一种质量校准物离子化与引入装置的制造方法_2

文档序号:9377700阅读:来源:国知局
器及行波导引装置中的一种或者组合。
[0032]优选的,所述离子导引区域包括至少一离子导引装置,所述离子导引装置包括:离子漏斗、多极杆离子导引装置、Q-阵列导引器及行波导引装置中的一种或者组合。
[0033]优选的,所述第一离子源与第二离子源各自连接的所述真空接口装置设置成:使各真空接口装置的出口处的中轴线夹角为O?90度。
[0034]优选的,所述低于大气压环境的气压范围是0.0001?ITorrU?50Torr、50?300Torr 及 300 ?700Tor;r。
[0035]优选的,所述处于低于大气压环境下的第二离子源包括:电喷雾离子源、辉光放电离子源、介质阻挡放电离子源、化学电离离子源、电晕放电离子源、解吸附电晕束离子源、激光解吸附离子源及光电离离子源的一种或者组合;所述处于大气压环境下的第一离子源包括:电喷雾离子源、解吸附电晕束离子源、介质阻挡放电离子源、化学电离离子源、电晕放电离子源、激光解吸附离子源、辉光放电离子源及光电离离子源中的一种或者组合。
[0036]如上所述,本发明提供的一种用于质谱仪的质量校准物离子化与引入装置,包括:用于质量校准物离子化的至少一第一离子源;用于分析物离子化的至少一第二离子源;以及至少一离子导引区域,离子导引区域用于导引质量校准物离子及分析物离子进入与离子导引区域连接的质量检测分析区域;其中,第一离子源处于低于大气压的环境,第二离子源处于大气压环境各个离子源与离子导引装置之间均有独立真空接口装置;低压环境相比大气压环境减少了质谱仪的真空泵负载,可以使得其相应的真空接口装置截面积可以大于在大气压环境下的真空接口装置截面积,从而使得第一离子源预设腔室中产生的质量校准物离子能更多地进入到后级的离子导引区域,减少了离子在真空接口装置中的传输损失,从而可以有效地提高了离子传输效率。这样利用低于大气压的第一离子源,可以在得到同等的离子信号强度情况下,相对于大气压下的离子源情况下使用较少量的质量校准物,从而减少质量校准物对于质谱仪真空接口装置的污染。质量校准物和分析物各自独立的离子源、预设腔室和真空接口装置设计避免了质量校准物和分析物离子化和传输过程中的相互干扰,减少了质量校准物给分析物检测带来的基质效应,消除了质量校准物对于分析物真空接口装置的污染问题,同时又可以完全实现内标法的质量校准。当然亦可第二离子源处于低于大气压环境,用于分析物的尚子化。从而可以提升分析物的尚子化效率与尚子传输效率,适合于痕量分析物或者离子化效率较低的分析物的检测。
【附图说明】
[0037]图1显示为本发明的质量校准物离子化与引入装置的一实施例的结构示意图。
[0038]图2显示为本发明的质量校准物离子化与引入装置的一实施例的结构示意图。
[0039]图3显示为本发明的质量校准物离子化与引入装置的一实施例的结构示意图。
[0040]图4显示为本发明的质量校准物离子化与引入装置的一实施例的结构示意图。
[0041]图5显示为本发明的质量校准物离子化与引入装置的一实施例的结构示意图。
[0042]图6显示为本发明的质量校准物离子化与引入装置的一实施例的结构示意图。
[0043]图7显示为本发明的质量校准物离子化与引入装置的一实施例的结构示意图。
[0044]图8显示为本发明的质量校准物离子化与引入装置的一实施例的结构示意图。
[0045]图9显示为本发明的质量校准物离子化与引入装置的一实施例的结构示意图。
[0046]元件标号说明
[0047]1,1a, lb, lc, Id, le, If, Ig第一离子源
[0048]2,2a,2b,2c,2d,2e,2f,2g第二离子源
[0049]3,3a,3b,3c,3d,3e,3f,3g预设腔室
[0050]31,31a,31b,31c,31d,31e,31f,31g 抽气口
[0051]32a控制阀
[0052]33b离子导引器件
[0053]4,4a, 4b, 4c, 4d, AeAfAg真空接口装置
[0054]5, 5a, 5b, 5c, 5d, 5e, 5f, 5g装置主体
[0055]51, 51a, 51b, 51c, 51d, 51e, 51f, 51g 离子导引区域
[0056]511,511a,511b,511c,511d,511e,511f,511g 离子导引装置
[0057]52,52a,52b,52c,52d,52e,52f,52g 质量检测分析区域
[0058]6c样本台
[0059]61c解吸附源
[0060]62c导管
【具体实施方式】
[0061]以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的【具体实施方式】加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0062]实施例1:
[0063]请参阅图1,本发明提供一种质量校准物离子化与引入装置,包括:用于质量校准物离子化的至少一第一离子源1、用于分析物离子化的至少一第二离子源2、第一离子源的预设腔室3、至少一离子导引区域51、用于连接离子源与离子导引区域的真空接口装置4、以及质量检测分析区域52,所述离子导引区域51用于导引所述质量校准物离子及分析物离子进入与所述离子导引区域51连接的质量检测分析区域52,离子运动可参考图示的箭头方向;其中,所述第一离子源I处于低于大气压的环境,所述第二离子源2的处于大气压环境。
[0064]一方面,所述处于低于大气压环境下的第一离子源I包括:电喷雾离子源、辉光放电离子源、介质阻挡放电离子源、化学电离离子源、解吸附电晕束离子源、电晕放电离子源、激光解吸附离子源及光电离离子源中的一种或者组合;其中由于低于大气压环境下,空间电荷效应降低,放电电流提高以及光子飞行距离增加,使得电喷雾离子源、辉光放电离子源与光电离离子源的离子化效率和传输效率大大提高。从而使得电喷雾离子源、辉光放电离子源与光电离离子源作为低气压离子源的优选方案;所述处于大气压环境下第二离子源2包括:电喷雾离子源、解吸附电晕束离子源、介质阻挡放电离子源、化学电离离子源、电晕放电离子源、辉光放电离子源、激光解吸附离子源及光电离离子源中的一种或者组合。较佳的,在本实施例中,是对应所述质量校准物的第一离子源I置于所述预设腔室3内,采用电喷雾离子源、辉光放电离子源或者光电离离子源,利用低压环境提高质量校准物离子的离子化效率和离子传输效率,从而可以减少质量校准物的使用量,减少了质量校准物对质谱仪后级装置的污染,从而减少质量校准物对于分析物检测带来的基质效应,提高了分析物的检测灵敏度。
[0065]一方面,所述低于大气压的环境为内部气压低于大气压的预设腔室3,优选但非必要的,所述预设腔室3包括供抽放气以改变内部气压的抽气口 31,从而通过抽气口 31连接泵以抽放气来调整内部气压;另外,所述第一离子源I及第二离子源2分别通过相互独立的真空接口装置4传输所述质量校准物离子及分析物离子至离子导引区域51,一方面,所述真空接口装置4可以是采样锥、圆孔、直毛细管或弯毛细管,以使所述质量校准物和分析物离子化和引入过程完全分开,从而使得质量校准物不会对分析物的真空接口装置带来污染,从而不会影响分析物的检测灵敏度。也不会对分析物的离子化和引入产生干扰,提高分析物检测的稳定性;而第二离子源2处于大气压环境下,是可以单独处于大气压环境下,或者设在连通大气压环境的腔室内。
[0066]一方面,所述低于大气压环境可以是在0.0001?ITorr、I?50Torr、50?300Torr及300?700Torr ;其中优选的,电喷雾离子源对应的低气压I?300Torr ;辉光放电离子源:0.0001?300Torr ;光电离离子源:0.0001?300Torr。
[0067]一方面,所述第二离子源2可与液相色谱联用。
[0068]一方面,提供一装置主体5,所述离子导引区域51及质量检测分析区域52皆可以是所述装置主体5内形成的腔室,离子导引区域51气压低于预设腔室3的气压,而质量检测分析区域52的气压则低于离子导引区域51的气压。
[0069]一方面,所述离子导引区域51内设有离子导引装置511,如离子漏斗、多极杆离子导引装置、Q-阵列导引器及行波导引装置等中的一种或者组合,,当然所述离子导引装置511亦可兼具离子聚焦效果,此为行业惯用技术,不另作赘述;一方面,所述质量检测分析区域52内可以设有质量检测器和质量分析器,所述质量分析器例如为单四极杆质谱装置、多重四级杆质谱装置、飞行时间质谱装置、多重四极杆结合飞行时间质谱装置、傅里叶变换离子回旋共振及离子阱质谱装置中的一种或者组合;质量检测器
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