恢复(步骤S24)，继续进行基准标志测定。在基准标志18A的测定过程中，如果是正常结束的话(步骤S23为是)，则测定基 准标志18B (步骤S25)，并根据基准标志18B的测定结果判断是否正常结束(步骤S26)。如 果并非正常结束(步骤S26为否)，则通过保存或者更新基准数据来执行恢复操作(步骤 S24)，继续进行基准标志测定。在基准标志18B的测定中，如果是正常结束的话(步骤S26为是)，则测定基准标 志18C (步骤S27)，并根据基准标志18C的测定结果判断是否正常结束(步骤S28)。如果并 非正常结束(步骤S28为否)，则恢复基准数据(步骤S24)，如果正常结束的话(步骤S28 为是)，则更新各基准标志18A、18B、18C的基准数据(步骤S29)，结束基准标志的测定。接着，参照图20和图21对隔室标志的测定进行说明。图20是示出隔室标志测定 的一个例子的图，图21是示出隔室标志测定的处理步骤的流程图。在图20中，对与图1、图 6相同的部分标以相同符号。在隔室标志19的偏差大的情况下，需要测定对象面侧的基准标志。因此，如图20 所示，将自动装置6、8定位于离当前位置Dl最近位置的隔室标志19处，并在该位置进行标 志测定，在变化量大的情况下向对象面侧移动，并测定该位置D2的基准标志18A。通过像这 样地采用最近位置的隔室标志19，即使是在由主计算机70实施处理的过程中检测到错误 的情况下，也能够在检测到超时等之前完成调整。在该处理步骤中，如图21所示，将自动装置6、8定位到离自动装置6、8的当前所在位置Dl最近位置的隔室标志19处(步骤S31)，并在该位置实施对隔室标志的测定动作 (步骤S32)。对隔室标志19测定的结果是，判断变化量是否大(步骤S33)，如果变化量大的话 (步骤S33为是)，则移动到对象面侧，测定对象面的基准标志(步骤S34)，实施盒运送动作 (步骤S35)，结束自动装置6、8的移动。在步骤S33中，如果变化量不大的话(步骤S33为否)，则不实施步骤S34的处理， 而实施盒运送动作(步骤S35)，结束自动装置6、8的移动。接着，参照图22和图23对与动作命令对应的基准标志测定进行说明。图22是示 出主计算机和库装置的处理时序的图，图23是示出运送动作时的基准标志测定的处理步 骤的流程图。在由主计算机70向库装置2发出接通电源的指示后(步骤S101)，在库装置2中 执行初始化时序(步骤S102)，在该初始化时序结束后，由库装置2向主计算机70发出结束 通知(步骤S103)。接收到该结束通知的主计算机70向库装置2发出动作命令(步骤S104)，执行隔 室测定处理(步骤S105)。在该隔室测定处理中，在运出盒4的时候，作为对所对应隔室的 测定，执行“起始(From)隔室侧测定”(步骤S106)，在运入盒4的时候，作为对所对应隔室 的测定，执行“目标(to)隔室侧测定”(步骤S107)，在进行了所述测定之后，执行盒的运送 (步骤S108)。在这样的盒运送结束后，由库装置2向主计算机70发出通知(步骤S109)。与此对应地，库装置2的处理步骤如图23所示，包括初始诊断动作(阶段Fl)和 运送动作(阶段F2)。初始诊断动作(阶段Fl)为在接通电源后的一定时间内完成的处理， 此外，运送动作(阶段F2)为在与动作命令对应的处理时间内完成的处理。下面，对各动作 继续进行详细叙述。在电源接通后，执行初始诊断动作(阶段F1)。在初始诊断动作(阶段Fl)中，实 施电源接通时的初始诊断(步骤S41)、以及对盒4的条形码的读取动作(步骤S42)。接着， 如果能够读取盒4的条形码的话，初始诊断动作(Fl)正常结束，库装置2转移到能够接收 来自主计算机70的命令的装置待机状态(步骤S43)。在该待机状态下，监测对在电源接通后来自主计算机70的第一次动作命令的接 收(步骤S44)，在接收到该动作命令后(步骤S44为是)，在该动作命令设定的处理时间内 执行基准标志的测定动作和运送动作。即，根据电源接通后的第一次动作命令，测定起始 (运出)隔室侧的基准标志(步骤S45)，测定目标(运入)隔室侧的基准标志(步骤S46)， 并实施盒4的运送动作(步骤S47)，结束基准标志的测定。接着，参照图24对动作命令后的一定时间内处理进行说明。图24示出了动作命 令后的一定时间内处理的处理步骤的流程图。该处理步骤为通过库系统60的计算机处理执行的处理步骤，是在接收到动作命 令后的一定时间内的基准标志的测定处理。在接收到动作命令后，判断是否已经经过了测定间隔(步骤S51)，如果已经经过 了测定间隔(步骤S51为是)，则测定起始(运出)隔室侧的基准标志(步骤S52)，测定目 标(运入)隔室侧的基准标志(步骤S53)，实施盒4的运送动作(步骤S54)，结束基准标 志的测定。
此外，如果在步骤S51中尚未经过测定间隔(步骤S51为否)，则不执行步骤S52、 S53的处理，而实施盒4的运送动作(步骤S54)，结束基准标志的测定。接着，参照图25对待机侧自动装置的巡查动作进行说明。图25是示出通过待机 侧自动装置的巡查动作进行基准标志测定的处理步骤的流程图。该处理步骤为通过待机侧的自动装置6或8的巡查动作进行的基准标志的测定处 理。在该处理中包括如下处理用CPU 72或CPU 80中的计数器在左侧的基准标志测定中 增加计数；接着在后侧的基准标志测定中增加计数；以及在下一次基准标志测定中使计数清零。在该处理步骤中，判断是否已到达巡查开始时刻(步骤S61)，并待机直到到达巡 查开始时刻为止。在到达巡查开始时刻时(步骤S61为是)，实施巡查动作(步骤S62)，并 判断CPU 72或CPU 80中计数器的计数值N是否为N = 0 (步骤S63)，如果为N = 0的话 (步骤S63为是)，则执行左侧的基准标志测定(步骤S64)，使所述计数器增加计数(+1)， 并回到步骤S61。计数值N = 0表示左侧的基准标志测定，计数值N= 1表示后侧的基准标 志测定，在后侧的基准标志测定中增加计数则计数值N = 2，因此计数值N兴1 (N = 2)表示 起始(搬出)隔室侧的基准标志测定。在步骤S63中，如果N兴0的话(步骤S63为否)，则判断是否为计数值N = 1 (步 骤S65)，如果N = 1的话(步骤S65为是)，执行后侧的基准标志测定(步骤S66)，使所述 计数器增加计数(+1)，回到步骤S61。此外，在步骤S65中，如果N兴1的话(步骤S65为否)，则执行起始(运出)隔室 侧的基准标志测定(步骤S67)，执行计数清零(步骤S68)，回到步骤S61，待机直到到达下 一次巡查开始时刻为止。接着，参照图26对操作错误时的基准标志测定的处理步骤进行说明。图26是示 出操作错误时的基准标志测定的处理步骤的流程图。该处理步骤包括判断是否发生了操作错误，并基于该判断对基准标志进行测定的处理。在动作开始时，实施盒4的运送动作(步骤S71)，判断在该运送动作中是否发生操 作错误(步骤S72)，如果发生了操作错误(步骤S72为是)，则测定对象面的基准标志(步 骤S73)，实施盒4的运送动作(步骤S74)，并结束动作。在步骤S72中，如果未发生操作错误的话(步骤S72为否)，则不执行步骤S73、S74 的处理，结束动作。接着，参照图27对接近动作超时时间的情况下的动作进行说明。图27是示出在 接近动作超时时间的情况下的动作的处理步骤的流程图。该处理步骤示出了在接近动作超时时间的情况下的处理动作中，发生错误时的动作。在该处理步骤中，在动作开始时，实施盒4的运送动作(步骤S81)，监测是否发生 错误(步骤S82)，如果发生了错误(步骤S82为是)，则判断是否已经经过了到动作超时为 止的时间的1/2 (错误矫正实施时间)(步骤S83)，如果尚未经过该时间(步骤S83为否)， 则测定对象面的基准标志(步骤S84)，实施盒4的运送动作(步骤S85)，并结束动作。在步骤S82中，如果未发生错误(步骤S82为否)，则不执行步骤S83、S84、S85的处理就结束动作。另外，在步骤S83中，如果已经经过了错误矫正实施时间(步骤S83为 是)，则利用被设定为待机侧的自动装置8或者6来实施盒4的运送动作(步骤S86)，并 结束动作。在该实施方式中，首先，在错误矫正实施时间内，对工作侧的自动装置进行基准 标志测定等错误矫正处理，从而能够使临时的异常等恢复，使工作侧的自动装置继续动作。 除此之外，由于按照一定时间间隔对待机侧自动装置进行了基准标志的测定处理(巡查动 作)，因此即便是在工作侧自动装置不是发生临时性异常而是无法继续进行动作的情况下， 也能够在发生超时之前迅速地由待机侧自动装置进行处理。此外，将错误矫正实施时间设 定为到动作超时为止的时间的1/2，然而，当然也可以根据自动装置的位置或动作目的地的 隔室位置改变错误矫正实施时间。以下列举出第一实施方式所述的特征事项和优点。(1)对准调整的处理步骤是通过根据前述的修正算式(11)至(14)得到的修正值 来替换基准值来执行的，因此无需特别的处理步骤，就能够在发现产生了偏差的时候迅速 地进行。(2)此外，自动装置6或8具有在与水平面呈直角地相交且用于进行直线运动的两 个轴以及搭载于这两个轴上并用于进行旋转运动的轴，因此在存在装置设置环境变化、时 效变化的情况下，通过读取基准标志18A、18B、18C，能够对自动装置6或8的对准偏差进行 修正。(3)在自动装置6或8移动时读取位于附近的标志，当偏差大的时候，判断为定位 已变化，进行基准标志18A、18B、18C的测定，进行对准调整。(4)在这种对准调整中，当避开了装置在接通电源时的初始诊断动作，且由主计算 机70第一次向自动装置6或8发出盒运送命令时，对位于收纳架10的对象面的基准标志 18A、18B、18C进行测定，因此，对准调整不会妨碍到主要动作，能够避免对库的动作或者工 作产生影响。(5)考虑到自动装置在时效方面的状态变化，也可以在电源接通后的一定时间内 实施对准调整。(6)对于待机侧自动装置，进行自动装置的故障转移(failover)处理，在进行盒4 的运送动作中实施该故障转移处理的情况下，当主计算机70发生超时的时候，例如在每天 实施一次的自动装置机构部的巡查动作中可以对位于三个面的基准标志18A、18B、18C的 其中一个面的基准标志进行测定。(7)即便是在盒4的运送动作中检测出盒操作错误的情况下，若实施对象面的标 志测定的话，就能够迅速地进行对准调整。(8)在进行标志测定时，在经过了由主计算机70发出的超时值(例如一半的时 间)的情况下，可以不转移到测定动作，而对自动装置6或8实施故障转移处理，这样的话， 能够防止主计算机70发生超时的情况。(9)在基准标志18A、18B、18C的测定结果中，当测定开始侧(近前侧)的标志与测 定结束侧(里侧)的标志的测定值相差大的情况下，判断为自动装置6或8发生了弯曲，在 该情况下，可以采用三个基准标志18A、18B、18C的测定值，并且可以根据各测定值进行近 似直线性的修正，从而进行对准调整。(第二实施方式)
接着，参照图28对本发明的第二实施方式进行说明。图28是示出库装置的收纳 架和基准标志的设置例的图。在图28中，对与图1和图6相同的部分标以相同符号。在第一实施方式中，将收纳架10的左侧收纳架10L和右侧收纳架10R的各隔室14 分成隔室组141、142、143，并在左侧收纳架10L、后侧收纳架10B和右侧收纳架10R的上下 设置基准标志显示部16 (图6)，而在第二实施方式中(图28)，在左侧收纳架10L、后侧收纳 架10B和右侧收纳架10R中设置单一的隔室组，并仅在各收纳架的下部设置基准标志18A、 18B、18C，也可以在各单一的隔室组中设置三个隔室标志19，并且能够得到相同的效果。(第三实施方式)接着，参照图29和图30对本发明的第三实施方式进行说明。图29是示出第三实 施方式所述的动作的处理步骤的流程图，图30是示出动作监测、自动装置切换以及测定动 作的处理步骤的流程图。在第一和第二实施方式中，隔室访问异常的发生是以基准标志测定的实施为前提 的，然而在本第三实施方式(图29)中至少具有两个运送自动装置，如第一实施方式(图2、 图4)所示，在以自动装置6为下方自动装置并以自动装置8为上方自动装置这样上下地进 行搭载的情况下，例如在上方自动装置(即自动装置8)运行中发生隔室访问异常的时候， 利用另一个自动装置(即作为下方自动装置的自动装置6)在实施基准标志测定之前进行 访问。在两个自动装置6、8都发生错误的情况下，将该情况判断为并非自动装置的时效变 化而是收纳架侧(隔室安装侧)的时效变化，不进行基准标志测定，而进行对象隔室标志的 再测定，并进行对准调整。在该实施方式中，除了进行隔室标志的再测定以外，也实施与第 一实施方式(图1至图27)相同的处理。其中，在该处理步骤中，包括了使用上下自动装置判断是自动装置侧的时效变化 还是隔室侧的时效变化的处理，如图29所示，利用下方自动装置(自动装置6)实施盒的运 送动作(步骤S111)，并在实施过程中监测是否发生隔室错误(步骤S112)。如果没有发生 隔室错误(步骤S112为否)，则正常结束(步骤S113)，如果发生隔室错误的话(步骤S112 为是)，则切换为上方自动装置(自动装置8)进行访问，利用上方自动装置实施盒的运送动 作(步骤S114)，并监测在实施过程中是否发生了隔室错误(步骤S115)。如果没发生隔室错误(步骤S115为否)，则正常结束(步骤S116)。在该情况下，由 于上方自动装置侧未发生隔室访问异常，因此是在下方自动装置侧发生了隔室访问异常。此外，在上方自动装置也发生了隔室错误的话(步骤S115为是)，则为两个自动装 置6、8都发生了错误的情况。在该情况下，判断为并非自动装置侧的时效变化，而是收纳架 侧的时效变化。在该情况下，切换到下方自动装置(自动装置6)实施访问，并利用下方自动 装置实施隔室的对准测定(步骤S117)，利用下方自动装置实施盒运送动作(步骤S118)， 并正常结束(步骤S119)。在下方自动装置发生隔室错误(步骤S112为是)并且正常结束(步骤S116)的 情况下，在下一次动作时实施下方自动装置的基准标志测定(步骤S120)。该基准标志测定 与第一实施方式的相同。此外，在利用下方自动装置实施盒的运送动作后(步骤S118)而正常结束(步骤 S119)的情况下，在下一次动作时实施上方自动装置的隔室对准测定(隔室标志测定)(步 骤 S121)。
并且，在图30所示的处理步骤中，为了判断是自动装置侧的时效 变化还是隔室侧 的时效变化，通过巡查来检测隔室的时效变化。该时效变化的监测例如以时间、动作次数为 触发时机。即，就时间而言，在步骤S121中，判断是否已经经过了一定时间，此外，就动作次 数而言，同样地在步骤121中，判断是否进行了一定次数以上的动作。并基于这种判断，执 行步骤S121之后的处理。在该处理步骤中，开始动作，并监测是否已巡查的触发时机(步骤S121)。该巡查 的触发时机为时间或者动作次数、或者同时监测双方以作为巡查的触发时机。在步骤S121中，在已经达到触发巡查的时机的情况下(步骤S121为是)，利用下 方自动装置实施隔室的对准测定(步骤S122)，并判断该对准测定的实施结果与下方自动 装置的原始隔室对准数据之间的变化是不是大(步骤S123)。如果上述结果与下方自动装置的原始隔室对准数据之间的变化不大的话(步骤 S123为否)，则判断为不存在时效变化，利用下方自动装置实施盒运送动作(步骤S124)，从 而完成动作。如果上述结果与下方自动装置的原始隔室对准数据之间的变化大的话(步骤 S123为是)，则判断为下方自动装置侧异常，切换到上方自动装置，通过上方自动装置实施 隔室的对准测定(步骤S125)，并判断该校验测定的实施结果与上方自动装置的隔室对准 数据之间的变化是否大(步骤S126)。如果上述结果与上方自动装置的隔室对准数据之间的变化大的话(步骤S126为 是)，则判断为隔室发生了时效变化，利用下方自动装置实施盒运送动作(步骤S127)，从而 完成动作。此外，如果上述结果与上方自动装置的隔室对准数据之间的变化不大的话(步骤 S126为否)，则判断为下方自动装置发生了时效变化，实施下方自动装置的基准标志测定 (步骤S128)，利用下方自动装置实施盒运送动作(步骤S129)，从而完成动作。在具有这样的两个自动装置6、8的库装置中，通过对两个自动装置6、8交替进行 阶段性的动作检测和对准测定，能够确定是自动装置侧的时效变化还是隔室侧的时效变 化，从而能够与由时效变化产生的隔室访问异常对应地执行适当的处理，能够确保可靠性 高的运送动作。如上所述，在上下搭载像自动装置6、8这样的自动装置的结构中，在发生隔室访 问异常的情况下，在实施基准标志之前，通过运行中的例如除自动装置8以外的自动装置 (在上述实施方式中为自动装置6)进行隔室访问，在两个自动装置6、8都发生隔室访问异 常的情况下，判断为并非自动装置的时效变化，而是收纳架10、即收纳柜侧(隔室安装侧) 的时效变化，不进行基准标志测定，而进行对象隔室标志的再测定，因此能够根据该再测定 结果进行对准调整，能够实现可靠性高且稳定的控制。(其他实施方式)在上述实施方式中，将左侧收纳架10L、后侧收纳架10B和右侧收纳架10R的横向 隔室数设定为例如五个，在隔室列的端部侧设置基准标志18A、18C，在隔室列的中心设置基 准标志18B，并根据所述基准标志18A、18B、18C的测定值和各隔室14的位置进行比例分配， 从而求得自动装置6或8的倾斜度(图15及其说明)，然而也可以构成为在各隔室分别设 置基准标志，对各隔室分别求得自动装置6或8的倾斜度，并对各隔室分别进行对准调整。
在上述实施方式中，对以盒4作为被运送物进行保管的库装置2为例进行示出，然 而本发明也适用于保管除盒4以外的被运送物的保管装置、配送装置等，被运送物并不限 定于盒，而且对准调整装置和对准调整方法也并不限定于库装置。在上述实施方式中，在图7和图8中举例示出了表示隔室和基准标志的基准数据， 然而本发明并不限定于该种基准数据，当然也可以将表示多处位置的简单的位置数据用作 基准数据。在上述实施方式中，作为基准标志的测定开始条件，以前述的条件一、条件二为例 示出，然而也可以对动作命令的次数进行计数，并对该计数值设置测定开始的基准值以作 为测定开始条件。在上述实施方式(图23)中，在电源接通后接收到来自主计算机70的第一次动作 命令时进行基准标志测定，基准标志的测定是根据该动作命令进行的，然而也可以在每次 经过特定的时间间隔或每次接收到动作命令时进行基准标志的测定。在上述实施方式中，以具有作为下方自动装置的自动装置6和作为上方自动装置 的自动装置8并将它们上下地设置的库装置为例示出，然而本发明也并不限定于具有像这 样的两个运送自动装置的情况，也能够应用于具有一个或者三个以上运送自动装置的库装 置、或者采用这种种运送自动装置的运送装置。如上所述，对本发明的最为优选的实施方式等进行了说明，然而本发明并不限定 于上述记载，当然，本领域技术人员能够基于权利要求书中记载的、或者说明中中公开的本 发明的主旨，进行各种变形和变更。所述变形和变更当然也包含在本发明的范围内。产业上的可利用性本发明能够使运送收纳有磁记录带等存储介质的盒等被运送物的运送自动装置 的对准调整自动化，能够实现运送自动装置的控制处理的稳定化，能够用于各种被运送物 的运送，是有效的。此外，在至少具有两个运送自动装置的情况下，能够对隔室访问异常的 原因是由所选择的运送自动装置的自动装置侧的时效变化引起的，还是由隔室侧的时效变 化引起的进行确定等，进行适当的对准调整，能够提高运送动作的可靠性，是有用的。
权利要求
一种对准调整装置，该对准调整装置为自动装置的对准调整装置，所述自动装置进行将被运送物运入到收纳架中以及从收纳架中将被运送物运出的运送动作，其特征在于，该对准调整装置具有至少两个基准标志，所述基准标志设置于所述收纳架；标志测定单元，该标志测定单元从定位于所述基准标志处的所述自动装置上对所述基准标志进行测定；以及对准调整单元，该对准调整单元依照所述自动装置的倾斜度来调整所述自动装置的对准偏差，所述自动装置的倾斜度是根据所述标志测定单元对各所述基准标志的测定值的变化量求得的。
2.根据权利要求1所述的对准调整装置，其特征在于，所述标志测定单元对所述基准标志的测定以测定条件的成立为触发时机进行，所述测 定条件在从测定所述基准标志起经过一定时间时成立、或者在所述自动装置发生了操作错 误时成立。
3.根据权利要求1所述的对准调整装置，其特征在于，所述标志测定单元将所述自动装置定位于离所述自动装置的当前位置最近的标志处， 并在检测到的标志的变化量大的情况下，对该标志所在的对象面上的基准标志进行测定。
4.根据权利要求1所述的对准调整装置，其特征在于，基于对所述自动装置的最初的盒运送命令，所述标志测定单元对位于对象面的基准标 志进行测定。
5.根据权利要求1所述的对准调整装置，其特征在于，所述标志测定单元在电源接通后的一定期间内对位于所述收纳架的对象面中的基准 标志进行测定。
6.根据权利要求1所述的对准调整装置，其特征在于，该对准调整装置具有多个自动装置，并且使用被搭载于待机状态下的自动装置中的标 志测定单元，基于自动装置机构部的巡查动作，对基准标志进行测定。
7.根据权利要求1所述的对准调整装置，其特征在于，该对准调整装置具有计时单元，该计时单元对所述基准标志的测定时间进行计时；以及控制单元，在所述计时单元计时了至进入来自主计算机的超时为止的预定时间时，该 控制单元在进入所述超时之前结束对所述基准标志的测定动作。
8.根据权利要求7所述的对准调整装置，其特征在于，所述控制单元在结束了对所述基准标志的测定动作的情况下，使待机状态下的自动装 置继续所述运送动作。
9.根据权利要求1所述的对准调整装置，其特征在于，所述对准调整单元取得在多个位置对基准标志进行测定的测定结果，在多个测定值之 差大的情况下，使用至少两个以上测定值进行所述对准调整。
10.一种对准调整装置，其特征在于，该对准调整装置具有至少两个自动装置，所述自动装置进行将被运送物运入收纳架中、以及将被运送物从收纳架中运出的运送动作；基准标志，所述基准标志设置于所述收纳架；隔室标志，所述隔室标志设置于所述收纳架的单元中；以及标志测定单元，在所述自动装置的一个自动装置发生隔室访问异常的情况下，所述标 志测定单元在对所述基准标志进行测定之前从所述自动装置切换为另一自动装置进行隔 室访问，在所述自动装置中的这两个自动装置都发生隔室访问异常的情况下，所述标志测 定单元在对所述基准标志进行测定之前对对象隔室标志进行测定。
11.根据权利要求10所述的对准调整装置，其特征在于，在多个自动装置均发生错误的情况下，所述标志测定单元判断为所述隔室侧的时效变 化，并对对象隔室标志进行再次测定。
12.—种库装置，该库装置具有运送盒的自动装置，其特征在于， 该库装置具有收纳架，该收纳架收纳所述盒；至少一个基准标志，所述基准标志设置于所述收纳架中；标志测定单元，该标志测定单元从定位于所述基准标志处的所述自动装置上对所述基 准标志进行测定；以及对准调整单元，该对准调整单元依照所述自动装置的倾斜度来调整所述自动装置的对 准偏差，所述自动装置的倾斜度是根据所述标志测定单元的测定结果求得的。
13.根据权利要求12所述的库装置，其特征在于，该库装置具有权利要求1 9中的任一项所述的对准调整装置。
14.一种库装置，其特征在于， 该库装置具有至少两个自动装置，所述自动装置进行将被运送物运入收纳架中、以及将被运送物从 收纳架中运出的运送动作；基准标志，所述基准标志设置于所述收纳架； 隔室标志，所述隔室标志设置于所述收纳架的隔室；以及标志测定单元，在所述自动装置中的一个自动装置发生隔室访问异常的情况下，所述 标志测定单元在对所述基准标志进行测定之前从所述自动装置切换为另一自动装置进行 隔室访问，在所述自动装置中的这两个自动装置都发生隔室访问异常的情况下，所述标志 测定单元在对所述基准标志进行测定之前对对象隔室标志进行测定。
15.根据权利要求14所述的库装置，其特征在于，在多个自动装置均发生错误的情况下，所述标志测定单元判断为所述隔室侧的时效变 化，并对对象隔室标志进行再次测定。
16.一种对准调整方法，该对准调整方法为自动装置的对准调整方法，所述自动装置将 被运送物运入收纳架中以及将被运送物从收纳架中运出，其特征在于，该对准调整方法包括如下工序标志测定工序，从定位于被设置在所述收纳架中的至少一个基准标志处的所述自动装 置上对所述基准标志进行测定；以及对准调整工序，依照所述自动装置的倾斜度来调整所述自动装置的对准偏差，所述自动装置的倾斜度是根据在所述标志测定工序中得到的测定值求得的。
17.根据权利要求16所述的对准调整方法，其特征在于，在所述标志测定工序中，设定作为测定所述基准标志的触发时机的测定条件，并在该 测定条件成立的情况下测定所述基准标志。
18.根据权利要求17所述的对准调整方法，其特征在于，所述测定条件在从测定所述基准标志起经过一定时间时成立或者在所述自动装置发 生了操作错误时成立。
19.根据权利要求16所述的对准调整方法，其特征在于，将所述自动装置定位于离所述自动装置的当前位置最近的标志处，在检测到的标志的 变化量大的情况下，对该标志所在的对象面的基准标志进行测定。
20.根据权利要求16所述的对准调整方法，其特征在于，基于对所述自动装置的最初的盒运送命令，对位于对象面中的基准标志进行测定。
21.根据权利要求16所述的对准调整方法，其特征在于，在电源接通后的一定期间内对位于所述收纳架的对象面中的基准标志进行测定。
22.根据权利要求16所述的对准调整方法，其特征在于，使用多个自动装置中的处于待机状态下的自动装置，基于自动装置机构部的巡查动 作，对基准标志进行测定。
23.根据权利要求16所述的对准调整方法，其特征在于，在经过了至进入来自与库装置所连接的主计算机的超时为止的预定时间时，在进入所 述超时之前结束对所述基准标志的测定动作。
24.根据权利要求16所述的对准调整方法，其特征在于，取得在多个位置对基准标志进行测定的测定值，在多个测定值之差大的情况下，使用 至少两个以上测定值进行所述对准调整。
25.—种对准调整方法，该对准调整方法采用至少两个自动装置，所述自动装置进行将 被运送物运入到收纳架中、以及将被运送物从收纳架中运出的运送动作，其特征在于，该对准调整方法包括标志测定工序，在该标志测定工序中，在隔室访问发生异常的情 况下，在对所述基准标志进行测定之前从访问发生异常时的那个自动装置切换为另一自动 装置进行访问，在多个自动装置均发生错误的情况下，对对象隔室标志进行测定。
26.根据权利要求25所述的对准调整方法，其特征在于，在所述标志测定工序中，在多个自动装置均发生错误的情况下，判断为所述隔室侧的 时效变化，并对对象隔室标志进行再次测定。
全文摘要
本发明提供运送盒等被运送物的自动装置(6、8)的对准调整装置、库装置以及对准调整方法，以设置于用于收纳被运送物(盒(4))的收纳架(10)中的基准标志(18A、18B、18C)的测定条件成立为触发时机来测定基准标志，并且根据该测定结果来检测自动装置和收纳架之间的对准的变化量，并根据该变化量来调整对准。对准调整能够在自动装置侧实施，而不会影响到主计算机，能够使自动装置的操作稳定化。
文档编号B65G1/04GK101827764SQ20088011200
公开日2010年9月8日 申请日期2008年7月18日 优先权日2007年10月16日
发明者佐佐木忍 申请人:富士通株式会社