显示时信号的RC Loading。同时，这一部分信号也不再会将外界的ESD信号导入到面板内部，一定程度上也降低了发生ESD的几率，其对应的时序见图5。
[0058]通过在金属绕线和驱动信号线之间设置传输门，所有的测试信号不再是直接和驱动信号线相连接。然而当该电路单元按图4所示时序导通时所有测试信号的功能又不会丧失，驱动信号线连通的电路可以正常工作。这样，一定程度上降低了 ESD直接传到驱动信号线上的几率。
[0059]如图6所示，在本发明的另一个实施例中，该传输门由一 N型晶体管或一 P型晶体管构成。N型晶体管在施加正偏电压时打开，P型晶体管在施加负偏电压时打开。当施加到N型晶体管或P型晶体管开关端的电压与测试信号的电压的差值大于对应的开启电压时，传输门打开，测试信号可以通过该传输门到达驱动信号线。当施加到N型晶体管或P型晶体管开关端的电压与测试信号的电压的差值小于对应的开启电压时，传输门关闭，断开金属绕线与驱动信号线之间的连接。
[0060]在本发明的一个实施例中，在对显示面板进行测试及在显示面板正常工作时，向传输门中的晶体管提供不同的开启电压，其中:在对显示面板进行测试时，当采用N型晶体管时，向该N型晶体管提供第一电压，当采用P型晶体管时，向该P型晶体管提供第二电压；在显示面板正常工作时，当采用N型晶体管时，向N型晶体管提供第二电压，当采用P型晶体管时，向P型晶体管提供第一电压。其中，第一电压和第二的设置方式与以上由一对N型晶体管和P型晶体管并联构成的传输门中第一电压和第二电压的设置方式相同，均由显示面板正常工作时全部驱动信号线上的驱动电压范围确定。其中，第一电压大于零，第二电压小于零。
[0061]在对显示面板进行测试时，当采用N型晶体管时，施加到N型晶体管上的第一电压大于驱动电压范围中的驱动电压最大值VGH时，使得该N型晶体管开启时，测试信号通过该N型晶体管到达驱动信号线。当采用P型晶体管时，施加到P型晶体管第二电压小于驱动电压范围中的驱动电压最小值VGL时，使得该P型晶体管开启时，测试信号通过该P型晶体管到达驱动信号线。
[0062]在显示面板正常工作时，当采用N型晶体管时，施加到N型晶体管上的第二电压小于驱动电压范围中的驱动电压最小值，N型晶体管处于反向偏压状态，N型晶体管断开金属绕线与驱动信号线的连接，减少由金属绕线引起的RC负载效应。同理，当采用P型晶体管时，施加到P型晶体管上的第一电压大于驱动电压范围中的驱动电压最大值，P型晶体管处于正向偏压状态，P型晶体管断开金属绕线与驱动信号线的连接，也能减少由金属绕线引起的RC负载效应。
[0063]优选地，无论采用N型晶体管还是采用P型晶体管时，使得第一电压与驱动电压最大值的差值等于N型晶体管的开启电压，第二电压与驱动电压最小值的差值等于P型晶体管的开启电压。这样，有利于减少电路的参数设计，还有利于晶体管可靠地截止。
[0064]在本发明的一个实施例中，该传输门由一对N型TFT薄膜晶体管和P型TFT薄膜晶体管并联构成，如图3和图4中的NTFT和PTFT。在本发明的另一个实施例中，该传输门由一对N型MOSFET和P型MOSFET并联构成。当然，当该传输门采用一个晶体管时，可以选择薄膜晶体管或MOSFET管。TFT薄膜晶体管或MOSFET管均可用作开关门电路。在液晶显示面板上，尤其是将该测试电路集成设置在阵列基板上时，优选TFT薄膜场效应管。当该测试电路不设置在阵列基板上，或应用在其他类型的电路中，可以采用MOSFET管。
[0065]根据本发明的另一方面，还提供了一种采用以上电路的液晶显示面板。该液晶显示面板包括以上所述的用于测试显示面板的电路。这样的液晶显示面板一定程度上可以产生ESD防护效果，同时可以有效的降低驱动信号对应的RC负载效应。
[0066]虽然本发明所公开的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。
【主权项】
1.一种用于测试显示面板的电路，包括: 金属绕线，其用于将测试信号引入驱动信号线， 其中，在所述金属绕线与所述驱动信号线之间设置一传输门，用以在对显示面板进行测试时，将所述测试信号传输至所述驱动信号线，以及在显示面板正常工作时，断开所述金属绕线与所述驱动信号线的连接。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述传输门由一N型晶体管或一 P型晶体管构成。3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，在对显示面板进行测试及在显示面板正常工作时，向所述传输门中的晶体管提供不同的开启电压，其中: 在对显示面板进行测试时，当采用所述N型晶体管时，向所述N型晶体管提供第一电压，当采用所述P型晶体管时，向所述P型晶体管提供第二电压，以使所述测试信号通过所述传输门到达所述驱动信号线； 在显示面板正常工作时，当采用所述N型晶体管时，向所述N型晶体管提供所述第二电压，当采用所述P型晶体管时，向所述P型晶体管提供所述第一电压，以断开所述金属绕线与所述驱动信号线的连接。4.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述传输门由一对N型晶体管和P型晶体管并联构成。5.根据权利要求4所述的电路，其特征在于，在对显示面板进行测试及在显示面板正常工作时，向所述传输门中的一对晶体管提供不同的开启电压，其中: 在对显示面板进行测试时，向所述N型晶体管提供第一电压，向所述P型晶体管提供第二电压，以使所述测试信号通过所述传输门到达所述驱动信号线； 在显示面板正常工作时，向所述N型晶体管提供第二电压，向所述P型晶体管提供第一电压，以断开所述金属绕线与所述驱动信号线的连接。6.根据权利要求3或5所述的电路，其特征在于，所述第一电压和所述第二电压由显示面板正常工作时全部驱动信号线上的驱动电压范围确定，所述第一电压大于所述驱动电压范围中的驱动电压最大值，所述第二电压小于所述驱动电压范围中的驱动电压最小值。7.根据权利要求6所述的电路，其特征在于，所述第一电压与所述驱动电压最大值的差值等于所述N型晶体管的开启电压，所述第二电压与所述驱动电压最小值的差值等于所述P型晶体管的开启电压。8.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，所述第一电压和所述第二电压由显示面板正常工作时全部驱动信号线上的驱动电压范围确定，所述第一电压等于所述驱动电压范围中的驱动电压最大值，所述第二电压等于所述驱动电压范围中的驱动电压最小值。9.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述传输门由一对N型TFT薄膜晶体管和P型TFT薄膜晶体管并联构成或由一对N型MOSFET管和P型MOSFET管并联构成。10.一种采用以上权利要求1-9中任一项所述电路的液晶显示面板。
【专利摘要】本发明公开了一种用于测试显示面板的电路及液晶显示面板，该电路包括：金属绕线，其用于将测试信号引入驱动信号线，其中，在金属绕线与驱动信号线之间设置一传输门，用以在对显示面板进行测试时，将测试信号传输至驱动信号线，以及在显示面板正常工作时，断开金属绕线与驱动信号线的连接。本发明一定程度上可以产生ESD防护效果，同时可以有效的降低驱动信号对应的RC负载效应。
【IPC分类】G09G3/00
【公开号】CN104992649
【申请号】CN201510401020
【发明人】李亚锋
【申请人】武汉华星光电技术有限公司
【公开日】2015年10月21日
【申请日】2015年7月9日