专利名称：配件测试装置及配件测试方法
技术领域：
本发明涉及一种信息处理设备的配件测试装置及配件测试方法，特别涉 及一种利用仿真信息设备中元件运作的仿真信号测试配件的测试装置及配 件测试方法。
背景技术：
最早的信息处理装置是使用真空管为元件制造出来的，因体积大，散热 差，功能有限。为了改善这些缺点，晶体管问世，使信息处理装置系统的体
积变小；集成电路(IC)的发明，使得指甲大小的面积，就可容纳许多晶体管; 到了微处理器时期，将IC内的单位面积晶体管数目扩增至数十万个以上， 体积更小，耗电量更少。在外型上，从桌上型、笔记型(Notebook)到掌上型， 不管是功能上的提升或可携带性的特色，都显示出未来信息处理装置将以轻 薄短小，容易携带为主。
硬件厂商在制作量产这些配件时，都是以抽样检测的方式为主。但是这 些配件的检测，都必须要与信息处理装置主机组装成整机，并且开机运行检 测程序，然后关机更换配件。这种检测方式由于须组装整机，并加装软件系 统，检测流程相当费时；而且配件的频繁插拔，可能会损坏主机；另外有些 配件需要监测外部错误，整机检测可能无法模拟；还有检测环境需要较大的 工作空间。
因此，如何能提供一种新的测试方法来取代以往的测试方法，达到减少 检测时间、减少工作空间与提高生产效率，成为研究人员待解决的问题之一。
发明内容
鉴于以上的问题，本发明提供一种信息处理设备的配件测试装置及配件 测试方法，达到减少检测时间、减少工作空间与提高生产效率的作用。
根据本发明所揭示的配件测试装置，其包含有微处理单元、信号转换单 元。其中微处理单元，用以发出仿真信号，该仿真信号是是仿真信息处理设
备中元件的运作；信号转换单元，分别与微处理单元及配件电性连接，用以 接收仿真信号，并将仿真信号转换为测试信号，利用该测试信号测试配件。 配件接收测试信号后响应一回馈信号，并由信号转换单元接收后传送给微处 理单元，俾使微处理单元根据回馈信号判断配件是否正常运作。
根据本发明所揭示的信息处理设备的配件测试装置，用以测试一配件， 包括有 一微处理单元，用以发出一仿真信号，该仿真信号为仿真该信息处 理设备中的一元件的运作，并将该仿真信号转换为一测试信号，该测试信号 用以测试该配件，该配件接收该测试信号后响应该测试信号而输出一回馈信 号，并由该信号转换单元接收后传送给该微处理单元，以使该微处理单元根 据该回馈信号判断该配件是否正常运作。
根据本发明所揭示的配件测试方法，其包含一种信息处理设备的配件测 试方法，用以测试一配件，包括有响应一致能信号以判断该配件是否可直 接受控制；当不可直接控制该配件时，由一微处理单元发出一仿真信号，该 仿真信号为仿真该信息处理设备中的一元件的运作；接收该仿真信号，将该 仿真信号转换为一测试信号，该测试信号用以测试该配件；及该配件接收该 测试信号后响应该测试信号而输出一回馈信号，以根据该回馈信号判断该配 件是否正常运作。
借由这种配件测试装置及配件测试方法，通过使用微处理单元发出一仿 真信号，该仿真信号是仿真信息处理装置中的元件运作，并将仿真信号通过 信号转换单元，将仿真信号转换为测试信号，测试待测的配件。配件接收测 试信号后并响应一回馈信号，通过信号转换单元回传给微处理单元，由微处 理单元根据回馈信号判断配件是否正常运作。测试过程中去除了以往测试方 式的缺陷，并縮短了待测的配件的检测时间，提高生产效率。
图1为本发明配件测试装置示意图； 图2为本发明配件测试装置另一示意图；及 图3为本发明配件测试方法流程图。 其中，附图标记说明如下
ll微处理单元
12信号转换单元 13配件
21内部集成电路接口
22通用输出输入接口
23内部集成电路接口
24第一通用输出输入接口
25第二通用输出输入接口
26内部集成电路接口
27通用输出输入接口
28并行端口
29网络连接端口
31第一电路板
32第二电路板
51微处理单元
52配件
53第一电路板
61内部集成电路接口
62通用输出输入接口
63内部集成电路接口
64通用输出输入接口
65并行端口
66网络连接端口
100配件测试装置
200配件测试装置
具体实施例方式
有关本发明的特征与实作，现配合附图作最佳实施例详细说明如下。 请参照图1，为本发明的配件测试装置示意图。如图1所示，配件测试
装置100包含有微处理单元11、信号转换单元12、配件13、第一电路板31
和第二电路板32。
配件13内可以具有但不仅限于是内部集成电路传输信号接口(I2C)21和 通用输出输入传输信号接口(GPI0)22，也可以是其它连接接口。配件13用 以接收测试信号后响应该测试信号以输出一回馈信号。配件13可以是发光 二极管板(LED board)、风扇板(FAN board)与平行连接SCSI指示板(SAS BP board)等。其中发光二极管板用来显示主机的状态、温度检测、开关按键等。 平行连接SCSI指示板用来连接SAS硬盘及控制硬盘工作状态灯的显示。风 扇板用来控制检测风扇的运行及监测主板的温度。
信号转换单元12设置于一第二电路板32上。第二电路板32内可以具 有但不仅限于是内部集成电路接口 23、通用输出输入接口 24和/或通用输出 输入接口25，也可以是其它连接接口。第二电路板32上电性连结第一电路 板31与配件13，其连接方式可以通过上述的内部集成电路接口23、通用输 出输入接口 24和/或通用输出输入接口 25。
信号转换单元12用以接收仿真信号，并将仿真信号转换为测试信号， 利用该测试信号测试配件13，并接收配件13响应的回馈信号，回传给微处 理单元，以使微处理单元根据回馈信号判断配件是否正常运作。
微处理单元11设置于一第一电路板31上。第一电路板31内可以具有 但不仅限于是内部集成电路接口 26和/或通用输出输入接口 27，也可以是其 它连接接口。第一电路板31电性连结第二电路板32，其连接方式可以通过 上述的内部集成电路接口 26和/或通用输出输入接口 27。第一电路板31内 可以具有但不仅限于是并行端口 28和/或网络连接端口 29，也可以是其它连 接端口。
微处理单元11通过并行端口 28和/或网络连接端口 29响应外部致能信 号，以发出仿真信号传递至信号转换单元12，该仿真信号是仿真信息处理装 置中的元件运作，并且接收自信号转换单元12回传的配件13回馈信号。由 微处理单元11根据回馈信号判断配件13是否正常运作，并将测试结果通过 并行端口 28和/或网络连接端口 29传递至外部装置。
微处理单元11通过并行端口 28和/或网络连接端口 29响应外部致能信 号，例如测试指令"0001"表示SAS信号测试、"0010"表示显式绘图数组 (Video Graphic Array, VGA)电源信号测试、"001 l"表示(Universal Serial Bus , USB)电源信号测试、"0100"表示(Universal Serial Bus , USB)信号测试、
"0110"表示系统(System, SYS)绿光LED测试等。前述的测试指令与测试指 令内容是用以举例说明，并非用以限制本发明。微处理单元11接收外部致 能的测试指令，并以发出仿真信号，该仿真信号是仿真信息处理装置中的元 件运作，通过内部集成电路接口26和/或通用输出输入接口27，将仿真信号 传递至信号转换单元12。由信号转换单元12将接收到的仿真信号转化测试 信号，利用该测试信号测试配件13。配件13接收测试信号，测试配件13中 的发光二极管、接收按键动作等信号，并响应该测试信号而输出一回馈信号， 该回馈信号通过信号转换单元12回传至微处理单元11。由微处理单元11根 据回馈信号判断配件13是否正常运作。在另一实施例中，微处理单元ll可 将测试结果通过并行端口 28和/或网络连接端口 29传递至外部装置(图中未 示)。
由于各个待测的配件13的连接接口不同，第二电路板32的连接接口也 会有所不同，因此只要更改第二电路板32以及软件、固件的测试功能就可 以兼容。
请参照图2，为本发明配件测试装置另一示意图。如图2所示，配件测 试装置200包含有微处理单元51、配件52和第一电路板53。
配件52内可以具有但不仅限于是内部集成电路接口 61和通用输出输入 接口62，也可以是其它连接接口。配件52用以接收测试信号后响应该测试 信号而输出一回馈信号。配件52可以是发光二极管板(LED board)、风扇板 (FAN board)与平行连接SCSI指示板(SAS BP board)等。其中发光二极管板用 来显示主机的状态、温度检测、开关按键等。平行连接SCSI指示板用来连 接SAS硬盘及控制硬盘工作状态灯的显示。风扇板用来控制检测风扇的运行 及监测主板的温度。
微处理单元51设置于一第一电路板53上。第一电路板53内可以具有 但不仅限于是内部集成电路接口 63和/或通用输出输入接口 64，也可以是其 它连接接口。第一电路板53电性连结配件52，其连接方式可以通过上述的 内部集成电路接口 63和/或通用输出输入接口 64。第一电路板53内可以具 有但不仅限于是并行端口 65和/或网络连接端口 66。
微处理单元51通过并行端口 65和/或网络连接端口 66响应外部致能信 号，例如测试指令"0001"表示SAS信号测试、"0010"表示显式绘图数组
(Video Graphic Array, VGA)电源信号测试、"001 l"表示(Universal Serial Bus ， USB)电源信号测试、"0100"表示(Universal Serial Bus , USB)信号测试、 "0110"表示系统(System， SYS)绿光LED测试等。前述的测试指令与测试指 令内容是用以举例说明，并非用以限制本发明。微处理单元51接收外部致 能的测试指令，并以发出一仿真信号，该仿真信号是仿真该信息处理设备中 的一元件的运作，将该仿真信号转换为一测试信号，并接收自配件52响应 的回馈信号。由微处理单元51根据回馈信号判断配件52是否正常运作，并 将测试结果通过并行端口 65和/或网络连接端口 66传递至外部装置。
微处理单元51通过并行端口 65和/或网络连接端口 66响应外部致能信 号，以发出测试信号，该仿真信号是仿真该信息处理设备中的一元件的运作， 将该仿真信号转换为一测试信号。该测试信号通过内部集成电路接口 26和/ 或通用输出输入接口27，传递至配件52，利用该测试信号测试配件52。配 件52接收测试信号，驱动配件52中的发光二极管、接收按键动作等信号， 并回传回馈信号至微处理单元51。由微处理单元51根据回馈信号判断配件 52是否正常运作，并将测试结果通过并行端口 65和/或网络连接端口 66传 递至外部装置。
由于各个待测的配件52的连接接口不同，第一电路板53的连接接口也 会有所不同。只要更改第一电路板53以及软件、固件的测试功能就可以兼 容。
本发明第一实施例与第二实施例的差别在于，本发明第一实施例使用了 第二电路板32来作延伸连接的动作。同时，利用独立的信号转换单元12取 代第二实施例中原本微处理单元51 —部分工作，亦即将仿真信息处理装置 中的元件运作转换为测试信号的工作移至由信号转换单元12分担，减轻微 处理单元ll的工作量、提升测试工作效率。
请参照图3，为本发明配件测试方法流程图。首先，准备并连接好测试 电路，如步骤71。对微处理单元加载对应的固件(Firmware)如，步骤72。 通过并行端口和/或网络连接端口响应外部致能信号，如步骤73。微处理单 元接收外部致能信号后，先行判断是否直接控制待测的配件，如步骤74。
如果微处理单元是直接控制待测的配件的话，接续步骤74，由微处理单 元发出一仿真信号，该仿真信号是仿真信息处理装置中的元件运作，并将该
仿真信号转换为测试信号，然后将测试信号传递至待测的配件并测试待测的
配件，如步骤75。由微处理单元监测并接收由待测的配件响应的回馈信号， 如步骤76。
如果微处理单元不是直接控制待测的配件的话，接续步骤74，由微处理 单元发出一仿真信号，该仿真信号是仿真信息处理装置中的元件运作，并将 该仿真信号传递至信号转换单元，如步骤77。由信号转换单元接收仿真信号， 并将接收到的仿真信号转换为测试信号，并测试待测的配件，如步骤78。然 后信号转换单元监测并接收由配件响应的回馈信号，如步骤79。
将步骤76与步骤79得到的测试结果，通过微处理单元判断配件是否正 常运作，并将测试结果通过并行端口和/或网络连接端口传递至外部装置，如 步骤80。若还要再做测试，则回到步骤73，通过并行端口和/或网络连接端 口响应外部致能信号。
虽然本发明以前述的优选实施例揭示如上，然而其并非用以限定本发 明，任何熟悉本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当 可作些许的更动与润饰，因此本发明的专利保护范围须视本说明书所附的权 利要求书为准。
权利要求
1、一种信息处理设备的配件测试装置，用以测试一配件，包括有一微处理单元，用以发出一仿真信号，该仿真信号为仿真该信息处理设备中的一元件的运作；以及一信号转换单元，分别与该微处理单元及该配件电性连接，用以接收该仿真信号，并将该仿真信号转换为一测试信号，该测试信号用以测试该配件，该配件接收该测试信号后响应该测试信号而输出一回馈信号，并由该信号转换单元接收后传送给该微处理单元，以使该微处理单元根据该回馈信号判断该配件是否正常运作。
2、 如权利要求1所述的配件测试装置，其特征是该微处理单元响应一 外部的致能信号以发出该仿真信号。
3、 如权利要求1所述的配件测试装置，其特征是该微处理单元通过一 内部集成电路接口和/或通用输出输入接口与该信号转换单元连接。
4、 如权利要求1所述的配件测试装置，其特征是该信号转换单元通过一内部集成电路接口和/或通用输出输入接口与该配件连接。
5、 一种信息处理设备的配件测试装置，用以测试一配件，包括有 一微处理单元，用以发出一仿真信号，该仿真信号为仿真该信息处理设备中的一元件的运作，并将该仿真信号转换为一测试信号，该测试信号用以 测试该配件，该配件接收该测试信号后响应该测试信号而输出一回馈信号， 并由该信号转换单元接收后传送给该微处理单元，以使该微处理单元根据该 回馈信号判断该配件是否正常运作。
6、 如权利要求5所述的配件测试装置，其特征是该微处理单元响应一外部的致能信号以发出该仿真信号。
7、 如权利要求5所述的配件测试装置，其特征是该微处理单元通过一 内部集成电路接口和/或通用输出输入接口与该配件连接。
8、 一种信息处理设备的配件测试方法，用以测试一配件，包括有 响应一致能信号以判断该配件是否可直接受控制；当不可直接控制该配件时，由一微处理单元发出一仿真信号，该仿真信 号为仿真该信息处理设备中的一元件的运作；接收该仿真信号，将该仿真信号转换为一测试信号，该测试信号用以测试该配件；及该配件接收该测试信号后响应该测试信号而lr出一回馈信号，以根据该回馈信号判断该配件是否正常运作。
9、 如权利要求8所述的配件测试方法，其特征是当该配件可直接控制 时，该微处理单元是直接将该仿真信号转换为一测试信号，该测试信号用以 测试该配件。
10、 如权利要求8所述的配件测试方法，其特征是该配件接收该测试信 号后响应该测试信号而输出一回馈信号，并由该微处理单元根据该回馈信号 判断该配件是否正常运作。
全文摘要
一种配件测试装置及配件测试方法。该配件测试装置包含有微处理单元、信号转换单元。其中微处理单元，用以发出仿真信号；信号转换单元，分别与微处理单元及配件电性连接，用以接收仿真信号，并将仿真信号转换为测试信号，利用该测试信号测试配件。配件接收测试信号后响应一回馈信号，并由信号转换单元接收后传送给微处理单元，以使微处理单元根据回馈信号判断配件是否正常运作。以往测试方式，较费时而且频繁的插拔动作会对主机造成损害。本发明的配件测试装置及配件测试方法，去除了以往测试方式的缺陷，达到缩短检测时间、提高生产效率的效果。
文档编号G06F11/22GK101377753SQ20071014815
公开日2009年3月4日 申请日期2007年8月28日 优先权日2007年8月28日
发明者刘文涵, 宋建福, 郑全阶, 金志仁, 陈玄同, 韩雪山 申请人:英业达股份有限公司