技术总结
本发明公开了一种保护芯片测试模式的方法，该方法包括：在芯片进行测试前的初始化时，将所述芯片中的电子可编程熔丝E‑fuse模块的预定存储位置的比特位串作为保护码；在所述芯片完成测试前的初始化后，从所述E‑fuse模块的预定存储位置读取所述保护码；在所述保护码不为0时，禁止所述芯片进入测试模式；在所述保护码为0时，允许所述芯片进入测试模式，如果要禁止芯片下次进入测试模式，则更改所述保护码。本发明能够防止攻击者进入芯片的测试模式。
技术研发人员：田圆;高洪福
受保护的技术使用者：大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司
文档号码：201610703536
技术研发日：2016.08.22
技术公布日：2017.01.11