技术总结
本实用新型公开了一种改进的检测治具的针座结构，包括基座、基材及多个测试探针，其中该基座表面贯设有多个第一穿孔及多个第一定位孔，基座上方迭放的基材表面贯设有与多个第一穿孔呈错位的多个第二穿孔，以及与多个第一定位孔呈对正的多个第二定位孔，其基座及基材间欲设置多个测试探针时，先将多个第一穿孔对正于多个第二穿孔，再将测试探针插入至第一穿孔与第二穿孔间，待插设完成后，再使第一定位孔对正于第二定位孔并插设固定组件，以使其固定，同时，测试探针会受到第一穿孔与第二穿孔内壁面挤压，从而形成出倾斜部，以使测试探针限位于基座与基材间，进而避免脱离或掉落，且由于基材与基座相互迭合，便可减少使用构件，以降低制造成本。
技术研发人员：陈福全
受保护的技术使用者：禾达电子股份有限公司
文档号码：201620755629
技术研发日：2016.07.18
技术公布日：2017.01.25