两段式电子产品检测探针治具模块的制作方法

本实用新型涉及一种两段式电子产品检测治具，尤其指其借助于测试装置组件所具有的两段式水平移动与垂直下压方式，经由摇杆装置驱动同步执行检测运作，使得测试工作快捷有效完成，提升产品良率，提高效率。

背景技术：

目前所使用的电子产品检测装置的种类繁多，应根据各种不同的检测项目和方式，来设计电子产品的各种测试治具、夹具结构及定位装置等，诸如，专利公报公告编号第459590号的触控电子产品测试治具的改良结构，公告编号第492371号的待测物夹具结构，以及公告编号第594183号的电子产品检测定位装置等。这些构造装置的结构基本上都具有一定的立体空间型态，以配合各自的检测机具。另外，这些检测装置的各构件均由治具上的探针直接下压接触电子产品做检测，依序分别进行测试电子产品的置放、夹持及检测动作。这样整个检测的流程会耗费一定的时间，亦容易产生碰撞进而产生不良品，这样的检测方式显然会有不良品的问题，因此有必要加以改善，以达成良好的使用效能。

技术实现要素：

本实用新型提供了一种两段式电子产品检测治具，针对目前检测使用机具的运作问题，提供一两段式分别进行不同测试项目的检测装置，能有效地提高检测效能与良率。本实用新型的主要目的在于利用该测试装置所具有的连杆组件和检测构件，其中该连杆组件为一轴接的连杆组，该连杆组具有滚轮与斜面滑块相配合运作的线性轴承，能分别连动该检测构件的测试器和测试器的测试探针，使该测试探针分为水平横移与垂直下压两段式运作，而同时对该电子产品治具内的电子产品进行不同项目的检测工作，能达到良好的使用效能。为了使审查员能更进一步了解本实用新型为达成上述目的所采取的技术、手段及功效，提供了以下有关本实用新型的详细说明与附图。相信本实用新型的目的、特征与特点，可由此得到深入且具体的了解。然而，附图仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制。

附图说明

图1是本实用新型一具体实施例的立体示意图。

图2是本实用新型的前视图。

图3是本实用新型的后视图。

图4是本实用新型的左视图。

图5是本实用新型的右视图。

图6是本实用新型的俯视图。

图7是本实用新型的仰视图。

图8是本实用新型一具体实施例的立体示意图。

图9是本实用新型一具体实施例的另一立体使用示意图。

具体实施方式

现在结合附图对本实用新型的装置和作用进行详细说明，使得本领域技术人员能够更加理解本实用新型。参阅图1，图1是本实用新型一具体实施例的立体示意图，包括一两段式探针治具模块1、一两段式探针治具10及一测试机台2、电子产品3、一探针固定座4，该测试机台2呈一平板的形式，而在该平板上具有一测试凹槽21设置，藉以容纳承载测试电子产品3(如图1所示)。两段式探针治具10枢接于该测试机台2上方，将电子产品3置入测试机台2中的测试凹槽21，将该摇杆13轴接于摇杆支撑座15。启始位置在如图9所示的实施例中约为75度角度。如图9所示，当下压时(实施例中为从约75度至约45度角度时)，可驱动轴接的连杆16与轴接的水平横移滑块17而产生水平移动，而该水平横移滑块17经由多个侧向式线性轴承121螺接于上盖12并且经由直下式线性轴承111螺接于治具底座11，进而产生平滑的移动。如图9所示，当下压为如实施例中的从约45度至约15度角度时，将轴接的滚轮19移动的同时旋转，可驱动斜面底板142向下垂直移动(如图9所示)，其中斜面底板142与探针固定座锁定底座14经由多个导柱141同时垂直移动，测试装置4中的探针接触电子产品3 进行测试。

因此，本实用新型的两段式电子产品检测治具极具新颖性和进步性，完全符合新型专利申请要素，依据专利法提出申请，敬请审查并核准本案专利，以保障发明人的权益。

以上所述仅为本实用新型优选的具体实施例的详细说明和附图说明，并非用以限制本实用新型。本实用新型的特征并不局限于此。本实用新型的范围应以下述权利要求书的范围为准。凡落入本实用新型权利要求书范围的精神与其类似变化的实施例，皆应包含于本实用新型的范畴中。任何熟悉该项技术者在本实用新型的领域内，可容易想到其变化或修改皆可涵盖在以下本案的权利要求书的范围内。

附图标记说明：

1 两段式探针治具模块 10 两段式探针治具

11 治具底座 111 直下式线性轴承

12 治具上盖 121 侧向式线性轴承

13 摇杆 14 探针固定座锁定底座

141 导柱 142 斜面底板

15 摇杆支撑座 16 连杆

17 水平滑块 18 水平挡板

19 滚轮 2 测试机台

21 面板凹槽 3 电子产品

4 探针固定座。