口被选中时，切换开关将测试端与第一连接端连通，多端口器件上的测试端口与多端口测试装置信号连通；当多端口器件上的测试端口未被选中时，切换开关将测试端与第二连接端连通，多端口器件上的测试端口与匹配负载连通，在对多端口器件特性测试的过程中，待测多端口器件上未被选中的端口与设置在线路板上的匹配负载通过切换开关直接连通，不需要通过外部电缆将匹配负载连接到未被选中的端口上，避免了连接电缆在传输过程中产生的电磁干扰进而的引发测试曲线波动现象，在多端口器件与多端口测试装置之间设置开关装置后测试多端口器件的插损、回波损耗等指标曲线会更平滑、真实的反应器件的特性，最终提高测试结果的准确性。
[0013]进一步，所述切换开关为单刀双掷型射频开关，利用电子控制的单刀双掷射频开关的切换寿命长、可重复性好、切换速度快。
[0014]进一步，所述控制端基于开关控制电路接收到的外部指令使切换开关动作的具体实现方式为:在开关控制电路上设置一按键，所述开关控制电路接收按键的操作状态使切换开关动作，根据多端口器件上测试端口被选中或未被选中情况通过开关控制电路上的按键实现切换开关的选通功能。
[0015]上述方案中的开关控制电路也可以由射频开关芯片及其外围电路构成，当射频开关芯片接收到的控制电平不同时，给切换开关的控制端不同控制信号，进而使切换开关动作以在两种状态中进行切换，其中输入的控制电平信号由多端口测试装置发出。
[0016]如图2所示，在本实用新型分为电源部分、芯片部分、控制部分，其中电源部分为开关装置提供电源，电源部分连有滤波电容、EMI电磁抗干扰滤波器以及电压稳压器，输入电压经过电源部分处理后向开关装置提供3.3V稳定直流电源，芯片部分为切换开关动作电路，芯片部分包括线路板上的测试端、第一连接端、第二连接端、匹配负载、切换开关，测试端用以与待测的多端口器件电连接，第一连接端用以与多端口测试装置电连接，第二连接端用以与设置在线路板上的匹配负载连接，切换开关用以切换测试端与第一连接端或第二连接端连通状态，控制部分实现对切换开关的选通功能，控制部分包括控制端，通过控制切换开关的选通实现测试端与第一连接端或第二连接端连通，从而实现多端口器件相应端口与多端口测试装置或匹配负载连通，具体为当多端口器件上测试端口被选中时，控制端Cl输入低电平，控制端C2输入高电平，切换开关将测试端与第一连接端连通，多端口器件上的测试端口与多端口测试装置信号连通；当多端口器件上测试端口未被选中时，控制端Cl输入高电平，控制端C2输入低电平，切换开关将测试端与第二连接端连通，多端口器件上的测试端口与匹配负载连通，在多端口器件特性测试过程中，未被选中的测试端口直接与线路板上匹配负载连通，不需要外部电缆将匹配负载连接到测试端上，有效地避免了电缆在传输过程中发生的电磁干扰以及对被测器件特性测试的影响。
[0017]尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。
【主权项】
1.一种连接多端口测试装置和多端口器件的开关装置，其特征在于，所述开关装置内设置有线路板，所述线路板上设置有开关控制电路，所述开关控制电路设置有: 用以与待测的多端口器件电连接的测试端； 用以与多端口测试装置电连接的第一连接端； 用以与匹配负载电连接的第二连接端，所述匹配负载设置在线路板上； 用以切换测试端与第一连接端或第二连接端连通状态的切换开关，所述切换开关具有一控制端，所述控制端基于开关控制电路接收到的外部指令使切换开关动作，当切换开关将测试端与第一连接端连通时，多端口器件的相应端口与多端口测试装置信号连通，当切换开关将测试端与第二连接端连通，多端口器件的相应端口与匹配负载连通。2.根据权利要求1所述的连接多端口测试装置和多端口器件的开关装置，其特征在于，所述切换开关为单刀双掷型射频开关。3.根据权利要求1或2所述的连接多端口测试装置和多端口器件的开关装置，其特征在于，所述控制端基于开关控制电路接收到的外部指令使切换开关动作的具体实现方式为:在开关控制电路上设置一按键，所述开关控制电路接收按键的操作状态使切换开关动作。
【专利摘要】本实用新型公开了一种连接多端口测试装置和多端口器件的开关装置，所述开关装置内设置有线路板，所述线路板上设置有开关控制电路，所述开关控制电路设置有：测试端、第一连接端、第二连接端、切换开关，所述切换开关具有一控制端，所述控制端基于开关控制电路接收到的外部指令使切换开关动作，当切换开关将测试端与第一连接端连通时，多端口器件的相应端口与多端口测试装置信号连通，当切换开关将测试端与第二连接端连通，多端口器件的相应端口与匹配负载连通。本装置能够消除测试曲线的波动现象，测试多端口器件的插损、回波损耗等指标曲线会更平滑、真实的反映器件的特性，提高测试结果的准确性。
【IPC分类】G01R31/00, G01R1/06
【公开号】CN205176076
【申请号】CN201521016107
【发明人】郑兆祥
【申请人】成都天大仪器设备有限公司
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2015年12月8日