用于分析仪器的粉末自动加样装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本申请涉及工业分析设备领域，特别地，涉及一种用于分析仪器的粉末自动加样
目.0
【背景技术】
[0002]在自动分析仪器的使用过程中，经常需要将试样取量放在转盘上的坩祸里面进行灼烧，每个坩祸中需要加一定重量试样，在做不同分析时的试样需要加不同重量的试样，并且有可能所加的试样种类完全不同。
[0003]而目前我们的加样方式都是采用人工的方式手动加样，加完一个样，再加下一个样，手动添加的样重很难控制，重量差别很大；并且试样的添加种类很容易出现差错。因此，现有手工加样方式主要存在以下几个缺点:1、容易加错试样，有可能把A试样加在了要放B试样的坩祸中；2、多次添加和取出操作后才能使样重合格，而这样操作增加了试样污染的概率，且易导致试样重量不准确；3、多次添加取出操作延长了操作时间，增加了操作人员的劳动强度，对操作员提出了较高的技术要求；4、需要手动将样品搅匀。
[0004]申请内容
本申请目的在于提供一种用于分析仪器的粉末自动加样装置，以解决现有手工加样方式容易加错试样、试样重量控制难度大、需要手动搅拌样品等的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本申请采用的技术方案如下:
一种用于分析仪器的粉末自动加样装置，包括用于储存试样并提供试样的放样机构以及用于从放样机构接取试样并称取试样的称样机构，放样机构底部开设有用于掉落试样的漏样孔，称样机构设有开口朝上布置的称样器皿，漏样孔与称样器皿的开口上下对应布置；放样机构设有用于控制试样掉落量的试样掉落控制机构，试样掉落控制机构通过开启或关闭漏样孔以控制试样从漏样孔掉落的掉落量。
[0006]进一步地，放样机构包括支撑台以及用于储存试样并提供试样的样瓶，支撑台上设有用于放置样瓶的放置位，样瓶的瓶口朝下扣合在放置位上，瓶口内设有用于密封瓶口的密封垫，密封垫和封盖瓶口的盖体叠合于支撑台的上表面；漏样孔包括开设于支撑台上的第一开孔、开设于密封垫上的第二开孔以及开设于盖体上的第三开孔，第一开孔、第二开孔和第三开孔对应布置。
[0007]进一步地，试样掉落控制机构包括转动轴承、设于样瓶内的搅拌叶片、用于驱动搅拌叶片转动的驱动装置以及贴合于密封垫上表面的挡板；搅拌叶片可转动的套设于转动轴承上，转动轴承沿竖向固定在密封垫上；挡板固接在搅拌叶片的底部并随搅拌叶片转动，挡板上设有第四开孔，第二开孔处于第四开孔的转动轨迹上。
[0008]进一步地，第二开孔、第三开孔、第四开孔中的至少两个的孔型相同以及孔径相同。
[0009]进一步地，第一开孔、第二开孔、第三开孔和第四开孔的孔径相同，第一开孔、第二开孔、第三开孔、第四开孔中的至少一个采用三角孔、圆孔、方孔、菱形孔、十字孔、长圆孔或者长方孔。
[0010]进一步地，试样掉落控制机构包括固接在盖体内表面上固定轴、设于样瓶内的搅拌叶片以及用于驱动搅拌叶片转动的驱动装置；密封垫套设于固定轴上并可绕固定轴进行水平转动，搅拌叶片沿竖向固接在密封垫上；第三开孔处于第二开孔的运动轨迹上。
[0011]本申请具有以下有益效果:
本申请用于分析仪器的粉末自动加样装置，通过放样机构的自动放样以及称样机构的自动接样以及自动称样，从而实现分析仪器所需试样的自动称取。通过在放样机构底部开设漏样孔以实现试样定量掉落到称样器皿中，每一次从漏样孔掉落的试样均为定量的一份试样通过称样机构及时称取，通过控制掉落的试样份数从而实现称样器皿获取试样的精确控制。通过试样掉落控制机构开启或关闭漏样孔，从而实现试样掉落的精确控制。
[0012]除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本申请还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本申请作进一步详细的说明。
【附图说明】
[0013]图1是本申请优选实施例的用于分析仪器的粉末自动加样装置的剖面结构示意图。
【具体实施方式】
[0014]如图1所示，本实施例的用于分析仪器的粉末自动加样装置，包括用于储存试样并提供试样的放样机构I以及用于从放样机构I接取试样并称取试样的称样机构2，放样机构I底部开设有用于掉落试样的漏样孔3，称样机构2设有开口朝上布置的称样器皿201，漏样孔3与称样器皿201的开口上下对应布置；放样机构I设有用于控制试样掉落量的试样掉落控制机构4，试样掉落控制机构4通过开启或关闭漏样孔3以控制试样从漏样孔3掉落的掉落量。本申请用于分析仪器的粉末自动加样装置，通过放样机构I的自动放样以及称样机构2的自动接样以及自动称样，从而实现分析仪器所需试样的自动称取。通过在放样机构I底部开设漏样孔3以实现试样定量掉落到称样器皿201中，每一次从漏样孔3掉落的试样均为定量的一份试样通过称样机构2及时称取，通过控制掉落的试样份数从而实现称样器皿201获取试样的精确控制。试样从放样机构I掉落到前称样机构2，通过试样掉落控制机构4的旋转力对放样机构I内的试样进行充分搅拌；通过试样掉落控制机构4开启或关闭漏样孔3，从而实现试样掉落的精确控制。优选地，试样掉落控制机构4通过旋转的方式控制试样从漏样孔3掉落的掉落量。试样从放样机构I掉落到前称样机构2，通过试样掉落控制机构4的旋转力对放样机构I内的试样进行充分搅拌；通过试样掉落控制机构4的旋转开启或关闭漏样孔3，从而实现试样掉落的精确控制。
【主权项】
1.一种用于分析仪器的粉末自动加样装置，包括用于储存试样并提供试样的放样机构(1)以及用于从所述放样机构(1)接取所述试样并称取所述试样的称样机构(2)，其特征在于，所述放样机构(1)底部开设有用于掉落所述试样的漏样孔(3)，所述称样机构(2)设有开口朝上布置的称样器皿(201)，所述漏样孔(3)与所述称样器皿(201)的开口上下对应布置；所述放样机构(1)设有用于控制所述试样掉落量的试样掉落控制机构(4)，所述试样掉落控制机构(4)通过开启或关闭所述漏样孔(3)以控制所述试样从所述漏样孔(3)掉落的掉落量。2.根据权利要求1所述的用于分析仪器的粉末自动加样装置，其特征在于， 所述放样机构(1)包括支撑台(101)以及用于储存所述试样并提供所述试样的样瓶 (102)，所述支撑台(101)上设有用于放置所述样瓶(102)的放置位(1011)，所述样瓶(102)的瓶口(1021)朝下扣合在所述放置位(1011)上，所述瓶口(1021)内设有用于密封所述瓶口(1021)的密封垫(5)，所述密封垫(5)和封盖所述瓶口(1021)的盖体(1022)叠合于所述支撑台(101)的上表面；所述漏样孔(3)包括开设于所述支撑台(101)上的第一开孔(301)、开设于所述密封垫(5)上的第二开孔(302)以及开设于所述盖体(1022)上的第三开孔(303)，所述第一开孔(301)、所述第二开孔(302)和所述第三开孔(303)对应布置。3.根据权利要求2所述的用于分析仪器的粉末自动加样装置，其特征在于， 所述试样掉落控制机构(4)包括转动轴承(401)、设于所述样瓶(102)内的搅拌叶片(402)、用于驱动所述搅拌叶片(402)转动的驱动装置(403)以及贴合于所述密封垫(5)上表面的挡板(404);所述搅拌叶片(402)可转动的套设于所述转动轴承(401)上，所述转动轴承(401)沿竖向固定在所述密封垫(5)上；所述挡板(404)固接在所述搅拌叶片(402)的底部并随所述搅拌叶片(402)转动，所述挡板(404)上设有第四开孔￠)，所述第二开孔(302)处于所述第四开孔￠)的转动轨迹上。
【专利摘要】本申请公开了一种用于分析仪器的粉末自动加样装置，包括用于储存试样并提供试样的放样机构以及用于从放样机构接取试样并称取试样的称样机构，放样机构底部开设有用于掉落试样的漏样孔，称样机构设有开口朝上布置的称样器皿，漏样孔与称样器皿的开口上下对应布置；放样机构设有用于控制试样掉落量的试样掉落控制机构，试样掉落控制机构通过开启或关闭漏样孔以控制试样从漏样孔掉落的掉落量。能够对获取的试样进行精确控制。
【IPC分类】G01N35/10, G01N35/00
【公开号】CN105301272
【申请号】CN201510871803
【发明人】杨立新
【申请人】南京华欣分析仪器制造有限公司
【公开日】2016年2月3日
【申请日】2015年12月2日