1.一种用于电子器件的电压应力测试系统，其特征在于包括：
驱动电路，用于驱动所述电子器件；
测试模式信号发生器，连接至所述电子器件与驱动电路之间，用于向所述电子器件提供测试模式信号；
开关电路，与所述驱动电路串联在供电驱动线路中，用于在正常工作模式下防止从所述供电驱动线路中产生偏置电流，并且在测试模式下，断开所述供电驱动线路；
测量电路，用于在所述供电驱动线路断开时测量所述测试模式信号发生器与所述电子器件之间的泄漏电流。
2.如权利要求1所述的电压应力测试系统，其特征在于，所述测量电路分别测量对应于具有正常电压和最大应力电压的测试模式信号的第一泄漏电流值与第二泄漏电流值，其中当所述第二泄漏电流值与第一泄漏电流值的差超出一预定的阈值时指示所述电子器件故障。
3.如权利要求2所述的电压应力测试系统，其特征在于，所述开关电路包括：
第一可控开关，具有一控制端、与电源连接的第一端以及与所述驱动电路连接的第二端；
第二可控开关，连接在所述第一可控开关的控制端以及第二端之间；
第三可控开关，其接收测试控制信号以控制所述第一可控开关和第二可控开关，其中在正常工作模式下，所述第一可控开关导通，同时第二可控开关断开以避免在所述驱动线路与所第三可控开关之间通过该第二可控开关产生所述偏置电流。
4.如权利要求3所述的电压应力测试系统，其特征在于，在测试模式下，所述第二可控开关基于所述测试控制信号与所述测试模式信号而断开所述第一可控开关，其中所述测试控制信号的不同电平值指示所述正常工作模式和测试模式。
5.如权利要求4所述的电压应力测试系统，其特征在于所述电子器件、第一可控开关、第二可控开关、第三可控开关是MOS管，
其中所述测量电路测量所述测试模式信号发生器与作为所述电子器件的MOS管的栅极之间的泄漏电流。
6.如权利要求5所述的电压应力测试系统，其特征在于，
作为所述第一可控开关的MOS管包括：栅极，作为第一端连接到电源的漏极，作为第二端连接至所述驱动电路的源极；
作为所述第二可控开关的MOS管包括：连接至电源的栅极，连接到所述第一可控开关的栅极的漏极，以及与所述第一可控开关的源极连接的源极，该源极可接收由所述驱动电路馈入的所述测试模式信号；
作为所述第三可控开关的MOS管包括：作为控制输出端连接到所述第一可控开关的栅极的漏极，直接或间接接地的源极，以及用于接收所述测试控制信号的栅极。
7.一种用于电子器件的电压应力测试的开关电路，其中该开关电路与该电子器件的驱动电路串联在供电驱动线路中，其特征在于，该开关电路包括：
第一可控开关，具有一控制端、与电源连接的第一端以及与所述驱动电路连接的第二端；
第二可控开关，连接在所述第一可控开关的控制端以及第二端之间；
第三可控开关，其接收测试控制信号以控制所述第一可控开关和第二可控开关，其中在正常工作模式下，所述第一可控开关导通，同时第二可控开关断开以避免在所述驱动线路与所第三可控开关之间通过该第二可控开关产生偏置电流。
8.如权利要求7所述的开关电路，其特征在于，在测试模式下，所述第二可控开关基于所述测试控制信号与测试模式信号而断开所述第一可控开关，其中所述测试控制信号的不同电平值来指示所述正常工作模式和测试模式。
9.如权利要求7所述的开关电路，其特征在于，所述电子器件、第一可控开关、第二可控开关、第三可控开关是MOS管。
10.如权利要求8或9所述的开关电路，其特征在于，
作为所述第一可控开关的MOS管包括：栅极，连接到电源的漏极，连接至所述驱动电路的源极；
作为所述第二可控开关的MOS管包括：连接到所述第一可控开关的栅极的漏极，连接至电源的栅极，以及与所述第一可控开关的源极连接的源极，该源极可接收由所述驱动电路馈入的测试模式信号；
作为所述第三可控开关的MOS管包括：接收所述测试控制信号的栅极，作为控制输出端连接至所述第二可控开关的栅极的漏极，以及直接或间接接地的源极。