触摸检测装置和半导体装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及触摸检测装置及应用于其的半导体装置，特别是涉及调整触摸面板的 检测对象电容的偏移的技术，例如涉及应用于PDA(Personal Digital Asistant :个人数字 助理)、平板PC (Personal Computer:个人计算机）的触摸感测输入系统等且有效的技术。
【背景技术】
[0002] 利用互电容量方式的多点触摸所对应的触摸面板被配置为使得例如作为驱动电 极的Y电极和作为检测电极的X电极使电介质介于之间而正交，作为每个交叉部分的交叉 耦合电容的交叉电容构成交点电容。当在交点电容的附近存在由手指或手所造成的电容量 时，该节点的互电容量减少由手指、手所造成的合成电容量的量。触摸面板控制器为了检测 该互电容量的变化在哪个交点电容发生，而依次对驱动电极进行脉冲驱动并进行脉冲单位 的充电工作，依次重复由每个检测电极检测充电电荷的变化的工作，在检测电路取得与呈 矩阵配置的交点电容的互电容量的变换相应的信号。关于使用这样的互电容量方式来驱动 触摸面板而检测信号的控制器，例如在专利文献1有记载。
[0003] 在专利文献1中，着眼于在从交点电容到检测电路的路径存在寄生电容分量，其 大小由于X电极的位置、布局而存在偏差。这样的偏差变为经由X电极输入到检测电路的 电荷量的偏差而呈现，因此，作为用于补正由于这样的偏差所造成的影响的校准技术，提出 了与每个交点电容对应地进行偏移的调整的技术。即，在触摸面板控制器设置了对与触摸 面板的多个X电极对应的多个检测电路的输入信号或输出信号实施偏移调整的校准电路， 并且设置了存储所述校准电路的调整参数的存储器。据此，能按触摸面板的每个交点电容 高精度地调整非触摸的检测数据的偏差。因而，检测电路的检测电压收敛于A/D变换器的 输入范围。
[0004] 进而，在专利文献1中，关于由于环境(周围温度、湿度）变动而调整参数的最佳值 发生变化的情况的应对有记载。即，为了对应于环境变动，使存储调整参数的RAM具有两 面，一边利用存储在一个RAM中的调整参数，一边以对应于环境变动的调整参数来改写另 一个RAM，在改写完成之后，切换所使用的RAM。
[0005] 现有技术文献 专利文献 专利文献1 :日本特开2012-234473号公报。
【发明内容】
[0006] 发明要解决的课题 本发明人关于相应于环境变动的调整参数的更新进行讨论的结果，着眼于以下方面。 第一，如专利文献1，在设置有存储各个调整参数的多个RAM并排他地使用的结构中，必须 增大RAM的存储容量而牵涉到电路规模或者芯片面积的增大。第二，在到运算相应于环境 变动的新的调整参数并写入到RAM结束为止之间，必须使用不是最佳的旧的调整参数来进 行触摸检测，而存在发生触摸的误判定的担忧。为了消除这样的误判定的担忧，在改写期间 中，必须休止触摸检测，触摸输入的操作性恶化而强加不便。在该情况下，也没有使RAM具 有两面的意义。第三，由于改写调整参数其自身，所以各个调整参数具有与必要的调整精度 相称的位数，因此，对于改写而言需要不少时间，上述触摸误判定的担忧也变高，此外，上述 触摸检测的休止期间也变长。
[0007] 本发明的目的在于提供一种触摸检测装置，其能根据环境变动来最佳化用于调整 触摸面板的每个交点电容的非触摸的检测数据的偏差的调整参数，此时不需要触摸检测的 休止，而且，能未然地防止触摸误判定的担忧。
[0008] 进而，在于提供一种对那样的触摸检测装置是优选的半导体装置。
[0009] 本发明的前述以及其他目的和新的特征根据本说明书的记述和附图而变得显而 易见。
[0010] 用于解决课题的方案 简单地说明本申请中所公开的实施方式之中代表性的实施方式的概要的话，如下所 述。
[0011] 即，在触摸面板控制器设置对触摸面板的多个X电极所对应的多个检测电路的输 入信号实施偏移调整的校准电路，并且，设置存储除规定校准电路的偏移调整工作的第一 参数数据之外还存储用于对所述第一参数数据进行必要的补正的第二参数数据的存储装 置。
[0012] 发明效果 简单地说明根据本申请中所公开的实施方式之中代表性的实施方式而得到的效果的 话，如下所述。
[0013] 即，能通过具有针对温度等环境变动而补正第一参数数据的第二参数数据，从而 在中途不停止检测工作的情况下容易且高精度地进行校准电路的偏移调整。
【附图说明】
[0014] 图1是作为应用了触摸面板的电子设备的一个例子而示出便携式信息终端的概 略的框图。
[0015] 图2是例示触摸面板的电极结构的说明图。
[0016]图3是例示作为触摸面板的等效电路和检测电路的一个例子的积分电路的电路 图。
[0017] 图4是例示供给到Y电极的驱动脉冲信号的信号波形的波形图。
[0018] 图5是例示向Y电极的输入脉冲电压和积分电路的检测工作的定时的时间图。
[0019] 图6是示出触摸面板的一个例子的平面图。
[0020] 图7是例示积分电路的输出电压及对其的AD变换结果数据的目标值的波形图。
[0021] 图8是例示第一实施方式中的触摸面板控制器的框图。
[0022] 图9是控制寄存器值TPC_CALADJON的功能说明图。
[0023]图10是例示能对应于环境变动的校准数据的生成以及使用了其的触摸检测工作 的流程图。
[0024] 图11是示出存储在校准补正数据用的RAM中的校准补正数据CADJ_Data的真值 的说明图。
[0025] 图12是关于第一实施方式例示触摸面板的XY电极交点的排列与校准用的RAM的 数据映射的对应的说明图。
[0026] 图13是示出了着眼于触摸面板的驱动电极Yl~Y3进行检测工作的情况下的校 准数据和检测数据的关系的工作时间图。
[0027] 图14是例示根据校准数据而用电流源的电流量来调整来自触摸面板的检测电极 Xn的输入信号的校准电路的说明图。
[0028]图15是例示根据校准数据而用电容电荷来调整来自触摸面板的检测电极Xn的输 入信号的校准电路的说明图。
[0029] 图16是例示对检测电路的输出进行偏移调整的校准电路的说明图。
[0030]图17是例示生成对应于环境变动的校准数据的第二实施方式的触摸面板控制器 的框图。
[0031] 图18是例示第二实施方式中的能对应于环境变动的校准数据的生成以及使用了 其的触摸检测工作的流程图。
[0032] 图19是例示第二实施方式中的触摸面板的XY电极交点的排列与校准用的RAM和 寄存器的数据映射的对应的说明图。
[0033] 图20是示出了着眼于触摸面板的驱动电极Yl~Y3进行检测工作的情况下的校 准数据和检测数据的关系的工作时间图。
[0034] 图21是例示生成对应于环境变动的校准数据的第三实施方式的触摸面板控制器 的框图。
[0035] 图22是例示第三实施方式中的能对应于环境变动的校准数据的生成以及使用了 其的触摸检测工作的流程图。
[0036] 图23是例示生成对应于环境变动的校准数据的第四实施方式的触摸面板控制器 的框图。
[0037] 图24是例示设置了温度传感器的情况下的补正处理流程的流程图。
[0038]图25是示出以多个范围设定了判定的基准温度的情况下的真值的一个例子的说 明图。
【具体实施方式】
[0039] 1.实施方式的概要 首先，关于本申请中公开的实施方式，说明概要。关于实施方式的概要说明中标注括号 来参照的附图中的附图标记只不过例示包括于标注了其的结构要素的概念的附图标记。
[0040] 〔1〕〈〈偏移调整参数的补正数据〉〉 触摸检测装置（TML)具备：触摸面板（1)，呈矩阵状地配置多个Y电极（Ym(Yl~YM))和X电极（Xn(XI~XN));触摸面板控制器（3、3八、3〇，基于相应于所述触摸面板的所述￥ 电极和所述X电极的交点电容而呈现于所述X电极的信号来生成相应于所述Y电极和所述 X电极的每个交点的电容分布的检测数据；以及处理器（5)，进行使用了从所述触摸面板控 制器转送的所述检测数据的数据处理。所述触摸面板控制器具备：多个检测电路，与所述 多个X电极对应；校准电路（304)，对各个所述检测电路的输入信号或输出信号实施偏移调 整；以及存储装置（307、308、322)，存储规定所述校准电路的偏移调整工作的第一参数数 据（C_Data)和用于对所述第一参数数据进行必要的补正的第二参数数据（CADJ_Data)。 [0041] 据此，因为具有存储用于根据需要而补正用于按触摸面板的每个交点电容调整检 测数据的偏差的第一参数数据的第二参数数据的存储装置，所以不需要针对环境的变动使 触摸检测工作停止而改写第一参数数据的设定，此外，也不需要准备存储第一参数数据的 设定的多个存储装置。进而，因为采用了用第二参数数据来补正偏移调整用的参数数据的 结构，所以如果使该补正刻度变小，则还能容易地实现针对环境变动而动态地最佳化第二 参数数据。
[0042] 〔 2〕〈〈Y电极和所述X电极的每个交点的补正数据〉〉 在项1中，所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据（C_Data[yl,xl]~C_Data[yM,xN])。所述第二参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交 点的数据（CADJ_Data[yl,xl]~CADJ_Data[yM,xN])(参照图 8)。
[0043] 由此，能按所述Y电极和所述X电极的每个交点进行参数数据的补正，因此，能将 补正的偏移调整精度保持得高。
[0044] 〔 3〕〈〈对Y电极和所述X电极的交点进行代表的补正数据〉〉 在项1中，所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据（C_Data[yl,xl]~C_Data[yM,xN])。所述第二参数数据是对所述Y电极和所述X电极的交点 以单个或多个数据进行代表的代表数据（CADJ_Data[7:0])(参照图17、图23)。
[0045] 据此，利用补正的偏移调整精度降低，但能抑制由于存储第二参数数据而造成的 存储装置的电路规模的增大。
[0046] 〔 4〕〈〈个别地存储第一参数数据和第二参数数据的存储器〉〉 在项2中，所述存储装置由存储第一参数数据的第一存储器（307)和存储所述第二参 数数据的第二存储器（308)构成。在所述第二存储器中存储从所述处理器提供的所述第二 参数数据。
[0047] 据此，能将与第一参数数据性质不同的第二参数数据与第一参数数据分离而用处 理器容易地管理。
[0048] 〔5〕〈〈将作为第二参数数据的代表数据存储在寄存器中〉〉 在项3中，所述存储装置由存储第一参数数据的第一存储器（307)和存储作为所述第 二参数数据的所述代表数据的参数寄存器（322)构成。在所述参数寄存器中存储从所述处 理器提供的所述代表数据。
[0049] 据此，能将作为与第一参数数据性质不同的第二参数数据