用于led曝光机的光学检测装置及led曝光的制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种用于LED曝光机的光学检测装置以及LED曝光机，其包括安装在LED曝光机两侧的Y向轨道、与Y向轨道滑移配合的X向轨道以及与X向轨道滑移配合的光学检测探头，所述Y向轨道上设有驱动X向轨道沿Y向轨道滑移的驱动装置，所述X向轨道上设有驱动光学检测探头沿X向轨道滑移的驱动装置，本实用新型通过X向轨道与Y向轨道，实现探头在轨道允许范围内对光源进行逐颗检查，通过光学检测探头检测其光衰，判断光源是否正常，保证曝光机的曝光有效性。
【专利说明】用于LED曝光机的光学检测装置及LED曝光机
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种LED曝光机的检测部件，特别涉及一种用于LED曝光机的光学检测装置及应用该光学检测装置的LED曝光机。
【背景技术】
[0002]由于近几年LED技术的突飞猛进，尤其是紫外LED封装在光效上取得长足的进步，使现在紫外LED封装应用到PCB曝光机成为可能，也有一部分厂家将LED封装应用到PCB曝光机的均匀面光源装置。
[0003]但是LED封装由于体积小，所以在使用LED作为光源时，需要使用大量LED构成的LED组，而PCB曝光机需要保证所使用的光源，其照射能量要保持不变，才能保证曝光的质量，因此对于安装与PCB曝光机上的光源进行检测，确保LED处于正常工作状态，不影响曝光效果，而如何去快速寻找故障LED的位置，有待研究。
实用新型内容
[0004]本实用新型提供一种用于LED曝光机的光学检测装置，其通过对LED进行检测，直接准确定位故障LED的位置，方便使用者更换故障LED。
[0005]本实用新型所采用的技术方案是:一种用于LED曝光机的光学检测装置，其包括安装在LED曝光机两侧的Y向轨道、与Y向轨道滑移配合的X向轨道以及与X向轨道滑移配合的光学检测探头，所述Y向轨道上设有驱动X向轨道沿Y向轨道滑移的驱动装置，所述X向轨道上设有驱动光学检测探头沿X向轨道滑移的驱动装置。
[0006]所述驱动装置采用皮带轮驱动装置。
[0007]所述X向轨道采用滑轨。
[0008]所述Y向轨道采用滑轨。
[0009]所述X向轨道两侧各设有一个光学检测探头。
[0010]所述光学检测探头包括用于检测上方光源的上检测探头以及用于检测下方光源的下检测探头。
[0011]本实用新型通过X向轨道与Y向轨道，实现探头在轨道允许范围内对光源进行逐颗检查，通过光学检测探头检测其光衰，判断光源是否正常，保证曝光机的曝光有效性。
[0012]本实用新型还公开了一种采用所述的光学检测装置的LED曝光机，其包括曝光台面和光学照明装置，所述光学照明装置分别安装与曝光台面上下两面，所述光学照明装置采用多颗LED，所述光学照明装置内设有用于检测LED的电压变化的电压检测装置，所述光学照明装置与曝光台面之间设有光学检测装置。
[0013]本实用新型通过电压检测装置检测LED的电压变化，由于采用LED作为光源，常用技术手段为多串多并的连接方式，通过检测每组并联的LED的电压变化状态，确定哪组LED出现问题，然后在通过控制光学检测装置的探头对那组LED进行逐颗检测，提高检测效率。【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本实用新型的结构示意图。
[0015]图2为本实用新型的X向轨道的结构示意图。
[0016]图3为图1中A处放大图。
【具体实施方式】
[0017]下面结合附图对本实用新型实施例作进一步说明:
[0018]如图1、图2和图3所示，一种用于LED曝光机的光学检测装置，其包括安装在LED曝光机两侧的Y向轨道4、与Y向轨道4滑移配合的X向轨道2以及与X向轨道2滑移配合的光学检测探头1，所述Y向轨道4上设有驱动X向轨道2沿Y向轨道4滑移的驱动装置，所述X向轨道2上设有驱动光学检测探头I沿X向轨道2滑移的驱动装置，所述驱动装置采用皮带轮驱动装置3，所述X向轨道2采用滑轨，所述Y向轨道4采用滑轨。通过皮带轮驱动装置3驱动X向轨道沿Y向轨道滑移，光学检测探头I在皮带轮驱动装置3的驱动下沿X向轨道滑移，实现探头的X与Y向平移，实现对各位置处的光源进行点对点检测，同时采用滑轨，即直线导轨来实现滑移配合，降低轨道之间的摩擦力，提高光学检测探头的移动速度。
[0019]所述X向轨道2两侧各设有一个光学检测探头I，缩短光学检测探头I的移动距离，提高检测效率。
[0020]所述光学检测探头I包括用于检测上方光源的上检测探头以及用于检测下方光源的下检测探头，直接对上下对应的光源进行检测，方便快捷。
[0021]一种采用所述的光学检测装置的LED曝光机，其包括曝光台面和光学照明装置，所述光学照明装置分别安装与曝光台面上下两面，所述光学照明装置采用多颗LED，所述光学照明装置内设有用于检测LED的电压变化的电压检测装置，所述光学照明装置与曝光台面之间设有光学检测装置。
[0022]电压检测装置检测LED的电压变化，由于采用LED作为光源，常用技术手段为多串多并的连接方式，通过检测每组并联的LED的电压变化状态，确定哪组LED出现问题，然后在通过控制光学检测装置的探头对那组LED进行逐颗检测，提高检测效率。
[0023]以上结合附图所描述的实施例仅是本实用新型的优选实施方式，而并非对本实用新型的保护范围的限定，任何基于本实用新型精神所做的改进都理应在本实用新型保护范围之内。
【权利要求】
1.一种用于LED曝光机的光学检测装置，其特征在于:其包括安装在LED曝光机两侧的Y向轨道(4)、与Y向轨道(4)滑移配合的X向轨道(2)以及与X向轨道(2)滑移配合的光学检测探头(I )，所述Y向轨道(4)上设有驱动X向轨道(2)沿Y向轨道(4)滑移的驱动装置，所述X向轨道(2)上设有驱动光学检测探头(I)沿X向轨道(2)滑移的驱动装置。
2.根据权利要求1所述的用于LED曝光机的光学检测装置，其特征在于，所述驱动装置采用皮带轮驱动装置(3)。
3.根据权利要求1所述的用于LED曝光机的光学检测装置，其特征在于，所述X向轨道(2)采用滑轨。
4.根据权利要求1所述的用于LED曝光机的光学检测装置，其特征在于，所述Y向轨道(4)采用滑轨。
5.根据权利要求1所述的用于LED曝光机的光学检测装置，其特征在于，所述X向轨道(2 )两侧各设有一个光学检测探头(I)。
6.根据权利要求1或5所述的用于LED曝光机的光学检测装置，其特征在于，所述光学检测探头(I)包括用于检测上方光源的上检测探头以及用于检测下方光源的下检测探头。
7.一种采用权利要求1所述的光学检测装置的LED曝光机，其包括曝光台面和光学照明装置，所述光学照明装置分别安装与曝光台面上下两面，所述光学照明装置采用多颗LED，其特征在于:所述光学照明装置内设有用于检测LED的电压变化的电压检测装置，所述光学照明装置与曝光台面之间设有光学检测装置。
【文档编号】G03F7/20GK203414734SQ201320561274
【公开日】2014年1月29日 申请日期:2013年9月11日 优先权日:2013年9月11日
【发明者】张方德, 王玉璋, 贺兴志, 谢桂平 申请人:浙江欧视达科技有限公司