专利名称：电子元件测试机构的制作方法
技术领域：
本实用新型是有关一种电子元件，例如集成电路(IC)测试机构，尤指一种具有定 位确实、接触稳定的电子元件测试机构。
背景技术：
电子元件，例如集成电路(IC)制成后，通常须要经过测试后，以确保电子元件的 品质，方能进行后续的包装出货作业。即以重力传感器(g-sensor)的集成电路为例，因其可提供速度和位移的信息。所 以重力传感器可以用来测量目前装置，例如遥控器或手机的倾斜角度，以便输出不同的电 压值，再经由程序转换后得出数值后，进而控制电视游乐器中的动作或将手机屏幕的图像 进行翻转。因此，该重力传感器的倾斜角度测试，并非一般集成电路测试机所能胜任，而是必 须借助动态球形旋转测试机的旋转动作，以便测试该重力传感器在旋转时是否发生异常。 如图1所示，乃已知动态球形旋转测试机的示意图，该测试机是在一机台10上相对设有一 对支架101，该对支架101间以一第一枢轴102枢接一外框件20，且该第一枢轴102经由第 一传动装置103的正、逆转，使该外框件20相对于第一枢轴102的X轴方向呈前、后转动； 该外框件20内套设一内框件30，该内框件30于X轴的垂直方向装设一第二枢轴301，该第 二枢轴301经由一装设于外框件20的第二传动装置302的正、逆转，使该内框件30相对于 第二枢轴301的Y轴方向呈左、右转动。其中，该内框件30上装设一电子元件测试机构40，如图1至图2b所示，该机构40 是在一基座401表面以阵列方式开设多个容置凹槽402，各容置凹槽402内依据待测试集成 电路的脚位对应设置探针403，而为使待测试集成电路于该动态球形旋转测试机座动时的 定位，各容置凹槽402上方横向枢设一可转动的压掣臂403，且各容置凹槽402前、后侧相对 设有一对弹性伸缩架404，而各压掣臂403则枢设于一弹性伸缩架404。如欲进行动态测试时，该机台10由底部所连接的升降机构的作动，而将该机台10 上升，使该等弹性伸缩架404触及一顶盖(未予以图标，以箭头代表)后被压缩，而将该等 压掣臂403如图2b所示因转动而向上翘起。此时，一机械手臂上具有等同于容置凹槽402 阵列配置的吸嘴移动至该顶盖上方，并将各吸嘴所吸附IC穿过该顶盖对应容置凹槽402阵 列所开设穿槽，而将各IC置于容置凹槽402内后，该机械手臂移开，而机台10再度由升降 机构的作动，而缓慢地下降，而此下移过程中，若该等弹性伸缩架404尚未完全伸展时，使 压掣臂403无法向下压掣IC，而令所有的IC因处于非定位状态，容易造成偏移现象，进而无 法与探针403形成准确的对位关系，以致在随后的外、内框件20、30分别进行前后、左右转 动的倾斜角度测试，将无法获得准确的测试结果。尤其是，由于前述电子元件测试机构40的结构复杂，例如各容置凹槽402的两侧 需相对设置一对弹性伸缩架404，且其中一弹性伸缩架404内以杠杆原理枢接一压掣臂403 的组合，将限制电子元件测试机构的扩充性，亦即IC同时进行检测数量受到限制；以及因机台10顶底部需分别设置伸降机构及顶盖，而使得该动态球形旋转测试机体积庞大，而亟
待改善。
实用新型内容本实用新型的主要目的在于提供一种电子元件测试机构，该测试机构使得待测试 电子元件，例如集成电路具有定位确实、接触稳定、扩充性佳、及有效缩减机台体积的优点。为达成前述的目的，本实用新型所采取的技术手段是提供一种电子元件测试机 构，其包括一基座，其表面设有至少一基座连接器，以及伸出至少一对彼此隔开且可开合的 夹具；一吸盘座，其纵向开设多个纵向槽，各纵向槽底部连通一可吸附或释放电子元件 的容置凹穴；以及一定位测试装置，其装设于该基座顶面，该装置进一步包括一电路板，其表面依据各容置凹穴内的电子元件接脚位置设有经电路布局的接 点，且该电路板纵向开设供各夹具穿出的板孔，另于该电路板底面设有至少一与该基座连 接器相对接的电路板连接器；一定位框，其固设于该电路板顶面，该定位框纵向开设一开口，开口顶部两侧相对 设有一对限位板；以及一探针座，其套设于该开口内，并使两侧边邻接该对限位板底面，该探针座对应各 接点位置插接可弹性伸缩的探针，并将各探针底部与对应的接点相接触；当吸盘座与定位框对接时，该至少一对可开合的夹具夹住该吸盘座，使该吸盘座 底面所吸附的各电子元件被探针座顶面突伸的探针所顶持与接触。本实用新型的有益效果是具有定位确实、接触稳定、扩充性佳、及有效缩减机台 体积的优点。
为进一步揭示本实用新型的具体技术内容，首先请参阅附图，其中图1为已知动态球形旋转测试机的局部立体图；图加及图2b为已知电子元件测试机构未作动及上升以承接电子元件的示意图；图3为本实用新型动态球形旋转测试机的立体图；图如及图4b为本实用新型电子元件测试机构两不同视角的立体分解图；图5为本实用新型电子元件测试机构装设于动态球形旋转测试机的立体图；图6a及图6b为本实用新型电子元件测试机构组合前后的剖面图。
具体实施方式
如图3至图5所示，本实用新型电子元件测试机构2装设于一动态球形旋转测试 机1的顶面。该动态球形旋转测试机1是在一机台11上相对设有一对支架12，该对支架12间 以一第一枢轴13枢接一外框件14，且该第一枢轴13经由一设于一支架12外侧面的第一传动装置15的正、逆转，使该外框件14相对于第一枢轴13的X轴方向呈前、后转动。该外框 件14内套设一内框件16，该内框件16相对于X轴的垂直方向枢接一第二枢轴17，该第二 枢轴17经由一装设于外框件14外侧面的第二传动装置18的正、逆转，使该内框件16相对 于第二枢轴17的Y轴方向呈左、右转动。其中，该内框件16顶面装设一电子元件测试机构2，如图3至图4b所示，该电子元 件测试机构2是由一基座21、一吸盘座22、及一定位测试装置23、及所组成。该基座21设于该内框件16顶部，其表面适当位置，例如前后侧相对设有至少一对 基座连接器211，且该基座21表面伸出至少一对彼此隔开的夹具212，各夹具212顶部向内 伸出扣钩213，且经由已知的开合装置，例如油、气压缸的驱动，使各对夹具212得以呈扇形 开合，以夹固后叙的吸盘座22。该吸盘座22是对位叠置于后叙定位测试装置23顶面的定位框232上。该吸盘座 22纵向开设呈矩阵排列的纵向槽221，各纵向槽221底部连通一可吸附或释放电子元件3， 例如IC的容置凹穴222。该吸盘座22周缘对应各夹具212位置突伸一夹块223，以便供夹 具212的夹持。如图如与4b所示，该吸盘座22底面对应后叙定位框232顶面的各定位孔 232e位置突设定位销224。请再参阅图如及图4b，该定位测试装置23包括一电路板231，该电路板231依据 各容置凹穴222内的电子元件接脚位置设有经电路布局的接点231a，以便与各探针23 形 成电性连接。该电路板231底面对应前述基座连接器211位置相对设置电路板连接器231b， 当该两连接器211、231b对接后，即完成该电路板231与基座21的电性连接。其中，该电路 板对应各对夹具212位置开设板孔231c，以便供夹具212的伸出。该电路板231上方装设一定位框232，该定位框232纵向开设一开口 232a，另将一 探针座233由该定位框232底部套设于该开口 23 内，该开口 23 顶部两侧相对设有一 对限位板232b，并使该探针座233两侧边邻接该对限位板232b底面。该探针座233对应电路板231的接点231a位置纵向开设针孔233a，供探针23 插 入与定位后，使多个探针23 与容置凹穴222相同呈阵列配置，并突伸于前述的开口 23 区域内。该探针座233顶面突设至少两固定销233c，各固定销233c插入各限位板232b预设 的固定孔232c内定位。而为使该探针座233能够稳固地固设于该定位框232的开口 23 内，因此，该电路板231底面设有一固定板234，该固定板234四角隅开设穿孔23 ，以便供 已知的连接件234b，例如螺栓穿越穿孔23如、电路板231的通孔231d、并锁固于定位框232 的框孔232d内，使该固定板234与定位框232共同包夹该探针座233及电路板231。尤其是，该对限位板232b顶面另开设至少两定位孔23 ，且为侦测后叙吸盘座22 是否到位，该定位框232顶面适当位置，例如定位孔23 外侧各自接装一近接开关235，以 便以非接触方式侦测该吸盘座22确实到位后，即发出一信号，使该至少一对夹具212向内 呈扇形运动，以便夹固该吸盘座22的夹块223。如图如所示，该近接开关235横向插入一 开关座23 内，并将各开关座23 接装于定位孔23 外侧，即可完成该定位测试装置23 的组装工序。接着，将该定位测试装置23固设于基座21上方，使电路板连接器231b与基 座连接器211对接，以形成电路的接通；且各对夹具212由电路板231的板孔231c伸出。本实用新型操作时，首先位于他处并呈反置型态的吸盘座22的容置凹穴222内依 序放妥电子元件3，例如IC后，此时，一已知载具4，例如具有等同于纵向槽221阵列配置吸嘴41的机械手臂移动至该吸盘座22的各纵向槽221位置，并将各吸嘴41对正所属的纵向 槽221进行抽真空作业，使各IC吸附于容置凹穴222内；接着，该机械手臂将该吸盘座22 反转，使该吸盘座22如图6a所示移动至定位框232上方并下降；然后，该吸盘座22由两 根定位销2M插入该定位框232的定位孔23 内，使各IC的接脚与该探针座233对应设 置的探针23 形成接触，并由具有弹性伸缩的探针23 顶持着IC，以形成如图6b所示的 定位与接触状态。此时，该近接开关235侦测到吸盘座22与定位框232形成准确对位关系 后，该近接开关235发出一信号，使该至少一对夹具212向内呈扇形运动，以便夹固该吸盘 座22的夹块223，而形成如图5所示的型态。最后，该动态球形旋转测试机1的第一传动装置15带动第一枢轴13正、逆向转 动，使该外框件14、第二传动装置18、内框件16与电子元件测试机构2亦同步正、逆向转 动，以测试该IC相对于第一枢轴13的X轴方向呈前、后转动的倾斜角度测试。接着，该第一 传动装置15停机后，该第二传动装置18带动第二枢轴17正、逆向转动，使内框件16与电 子元件测试机构2亦同步正、逆向转动，以测试该IC相对于第二枢轴17的Y轴方向呈左、 右转动的倾斜角度测试。所以，经由本实用新型的实施，其所增益的功效在于，当吸盘座与定位接触装置 的定位框对接时，该至少一对可开合的夹具夹住该吸盘座，使该吸盘座底面所吸附的各电 子元件被探针座顶面具有弹性伸缩的探针所顶持与接触，以形成定位确实与接触稳定的效 果；且在此对接过程中，电子元件不会造成偏移，从而确保测试的稳定性，并增加电子元件 的良率。再者，本实用新型的电子元件测试机构的结构简单，仅需改变电路板的接点、探针 座的探针及吸盘座的纵向槽的位置与布局，即可增减待测试电子元件的数量，而具有扩充 性能加的优势。尤其是，本实用新型的实施例若用于动态球形旋转测试机，则该动态球形旋 转测试机无需设置升降机构及顶盖，而大幅缩小机台尺寸，并有效降低制造成本，诚为同类 物品前所未见的一大佳构。本实用新型所揭示的，乃较佳实施例的一种，凡是局部的变更或修饰而源于本实 用新型的技术思想而为熟习该项技术的人所易于推知的，俱不脱本实用新型的权利要求范
权利要求1.一种电子元件测试机构，其特征在于，其包括一基座，其表面设有至少一基座连接器，以及伸出至少一对彼此隔开且可开合的夹具；一吸盘座，其纵向开设多个纵向槽，各纵向槽底部连通一可吸附或释放电子元件的容 置凹穴；以及一定位测试装置，其装设于该基座顶面，该装置进一步包括一电路板，其表面依据各容置凹穴内的电子元件接脚位置设有经电路布局的接点，且 该电路板纵向开设供各夹具穿出的板孔，另于该电路板底面设有至少一与该基座连接器相 对接的电路板连接器；一定位框，其固设于该电路板顶面，该定位框纵向开设一开口，开口顶部两侧相对设有 一对限位板；以及一探针座，其套设于该开口内，并使两侧边邻接该对限位板底面，该探针座对应各接点 位置插接可弹性伸缩的探针，并将各探针底部与对应的接点相接触；当吸盘座与定位框对接时，该至少一对可开合的夹具夹住该吸盘座，使该吸盘座底面 所吸附的各电子元件被探针座顶面突伸的探针所顶持与接触。
2.如权利要求1所述的电子元件测试机构，其特征在于，其中该吸盘座周缘突伸至少 一对夹块，该至少一对夹块供该至少一对可开合的夹具顶部向内伸出扣钩所夹持。
3.如权利要求1所述的电子元件测试机构，其特征在于，其中该吸盘座底面突设至少 一对定位销，各定位销插接于该定位框顶面预设的定位孔内，以形成该吸盘座与定位框的 对位叠置。
4.如权利要求1所述的电子元件测试机构，其特征在于，其中该定位框顶面设有至少 一近接开关，以便侦测该吸盘座确实对位叠置于该定位框顶面时，该近接开关即发出一信 号，使该至少一对夹具向内呈扇形运动，以便夹固该吸盘座。
5.如权利要求4所述的电子元件测试机构，其特征在于，其中该近接开关装设于该定 位框的各限位板所开设的定位孔外侧。
6.如权利要求5所述的电子元件测试机构，其特征在于，其中该近接开关横向插入一 开关座内，并将各开关座接装于定位孔外侧。
7.如权利要求1所述的电子元件测试机构，其特征在于，其中该探针座顶面突设至少 两固定销，各固定销插入该定位框开口两侧限位板所预设的固定孔内。
8.如权利要求1所述的电子元件测试机构，其特征在于，其中该电路板底面进一步包 括一固定板，其四角隅开设穿孔，以便供连接件穿越穿孔后，再依序穿越该电路板预设的通 孔，并锁固于定位框的框孔内，使该固定板与定位框共同包夹该探针座及电路板。
9.如权利要求1所述的电子元件测试机构，其特征在于，其中该电子元件为集成电路。
专利摘要本实用新型是一种电子元件测试机构，其是由一基座、一吸盘座及一定位测试装置所组成；该定位测试装置近一步包括一电路板、一定位框及一探针座。该基座表面伸出至少一对彼此隔开且可开合的夹具；该吸盘座纵向开设多个纵向槽，各纵向槽底部连通一可吸附或释放电子元件的容置凹穴。而定位测试装置的电路板表面依据各容置凹穴内的电子元件接脚位置设有经电路布局的接点；该定位框纵向开设一供探针座套设的开口，该探针座对应各接点位置插接探针，并将各探针底部与对应的接点相接触；当吸盘座与定位框对接时，该至少一对可开合的夹具夹住该吸盘座，使该吸盘座底面所吸附的各电子元件被探针座顶面突伸的探针所顶持与接触。
文档编号G01R31/28GK201852912SQ20102051752
公开日2011年6月1日 申请日期2010年9月3日 优先权日2010年9月3日
发明者柯俊雄, 郭铭坤 申请人:界鸿科技股份有限公司