技术总结
本发明涉及一种用于晶体测定的可调夹持工具，包括底座、设于底座上的支柱、安装在支柱上部的L型支架、设于L型支架末端的样品盘，样品盘与L型支架旋转连接，样品盘设有多个用于夹持待测晶体的紧固件。本发明结构简单，加工便利，可以适用于任何晶体定向仪或类似装置，对定向仪本身无需做任何改动，效果突出；可调节性好，根据实际测量样品大小，安排底座与定向仪吸附金属座之间距离，可根据样品大小调节高度，转动任意角度。
技术研发人员：朱杰;姬梦;王占山
受保护的技术使用者：同济大学
文档号码：201710187520
技术研发日：2017.03.27
技术公布日：2017.06.13