技术总结
本实用新型实施例提供了一种用于测试集成电路漏电的简易装置，所述装置包括：检测构件(100)、滑轨(200)以及框架(300)，所述滑轨(200)以及所述框架(300)位于同一平面内，并与所述框架(300)连接；至少两个所述检测构件(100)在相邻两条滑轨(200)之间的空间内纵向排列。应用本实用新型实施例，可以高针对集成电路漏电测试的效率。
技术研发人员：周学志;谢清冬
受保护的技术使用者：信丰明新电子科技有限公司
文档号码：201720426655
技术研发日：2017.04.21
技术公布日：2017.12.19