半导体激光器幅值测试装置的制作方法

文档序号:12658625阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种半导体激光器幅值测试装置,其特征在于:包括箱体(1)与电机(2),所述电机(2)固设于箱体(1)上,在所述箱体(1)内固设有左支撑板(3)与右支撑板(4),在所述左支撑板(3)与右支撑板(4)之间设置有测试板(5),该测试板(5)上固定有多个产品固定座(6),在所述测试板(5)后侧的箱体(1)上安装有波形输出板装配体(7),所述测试板(5)的上方设置有激光头架(8),该激光头架(8)与伸入箱体(1)内的所述电机(2)的转轴(9)固定连接,在所述激光头架(8)上开设有与所述产品固定座(6)一一对应的对光孔(10),且该对光孔(10)与所述产品固定座(6)同心设置。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器幅值测试装置,其特征在于:在所述箱体(1)内还设置有四个光轴固定座(11),在每个光轴固定座(11)内固定有光轴(12),四根所述光轴(12)分别穿设在所述激光头架(8)的四个边角,且该光轴(12)的两端分别与所述箱体(1)固定连接。

3.根据权利要求2所述的半导体激光器幅值测试装置,其特征在于:在所述光轴(12)上还滑动套设有法兰(13),该法兰(13)与激光头架(8)之间固定连接。

4.根据权利要求1或2或3所述的半导体激光器幅值测试装置,其特征在于:在所述激光头架(8)上还设置有与所述产品固定座(6)一一对应的观察孔(14)。

5.根据权利要求4所述的半导体激光器幅值测试装置,其特征在于:所述多个产品固定座(6)在所述测试板(5)上呈阵列式分布,相适应的,所述对光孔(10)与观察孔(14)在所述激光头架(8)上呈阵列式分布。

6.根据权利要求1所述的半导体激光器幅值测试装置,其特征在于:在所述左支撑板(3)与右支撑板(4)上开设有相对设置的滑槽,所述测试板(5)插接在两个滑槽之间。

7.根据权利要求6所述的半导体激光器幅值测试装置,其特征在于:在所述测试板(5)前侧的中部还包覆有绝缘层(15)。

8.根据权利要求1所述的半导体激光器幅值测试装置,其特征在于:所述箱体(1)包括底板以及分设于该底板左右两侧的左、右侧板,在所述底板的后侧固定有后侧板,在所述左、右侧板与后侧板上盖设有顶板。

9.根据权利要求1所述的半导体激光器幅值测试装置,其特征在于:在所述箱体(1)的左右两侧还分别设置有一个可折叠的拉手(16)。

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