开关。
【具体实施方式】
[0046]下面结合附图并通过【具体实施方式】来进一步说明本发明的技术方案。
[0047]如图1所示，本实施例一中提供的一种电路板测试系统，测量实验台包括零槽控制器1、PXI总线2、PXI测试模块、测试接口 4、被测电路板5、显示器11、键盘12、开关13以及机柜。其中，零槽控制器I用于测量试验台的控制、信号交互以及数据处理，即零槽控制器I能够对其他模块，如:PXI总线2及PXI测试模块，进行控制，且对来源与PXI测试模块的数据进行分析处理，再将测量结果通过显示器11显示。PXI测试模块用于根据对被测电路板5功能特性指标及参数进行测量，可以根据用户的需要对PXI测试模块的组成进行选择，实现对不同被测电路板5的检测，PXI测试模块检测到来自测试接口 4的数据通过PXI总线2传输至零槽控制器I中。PXI总线2用于零槽控制器I与PXI测试模块之间的信号传输，以便零槽控制器I与PXI测试模块进行信号交互。测试接口 4用于安放被测电路板5，且将被测电路板5与PXI测试模块电导通，便于PXI测试模块对被测电路板5的性能参数指标进行测试。键盘12用于人机互动的过程中测量人员输入指令。开关13用于测量实验台的开机和关机，通常在开关13接通后，测量试验台中的零槽控制器I会发出控制指令运行自检程序，检测整个测量试验台的运行状态是否正常。零槽控制器1、PXI总线2以及PXI测试模块均位于机柜的内部，测试接口 4和开关13位于机柜上，显示器11和键盘12可位于机柜上，也可以使用其他PC机的显示器11和键盘12。
[0048]优选的，零槽控制器I的型号为PX1-8106，是一种PXI总线嵌入式控制器，故对于这种型号的零槽控制器1，可以取消PXI总线2，该零槽控制器I具有I个以太网接口、ExpressCard插槽、2个高速USB端口以及GPIB接口。
[0049]实际使用时，零槽控制器I通过PXI总线2控制PXI测试模块对固定在测试接口 4上的被测电路板5进行故障诊断和性能测试。对被测电路板5进行检测时可以采用自动检测的方式和人机互动的方式，通过零槽控制器I对所测数据进行判断，给出“合格(通过)”或者“不合格(不通过)”的结论。
[0050]如图2所示，进一步的，PXI测试模块包括三个数字采集模块31、数字激励响应卡32、电压同步输出模块33、多用表模块34、通信模块以及两个矩阵开关模块36。
[0051]数字采集模块31的个数可以根据电路板的不同而合理选择，可以为一个、两个或者多个，可以通过测试接口 4采集被测电路板5输出的检测信号。数字采集模块31可以为A/D模块，其型号为PX1-2010，通道数为4路，采样率为2MS/s，14位分辨率，输入电压范围为-1OV ?+1Vo
[0052]数字激励响应卡32具有48路数字激励/相应通道，兼容TTL电平，每个通道可以独立编程，操作模式有总线读写和自动猝发，最大猝发速率为40MSa/s，数字激励响应卡32用于多路数字信号的测试与控制。
[0053]电压同步输出模块33，型号为PX1-6733，其具有8通道高速模拟同步输出，IMS/s采样率，16位分辨率，用于向测试接口 4输出多路电压，输出范围为±10V。
[0054]多用表模块34，型号为PX1-4071，测量精度为7.5位读数分辨率，最大电压测量范围为用于±300V，最大电流测量范围为±3A，最大电阻测量范围为100ΜΩ，多用表模块34可以通过测试接口 4测量被测电路板5的直流电压、直流电流、交流电压、交流电流或者电阻。
[0055]矩阵开关模块36用于控制测试接口 4与PXI总线2之间的信号流向和电流向，其包括大电流矩阵开关模块和普通矩阵开关模块，其数量可以为一个或者多个。其中，大电流矩阵开关模块型号为40-550-002，矩阵配置为4x8 (I线)，最大电流为5A，最大电压为35V ；普通矩阵开关模块型号为DSR-SWITCH，矩阵配置为4x12(2线)，最大电压为100VDC，最大电流为500mA，宽带为1MHz。
[0056]如图1所示，优选的，三个数字采集模块31、数字激励响应卡32、电压同步输出模块33、多用表模块34、通信模块以及两个矩阵开关模块36相互并联，三个数字采集模块31、数字激励响应卡32、电压同步输出模块33、多用表模块34、通信模块以及两个矩阵开关模块36的一端均与PXI总线2电性连接，另一端均与测试接口 4电性连接。
[0057]通信模块，用于测试接口 4与PXI总线2之间的数据交互和通信，能够实现测试接口 4处固定的被测电路板5与零槽控制器I之间的通信。
[0058]通信模块包括CAN总线模块351、1553B总线模块352、RS232串口模块353以及RS485 串口模块 354。
[0059]CAN总线模块351用于测试接口 4与PXI总线2之间的分布式控制或者实时控制的串行通信，其型号为Cpct-7841，通道数为2路，CAN控制器型号为SJA1000，CAN收发器型号为82C250/251，隔离电压为2500Vrms。
[0060]1553B总线模块352用于测试接口 4与PXI总线2之间的分布处理、集中控制以及实时响应的时分串行通信。
[0061]RS232串口模块353，型号为PX1-8430/2，传输波特率为57b/s至l，000kb/s可变的标准和非标准波特率，128B传输并接收FIFO，具有2个独立的串口通道，RS232串口模块353用于给测试接口 4提供多个独立的串行通道。
[0062]RS485串口模块354，型号为PX1-8431/2，传输波特率为57b/s至3，000kb/s可变的标准和非标准波特率，128B传输并接收FIFO，可选的4线与2线收发器模式，适用于全双工和半双工通信，用于给测试接口 4提供多个独立的联网串行通道。
[0063]CAN总线模块351、1553B总线模块352、RS232串口模块353以及RS485串口模块354相互并联，CAN总线模块351、1553B总线模块352、RS232串口模块353以及RS485串口模块354的一端均与PXI总线2电性连接，另一端均与测试接口 4电性连接。
[0064]进一步的，PXI测试模块还包括边界扫描模块，边界扫描模块为JTAG边界扫描模块及测试系统，其具有32位PXI/c PCI总线接口，可调的JTAG信号终端，能够进行自动信号偏差控制及处理不同的电缆和电路板的配置，通过JTAG连接器可给目标元件供应电源。边界扫面模块用于在调试状态下对所述零槽控制器I的输入和输出进行相应观察和控制，其一端与所述PXI总线2电性连接，其另一端与所述测试接口 4电性连接。
[0065]通过零槽控制器1、PXI总线2、PXI测试模块、测试接口 4构成一个综合测量系统，该综合测量系统具有测量开发、测量仿真、测量执行、故障诊断以及系统自检等功能。
[0066]如图2所示，进一步的，电路板测试系统还包括GPIB总线6，GPIB总线6与PXI总线2电性连接。GPIB总线6与测试接口 4之间可选择性的连接程控电源61、台式电源62、任意波发生器63、多个示波器64、逻辑分析仪65、电子负载66、温度传感器67以及仿真器68中的一个或者多个，即可以根据用户的需要和被测电路板5的不同，选择程控电源61、台式电源62、任意波发生器63、多个不波器64、逻辑分析仪65、电子负载66、温度传感器67以及仿真器68中的一个或者多个设置在GPIB总线6与测试接口 4之间。由此可见，本申请提供的电路板测试系统预留了 GPIB接口和扩展空间，能够外接GPIB总线和其他模块，方便用户自行集成上述设备。
[0067]如图7所示，测试接口 4包括夹具和适配器盒，适配器盒与夹具相配套。
[0068]适配器包括连接器71、接收器72、第一外箱73、第二外箱74以及夹具框架75，连接器71位于第一外箱73的一侧，且固定在夹具框架75的内部，接收器72固定在第二外箱74的内部，夹具框架75位于第一外箱73和第二外箱74之间，夹具框架75插接在第二外箱74上的插槽内，第一外箱73与第二外箱74固定连接。连接器71也可以是被测电路板电缆，夹具通过连接器71和接收器72将PXI测试模块与被测电路板5电性连接。
[0069]如图8所示，夹具包括连接器插座81、延伸接口 82、适配板83以及探笔85，连接器插座81位于适配器盒的外部，若干延伸接口 82位于适配板83的外延部位，适配板83位于适配器盒的一侧，探笔85与适配器盒电性连接，适配板83上设有用于固定被测电路板5的插座84。对被测电路板5进行测试时，被测电路板5所需的激励通过连接器插座81、适配板83上的延伸接口 82提供，配合探笔85，根据操作界面上的提示，通过人机互动的方式，实现对被测电路板5的测试。
[0070]如图3所示，电路板测试系统还包括由测试数据交换平台000、测量程序开发平台1