测试设备的制作方法

文档序号:6117432
专利名称:测试设备的制作方法
技术领域
本发明涉及一种测试设备,特别是涉及一种电子装置的枢轴耐久性测 试的测试设备。
背景技术
一般而言,电子装置具备有轻薄短小及方便携带的功能已成为现代潮 流的趋势。为缩小电子装置的体积,以达到方便携带的功效,目前市面上 发展出掀盖方式来缩小其体积的可携式电子装置,例如笔记型电脑及行动 通讯装置等,掀盖式的电子装置于制造后会利用一测试设备来测试其枢轴 的耐久性,藉以提供制造厂商关于电子装置枢轴的使用寿命及耐久性等相 关资讯,以利厂商改良结构设计,控管产品品质及了解其产品的使用特性。
请参阅图1所示, 一种现有习知的测试设备1是用以进行电子装置E 的枢轴耐久性测试。在此,电子装置E以笔记型电脑为例,电子装置E具 有一第一本体E1、 一第二本体E2及一枢轴E3。第一本体E1及第二本体E2 是枢接于枢轴E3上,测试设备1具有一底座11、 一框架12以及一控制装 置14。其中,框架12连结二个夹具13,且框架12枢设于底座11,控制装 置14与框架12电性连接以控制框架12转动。
在试电子装置E的枢轴E3耐久性时,首先,将电子装置E的第一主体 El固定于测试设备l的底座11上。接着,利用夹具13将电子装置E的第 二主体E2固定于框架12上。之后,再利用控制装置14来控制框架12相 对于底座ll转动,俾使第二本体E2以枢轴E3为中心,相对于第一本体E1 转动。藉由上述方式,测试设备1不断地利用框架12相对于底座11转动 的方式,来带动电子装置E的第二本体E2以枢轴E3为中心,相对于第一 本体E1转动,直到枢轴E3断裂或损坏为止,藉以得知电子装置E的枢轴 E3的使用寿命及耐久性。
利用上述方式,仅由框架12带动电子装置E的第二本体E2相对于第 一主体E1转动。然而,在长期使用的情况下,使用者在开启或闭合电子装 置E时,亦会施予一正向力N至枢轴E3,造成枢轴E3因长期受力作用而损 坏。
有鉴于此,如何提供一种测试设备能够正确地模拟实际使用状态时,电 子装置因长期受正向力作用而损坏的情形,实为重要课题之一。
由此可见,上述现有的测试设备在结构与使用上,显然仍存在有不便 与缺陷,而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题,相关厂商莫不
费尽心思来"i某求解决之道,但长久以来一直未见适用的设计被发展完成,而
一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题,此显然是相关业者急欲解 决的问题。因此如何能创设一种新型的测试设备,实属当前重要研发课题之 一,亦成为当前业界极需改进的目标。
有鉴于上述现有的测试设备存在的缺陷,本发明人基于从事此类产品 设计制造多年丰富的实务经验及专业知识,并配合学理的运用,积极加以研 究创新,以期创设一种新型的测试设备,能够改进一般现有的测试设备,使其 更具有实用性。经过不断的研究、设计,并经过反复试作样品及改进后,终于 创设出确具实用 <介值的本发明。

发明内容
本发明的主要目的在于,克服现有的测试设备存在的缺陷,而提供一 种新型的测试设备,所要解决的技术问题是使其能够正确地模拟实际使用 状态时电子装置因长期受正向力作用而损坏的情形,从而更加适于实用。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据 本发明提出的一种测试设备,是应用于测试一电子装置,其特征在于该电 子装置具有一第一本体、 一第二本体及一枢轴,该第一本体及该第二本体
与该枢轴枢接,该测试设备包含 一底座,是承载并固定该第一本体;一 框架,是枢设于该底座; 一施力机构,是设置于该框架,以固定该第二本 体,并施加一正向力至该枢轴;以及一控制装置,是与该框架电性连接,控制 该框架转动,带动该第二本体以该枢轴相对于该第一本体转动。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。 前述的测试设备,其中所述的施力机构是具有一夹持件,以固定该第 二本体。
前述的测试设备,其中所述的施力机构更具有一螺杆,该螺杆具有一第
一端及一第二端,该第一端连结于该框架,该第二端连结于该夹持件,藉由
该螺杆转动而改变该夹持件与该框架间的距离。
前述的测试设备,其中所述的施力机构更具有一弹性件,其是设置于
该夹持件与该框架之间。
前述的测试设备,其中所述的弹性件是套设该螺杆。 前述的测试设备,其中所述的弹性件是为一弹簧、 一弹片或一伸缩套。 前述的测试设备,其更包含至少一支撑座,是设置于该底座下,以
调整该底座的高度与角度。
前述的测试设备,其中所述的控制装置具有一感测元件,其是计数该
第二本体相对于该第一本体转动的转动次数。
前述的测试设备,其中所述的感测元件是为一红外线感测器、 一紫外
线感测器、 一光感测器或一超音波感测器。
前述的测试设备,其中所述的感测元件是为一压电感测器。 本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。借由上述技术方 案,本发明测试设备至少具有下列优点承上所述,因依据本发明的测试 设备是藉由施力机构施加一平行于第二主体的正向力至枢轴的方式,来模 拟实际使用时开启与闭合电子装置的受力状态。与现有习知技术相较,本 发明能够正确地模拟实际使用状态,了解枢轴因长期受正向力作用而损坏 的情形,藉以改良枢轴的结构设计,提高枢轴的可靠度与使用寿命。
综上所述,本发明是有关于一种测试设备是应用于测试一电子装置,电 子装置具有一第一本体、 一第二本体及一枢轴,第一本体及第二本体与枢
轴枢接。测试设备包含一底座、 一框架、 一施力机构以及一控制装置;底 座是承载并固定第一本体,框架是枢设于底座;施力机构是设置于框架,以 固定第二本体,并施加一正向力至枢轴;控制装置是与框架电性连接,控 制框架转动,带动第二本体以枢轴相对于第一本体转动。本发明能够正确 地模拟实际使用状态,了解枢轴因长期受正向力作用而损坏的情形,藉以 改良枢轴的结构设计,提高枢轴的可靠度与使用寿命。本发明具有上述诸 多优点及实用价值,其不论在设备结构或功能上皆有较大的改进,在技术 上有显著的进步,并产生了好用及实用的效果,且较现有的测试设备具有 增进的突出功效,从而更加适于实用,并具有产业的广泛利用价值,诚为 一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的 技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和 其他目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附 图,详细说明如下。


图l是一种现有习知的测试设备的示意图2A是依据本发明较佳实施例的一种测试设备的示意图2B是依据本发明较佳实施例的测试设备中施力机构的示意图;以及
图3是图2A的测试设备的作动示意图。
1、 2:测试设备 11、 21:底座
12、 22:框架 13:夹具
14、 24:控制装置 23:施力机构
231:夹持件 232:螺杆
2321:第一端 2322:第二端
233:弹性件 25:支撑座
E:电子装置 El:第一主体
E2:第二主体 E3:枢轴
N:正向力
具体实施例方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功 效,以下结合附图及较佳实施例,对依据本发明提出的测试设备其具体实施 方式、结构、特征及其功效,详细说明如后。
以下将参阅相关图式,说明依据本发明较佳实施例的一种测试设备,其
中相同的元件将以相同的参照符号加以说明。
请参阅图2A所示,本发明较佳实施例的一种测试设备2包含一底座21、 一框架22、 一施力机构23以及一控制装置24。测试设备2是应用于测试 一电子装置E,电子装置E具有一第一本体El、 一第二本体E2及一枢轴E3, 第一本体El及第二本体E2与枢轴E3枢接。电子装置E是可为一笔记型电 脑或一行动通讯装置,但不限于手机;在本实施例中,电子装置E是以笔 记型电脑为例。此外,具有二个本体并藉由枢轴枢接,而可开启与闭合的 电子装置,本发明的测试设备均可应用以模拟实际使用时开启与闭合的受 力状态。
底座21是承载并固定第一本体El,底座21下更可设置至少一支撑座 25,以因应不同的电子装置E的尺寸与厚度,以机械或手动方式调整底座 21的高度与角度;在本实施例中,是配置四个支撑座25邻近于底座21的 四个角落。框架22枢设于底座21,使框架22能够以枢接处为转动中心,相 对于底座21转动,藉由框架22转动而带动第二本体E2转动。
施力机构23设置于框架22上,以固定第二本体E2,俾便于框架22转 动时带动第二本体E2 —并转动。此外,施力机构23施加一正向力N至第 二本体E2,第二本体E2受到正向力N作用会传递至枢轴E3,故可模拟枢 轴E3长期受正向力N作用而损坏的情形。控制装置24与框架22电性连接, 用以控制框架22相对于底座21转动,而带动第二本体E2以枢轴E3为转 动中心,相对于第一本体E1转动。控制装置24是具有一感测元件(图未显 示),其是计数第二本体E2相对于第一本体El转动的转动次数,感测元件 是可为一红外线感测器UR sensor )、 一紫外线感测器(UV sensor )、 一 光感测器或一超音波感测器,或可为一压电感测器。
请参阅图2B所示,施力机构23具有一夹持件231及一螺杆232;夹持 件231是用以固定第二本体E2,螺杆232具有一第一端2321及一第二端 2322,第一端2321连结于框架22,第二端2322连结于夹持件231,且藉 由螺杆232转动来改变夹持件231与框架22间的距离。举例来说,当夹持件231与螺杆232的第二端2322固定时,藉由螺杆232的笫一端2321相 对于框架22转动,使螺杆232朝向或远离框架22位移,使得夹持件231 与框架22间的距离缩短或加长;或者,当螺杆232的第一端2321与框架 22固定时,藉由螺杆232的第二端2322与夹持件231相对转动,使夹持件 231在螺杆232上位移,调整夹持件231与框架22间的距离缩短或加长。 换言之,经由夹持件231与螺杆232、或螺杆232与框架22间的相对转动, 来调整(缩短或加长)夹持件231与框架22间的距离,以调控施力机构23 施予第二主体E2的正向力N的大小。
施力机构23更具有一弹性件233,其是设置于夹持件231与框架22之 间;例如,弹性件233可套设螺杆232或与螺杆232平行设置于夹持件231 与框架22之间。在此,当夹持件231与框架22间的距离固定时,则可藉 由弹性件233的变化例如压缩量来调控正向力N的大小,以提供符合实际 使用状态的正向力N,达到正确^^莫拟的功效。此外,亦可藉由夹持件231与 框架22间的距离变化,来调整弹性件233所提供的正向力N的大小。再者, 弹性件233可为一弹簧、 一弹片或一伸缩套等,但并不以此为限,任何具
有弹性功能的元件皆为本实施例的范畴。
以下将举例说明本发明较佳实施例的测试设备2的作动过程。
请参阅图3所示,首先,将电子装置E放置在底座21上,并将第一本
体E1固定于底座21上。接着,再调整施力机构23的夹持件231夹持第二
本体E2的端部,并调控施加在第二本体E2的正向力N。最后,启动控制装
置24,并控制其作动速度,使框架22相对于底座21转动,因而带动第二
本体B2以枢轴E3为中心,相对于第一本体E1转动。框架22在转动的过
程中,施力机构23的螺杆232及弹性件233会施加一正向力N于第二本体
E2,再传递作用至枢轴E3。利用上述方式,反复地模拟使用状态时枢轴E3
长期受正向力N作用的耐久性测试,直至枢轴E3损坏或断裂为止。其中,在
测试过程中,控制装置24的感测元件(例如红外线感测器)会计数第二本
体E2相对于第一本体El转动的转动次数,得知枢轴E3的使用寿命及耐久性。
综上所述,因依据本发明的测试设备是藉由施力机构施加一平行于第 二主体的正向力至枢轴的方式,模拟实际使用时开启与闭合电子装置的受 力状态。与现有习知技术相较,本发明能够正确地模拟实际使用状态,了 解枢轴因长期受正向力作用而损坏的情形,藉以改良枢轴的结构设计,提
高枢轴的可靠度与使用寿命。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式 上的限制,虽然本发明已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本发 明,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利
用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但 凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例 所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围 内。
权利要求
1、一种测试设备,是应用于测试一电子装置,其特征在于该电子装置具有一第一本体、一第二本体及一枢轴,该第一本体及该第二本体与该枢轴枢接,该测试设备包含一底座,是承载并固定该第一本体;一框架,是枢设于该底座;一施力机构,是设置于该框架,以固定该第二本体,并施加一正向力至该枢轴;以及一控制装置,是与该框架电性连接,控制该框架转动,带动该第二本体以该枢轴相对于该第一本体转动。
2、 根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于其中所述的施力机构 是具有一夹持件,以固定该第二本体。
3、 根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于其中所述的施力机构 更具有一螺杆,该螺杆具有一第一端及一第二端,该第一端连结于该框架,该 第二端连结于该夹持件,藉由该螺杆转动而改变该夹持件与该框架间的距 离。
4、 根据权利要求3所述的测试设备,其特征在于其中所述的施力机构 更具有一弹性件,其是设置于该夹持件与该框架之间。
5、 根据权利要求4所述的测试设备,其特征在于其中所述的弹性件是 套设该螺杆。
6、 根据权利要求4所述的测试设备,其特征在于其中所述的弹性件是 为一弹簧、 一弹片或一伸缩套。
7、 根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于其更包含至少一支 撑座,是设置于该底座下,以调整该底座的高度与角度。
8、 根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于其中所述的控制装置 具有一感测元件,其是计数该第二本体相对于该第一本体转动的转动次数。
9、 根据权利要求8所述的测试设备,其特征在于其中所述的感测元件 是为一红外线感测器、 一紫外线感测器、 一光感测器或一超音波感测器。
10、 根据权利要求8所述的测试设备,其特征在于其中所述的感测元 件是为一压电感测器。
全文摘要
本发明是有关于一种测试设备是应用于测试一电子装置,电子装置具有一第一本体、一第二本体及一枢轴,第一本体及第二本体与枢轴枢接。测试设备包含一底座、一框架、一施力机构以及一控制装置;底座是承载并固定第一本体,框架是枢设于底座;施力机构是设置于框架,以固定第二本体,并施加一正向力至枢轴;控制装置是与框架电性连接,控制框架转动,带动第二本体以枢轴相对于第一本体转动。本发明能够正确地模拟实际使用状态,了解枢轴因长期受正向力作用而损坏的情形,藉以改良枢轴的结构设计,提高枢轴的可靠度与使用寿命。
文档编号G01M99/00GK101201297SQ20061016782
公开日2008年6月18日 申请日期2006年12月14日 优先权日2006年12月14日
发明者戴宝华, 陈彦志 申请人:英业达股份有限公司
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