专利名称：交联电缆绝缘层检测方法及其装置的制作方法
技术领域：
本发明交联电缆绝缘层检测方法及其装置属于电线电缆领域，涉及一种用于对交
联电缆绝缘层的微孔以及杂质进行检测的方法及装置。
背景技术：
现有测量方法是把交联电缆绝缘层进行径向切片，通过测量显微镜测量绝缘层的 微孔和杂质。要求80个切片厚度在0. 4 0. 7mm之间，检测的电缆长度在32mm 56mm之 间，检查的试样长度较短。每个片用测量显微镜的检查时间在20分钟以上80个片要用27 小时，比较费时。而且对切片的表面质量要求较高，否则无法判断所见缺陷是电缆本体自带 还是切片时造成。
发明内容
本发明的目的在于避免现有技术中的不足之处，而提供一种检测质量好，提高检 测效率，减少检测时间的交联电缆绝缘层检测装置。 本发明的目的在于避免现有技术中的不足之处，而提供一种检测质量好，提高检 测效率，减少检测时间的交联电缆绝缘层检测方法。 本发明的目的是通过以下措施来达到的，交联电缆绝缘层检测方法如下，
截取lOOmm长交联电缆试样一段，用刨片机刨平两端面，把试样固定在透明的有 机导热剂中，用加热装置对整段100mm的电缆样段，加热到ll(TC _130°C ，使绝缘层呈透明 状，用放大镜，在光照下直接对样段进行检查，用测量装置，测量微孔和杂质的大小以及位 置，测量大小能确定是否符合产品标准要求，测量位置能对缺陷点进行解剖取样分析。
本方法采用不同的于传统的试样切片，逐片检查的方法。利用交联绝缘料在一定 的温度下会变成透明的特性，对整段试样进行加热使原来用呈乳白色的绝缘层变成透明， 而需要被检测出来的微孔和杂质则不会因为温度的升高的改变。再通过与传统方法中测量 显微镜放大倍数相同的放大镜，对绝缘层进行观察和测量。而且放大镜在光源照射下，更加 方便观察。 本发明的目的是通过以下措施来达到的，交联电缆绝缘层检测装置是由机体，自 带光源放大器，测量装置，固定夹具，导热剂容器，加热装置组成，在机体上安装支架，自带 光源放大镜安装在支架上，加热装置设置在机体上，导热剂容器放置在加热装置上，固定夹 具安装在机体上，在固定夹具上方设置有测量装置。利用温控加热装置以及导热剂，对整段 80 100mm的电缆样段进行加热，使绝缘层呈透明状态，利用自带光源的大倍数放大镜，直 接对样段进行检查。在放大镜和样品中间有测量装置，能测量微孔和杂质的大小以及位置。 测量大小能确定是否符合产品标准要求，测量位置能对缺陷点进行解剖取样分析。试验时 间能大大縮短到3小时内，完成检查以及微孔杂质的测量。试样长度增加1倍以上，发现缺 陷的几率提高l倍。 本发明的自带光源放大镜是安装在自带光源放大镜座上，自带光源放大镜座安装在支架上，测量装置座安装在支架上，测量装置是安装在测量装置座上。 本发明的固定夹具由夹紧挡块，丝杆，伞齿轮，轴承座，联动轴，传动手轮组成，传 动手轮安装在联动轴上，联动轴连接伞齿轮，丝杆连接伞齿轮，夹紧挡块安装在固定座上， 丝杆在夹紧挡块上。在导热剂容器底部安装电缆样段V形座。 本发明的加热装置是由发热丝，温度控制器，温度传感器，接触器组成，发热丝连 接接触器，温度控制器连接接触器，温度控制器连接温度传感器。 本发明试验时间能大大縮短，从整个完成要27小时縮短到3小时内完成大致的检 查以及微孔杂质的测量。试样长度增加l倍以上，发现缺陷的几率提高l倍。对缺陷位置 是三维立体观察，无需对切片看到的二维缺陷重组成三维缺陷，有利于分析缺陷原因。结构 简单，检测效率高，检测时间短，适合于对交联电缆绝缘层的微孔以及杂质进行检测。
附图1为本发明的结构示意图。 附图2为本发明的实施例结构示意图。 附图3为本发明的固定夹具示意图。 附图4为本发明的加热装置电器原理示意图。
具体实施例方式
下面结合附图对本发明作进一步说明。 图中自带光源放大镜座l，支架2，测量装置座3，导热剂4，电缆样段5，固定夹具 6，导热剂容器7，加热装置8，开关9，温控显示表10，自带光源放大镜11，测量装置12，挡板 20，加强筋21，电缆样段V形座22，夹紧挡块23，丝杆24，伞齿轮25，钢板26，轴承座27，铜 套28，联动轴29，传动手轮30。 如附图1所示，交联电缆绝缘层检测装置是由机体，自带光源放大器ll，测量装置 12，固定夹具6，导热剂容器7，加热装置组成，在机体上安装支架2，自带光源放大镜安装在 支架上，加热装置设置在机体上，导热剂容器放置在加热装置上，固定夹具安装在机体上， 在固定夹具上方设置有测量装置。利用温控加热装置以及导热剂，对整段80 100mm的电 缆样段进行加热，利用自带光源的大倍数放大镜，直接对样段进行检查。在放大镜和样品中 间有测量装置。 如附图2所示，本发明交联电缆绝缘层检测装置是由机体，自带光源放大镜，测量 装置，固定夹具6，导热剂容器7，加热装置8组成，自带光源放大镜(型号LT-86B)是安装 在自带光源放大镜座1上，在机体上安装支架2，自带光源放大镜座1安装在支架2上，测量 装置座3安装在支架2上，测量装置(型号M1-25)是安装在测量装置座3上，导热剂容器 7放置在加热装置8上，开关9控制加热装置8，加热装置设置在机体上，导热剂容器7放置 在加热装置上，固定夹具安装在机体上，在固定夹具上方设置有测量装置。导热剂容器内放 置导热剂4，电缆样段5设置在固定夹具上，电缆样段5放置在导热剂容器内的导热剂4中， 温控显示表10显示加热温度。 如附图3所示，本发明固定夹具由夹紧挡块23，丝杆24，伞齿轮25，轴承座27，联 动轴29，传动手轮30组成，传动手轮30安装在联动轴29上，联动轴29连接伞齿轮25，丝杆连接伞齿轮25，夹紧挡块23安装在固定座上，丝杆24在夹紧挡块23上，在导热剂容器7 内安装挡板20，加强筋21支撑挡板20，在导热剂容器7底部安装电缆样段V形座22，电缆 样段5放置在电缆样段V形座22上，导热剂容器7放置在加热装置8上，丝杆上连接一对 伞齿轮25，传动手轮30安装在联动轴29上，联动轴29连接伞齿轮25，联动轴29通过铜套 28安装在轴承座27上，轴承座27固定在钢板26上。 如附图4所示，本发明加热装置是由发热丝，PID温度控制器，温度传感器，接触器 组成，发热丝连接接触器，PID温度控制器连接接触器，PID温度控制器连接温度传感器，利 用温控加热使导热剂容器中的导热剂加热。
交联电缆绝缘层检测方法步骤如下， 1、截取lOOmm长交联电缆试样一段，用刨片机刨平两端面。 2、把试样固定在透明的有机导热剂中(聚有机硅氧烷油状物)。 3、用加热装置对整段100mm的电缆样段，加热到120°C ，使绝缘层呈透明状。 4、用自带光源的40倍数放大镜，直接对样段进行检查。 5、用测量装置，测量微孔和杂质的大小以及位置。 本方法采用不同的于传统的试样切片，逐片检查的方法。利用交联绝缘料在一定 的温度下会变成透明的特性，对整段试样进行加热使原来用呈乳白色的绝缘层变成透明， 而需要被检测出来的微孔和杂质则不会因为温度的升高的改变。再通过与传统方法中测量 显微镜放大倍数相同的放大镜，对绝缘层进行观察和测量。而且放大镜在光源照射下，更加 方便观察。
权利要求
一种交联电缆绝缘层检测装置，是由机体，自带光源放大器，测量装置组成，其特征是在机体上安装支架，自带光源放大镜安装在支架上，加热装置设置在机体上，导热剂容器放置在加热装置上，固定夹具安装在机体上，在固定夹具上方设置有测量装置。
2. 根据权利要求1所述的交联电缆绝缘层检测装置，其特征是自带光源放大镜座安装 在支架上，自带光源放大镜是安装在自带光源放大镜座上，测量装置座安装在支架上，测量 装置是安装在测量装置座上。
3. 根据权利要求1所述的交联电缆绝缘层检测装置，其特征是固定夹具由夹紧挡块， 丝杆，伞齿轮，轴承座，联动轴，传动手轮组成，传动手轮安装在联动轴上，联动轴连接伞齿 轮，丝杆连接伞齿轮，夹紧挡块安装在固定座上，丝杆在夹紧挡块上。
4. 根据权利要求1所述的交联电缆绝缘层检测装置，其特征是在导热剂容器底部安装 电缆样段V形座。
5. 根据权利要求1所述的交联电缆绝缘层检测装置，其特征是加热装置是由发热丝， 温度控制器，温度传感器，接触器组成，发热丝连接接触器，温度控制器连接接触器，温度控 制器连接温度传感器。
6. —种交联电缆绝缘层检测方法，其特征是截取交联电缆试样一段，用刨片机刨 平两端面，把试样固定在透明的有机导热剂中，用加热装置对整段的电缆样段，加热到 ll(TC -130°C ，绝缘层呈透明状，用放大镜，在光照下直接对样段进行检查，用测量装置，测 量微孔和杂质的大小以及位置。
全文摘要
本发明交联电缆绝缘层检测方法及其装置属于电线电缆领域，交联电缆绝缘层检测装置是由机体，自带光源放大器，测量装置，固定夹具，导热剂容器，加热装置组成，在机体上安装支架，自带光源放大器安装在支架上，加热装置设置在机体上，导热剂容器放置在加热装置上，固定夹具安装在机体上，在固定夹具上方设置有测量装置。利用温控加热装置以及导热剂，使绝缘层呈透明状态，利用自带光源的大倍数放大镜，直接对样段进行检查。本发明结构简单，检测效率高，检测时间短，适合于对交联电缆绝缘层的微孔以及杂质进行检测。
文档编号G01N21/88GK101718715SQ20091019387
公开日2010年6月2日 申请日期2009年11月5日 优先权日2009年11月5日
发明者温志铭 申请人:广州岭南电缆有限公司