一种近晶相液晶屏的电量检测方法

文档序号:9688671阅读:632来源:国知局
一种近晶相液晶屏的电量检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种近晶相液晶屏的电量检测方法,属于近晶相液晶屏领域。
【背景技术】
[0002]目前,近晶相液晶屏已在建筑装饰装修、私密性控制等领域得到了越来越广泛地应用。近晶相液晶屏(可参见专利号为ZL200710304409.2的中国发明专利“近晶态液晶显示屏显示用驱动电路”等中关于近晶相液晶屏的描述)包括第一基体层和第二基体层,在第一基体层与第二基体层之间设有由近晶相液晶和添加物混合而成的混合层,近晶相液晶优选为A类近晶相液晶有机化合物,添加物为带导电特性的化合物,在第一基体层朝向混合层的一侧设有由Η个平行排列的条状电极组成的第一导电电极层,在第二基体层朝向混合层的一侧设有由V个平行排列的条状电极组成的第二导电电极层,第一导电电极层的Η个条状电极与第二导电电极层的V个条状电极相正交,形成一个HXV的像素点阵列(Η、V为大于1的正整数)。
[0003]近晶相液晶屏的驱动方法有许多种,以近晶相液晶屏的常用驱动方法为例,常用驱动方法包括以下两个阶段:首先初始化,将屏上显示的图像清除掉,然后对液晶屏的所有行进行逐行扫描驱动。
[0004]在初始化时,一般是对所有行、所有列进行低频高压正负脉冲对的施加,使近晶相液晶屏整体呈现雾状,以待后续图像显示,其中的低频高压正负脉冲对是指一对频率相同、电压幅值相同、相位相反的脉冲对,如图1所示。在对液晶屏的每行进行扫描驱动时,一般要执行如下步骤:对扫描的行加载高频高压正负脉冲,其余行加载0V电压,根据液晶屏显示需要,需被驱动的像素点对应的列加载与扫描的行加载的高频高压正负脉冲频率相同、电压幅值相同、相位相反的高频高压正负脉冲,而不需被驱动的像素点对应的列加载与扫描的行加载的高频高压正负脉冲频率相同、电压幅值相同、相位相同的高频高压正负脉冲。如图2,图中示出了需被驱动的像素点对应的行、列所加载的高频高压正负脉冲。
[0005]对于其它驱动方法,它们各自具有自己独特的特点,但主体思想与上述常用驱动方法大致相同,都是在初始化的基础上借由高频高压正负脉冲来对行进行扫描驱动,而初始化的基本是施加低频高压正负脉冲对来使液晶屏呈雾状。可以看出,其它驱动方法都是在上述常用驱动方法上的改进,例如可改变常用驱动方法的初始化阶段,即对所有行、所有列进行低频高压正负脉冲对、高频高压正负脉冲对的反复施加,以使近晶相液晶屏可快速呈现雾状。
[0006]从实际实施中可以发现,虽然近晶相液晶屏的已有各种驱动方法都能够实现图像显示的功能,但在初始化阶段以及扫描驱动阶段中,电量会随着刷屏次数的增加而慢慢消耗,而目前对于施加电压值较高的近晶相液晶屏来说,并没有设计电量检测的功能,因而当近晶相液晶屏电量降低到不足以正常驱动时,常常会发生驱动脉冲波形畸变,进而导致液晶屏的显示异常。
[0007]由此可见,为了实现图像的正常显示,设计出一种检测近晶相液晶屏在驱动过程(初始化阶段和扫描驱动阶段)中电量多少的技术方案,是目前急需解决的问题。

【发明内容】

[0008]本发明的目的在于提供一种近晶相液晶屏的电量检测方法,该电量检测方法可检测到近晶相液晶屏在刷屏时的电量信息,达到实时监控近晶相液晶屏电量信息的目的,使得近晶相液晶屏可在低电量前做好预防措施,防止近晶相液晶屏发生因驱动脉冲波形畸变导致的显示异常。
[0009]为了实现上述目的,本发明采用了以下技术方案:
[0010]一种近晶相液晶屏的电量检测方法,其特征在于,它包括如下步骤:
[0011]1)在初始化近晶相液晶屏时,对于施加在行或列上的具有m个脉冲的低频高压脉冲,去除最前面的a个脉冲和最后面的b个脉冲,对余下位于中间的(m-a-b)个脉冲中的每个脉冲的电压值进行平均采样P次并对P次采样值求得采样平均值,从而在得到的(m-a-b)个采样平均值中取最小值作为初始化阶段的电量信息;
[0012]2)在扫描驱动近晶相液晶屏时,对于施加在彳丁上的具有η个脉冲的尚频尚压脉冲,去除最前面的c个脉冲和最后面的d个脉冲,对余下位于中间的(n-c-d)个脉冲中的每个脉冲的电压值进行1次采样,得到(n-c-d)个采样值并对(n-c-d)个采样值求取平均值来作为行采样值,从而在对扫描驱动近晶相液晶屏各行所得到的所有行采样值中取最小值作为扫描驱动阶段的电量信息。
[0013]所述电量检测方法还可包括步骤:在初始化阶段的电量信息与扫描驱动阶段的电量信息中取最小值,以作为所述近晶相液晶屏整个驱动过程的电量信息。
[0014]本发明的优点是:
[0015]本发明在对近晶相液晶屏施加的原始驱动方法上实施,可检测到近晶相液晶屏在显示图像刷屏时的电量信息,达到实时监控近晶相液晶屏在整个驱动过程中的电量信息的目的,使得近晶相液晶屏可在低电量前做好预防措施,防止近晶相液晶屏发生因驱动脉冲波形畸变导致的显示异常。
[0016]本发明充分利用近晶相液晶的驱动特性,在驱动脉冲波形变化的过程中进行采样,实时监控近晶相液晶屏在初始化阶段以及扫描驱动阶段中的电量信息,电量信息与驱动脉冲波形紧密相关,其可真实反映出近晶相液晶屏在刷屏过程中驱动脉冲波形的实际变化情况。
[0017]本发明可通过对近晶相液晶屏在显示图像刷屏时检测到的关于各行或列的电量信息进行处理分析,来得到此次刷屏涉及的最终电量信息,从而实现实时监测近晶相液晶屏在整个驱动过程中的电量变化情况。
[0018]本发明不仅可在近晶相液晶屏的常用驱动方法上实施,还可在各种驱动方法上实施。
【附图说明】
[0019]图1是常用驱动方法中施加的低频高压正负脉冲对的示意图。
[0020]图2是常用驱动方法中对需被驱动的像素点对应的行、列所加载的高频高压正负脉冲的示意图。
[0021]图3是本发明电量检测方法的实现流程图。
[0022]图4是本发明对低频高压正负脉冲进行电量检测的实施说明图。
[0023]图5是本发明对高频高压正负脉冲进行电量检测的实施说明图。
[0024]图6是本发明对低频高压正向脉冲进行电量检测的实施说明图。
[0025]图7是本发明对高频高压正向脉冲进行电量检测的实施说明图。
[0026]图8是本发明的一应用实例中对低频高压正负脉冲进行电量检测的说明图。
[0027]图9是本发明的一应用实例中对高频高压正负脉冲进行电量检测的说明图。
【具体实施方式】
[0028]本发明近晶相液晶屏的电量检测方法适用于近晶相液晶屏,近晶相液晶屏可参见专利号为ZL200710304409.2的中国发明专利“近晶态液晶显不屏显不用驱动电路”等中的相关描述,一般地,近晶相液晶屏包括第一基体层和第二基体层,在第一基体层与第二基体层之间设有由近晶相液晶和添加物混合而成的混合层,近晶相液晶优选为A类近晶相液晶有机化合物,其微观称为近晶相液晶分子,添加物为带导电特性的化合物,在第一基体层朝向混合层的一侧设有由Η个平行排列的条状电极组成的第一导电电极层,在第二基体层朝向混合层的一侧设有由V个平行排列的条状电极组成的第二导电电极层,第一导电电极层的Η个条状电极与第二导电电极层的V个条状电极相正交,形成一个HXV的像素点阵列(H、V为大于1的正整数)。
[0029]近晶相液晶屏的驱动方法有许多种,以近晶相液晶屏的常用驱动方法为例,常用驱动方法包括以下两个阶段:初始化阶段,即将近晶相液晶屏上显示的图像清除掉,以及扫描驱动阶段,即对近晶相液晶屏的所有行进行行扫描驱动(逐行或采取其它方式)。
[0030]初始化阶段一般是对所有行、所有列进行低频高压正负脉冲对的施加,使近晶相液晶屏整体呈现雾状,以待后续图像显示,其中的低频高压正负脉冲对是指一对频率相同、电压幅值相同、相位相反的脉冲对,如图1所示。
[0031]在扫描驱动阶段,对近晶相液晶屏的每行进行扫描驱动时,一般要执行如下步骤:对扫描驱动的行加载高频高压正负脉冲,其余行加载0V电压,根据近晶相液晶屏的显示需要,需被驱动的像素点对应的列加
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