磁颗粒荧光聚集检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本专利属于荧光检测的装置，特别涉及磁颗粒荧光聚集的检测。
【背景技术】
[0002]荧光是物质的光致特异性发光现象，不同物质在光激发下产生不同的荧光现象，而且荧光的强度又可以表征物质的浓度信息。荧光检测在物理，化学，医学领域都有着重要的应用。特别在医学领域，荧光标记已成为检测特异性抗体的重要手段。在社会应用上，已经有发展成熟的荧光显微镜，荧光PCR仪等。荧光检测仪有使用普通光作为激发光源，也有激光作为激发光源；有使用透镜组作为收集荧光的方式，也有利用光纤进行荧光收集的。聚集荧光标记磁颗粒作为提高荧光强度的方法，被广泛的研究与使用。然而聚集磁颗粒本身是不透光的，使得透射式光激发失去效果，而且磁颗粒的堆叠，也影响正向激发的效果。所以目前为止，还没有检测装置能很好的克服聚集磁颗粒的这两个特点。
【发明内容】
[0003]本发明的目的在于提供一种能够检测磁颗粒聚集荧光的装置。本发明是利用小磁柱聚集荧光标记的磁颗粒，形成小磁柱圆面积大小且几乎无堆叠的磁颗粒面，利用长工作距离物镜收集由激光激发磁颗粒面发出的荧光，通过光电检测模块测量荧光强度，用计算机记录并处理数据。
[0004]本发明的磁颗粒荧光聚集检测装置包括:1个激光器，I个小磁柱，小磁柱翻转固定装置，盖玻片，I个20X长工作距离物镜，2个凸透镜，I个反射镜，I片滤光片，I个光电倍增管，I个电压采集模块，计算机。装置采用了激光激发荧光，滤光片滤掉激发光，荧光经光电转换后由计算机采集的过程，其主要特征在于:小磁柱将荧光标记的磁颗粒聚集并平铺在其上表面的盖玻片上，形成了与磁柱上表面面积相当的磁颗粒聚集区，磁颗粒不完全覆盖整个小磁柱上表面面积，会以较为分散并无明显堆叠的形式分布在磁颗粒聚集斑内，激光正向斜照射磁颗粒面，长工作距离物镜对激发出的荧光收集，由于其收集面积较大，能够覆盖整个磁颗粒聚焦斑，提高收集效率。
[0005]磁颗粒荧光聚集检测装置的具体检测过程如下:
[0006]第一步:打开所有电源设备。
[0007]第二步:用小磁柱翻转固定装置将盖玻片旋转至水平。
[0008]第三步:用移液器将待测荧光标记的小磁珠悬液慢速的全部滴在小磁珠上表面附近的盖玻片上，磁珠随即被束缚，然后风干。
[0009]第四步:用小磁柱翻转固定装置将盖玻片旋转至荧光收集位置。
[0010]第五步:计算机记录荧光强度经过光电转换的电压数据。
[0011]本发明的有益效果是:
[0012]小磁柱将磁颗粒束缚在较大的区域面积内，由于磁颗粒本身不足以覆盖这个面积，所以减少了磁颗粒的堆叠。而且长工作距离物镜具有较大的收集面积，可以收集到全部磁珠束缚面积的荧光，并保证了倾斜激发光能够照射到样品面。总之，磁颗粒荧光聚集检测装置，既能够利用磁颗粒荧光聚集带来的荧光增强效果，又减少了磁颗粒堆叠带来的损失，又能将较大面积的荧光全部收集，提高了荧光的收集效率。
【附图说明】
[0013]图1:本荧光装置内部结果示意图
[0014]图2:小磁柱翻转固定装置的示意图
[0015]图3:经小磁柱聚集之后的磁颗粒效果图
【具体实施方式】
[0016]下面结合【附图说明】一下具体的实施方法:
[0017]图1是本发明具体装置以及光路示意图，图中:1是激光器，提供激发光；2是小磁柱，上表面直径1.6mm，用来聚集磁颗粒；3是盖玻片，用来放置磁颗粒样品；4是20x长工作距离物镜，工作距离31mm，用来收集荧光；5凸透镜，用来将物镜收集的光转换为近似平行光；6是反射镜，改变光方向；7滤光片，滤掉激发光；8凸透镜,将突光聚焦到光电倍增光管内；9是光电倍增管，进行光电转换，10是数据采集模块，采集电压信号，11是计算机，用于记录并处理数据。
[0018]图2是本发明的小磁珠翻转固定装置12，可以沿蓝色箭头方向实现转动。装载着小磁柱2，以及盖玻片3，每次仅需更换盖玻片。
[0019]将含有盖玻片3的小磁柱旋转固定装置12旋转至水平方向，这时小磁柱2朝上，用移液器或其他容器将待测磁颗粒悬液，悬空缓慢滴到小磁柱正上方，磁颗粒随即被小磁柱束缚，液体扩散开来，所有样品都滴完后，风干，最后旋转至检测位置进行荧光测量。
[0020]图3是经小磁柱聚集之后的磁颗粒效果图。
【主权项】
1.本发明的磁颗粒荧光聚集检测装置包括:1个激光器，I个小磁柱，小磁柱翻转固定装置，盖玻片，I个20X长工作距离物镜，2个凸透镜，I个反射镜，I片滤光片，I个光电倍增管，I个电压采集模块，计算机。装置采用了激光激发荧光，滤光片滤掉激发光，荧光经光电转换后由计算机采集的过程，其主要特征在于:小磁柱将荧光标记的磁颗粒聚集并平铺在其上表面的盖玻片上，形成了与磁柱上表面面积相当的磁颗粒聚集区，磁颗粒不完全覆盖整个小磁柱上表面面积，会以较为分散并无明显堆叠的形式分布在磁颗粒聚集斑内，激光正向斜照射磁颗粒面，长工作距离物镜对激发出的荧光收集，由于其收集面积较大，能够覆盖整个磁颗粒聚焦斑，提高收集效率。
【专利摘要】本发明公开了一种能够检测磁颗粒聚集荧光的装置。本发明是利用小磁柱聚集荧光标记的磁颗粒，形成小磁柱圆面积大小且几乎无堆叠的磁颗粒面，利用长工作距离物镜收集由激光激发磁颗粒面发出的荧光，通过光电检测模块测量荧光强度，用计算机记录并处理数据。小磁柱将磁颗粒束缚在较大的区域面积内，由于磁颗粒本身不足以覆盖这个面积，所以减少了磁颗粒的堆叠。而且长工作距离物镜具有较大的收集面积，可以收集到全部磁珠束缚面积的荧光，并保证了倾斜激发光能够照射到样品面。总之，磁颗粒荧光聚集检测装置，既能够利用磁颗粒荧光聚集带来的荧光增强效果，又减少了磁颗粒堆叠带来的损失，又能将较大面积的荧光全部收集，提高了荧光的收集效率。
【IPC分类】G01N21-64
【公开号】CN104568863
【申请号】CN201310524507
【发明人】叶青, 邓志超, 王槿, 孙腾骞, 张春平, 田建国
【申请人】南开大学
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2013年10月28日