一种光学检测设备的制作方法

本实用新型涉及光学检测设备，尤其涉及一种光学检测设备。

背景技术：

自动光学检测是基于机器视觉的新型测试技术，可以用于PCB生产线上代替人工检测方法，对PCB的质量进行检测。尤其对超微小、分布细密的线路进行反复、高效、客观的检测，大大提高了产品质量和生产效率。基于AOI的PCB检测系统可以检测诸如突铜、缺口、短路、断路、残铜、针孔、漏线、漏钻孔、蚀刻过度、蚀刻不足、尺寸不符、孔破等进行检测。当前影响自动光学检测质量与效率的是：光源系统无法满足高亮度的要求；卤素灯亮度大但寿命短，使用维护费用大；LED光源亮度不够，造成检测系统扫描成像速度慢，效率低，难以满足PCB制程检测需求。然而，LED光源和卤素光源对PCB板的不同基材表面的缺陷和正常的非缺陷无法进行区分，因而无法准确地判定PCB板的合格与否。因而，一种能够准确判定PCB板是否合格的光学检测设备亟待出现。

技术实现要素：

为了解决上述技术问题，本实用新型的目的在于一种光学检测设备，克服了现有技术的不足。

为了实现上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种光学检测设备,包括：光源处理组件以及依次设于所述光源处理组件上方的镜头组件和相机，其中，所述光源处理组件包括：

三个用于产生、发射光纤光源的光源发生装置，其中光源发生装置一和光源发生装置二间隔相对设置，光源发生装置三设置位于光源发生装置一的上方；

三个偏光镜，其中偏光镜一和偏光镜二间隔设置、并位于所述光源发生装置一和光源发生装置二之间，所述偏光镜一和偏光镜二分别对应于所述光源发生装置一和光源发生装置二，所述偏光镜三设于所述光源发生装置三的内侧，并对应于所述光源发生装置三；

两个反射镜，其中所述反射镜一和反射镜二间隔设置、并分别设于所述偏光镜一和偏光镜二之间，所述反射镜一和反射镜二分别对应于所述偏光镜一和偏光镜二，且所述反射镜一和反射镜二相对于水平面倾斜设置；

一反射增透镜，所述反射增透镜设于所述偏光镜三的内侧，并对应于所述偏光镜三，所述反射增透镜相对于水平面倾斜设置；

位于所述光源发生装置一和光源发生装置二下方的PCB侦测区，所述PCB侦测区用于放置待检测的PCB板；

三个光源发生装置产生光纤光源分别经过与其对应的偏光镜投射至与其对应的反光镜上，而后聚焦至所述PCB侦测区上的PCB板上，最后反射光经镜头组件投射至所述相机中。

优选的，所述镜头组件包括镜头和至少位于所述镜头上方的解析镜。

进一步的，该光学检测设备还包括旋入旋出驱动装置，所述旋入旋出驱动装置用于驱动所述解析镜位于所述镜头的上方。

进一步的，该光学检测设备还包括360度旋转驱动装置，所述360度旋转驱动装置用于驱动所述解析镜旋转而使得到达所述相机的光纤达到适合的感光强度。

优选的，该光学检测设备还包括偏光镜控制装置，用于控制所述偏光镜切入至与之相对应的所述光源发生装置前。

优选的，所述相机为感光相机。

与现有技术相比，本实用新型提供的光学检测设备具有以下优点：

偏光镜控制装置使偏光镜切入到光钎光源前，三束光源经偏光镜后具有统一偏振特性，再投射至与其对应的反光镜上，而后聚焦至PCB侦测区上的PCB上，最后反射光经镜头组件投射至相机中，从而进行检测工作。经偏光镜过滤的光线投射在待检PCB板上，使反射到侦测光学器件中的光具有统一偏振特征，从而过滤掉其他杂散光线对光学检测的影响，进而增强PCB板上的缺陷的显示效果，提高了检测效果。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型结构特征和技术要点，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行详细说明。

图1为本实用新型实施例所公开的光学检测设备的原理图；

图2为本实用新型实施例所公开的光源处理组件的结构示意图；

图3为本实用新型实施例所公开的镜头组件的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行具体、清楚、完整地描述。

参见图1-3所示，本实用新型实施例公开了一种光学检测设备,包括：光源处理组件1以及依次设于光源处理组件1上方的镜头组件2和相机3（可以采用感光相机），其中，光源处理组件1设置于一个光源盒内，其包括：

三个用于产生、发射光纤光源的光源发生装置，其中光源发生装置一11和光源发生装置二12间隔相对设置，光源发生装置三13设置位于光源发生装置一11的上方，

三个偏光镜，其中偏光镜一14和偏光镜二15间隔设置、并位于光源发生装置一11和光源发生装置二12之间，偏光镜一14和偏光镜二15分别对应于光源发生装置一11和光源发生装置二12，偏光镜三16设于光源发生装置三13的内侧，并对应于光源发生装置三13，

两个反射镜，其中反射镜一17和反射镜二18间隔设置、并分别设于偏光镜一14和偏光镜二15之间，反射镜一17和反射镜二18分别对应于偏光镜一14和偏光镜二15，且反射镜一17和反射镜二18相对于水平面倾斜设置；

一反射增透镜19，反射增透镜19设于偏光镜三16的内侧，并对应于偏光镜三16，反射增透镜19相对于水平面倾斜设置；

位于光源发生装置一11和光源发生装置二12下方的PCB侦测区6，PCB侦测区6用于放置待检测的PCB板；

三个光源发生装置产生光纤光源分别经过与其对应的偏光镜投射至与其对应的反光镜上，而后聚焦至PCB侦测区6上的PCB板上，最后反射光经镜头组件2投射至相机3中。

其中，镜头组件2包括镜头21和至少位于镜头21上方的解析镜22。

该光学检测设备还包括旋入旋出驱动装置4，旋入旋出驱动装置4用于驱动解析镜22位于镜头21的上方。

该光学检测设备还包括360度旋转驱动装置5，360度旋转驱动装置5用于驱动解析镜22旋转而使得到达相机3的光纤达到适合的感光强度。

该光学检测设备还包括偏光镜控制装置（图中未显示），用于控制偏光镜切入至与之相对应的光源发生装置前。

本实用新型的工作原理如下：

偏光镜控制装置使偏光镜切入到光钎光源前，三束光源经偏光镜后具有统一偏振特性，再投射至与其对应的反光镜上，而后聚焦至PCB侦测区6上的PCB板上，最后反射光经镜头组件2投射至相机3中。具体的，光源发生装置一11、光源发生装置二12、光源发生装置三13分别发射光纤光源分别经过偏光镜一14、偏光镜二15和偏光镜三16，再分别投射于反射镜一17、反射镜二18和反射增透镜19上，而后均聚焦于PCB板上，最后反射光经依次镜头和解析镜投射至感光相机中，从而进行检测工作。经偏光镜过滤的光线投射在待检PCB板上，使反射到侦测光学器件中的光具有统一偏振特征，从而过滤掉其他杂散光线对光学检测的影响，进而增强PCB板上的缺陷的显示效果，提高了检测效果。

上述具体实施方式，仅为说明本实用新型的技术构思和结构特征，目的在于让熟悉此项技术的相关人士能够据以实施，但以上所述内容并不限制本实用新型的保护范围，凡是依据本实用新型的精神实质所作的任何等效变化或修饰，均应落入本实用新型的保护范围之内。