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半导体器件及其操作方法与流程
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半导体器件及其操作方法与流程
技术总结
一种半导体器件可以包括:第一锁存器,被配置成在第一操作期间储存从存储单元输出的数据;以及故障检测电路,被配置成经由在第一操作之后的预定时间执行的第二操作通过将从存储单元输出的数据与储存在第一锁存器中的数据进行比较来检测故障。
技术研发人员:
崔俊基;金泰均
受保护的技术使用者:
爱思开海力士有限公司
文档号码:
201610248696
技术研发日:
2016.04.20
技术公布日:
2017.01.11
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