抗核辐射全扫描D型容错触发器电路的制作方法

技术特征：

技术总结
本发明涉及一种抗核辐射全扫描D型容错触发器电路，包括系统主锁存器、系统从锁存器、扫描主锁存器、扫描从锁存器、扫描输出反相器、容错模块。本发明的有益效果：能实现全速扫描，非扫描模式下系统触发器和扫描触发器可互为备份，实现了冗余的功能，在核辐射环境下，对输出的数据具有容错能力，可纠错瞬时数据出现的错误。

技术研发人员：胡封林;李剑川;罗恒;张圣君;刘森
受保护的技术使用者：长沙中部芯空微电子研究所有限公司
技术研发日：2017.05.09
技术公布日：2017.09.08