专利名称：一种蒙皮桁条结构产品的形状、位置尺寸的测量方法
技术领域：
本发明属于测量技术，具体涉及一种蒙皮桁条结构产品相关参数的测量方法
背景技术：
在航天技术中，一些带有蒙皮桁条结构的产品的外形尺寸主要有前后框端面平行度、前后框圆度、前框对后框平面度、前框对后框同轴度等数据的测量。由于需要在铆接过程中，随时对这些数据进行抽查、检测，如何方便、快捷、低成本的完成上述数据测量问题是至关重要的。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可以测量蒙皮桁条结构产品的形状、位置尺寸的测量装置及方法。实现本发明的技术方案如下一种蒙皮桁条结构产品的形状、位置尺寸的测量方法，该方法包含以下步骤I)将转台的边上均匀安装定位销；并在产品的上下表面边缘分别均匀标示出a个位置点；2)将产品放置在转台圆周面上，并利用定位销将产品的下表面固定在转台上，固定产品与转台之间的位置；3)将测量环的下表面均匀安装定位销；并在测量环下表面的圆周上均匀标示出a个位置点；4)将测量环放置在产品上表面，并利用定位销将产品上表面与测量环固定在一起，固定产品与测量环之间的位置；5)分别测量产品的上下其中一个表面与测量环之间的间隙G1和产品的下表面与转台之间的间隙G2，通过下式A得出分别确定产品上、下表面的平面度F ；F=Max (G1, G2) 公式 A6)将百分表的表端放置于测量环下表面的一处位置，百分表调零，通过转台转动，转台转动一圈之后，得到转台圆周均布的各个位置点的百分表读数Ri (i = 1、2、3…a)，通过下式B、C分别得出产品上、下端面的同轴度C和平行度P ；
权利要求
1.一种蒙皮桁条结构产品的形状、位置尺寸的测量方法，其特征在于，该方法包含以下步骤 1)将转台(2)的边上均匀安装定位销；并在产品(2)的上下表面边缘分别均匀标示出a个位置点； 2)将产品(2)放置在转台(3)圆周面上，并利用定位销将产品(2)的下表面固定在转台(3)上，固定产品(2)与转台(3)之间的位置； 3)将测量环(I)的下表面均匀安装定位销；并在测量环(I)下表面的圆周上均匀标示出a个位置点； 4)将测量环(I)放置在产品(2)上表面，并利用定位销将产品(2)上表面与测量环(I)固定在一起，固定产品(2 )与测量环(I)之间的位置； 5 )分别测量产品(2 )的上下其中一个表面与测量环(I)之间的间隙G1和产品(2 )的下表面与转台(3)之间的间隙G2，通过下式A得出分别确定产品(2)上、下表面的平面度F ； F=Max (GpG2) 公式 A 6)将百分表(5)的表端放置于测量环(I)下表面的一处位置，百分表(5)调零，通过转台(3)转动，转台(3)转动一圈之后，得到转台(3)圆周均布的各个位置点的百分表读数Ri(i = l、2、3-a)，通过下式B、C分别得出产品(2)上、下端面的同轴度C和平行度P; C = Max^jiRji4-RjY +(Rj ,-Rj[2Y(j = i，2)公式 B P = Max(Ri)-Min(Ri) (i = 1,2...8) 公式 C 7 )将测量环(I)从产品(2 )上拆除，并拔掉转台(3 )与产品(2 )下表面固定的销子； 8)将百分表(5)的表端放置于产品(2)上表面的边缘处，百分表(5)调零，将转台(3)转动一周，记录测得的产品(2)的沿圆周均布的a个位置点的百分表读数Mi (i = 1、2、3…a)，通过下式D计算得到产品(2)的上表面的圆度Rqi ；n 叫(Mj+4 -Mj)2 +(Mj^6-M J+2f -Min抑 J+4 -Mj)2 +(Mj+6 -M^2)2 ,.…! =---U = 1,2) 公式D 9)将百分表(5)的表端放置于产品(2)下表面的边缘处，百分表(5)调零，将转台(3)转动一周，记录测得的产品(2)的沿圆周均布的a个位置点的百分表读数Ni (i = 1、2、3…a)，通过下式E计算得到产品(2)的下表面的圆度、。
D Max^N^-Njf+iN^-N^y - Min^N - N ,)2+(NJ+6 - N }+2)2 Ro2 =--------------------------O = 1,2) 公式E0
2.如权利要求I所述的蒙皮桁条结构产品的形状、位置尺寸的测量方法，其特征在于上述方法中的百分表(5)是安装在百分表固定架(4)上的，在步骤6)、8)和9)中，通过调整百分表固定架(4)的高度，将百分表(5)的表端置于需要的位置。
3.如权利要求I或2所述的蒙皮桁条结构产品的形状、位置尺寸的测量方法，其特征在于上述步骤5)中的间隙大小是通过塞尺(6)测得的。
4.如权利要求I或2所述的蒙皮桁条结构产品的形状、位置尺寸的测量方法，其特征在于上述位置点的个数a为6"10。
全文摘要
本发明属于测量技术，具体公开了一种蒙皮桁条结构产品的形状、位置尺寸的测量方法。在产品上方放置测量环，下方放置转台，由于产品上下方的测量环和转台与产品的接触面是标准的平面，因而通过产品上下表面与测量环和转台之间分别的间隙，可以得到产品上下表面的平面度；同时，通过产品下方的转台，控制产品旋转，由于在测量环和产品上均匀标示位置点，通过调节百分表固定架，将百分表固定在合适的位置，从而测出位置点的百分表度数，进而得出产品上下表面的同轴度、平行度和圆度。
文档编号G01B5/20GK102889846SQ20121036803
公开日2013年1月23日 申请日期2012年9月28日 优先权日2012年9月28日
发明者翟大勇, 李扬, 高山, 陈刚 申请人:首都航天机械公司, 中国运载火箭技术研究院