阵列基板测试电路的制作方法

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板测试电路。

背景技术：

随着显示技术的发展，液晶显示器(liquidcrystaldisplay，lcd)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。

通常液晶显示面板由彩膜基板(cf，colorfilter)、薄膜晶体管基板(tft，thinfilmtransistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(lc，liquidcrystal)及密封胶框(sealant)组成，其成型工艺一般包括：前段阵列(array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(cell)制程(tft基板与cf基板贴合)及后段模组组装制程(驱动ic与印刷电路板压合)。其中，前段array制程主要是形成tft基板，以便于控制液晶分子的运动；中段cell制程主要是在tft基板与cf基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动ic压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。

阵列基板测试(arraytest)电路，是用于液晶显示面板array制程中用来测试阵列基板侧电性情况的电路，对于产品良率的提升具有很重要的作用。如图1及图2所示，arraytest电路通常位于面板显示区的上部，包括：多个驱动单元，每一个驱动单元均包括：多个阵列测试点(arraytestpad)100、与所述多个阵列测试点100电性连接的多路复用电路(demux)200、以及测试使能电路300，其中所述多路复用电路200包括：一个第一多路复用模块201、以及四个第二多路复用模块202；所述第一多路复用模块201包括四个第一薄膜晶体管t1，所述每一个第二多路复用模块202包括六个第二薄膜晶体管t2，所述测试使能电路300包括二十四个第三薄膜晶体管t3；所述四个第一薄膜晶体管t1的栅极分别电性连接第一、第二、第三、及第四控制信号atc1～atc4，所述四个第一薄膜晶体管t1的源极均接入数据信号data，所述四个第一薄膜晶体管t1的漏极分别对应电性连接一个第二多路复用模块202；所述六个第二薄膜晶体管t2的栅极分别电性连接第五、第六、第七、第八、第九、及第十控制信号atc5～atc10，所述六个第二薄膜晶体管t2的源极均电性连接其所在的第二多路复用模块202对应的一个第一薄膜晶体管t1的漏极，所述六个第二薄膜晶体管t2的漏极电性连接测试使能电路300，所述二十四个第三薄膜晶体管t3的栅极均接入测试使能信号aten，所述二十四个第三薄膜晶体管t3的源极分别电性连接一个第二薄膜晶体管t2的漏极，所述二十四个第三薄膜晶体管t3的漏极分别电性连接一条数据线，如图2所示，阵列测试时，所述第一至第十控制信号atc1～atc10、测试使能信号aten、及数据信号data均通过对应的阵列测试点100输入到相应到薄膜晶体管中，但是测试完成之后，在面板正常工作时，阵列测试点上不再有信号输入，电路不工作，第一至第十控制信号atc1～atc10处于置空(floating)状态，导致所述多路复用器100中的各个薄膜晶体管也处于置空的状态，导致面板处于一种未知的状态，对面板的显示造成不确定性，影响面板显示的稳定性。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种阵列基板测试电路，能够保证多路复用器中的开关元件在液晶显示面板正常显示保持关闭状态，避免多路复用器中的开关元件处于置空状态，提升液晶显示面板的工作稳定性。

为实现上述目的，本发明提供了一种阵列基板测试电路，包括：至少一个第一多路复用模块、一使能信号输入点、多个测控信号输入点、多条数据线、多个使能开关元件、多个防置空开关元件、以及一反相器；

每一个第一测控开关元件对应一个使能开关元件，每一个第一测控开关元件的控制端均电性连接一个测控信号输入点，输入端均接入数据信号，输出端均电性连接与其对应的使能开关元件的输入端；

每一个使能开关元件对应一条数据线，每一个使能开关元件的控制端均电性连接使能信号输入点，输出端均电性连接与其对应的一数据线；

每一个防置空开关元件对应一个测控信号输入点，每一个防置空开关元件的控制端均电性连接所述反相器的输出端，输入端均接入测控开关关闭信号，输出端均电性连接与其对应的一个测控信号输入点；

所述使能信号输入点用于在阵列基板测试时接收高电位的使能信号，使得所述使能开关元件打开且所述防置空开关元件关闭，在液晶显示面板正常显示时接收低电位的使能信号，使得所述使能开关元件关闭且所述防置空开关元件打开；

所述测控信号输入点用于在阵列基板测试时接收测控信号，使得所述第一测控开关元件打开，在液晶显示面板正常显示时接收测控开关关闭信号，使得所述第一测控开关元件关闭。

所述防置空开关元件为薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极为所述防置空开关元件的控制端，源极为所述防置空开关元件的输入端，漏极为所述防置空开关元件的输出端。

所述防置空开关元件为传输门，所述传输门的高电位控制端为所述防置空开关元件的控制端，输入端为所述防置空开关元件的输入端，输出端为所述防置空开关元件的输出端，所述传输门的低电位控制端电性连接所述使能信号输入点。

所述多个测控信号输入点包括：第一测控信号输入点、第二测控信号输入点、第三测控信号输入点、第四测控信号输入点、第五测控信号输入点、第六测控信号输入点；

所述第一多路复用模块的数量为四个，每一个第一多路复用模块均包括六个第一测控开关元件，同一个第一多路复用模块中的六个测控开关元件的控制端分别接入第一测控信号输入点、第二测控信号输入点、第三测控信号输入点、第四测控信号输入点、第五测控信号输入点、第六测控信号输入点。

还包括：一第二多路复用模块、第七测控信号输入点、第八测控信号输入点、第九测控信号输入点、及第十测控信号输入点，所述第一多路复用模块从第二多路复用模块获取数据信号；

所述第二多路复用模块包括：四个第二测控开关元件，每一个第二测控开关元件对应一个第一多路复用模块，每一个第二测控开关元件的输出端均与其对应的第一多路复用模块中的各个第一测控开关元件的输入端电性连接；所述四个第二测控开关元件的控制端分别电性连接第七测控信号输入点、第八测控信号输入点、第九测控信号输入点、第十测控信号输入点，所述四个第二测控开关元件的输入端均接入数据信号。

还包括：一数据信号输入点，所述数据信号输入点用于向所述第二多路复用模块提供数据信号。

所述使能开关元件为薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极为所述使能开关元件的控制端，源极为所述使能开关元件的输入端，漏极为所述使能开关元件的输出端。

所述第一测控开关元件为薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极为所述第一测控开关元件的控制端，源极为所述第一测控开关元件的输入端，漏极为所述第一测控开关元件的输出端

本发明的有益效果：本发明提供一种阵列基板测试电路，包括：至少一个第一多路复用模块、一使能信号输入点、多个测控信号输入点、多条数据线、多个使能开关元件、多个防置空开关元件、以及一反相器；每一个第一测控开关元件的控制端均电性连接一个测控信号输入点，输入端均接入数据信号，输出端均电性连接与其对应的一使能开关元件的输入端；每一个使能开关元件的控制端均电性连接使能信号输入点，输出端均电性连接与其对应的一数据线；每一个防置空开关元件的控制端均电性连接所述反相器的输出端，输入端均接入测控开关关闭信号，输出端均电性连接与其对应的一个测控信号输入点；通过在液晶显示面板显示时打开所述防置空开关元件，将所述测控开关关闭信号输入测控信号输入点，可保证多路复用器中的开关元件在液晶显示面板正常显示保持关闭状态，避免多路复用器中的开关元件处于置空状态，提升液晶显示面板的工作稳定性。

附图说明

为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。

附图中，

图1为现有的阵列基板测试电路的电路图；

图2为现有的阵列基板测试电路的阵列测试点处的示意图；

图3为本发明的阵列基板测试电路的第一实施例的电路图；

图4为本发明的阵列基板测试电路的第二实施例中防置空开关元件处的局部放大图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。

请参阅图3，本发明提供一种阵列基板测试电路，包括：至少一个第一多路复用模块1、一使能信号输入点2、多个测控信号输入点3、多条数据线4、多个使能开关元件5、多个防置空开关元件6、以及一反相器7；

每一个第一测控开关元件11对应一个使能开关元件5，每一个第一测控开关元件11的控制端均电性连接一个测控信号输入点3，输入端均接入数据信号data，输出端均电性连接与其对应的使能开关元件5的输入端；

每一个使能开关元件5对应一条数据线4，每一个使能开关元件5的控制端均电性连接使能信号输入点2，输出端均电性连接与其对应的一数据线4；

每一个防置空开关元件6对应一个测控信号输入点3，每一个防置空开关元件6的控制端均电性连接所述反相器7的输出端，输入端均接入测控开关关闭信号vgl，输出端均电性连接与其对应的一个测控信号输入点3；

所述使能信号输入点2用于在阵列基板测试时接收高电位的使能信号aten，使得所述使能开关元件5打开且所述防置空开关元件6关闭，在液晶显示面板正常显示时接收低电位的使能信号aten，使得所述使能开关元件5关闭且所述防置空开关元件6打开；

所述测控信号输入点3用于在阵列基板测试时接收测控信号atc，使得所述第一测控开关元件11打开，在液晶显示面板正常显示时接收测控开关关闭信号vgl，使得所述第一测控开关元件11关闭。

具体地，如图3所示，在本发明的第一实施例中，所述防置空开关元件6为薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极为所述防置空开关元件6的控制端，源极为所述防置空开关元件6的输入端，漏极为所述防置空开关元件6的输出端。

具体地，如图4所示，在本发明的第二实施例中，所述防置空开关元件6为传输门，所述传输门的高电位控制端为所述防置空开关元件6的控制端，输入端为所述防置空开关元件6的输入端，输出端为所述防置空开关元件6的输出端，所述传输门的低电位控制端电性连接所述使能信号输入点2。

优选地，所述低电位的使能信号aten的电位为-7v，所述测控开关关闭信号vgl的电位为-7v。

具体实施时，如图3所示，可选择所述多个测控信号输入点3包括：第一测控信号输入点31、第二测控信号输入点32、第三测控信号输入点33、第四测控信号输入点34、第五测控信号输入点35、第六测控信号输入点36；

所述第一多路复用模块1的数量为四个，每一个第一多路复用模块1均包括六个第一测控开关元件11，同一个第一多路复用模块1中的六个测控开关元件11的控制端分别接入第一测控信号输入点31、第二测控信号输入点32、第三测控信号输入点33、第四测控信号输入点34、第五测控信号输入点35、第六测控信号输入点36。

具体实施时，如图3所示，所述阵列基板测试电路还可以进一步的包括：一第二多路复用模块8、第七测控信号输入点37、第八测控信号输入点38、第九测控信号输入点39、及第十测控信号输入点310，所述第一多路复用模块1从第二多路复用模块8获取数据信号data。

所述第二多路复用模块8包括：四个第二测控开关元件81，每一个第二测控开关元件81对应一个第一多路复用模块1，每一个第二测控开关元件81的输出端均与其对应的第一多路复用模块1中的各个第一测控开关元件11的输入端电性连接；所述四个第二测控开关元件81的控制端分别电性连接第七测控信号输入点37、第八测控信号输入点38、第九测控信号输入点39、第十测控信号输入点310，所述四个第二测控开关元件81的输入端均接入数据信号。

具体地，上述的实施方案中，所述阵列基板测试电路还可以包括：一数据信号输入点9，所述数据信号输入点9用于向所述第二多路复用模块8提供数据信号data。

优选地，所述使能开关元件5为薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极为所述使能开关元件5的控制端，源极为所述使能开关元件5的输入端，漏极为所述使能开关元件5的输出端。所述第一测控开关元件11为薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极为所述第一测控开关元件11的控制端，源极为所述第一测控开关元件11的输入端，漏极为所述第一测控开关元件11的输出端。

需要说明的是，本发明的阵列基板测试电路的工作过程包括：进行阵列基板测试，各个测控信号输入点3分别接收不同的测控信号atc，使得所述第一测控开关元件11和第二测控开关元件81打开，所述数据信号data从所述多路复用模块中输出，所述使能信号输入点2接收高电位的使能信号aten，所述使能开关元件5均打开，所述数据信号data写入数据线4进行阵列基板测试，同时高电位的使能信号aten经过反相后变为低电位，所述防置空开关元件6关闭，所述测控开关关闭信号vgl无法写入测控信号输入点3，避免对阵列基板测试造成影响，阵列基板测试结束后，液晶显示面板正常显示，各个测控信号输入点3分别不再接收测控信号atc，所述使能信号输入点2接收低电位的使能信号aten，所述使能开关元件5均关闭，同时低电位的使能信号aten经过反相后变为高电位，所述防置空开关元件6打开，所述测控开关关闭信号vgl写入测控信号输入点3，使得所述第一测控开关元件11和第二测控开关元件81均关闭，相比现有技术液晶显示面板正常显示时多路复用器中的开关元件处于置空状态，本发明的阵列基板测试电路能够保证液晶显示面板正常显示时，多路复用器中的开关元件在液晶显示面板正常显示保持关闭状态，以提升液晶显示面板的工作稳定性。

综上所述，本发明提供一种阵列基板测试电路，包括：至少一个第一多路复用模块、一使能信号输入点、多个测控信号输入点、多条数据线、多个使能开关元件、多个防置空开关元件、以及一反相器；每一个第一测控开关元件的控制端均电性连接一个测控信号输入点，输入端均接入数据信号，输出端均电性连接与其对应的一使能开关元件的输入端；每一个使能开关元件的控制端均电性连接使能信号输入点，输出端均电性连接与其对应的一数据线；每一个防置空开关元件的控制端均电性连接所述反相器的输出端，输入端均接入测控开关关闭信号，输出端均电性连接与其对应的一个测控信号输入点；通过在液晶显示面板显示时打开所述防置空开关元件，将所述测控开关关闭信号输入测控信号输入点，可保证多路复用器中的开关元件在液晶显示面板正常显示保持关闭状态，避免多路复用器中的开关元件处于置空状态，提升液晶显示面板的工作稳定性。

以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。