放射线检测装置、放射线图像摄影系统及放射线检测方法

专利名称：放射线检测装置、放射线图像摄影系统及放射线检测方法
技术领域：
本发明涉及放射线检测装置、放射线图像摄影系统及放射线检测方法，特别涉及在不与放射线照射装置的放射线照射动作取得同步的情况下拍摄放射线图像的放射线检测装置、放射线图像摄影系统及放射线检测方法。
背景技术：
在现有技术中，公知以医疗诊断为目的进行放射线摄影的放射线图像摄影系统。 作为该放射线图像摄影系统，有如下放射线图像摄影系统，即，具备照射放射线的放射线照射装置、作为检测透过了被检体的放射线并拍摄放射线图像的放射线检测装置的所谓的暗盒(cassette)等放射线检测器、以及控制该放射线照射装置及该放射线检测器的控制
直ο近年来，作为放射线检测器，有使用了可将检测出的放射线变换成电信号的 FPD (平板探测器)的结构。由于在FPD等二维固体摄像元件中存在成为产生噪声的原因之一的暗电流，因此无法过度延长固体摄像元件的摄像时间。因此，与放射线照射装置之间收发信号，同步地进行从放射线照射装置16照射放射线的照射动作和由FPD进行摄像(进行放射线检测)的摄像动作。具体而言，针对来自放射线照射装置的摄像要求信号，在FPD中进行固体摄像元件的初始化，并在完成初始化之后，将摄像准备完成信号发送到放射线照射装置中。在放射线照射装置中，当接收到摄像准备完成信号时，则开始放射线的照射，并在经过了预先设定的照射时间之后结束放射线的照射，将照射结束信号发送到FPD中。在FPD中，当接收到照射结束信号时，则结束由固体摄像元件进行的电荷的蓄积动作，并移行到将检测出的放射线图像的图像数据输出至控制装置的输出动作。这种情况下，由于放射线照射装置手动地控制FPD，因此接口变得复杂化，需要将放射线照射装置与FPD构筑为一个一体式的系统。因此，装置变得大型化及复杂化。作为对应该问题的放射线检测器，有如下放射线检测器，S卩，不与放射线照射装置连接且不与放射线照射装置进行信号的收发(不取得同步)，在放射线检测器侧检测放射线图像。例如，在JP特开2005-13272号公报及JP特开2003-307569号公报中，记载了在 FPD侧判断放射线的照射时刻的技术。作为由放射线检测器判断为了拍摄被检体的放射线图像而从放射线照射装置照射的放射线的照射时刻的技术，有如下技术，即，在从固体摄像元件读出的电荷信息OiL 值)达到了规定阈值以上的情况下，判断为是照射时刻。可是，却存在着放射线检测器的固体摄像元件的特性根据温度的变化而变化的情形。因此，存在着即便从放射线照射装置照射且照射到放射线检测器本身的放射线量没有变化，QL值也根据温度的变化而变化的情形。这种情况下，放射线检测器检测放射线的检测精度下降。

发明内容
本发明提供一种在判断出被照射了放射线的放射线检测装置中，能够提高放射线的检测精度的放射线检测装置、放射线图像摄影系统及放射线检测方法。本发明的第一方式为一种放射线检测装置，具备图像数据检测单元，其将与被照射的放射线相应的电荷信息作为放射线图像数据进行检测；控制单元，其在所述检测出的电荷信息的读取值为阈值以上的情况下判断为照射了放射线，并控制所述图像数据检测单元，使所述图像数据检测单元取得与透过了被检体的放射线相应的放射线图像数据；和变更单元，其根据所述图像数据检测单元的温度数据来变更所述阈值。控制单元在由图像数据检测单元检测出的放射线图像数据(电荷信息)的读取值为阈值以上的情况下判断为照射了放射线，并控制图像数据检测单元，使图像数据检测单元与透过了被检体的放射线相应的放射线图像数据。变更单元根据与图像数据检测单元的温度相关的数据(温度数据)来变更所述阈值。基于图像数据检测单元的特性根据温度的变化而变化等原因，放射线图像数据 (电荷信息)的读取值会发生变化。因此，若与温度的变化无关地将阈值设为固定值，则放射线检测装置检测放射线的检测精度会下降。因此，在本发明中，变更单元根据放射线图像数据检测单元的温度数据来变更阈值。由此，能够提高放射线的检测精度。在上述方式中可以是还具备温度检测单元，其检测所述图像数据检测单元的温度来作为所述温度数据。在上述方式中可以是所述图像数据检测单元检测放射线图像数据的偏移数据来作为所述温度数据。在上述方式中可以是所述偏移数据为规定期间内的偏移值的最大值。本发明的第二方式为一种放射线图像摄影系统，具备控制装置(controller)， 其指示与放射线数据的摄影相关的设定；放射线照射装置，其基于来自所述控制装置的指示来照射放射线；和第一方式所述的放射线检测装置，其检测与从所述放射线照射装置照射的放射线相应的放射线图像数据。本发明的第三方式为一种放射线检测方法，包括如下步骤使图像数据检测单元检测与被照射的放射线相应的电荷信息；在所述检测出的电荷信息的读取值为阈值以上的情况下判断为照射了放射线，并控制所述图像数据检测单元，使所述图像数据检测单元检测与透过了被检体的放射线相应的放射线图像数据；和根据所述图像数据检测单元的温度数据来变更所述阈值。如上所述，根据上述各方式，在判断出被照射了放射线的放射线检测装置中能提高放射线的检测精度。


图1是表示第一实施方式涉及的放射线图像摄影系统的概略构成的一例的概略构成图。图2是表示第一实施方式涉及的放射线检测器的概略构成的一例的功能框图。图3是示意性表示第一实施方式涉及的放射线检测器的TFT部的构成的一例的剖视图。
图4是示意性表示第一实施方式涉及的放射线检测器的TFT部的构成的另一例的剖视图。图5是表示在第一实施方式涉及的放射线检测器中执行的摄影处理的流程的一例的流程图。图6是表示在第二实施方式涉及的放射线检测器中执行的摄影处理的流程的一例的流程图。图7A及图7B是用于说明在第二实施方式涉及的放射线检测器中取得的偏移数据 (offset data)的一例的说明图，图7A示出取得的偏移数据的一例，图7B示出取得的偏移数据的偏移值的最大值随温度的变化及所对应的阈值的变化。
具体实施例方式(第一实施方式)下面，参照各附图，对本实施方式的一例进行说明。在本实施方式中，说明以下情形，即，根据与对放射线图像的图像信息(数据)进行检测的TFT部的温度相关的数据(以下称为温度数据)，来变更为了拍摄被检体的放射线图像而用于判断从放射线照射装置照射出放射线的阈值。图1示出本实施方式的放射线图像摄影系统的概略构成。放射线图像摄影系统 10具备放射线照射装置16，其向被检体19照射放射线(例如X射线(X-ray)等)；放射线检测器14，其检测从放射线照射装置16照射并透过了被检体19的放射线；以及控制装置12(C0ns0le)，其指示放射线图像的摄影，并且从放射线检测器14取得图像数据进行各种处理。通过从放射线照射装置16照射并透过位于摄影位置的被检体19，从而担持图像信息的放射线被照射到放射线检测器14中。控制装置12以无线方式与放射线检测器14连接，具有经由通信I/M6基于无线方式的指令与数据传送对放射线检测器14执行各种控制的功能。另外，控制装置12以无线方式与放射线照射装置16连接，具有对照射放射线(例如X射线等)的时刻进行控制的功能。控制装置12具备CPU (Central Processing Unit) 20、存储器22、处理部Μ、显示部 25及通信I/F26，并且CPU20、存储器22、处理部对、显示部25及通信Ι/Μ6经由CPU总线等总线观连接，相互之间可进行信号的收发。CPU20通过执行预先存储在存储器22中的各种程序，对控制装置12整体的动作进行控制。处理部M从放射线检测器14取得图像数据进行各种处理。另外，显示部25具有显示自放射线检测器14经由通信I/M6接收到的放射线图像等的功能。放射线照射装置16具备放射线源17及通信I/F18。放射线照射装置16经由通信 I/F18以无线方式与控制装置12进行连接，并且在基于控制装置12控制下的时刻，从放射线源17向被检体19照射放射线。图2示出放射线检测器14的构成的一例的功能框图。放射线检测器14是放射检测面板单元，可举出FPD(Flat Panel Detector)等所谓的暗盒等。放射线检测器14具备TFT (Thin Film Transistor，薄膜晶体管)部30、电荷放大器MUX (多路转换器)32、A/D转换器34、控制器36、栅极驱动部38、无线通信部40、存储部 42、阈值变更部44、温度检测部46及电源部48。
TFT部30检测被照射的放射线。图3示出示意性表示TFT部30的构成的一例的剖视图。如图3所示，放射线检测器14包括在绝缘性基板50上形成了 TFT等开关元件52 的TFT基板M。开关元件52与用于接通断开各开关元件52的栅极线68连接。在该TFT基板M 上，形成有将所入射的放射线变换成光的荧光层56。作为荧光层56，例如能够使用CsI:Tl、 GOS(Gd2O2SiTb)荧光体等。此外，荧光层56并不限于这些材料。作为绝缘性基板50，例如能使用玻璃基板、各种陶瓷基板、树脂基板等，但并不限于这些材料。在荧光层56与TFT基板M之间配置有光导电层58，用于通过入射由荧光层56变换后的光来产生电荷。在该光导电层58的荧光层56侧的表面设有偏置电极60，用于向光导电层58施加偏置电压。另外，在TFT基板M设有电荷收集电极62，用于收集由光导电层58产生的电荷。 在TFT基板M上，通过开关元件52读出由各电荷收集电极62收集到的电荷。电荷收集电极62在TFT基板M上被配置成矩阵状(二维状)，与此相应，开关元件TFT在绝缘性基板50上被配置成矩阵状。另外，在TFT基板M上形成有平坦层64，用于平坦化TFT基板M。另外，在TFT基板M与荧光层56之间即平坦层64上形成有粘接层 66，用于将荧光层56粘接在TFT基板M上。放射线检测器14可从粘接有荧光层56的表面侧被照射放射线(表面侧为摄影面)，也可从TFT基板M侧(背面侧)被照射放射线(背面侧为摄影面)。放射线检测器 14在从表面被照射放射线的情况下，在荧光层56的上表面侧(TFT基板M的相反侧)发出更强的光，在从背面侧被照射放射线的情况下，透过了 TFT基板M的放射线入射到荧光层 56，荧光层56的TFT基板M侧发出更强的光。基于由荧光层56照射出的光，在各光导电层58中产生电荷。因此，在放射线检测器14中，与从背面侧被照射放射线的情况相比，在从表面侧被照射放射线的情况下由于放射线没有透过TFT基板54，因此可将相对于放射线的灵敏度设计得更高。另外，与从表面侧被照射放射线的情况相比，在从背面侧被照射放射线的情况下由于荧光层56的发光位置相对于各光导电层58近，因此通过摄影得到的放射线图像的分辨率高。此外，TFT部30的构造等并不限定于此，只要是具有对与照射到放射线检测器14 的放射线相应的电荷进行蓄积并输出的功能即可，也可是其他构造。图4示出TFT部30的另一构造例。图4是示意性表示TFT部30的构成的另一例的剖视图。在图4所示的TFT部 30中，采用了直接由使用了非晶硒等的传感器部将放射线变换成电荷进行蓄积的直接变换方式的构造。在图4所示的TFT部30中，作为对所入射的放射线进行变换的放射线变换层的一例，将所入射的放射线变换成电荷的光导电层59被形成在TFT基板M上。作为光导电层 59，使用以非晶硒(a-Se)、Bi12MO20(Μ :Ti、Si、Ge)、Bi4M3O12 (Μ :Ti、Si、Ge)、Bi203、BiMO4(Μ Nb、Ta、V)、Bi2WO6,Bi24B2O39^ ZnO, ZnS, ZMe、ZnTe、MNbO3 (Μ :Li、Na、K)、PbO、Hgl2、Pbl2、CdS, CdSe, CdTe, BiI3, GaAs等中的至少一种为主成分的化合物等，但优选暗电阻高且相对于放射线照射表现出良好的光导电性的、通过真空蒸渡法可在低温下进行大面积成膜的非晶质 (非晶)材料。
在光导电层59上形成有偏置电极61，该偏置电极61形成在光导电层59的表面侧且用于向光导电层59施加偏置电压。在直接变换方式的TFT部30中，与间接变换方式的TFT部30 (参照上述图3)同样地，对由光导电层59产生的电荷进行收集的电荷收集电极62被形成在TFT基板M上。另外，直接变换方式的TFT部30中的TFT基板M具备电荷蓄积电容63，用于蓄积由各电荷收集电极62收集的电荷。各电荷蓄积电容63所蓄积的电荷通过开关元件52读出。即，下面存在将与从TFT部30读出的电荷相关的信息(电荷信息)称为QL值的情况。在TFT部30中读出的电荷，被作为电信号输出到电荷放大器MUX32中。电荷放大器32对电信号进行放大并变换成作为电数据的模拟电压，作为具体例，由使用了运算放大器及电容器的放大电路以及采样保持电路构成。采样保持电路所保持的电信号，通过MUX32 进行并行串行变换，并输出到A/D转换器34中。A/D转换器34将串行输入的模拟电压变换成更容易处理的数字信号。通过A/D转换器34变换成数字信号的放射线图像的二维图像数据，被输出到控制部36中。在本实施方式中，A/D转换器34连接着图像存储器(省略图示)，被传送来的图像数据依次存储到图像存储器中。在本实施方式中，图像存储器具有可存储规定张数的图像数据的存储容量，每次进行放射线图像的摄影时，都将拍摄得到的图像数据依次存储到图像存储器中。控制部36由微型计算机构成，具备CPU36A、包括ROM及RAM的存储器36B、以及由闪存等构成的非易失性存储部36C，并且通过CPU36A执行存储在存储器36B中的各种程序来控制放射线检测器14整体的动作。在录入了摄影菜单时控制部36按如下方式进行控制，即读取QL值，判断所读取的QL值是否为存储部36C存储的阈值以上，在为阈值以上的情况下判断为由放射线照射装置16照射了放射线，开始被摄体19的放射线图像的摄影，并获取图像数据(详细内容见后述)。另外，当录入了摄影菜单时，本实施方式的控制部36指示阈值变更部44取得与TFT 部30的温度数据相应的阈值并变更阈值(详细内容见后述)。阈值变更部44根据控制部36的控制，取得与TFT部30的温度相关的数据，取得与该数据相应的阈值，并将控制部36的存储部36C存储的阈值变更为所取得的阈值。艮口， 阈值变更部44根据与TFT部30的温度相关的数据来变更存储部36C存储的阈值。温度检测部46检测TFT部30的温度，作为具体例，举出热敏电阻等。此外，温度检测部46并不限于直接检测TFT部30的温度，也可检测放射线检测器14内部的温度，但优选将其设置于靠近TFT部30的场所。图像数据还从控制部36进一步传送到无线通信部40。无线通信部40以无线方式对每行的图像数据进行数据包传送。这样，本实施方式的无线通信部40具有与外部装置 (这里是指控制装置12)进行无线通信的功能，对应于以IEEEdnstitute of Electrical and Electronics Engineers) 802. lla/b/g/n为代表的无线LAN规格，来控制以无线通信方式与外部设备之间的各种数据传送。另外，经由无线通信部40，控制部36可与控制装置12等控制放射线图像摄影整体的外部装置进行无线通信，可在与控制装置12之间进行各种数据的收发。在拍摄被检体19 的放射线图像时，控制部36将自控制装置12经由无线通信部40接收到的摄影条件(摄影菜单)或被检体19的信息等各种数据录入到存储部42，并基于所录入的摄影菜单进行电荷读出。这样，在本实施方式的放射线检测器14中，进行与被照射的放射线相应的放射线图像的摄影。此外，如上述，由本实施方式的放射线检测器14进行的放射线图像的摄影动作，在不从控制装置12接收放射线图像的摄影指示、不与放射线照射装置16照射放射线取得同步的情况下被执行。另外，本实施方式的放射线检测器14具备电源部48，上述各部等通过由电源部48 供给的电力进行动作。电源部48内置电池(可充电的二次电池)以免损坏放射线检测器 14的便携性，从被充电的电池向各部等供给电力。此外，在图2中，为了防止附图变得复杂而省略记载了将电源部48和各部等进行连接的布线。下面，参照附图，详细说明本实施方式的放射线检测器14中的放射线图像的摄影处理动作。图5是表示在放射线检测器14中执行的放射线图像的摄影处理的流程的一例的流程图。在进行摄影处理时，在控制部36中由CPU36A执行存储器36B的规定区域内预先存储的程序。在步骤100中，判断是否录入了摄影菜单。在仍未从控制装置12接收到摄影菜单的情况等之下，在步骤100中为否定而处于待机状态。另一方面，在录入了摄影菜单的情况下，在步骤100中为肯定而进入步骤102中。在步骤102中，指示TFT部30开始放射线图像(电荷信息)的检测、即指示开始电荷蓄积。在步骤104中，指示阈值变更部44从温度检测部46取得温度，进而在接下来的步骤106中取得与所取得的温度相应的阈值。根据这些指示，在阈值变更部44中从温度检测部46取得检测温度，并取得与所取得的检测温度相应的阈值。作为与检测温度相应的阈值的取得方法，例如举出通过运算取得的方法。举出具体一例，则预先可知检测温度为20°C时的QL值为5500QL、且当温度变化1°C时QL值变化15QL，将该20°C的情形作为初始值时的情形，根据下式得到成为阈值的QL值。阈值^L 值)=(检测温度-20°C ) X 15QL+5500QL例如，在检测温度为30°C时，则有(30°C -20°C ) X 15QL+5500QL = 5650QL,即阈值为 5650QL。此外，与检测温度相应的阈值的取得方法并不限于此，例如也可将检测温度与阈值之间的对应关系预先存储到存储部42中，并基于该对应关系从存储部42中取得阈值。当这样取得了与检测温度相应的阈值时，在接下来的步骤108中，阈值变更部44 将控制部36中的存储部30C存储的阈值变更为与检测温度相应的阈值。当设定了与检测温度相应的阈值时，控制部36执行基于该阈值判断被照射用于对被检体19的放射线图像进行拍摄的放射线的时刻的处理。在接下来的步骤110中读取QL值，在接下来的步骤112中判断所读取的QL值是否为阈值以上。此外，QL值的读取方法并不特别限定，例如可以是预先规定的像素的QL值， 也可是以多行为单位读出的各像素的QL值，也可是放射线照射时刻的判断专用的像素的 QL值。在所读取的QL值尚未达到阈值的情况下，在步骤110中为否定而返回到步骤110 中。另一方面，在为阈值以上的情况下，在步骤110中为肯定而判断出开始了放射线的照射，且为了开始被检体19的放射线图像的摄影而进入到步骤114中。
在步骤114中，在执行了将TFT部30中蓄积的电荷排出的复位动作之后，进入到步骤116，在步骤116中如上述那样检测放射线图像，以进行放射线图像的摄影。由此，取得被检体19的放射线图像的图像数据。在接下来的步骤118中，在经由无线通信部40将所取得的图像数据传送到控制装置12之后，结束本处理。如上所述，本实施方式涉及的放射线图像摄影系统10的放射线检测器14，在不与放射线照射装置16的放射线照射动作取得同步的情况下，判断用于对被检体19的放射线图像进行拍摄的放射线的照射时刻。另外，当从控制装置12录入了摄影菜单时，阈值变更部44从温度检测部46取得检测TFT部30的温度而得到的检测温度，取得与所取得的检测温度相应的阈值，并将控制部36的存储部36C中存储的阈值变更为与检测温度相应的阈值。由此，控制部36能够基于与检测温度相应的阈值来判断放射线的照射时刻，因此能够与因温度引起的QL值变化无关地适当判断照射时刻。因此，能够提高放射线的检测精度。(第二实施方式)以下，参照各附图对本实施方式的一例进行说明。在本实施方式中，说明根据放射线图像的偏移数据来变更阈值的情形，该阈值用于判断为了拍摄被检体的放射线图像而从放射线照射装置照射出了放射线这一情形。在放射线检测器14中，基于因TFT部30的温度变化引起的特性变化等，偏移数据 (偏移值)也根据温度的变化而变化。其中，所谓偏移数据(偏移值)是指，在将TFT部30 设为未照射放射线的状态下进行QL值读取而得到的QL值的数据。由于本实施方式的放射线图像摄影系统10及放射线检测器14采用与第一实施方式大致相同的构成，因此对于大致相同的构成的部分省略详细说明。本实施方式的放射线检测器14不具备第一实施方式的放射线检测器14(参照图2、所具备的温度检测部46，控制部36取得规定期间的偏移数据存储在存储部42中，阈值变更部44基于存储部42存储的该偏移数据取得与偏移数据相应的阈值，并变更控制部36的存储部36C中存储的阈值。下面，参照附图，详细说明本实施方式的放射线检测器14中的放射线图像的摄影处理动作。图6是表示在本实施方式的放射线检测器14中执行的放射线图像的摄影处理的流程的一例的流程图。其中，由于该摄影处理是与第一实施方式的放射线检测器14中执行的摄影处理(参照图幻大致相同的处理，因此与第一实施方式的摄影处理对应的部分表示对应的内容，省略其详细说明。图6所示的本实施方式的摄影处理的步骤200对应于第一实施方式的摄影处理的步骤100，步骤202对应于步骤102。在接下来的步骤204中，控制部36在规定期间内取得偏移数据(QL值)。图7A示出所取得的偏移数据的一例。其中，在取得偏移数据时，由于实际上未向TFT部30照射放射线，因此偏移值不会超过存储部36C存储的阈值。取得偏移数据的规定期间，在考虑偏移数据的偏差的基础上预先规定即可。此外，在本实施方式中，在步骤204中取得的偏移数据预先存储在存储部42中。在接下来的步骤206中，阈值变更部44从存储部42存储的偏移数据中读取偏移CN 102451011 A说明 书8/9 页
值的最大值，并取得与所读取的偏移值的最大值相应的阈值。作为与偏移值的最大值相应的阈值的取得方法，例如举出以下方法。如图7B所示，因为偏移数据发生了变化，因此偏移值的最大值也根据温度的变化而变化。因此，预先得到规定温度(在图7B中与第一实施方式同样为20°C)的偏移值的最大值(max值)，并求出该值与从存储部42读取的偏移数据的最大值之差(参照图7B的X)，取得与该最大值的差相应的阈值。此外，取得与偏移值的最大值相应的阈值的取得方法并不限于此，例如也可是将偏移值的最大值与阈值之间的对应关系预先存储到存储部42中，基于该对应关系从存储部42中取得阈值的方法。当这样取得了与偏移值的最大值相应的阈值时，在接下来的步骤208中，阈值变更部44将控制部36的存储部36C中存储的阈值变更为与偏移值的最大值相应的阈值。步骤208以后的处理对应于第一实施方式的摄影处理。具体而言，步骤210对应于步骤110，步骤212对应于步骤112，步骤214对应于步骤114，步骤216对应于步骤116， 步骤218对应于步骤118。这样，在本实施方式中，根据与偏移值(QL值)的最大值相应的阈值来判断放射线的照射时刻以拍摄被检体19的放射线图像，并在将放射线图像的图像数据传送到控制装置12之后结束本处理。此外，以上说明了根据偏移值(QL值)的最大值来变更阈值的情形，但并不限于此，只要是基于偏移数据的阈值即可。例如，也可是规定期间的偏移值(QL值)的偏差或规定期间的偏移值OiL值)的平均值等。如上所述，本实施方式涉及的放射线图像摄影系统10的放射线检测器14，在不与放射线照射装置16的放射线照射动作取得同步的情况下，判断用于对被检体19的放射线图像进行拍摄的放射线的照射时刻。另外，控制部36预先取得偏移数据存储在存储部42 中，当从控制装置12录入了摄影菜单时，阈值变更部44从存储部42中读取偏移值(QL值) 的最大值，取得与所读取的偏移值0^值)的最大值相应的阈值，并将控制部36的存储部 36C中存储的阈值变更为与偏移值的最大值相应的阈值。由此，控制部36能够基于与偏移数据相应的阈值来判断放射线的照射时刻，因此能够与因温度引起的QL值的变化无关地适当判断照射时刻。因此，能够提高放射线的检测精度。以上，如第一实施方式及第二实施方式中所述，在本发明的放射线检测器14中， 阈值变更部44根据TFT部30的温度数据来变更控制部36的存储部36C中存储的阈值。控制部36基于与TFT部30的温度数据相应的阈值来判断是否照射了用于对被检体19的放射线图像进行拍摄的放射线，因此能提高放射线的检测精度。此外，控制部36的存储部36C中存储的阈值的变更并不仅限于上述第一实施方式及第二实施方式，也可根据放射线检测器14的种类、材质、大小、面积及厚度等其他因素进行变更。另外，在上述第一实施方式及第二实施方式中说明的放射线图像摄影系统10、控制装置12、放射线检测器14及放射线照射装置16等的构成等为一例，在不脱离本发明宗旨的范围内可根据状况进行变更。另外，在上述第一实施方式及第二实施方式中说明的摄影处理的流程的一例(图5、图6)也仅是一例，在不脱离本发明宗旨的范围内可根据状况进行变更。 另外，在上述第一实施方式及第二实施方式中，说明了作为放射线而应用X射线
的情形，但实施方式并不限于此，也可使用、射线等。
权利要求
1.一种放射线检测装置，具备图像数据检测单元，其将与被照射的放射线相应的电荷信息作为放射线图像数据进行检测；控制单元，其在所述检测出的电荷信息的读取值为阈值以上的情况下判断为照射了放射线，并控制所述图像数据检测单元，使所述图像数据检测单元取得与透过了被检体的放射线相应的放射线图像数据；和变更单元，其根据所述图像数据检测单元的温度数据来变更所述阈值。
2.根据权利要求1所述的放射线检测装置，其中，还具备温度检测单元，该温度检测单元检测所述图像数据检测单元的温度来作为所述温度数据。
3.根据权利要求1所述的放射线检测装置，其中，所述图像数据检测单元检测放射线图像数据的偏移数据来作为所述温度数据。
4.根据权利要求3所述的放射线检测装置，其中， 所述偏移数据是规定期间内的偏移值的最大值。
5.一种放射线图像摄影系统，具备控制装置，其指示与放射线数据的摄影相关的设定； 放射线照射装置，其基于来自所述控制装置的指示来照射放射线；和权利要求1至4任意一项所述的放射线检测装置，其检测与从所述放射线照射装置照射的放射线相应的放射线图像数据。
6.一种放射线检测方法，包括如下步骤使图像数据检测单元检测与被照射的放射线相应的电荷信息； 在所述检测出的电荷信息的读取值为阈值以上的情况下判断为照射了放射线，并控制所述图像数据检测单元，使所述图像数据检测单元检测与透过了被检体的放射线相应的放射线图像数据；和根据所述图像数据检测单元的温度数据来变更所述阈值。
7.根据权利要求6所述的放射线检测方法，其中，还包括检测所述图像数据检测单元的温度来作为所述温度数据的步骤。
8.根据权利要求6所述的放射线检测方法，其中，所述图像数据检测单元检测所述放射线图像数据的偏移数据来作为所述温度数据。
9.根据权利要求8所述的放射线检测方法，其中， 所述偏移数据为规定期间内的偏移值的最大值。
全文摘要
本发明提供一种放射线检测装置、放射线图像摄影系统及放射线检测方法。所述放射线检测装置具备图像数据检测单元，其将与被照射的放射线相应的电荷信息作为放射线图像数据进行检测；控制单元，其在所述检测出的电荷信息的读取值为阈值以上的情况下判断为照射了放射线，并控制所述图像数据检测单元，使所述图像数据检测单元取得与透过了被检体的放射线相应的放射线图像数据；和变更单元，其根据所述图像数据检测单元的温度数据来变更所述阈值。
文档编号A61B6/00GK102451011SQ20111030405
公开日2012年5月16日 申请日期2011年10月10日 优先权日2010年10月14日
发明者榎本淳 申请人:富士胶片株式会社