一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入机制的制作方法

本发明涉及计算机领域，尤其涉及一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入机制。

背景技术：

内嵌式存储器(embeddedmultimediacard，emmc)是一种主要针对于手机或平板电脑等电子设备的内嵌式存储器。其中，内嵌式存储器中包含了nandflash，目前，nandflash逐渐成为嵌入式系统的主要存储介质之一，所存储的数据庞大复杂，必须使用文件系统予以管理。

为了便于管理nandflash上的数据，引入了ftl(flashtranslationlayer，文件传输层)，一旦ftl出现问题，那么会使数据读写发生错误，更为严重的是内嵌式存储器无法被访问；由此可见，ftl的稳定性及效率对内嵌式存储器来说至关重要。在应用ftl对emmc中nandflash上的数据进行管理时，首先应该对ftl进行测试，其中测试的重要内容之一就是ftl对错误数据的识别能力。

现有技术中，在ftl的测试过程中，需要不断地访问nandflash上的数据，通过反馈结果判断ftl的稳定性及效率，包括对错误数据识别的稳定性及效率，因此，在采用的模拟nandflash装置存储的测试数据中，需要足够的错误数据，显然，如何获得足够的错误数据是测试ftl的重要技术环节。

技术实现要素：

鉴于此，本发明实施例提供一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入机制，系统及方法简单易行，满足对ftl错误数据的识别能力进行测试的需求。

本发明实施例提供了一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入系统，所述系统设置在内嵌式存储器模拟测试开发平台内，所述平台包括设备系统和测试系统，所述设备系统用于模拟内嵌式存储器，所述测试系统用于模拟外界pc，实现对设备系统的测试，其特征在于，用于模拟内嵌式存 储器错误信息的插入，包括：

错误列表模块，设置有错误列表，用于记录所有插入的错误信息；

设置错误模块，用于错误的设置，测试系统把错误插入错误列表中；

检查错误模块，用于遍历错误列表，检查错误的类型、数值；

触发错误模块，用于返回错误给设备系统。

优选的，所述设备系统包括前端硬件模拟模块、文件传输层ftl和包括nand模拟模块的后端硬件模拟模块，所述前端硬件模拟模块与测试系统连接，用于对测试命令的解析以及测试命令和数据的传输，ftl与前端硬件模拟模块连接，用于分析测试命令和错误数据的识别，并将数据进行地址映射管理，将数据存入后端硬件模拟模块，后端硬件模拟模块与ftl连接，用于数据的存储，

所述触发错误模块，用于返回错误给设备系统后端硬件模拟模块。

优选的，所述设置错误模块，包括：

错误接口，用于所述测试系统通过错误接口把错误插入错误列表中。

另一方面，本发明还公开了一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入方法，所述方法在内嵌式存储器模拟测试开发平台内执行，所述平台包括设备系统和测试系统，所述设备系统用于模拟内嵌式存储器，所述测试系统用于模拟外界pc，实现对设备系统的测试，其特征在于，

包括：

设置错误步骤，设置错误，测试系统把错误插入错误列表中；

检查错误步骤，遍历错误列表，检查错误的类型、数值；

触发错误步骤，返回错误给设备系统。

优选的，所述方法在内嵌式存储器模拟测试开发平台内执行，所述设备系统包括前端硬件模拟模块、文件传输层ftl和包括nand模拟模块的后端硬件模拟模块，所述前端硬件模拟模块与测试系统连接，用于对测试命令的解析以及测试命令和数据的传输，ftl与前端硬件模拟模块连接，用于分析测试命令和错误数据的识别，并将数据进行地址映射管理，将数据存入后端硬件模拟模块，后端硬件模拟模块与ftl连接，用于数据的存储，

所述触发错误步骤，返回错误给设备系统后端硬件模拟模块；

识别错误步骤，ftl识别错误数据，并报告测试系统。

优选的，所述设置错误步骤，包括：

所述测试系统通过错误接口把错误插入错误列表中。

本发明具有以下优点：

本发明提供了一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入机制，即错误插入系统及方法，该系统设置在内嵌式存储器模拟测试开发平台内，方法也在内嵌式存储器模拟测试开发平台内执行，用于模拟内嵌式存储器错误信息的插入，满足对ftl进行测试的需要，易于操作和使用。

附图说明

图1是本发明一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入系统实施例1的结构图；

图2是本发明一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入系统实施例2的结构图；

图3是本发明一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入方法实施例1的流程图；

图4是本发明的一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入方法实施例2的流程图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

参照图1，示出了本发明一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入系统103实施例1的结构图，所述系统设置在内嵌式存储器模拟测试开发平台内，所述平台包括设备系统101和测试系统102，所述设备系统101用于模拟内嵌式存储器，所述测试系统102用于模拟外界pc，实现对设备系统101的测试，所述设备系统101包括前端硬件模拟模块111、文件传输层ftl121和包括nand模拟模块1311的后端硬件模拟模块131，所述前端硬件模拟模块111与测试系统102连接，用于对测试命令的解析以及测试命令 和数据的传输，ftl121与前端硬件模拟模块111连接，用于分析测试命令和错误数据的识别，并将数据进行地址映射管理，将数据存入后端硬件模拟模块131，后端硬件模拟模块131与ftl121连接，用于数据的存储，

该错误插入系统103用于模拟内嵌式存储器错误信息的插入，包括：

错误列表模块113，设置有错误列表，用于记录所有插入的错误信息；

设置错误模块143，用于错误的设置，测试系统把错误插入错误列表中；

检查错误模块133，用于遍历错误列表，检查错误的类型、数值；

触发错误模块123，用于返回错误给设备系统后端硬件模拟模块131，即是nand模拟模块1311。

参照图2，示出了本发明一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入系统203实施例2的结构图，所述系统设置在内嵌式存储器模拟测试开发平台内，所述平台包括设备系统201和测试系统202，所述设备系统201用于模拟内嵌式存储器，所述测试系统202用于模拟外界pc，实现对设备系统201的测试，所述设备系统201包括前端硬件模拟模块211、文件传输层ftl221和包括nand模拟模块2311的后端硬件模拟模块231，所述前端硬件模拟模块211与测试系统202连接，用于对测试命令的解析以及测试命令和数据的传输，ftl221与前端硬件模拟模块211连接，用于分析测试命令和错误数据的识别，并将数据进行地址映射管理，将数据存入后端硬件模拟模块231，后端硬件模拟模块231与ftl221连接，用于数据的存储，

该错误插入系统203用于模拟内嵌式存储器错误信息的插入，包括：

错误列表模块213，设置有错误列表，用于记录所有插入的错误信息；

设置错误模块243，用于错误的设置，测试系统把错误插入错误列表中；

检查错误模块233，用于遍历错误列表，检查错误的类型、数值；

触发错误模块223，用于返回错误给设备系统后端硬件模拟模块231，即是nand模拟模块2311。

所述设置错误模块243，包括：

错误接口2431，用于所述测试系统202通过错误接口2431把错误插入错误列表中。

参照图3，示出了本发明的一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入方法实施例1的流程图，所述方法在内嵌式存储器模拟测试开发平台内执行，所述平台包括设备系统和测试系统，所述设备系统用于模拟内嵌式存储器，所述测试系统用于模拟外界pc，实现对设备系统的测试，所述设备系统包括前端硬件模拟模块、文件传输层ftl和包括nand模拟模块的后端硬件模拟模块，所述前端硬件模拟模块与测试系统连接，用于对测试命令的解析以及测试命令和数据的传输，ftl与前端硬件模拟模块连接，用于分析测试命令和错误数据的识别，并将数据进行地址映射管理，将数据存入后端硬件模拟模块，后端硬件模拟模块与ftl连接，用于数据的存储，

该错误插入方法包括：

设置错误步骤301，设置错误，测试系统通过错误接口把错误插入错误列表中；

检查错误步骤302，遍历错误列表，检查错误的类型、数值；

触发错误步骤303，返回错误给设备系统后端硬件模拟模块即是nand模拟模块；

还包括ftl识别错误步骤304，ftl识别错误数据，并报告测试系统。

参照图4，示出了本发明的一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入方法实施例2的流程图，该实施例引入了用例来更进一步的说明本错误插入方法，所述误插入方法在内嵌式存储器模拟测试开发平台内执行，所述平台包括设备系统401和测试系统402，所述设备系统401用于模拟内嵌式存储器，所述测试系统用于模拟外界pc，实现对设备系统402的测试，所述设备系统401包括前端硬件模拟模块、文件传输层ftl和包括nand模拟模块的后端硬件模拟模块，所述前端硬件模拟模块与测试系统连接，用于对测试命令的解析以及测试命令和数据的传输，ftl与前端硬件模拟模块连接，用于分析测试命令和错误数据的识别，并将数据进行地址映射管理，将数据存入后端硬件模拟模块，后端硬件模拟模块与ftl连接，用于数据的存储，

该错误插入方法包括：

用例建立：测试系统402用例启动开始；

设置错误步骤403，设置错误，测试系统402通过错误接口把错误插入错误列表中；

测试系统402指令设备系统401开始nand模拟模块(写入、读取、拭檫)操作404；

设置错误步骤403完成后，进行检查错误步骤405，遍历错误列表，包括检查错误的类型，写入错误、读取错误、拭檫错误，以及错误数值；

检查错误步骤405完成后，进行触发错误步骤406，返回错误给设备系统后端硬件模拟模块即是nand模拟模块；

触发错误步骤406完成后，测试系统402开始执行发送ftl访问nand模拟模块命令步骤407；

之后开始进行ftl识别错误步骤408，并将识别结果报告测试系统；

最后执行用例销毁步骤409，完成使用用例过程。

其位本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于方法实施例而言，由于其与系统实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上对本发明所提供的一种内嵌式存储器模拟测试开发平台的错误插入机制(系统和方法)，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。