技术领域本发明涉及显示领域，尤其涉及一种点灯测试方法及装置。
背景技术：
请参考图1，图1为现有液晶显示屏点灯可靠性测试系统的结构框图。如图1所示，该点灯可靠性测试系统包括微处理器、现场可编程门阵列、桥芯片以及待测模组。微处理器初始化现场可编程门阵列，并将测试时间信息发送给现场可编程门阵列。现场可编程门阵列初始化桥芯片，并对桥芯片传输TTL电平信号，桥芯片对待测模组输出测试所需的信号并完成可靠性测试点灯。虽然该点灯可靠性测试系统在可靠性实验条件下，可以测试液晶模组的各项机能是否符合产品规格，但是对于特殊的可靠性实验，比如周期性开关机实验，该点灯可靠性测试系统是不能满足测试需求。
技术实现要素：
本发明的目的包括提供一种点灯测试方法及装置，从而解决了现有点灯测试方法及装置不能满足周期性开关机测试实验要求的技术问题。具体地，本发明提供一种点灯测试方法，用于对待测系统进行点灯测试，其包括以下步骤：根据测试要求输出时间配置信息和初始化信息；其中，所述时间配置信息包括处于不同时间段的指定时间；根据所述时间配置信息，在不同的指定时间产生触发信号，不断切换所述待测系统的开关状态；存储所述待测系统分别响应第一触发信号及第二触发信号的总次数；判断所述总次数是否达到测试要求，如果达到，则结束待测系统的点灯测试；如果还没达到，则继续待测系统的点灯测试。进一步地，当所述时间配置信息到达第一指定时间时，产生第一触发信号，切换待测系统处于打开状态或关闭状态；接着，到达第二指定时间时，产生第二触发信号，切换待测系统处于关闭状态或打开状态。进一步地，未到达所述第一指定时间前，具体包括以下步骤：根据初始化信息，输出TTL电平信号，并将TTL电平信号转化成后级待测模组所需的信号以便测试后级待测模组。进一步地，结束待测系统的点灯测试时，具体还包括：产生提示信息以便提醒测试员测试结束。本发明还提供一种点灯测试装置，用于对待测系统进行点灯测试，其包括：微处理器，用于根据测试要求输出时间配置信息和初始化信息；其中，所述时间配置信息包括处于不同时间段的指定时间；现场可编程门阵列，用于根据所述初始化信息进行初始化；时钟芯片，用于根据所述时间配置信息，在不同的指定时间产生触发信号，不断切换所述待测系统的开关状态；存储模块，用于存储所述待测系统分别响应第一触发信号及第二触发信号的总次数；当所述总次数是否达到测试要求，如果达到，则结束待测系统的点灯测试；如果还没达到，则继续待测系统的点灯测试。进一步地，当所述时钟芯片到达第一指定时间时，产生第一触发信号，切换待测系统处于打开状态或关闭状态；接着，到达第二指定时间时，所述时钟芯片产生第二触发信号，切换待测系统处于关闭状态或打开状态。进一步地，所述点灯测试装置还包括桥芯片以及时间显示模块，所述桥芯片用于驱动后级待测模组，所述时间显示模块用于显示测试时间和测试状况。进一步地，所述时钟芯片未到达所述第一指定时间时，具体包括以下步骤：所述现场可编程门阵列初始化桥芯片，并对桥芯片输出TTL电平信号；所述桥芯片将TTL电平信号转化成后级待测模组所需的信号。进一步地，所述点灯测试装置还包括提示设备，所述提示设备用于结束待测系统的点灯测试时，产生提示信息以便提醒测试员测试结束。本发明实施例所提供的点灯测试方法及装置，微处理器可根据测试要求配置时钟芯片，时钟芯片根据预设的指定时间触发现场可编程门阵列关闭和打开待测系统的后级电源和信号输出，现场可编程门阵列根据关闭或打开待测系统的后级电源和信号输出的次数是否达到测试要求，以完成周期性开关机的实验测试目的。该点灯测试方法及装置可以满足复杂的周期性开关机的实验测试要求。上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。附图说明图1为现有液晶显示屏点灯可靠性测试系统的结构框图。图2为本发明实施例提供一种点灯测试方法的测试流程图。图3为本发明实施例提供一种点灯测试装置的电路模块示意图。具体实施方式为更进一步阐述本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的一种点灯测试方法及装置的具体实施方式、方法、步骤、结构、特征及功效，详细说明如后。有关本发明的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合参考图式的较佳实施例详细说明中将可清楚的呈现。通过具体实施方式的说明，当可对本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解，然而所附图式仅是提供参考与说明之用，并非用来对本发明加以限制。本发明实施例提供的点灯测试方法，不仅可以用于对待测系统进行点灯测试，还可以在对待测系统进行点灯测试之前，测试后级待测模组。其中，该点灯测试方法点灯测试待测系统时，控制待测系统的后级电源和信号输出的打开和关闭状态的切换。此处的后级待测模组的测试主要是在可靠性实验条件下，测试液晶模组的各项机能是否符合产品规格。以下是本发明点灯测试方法的具体实施例。请参考图2，图2为本发明实施例提供一种点灯测试方法的测试流程图。该点灯测试方法包括以下步骤：步骤S1，根据测试要求输出时间配置信息和初始化信息。此处，所述时间配置信息包括处于不同时间段的指定时间，比如将用于对待测系统的点灯测试的时间段分为连续、并可循环的第一指定时间和第二指定时间。其中，每个指定时间是根据实际测试需要来限定时间值。此处的初始化信息是针对测试系统的，点灯测试时，需要将上一次的点灯测试信息进行清空，然后再输入当前点灯测试需要测试系统准备的相关配置信息。步骤S2，判断是否到达第一指定时间。步骤S3，产生第一触发信号。如果到达第一指定时间，产生第一触发信号。此处，根据步骤S1中的所述时间配置信息，在不同的指定时间产生触发信号，不断切换所述待测系统的开关状态。此处的开关状态包括待测系统的后级电源和信号输出的打开和关闭状态的两种状态。周期性开关机测试实验根据待测系统的性能要求，要完成电源或信号输出的“开”和“闭”这两个动作，根据待测系统在一定时间内执行“开”和“闭”这两个动作的总次数以检验待测系统是否符合测试目的。比如，当第一指定时间到达时，输出第一触发信号以关闭待测系统的后级电源和信号输出，这是“闭”的动作。当然，测试者还可以自定义此处为“开”动作，即第一指定时间到达时，触发信号打开待测系统的后级电源和信号输出。步骤S4，判断是否到达第二指定时间。此处，如果还没到达第二指定时间，结合步骤S3，继续输出第一触发信号，切换待测系统的后级电源和信号输出打开或关闭。步骤S5，产生第二触发信号。如果到达第二指定时间，产生第二触发信号，切换待测系统的后级电源和信号输出的状态。结合步骤S3和S5，至此，待测系统已分别响应一次第一触发信号及第二触发信号。例如周期性开关机测试实验，待测系统的后级电源和信号输出已经完成一个开关状态，即完成“闭”和“开”的两个动作。之后的另一个循环的第一指定时间和第二指定时间均按照前循环的第一指定时间和第二指定时间的开关模式来进行。测试的截止时间是根据测试要求来决定。比如需要完成待测系统1000次的开关状态切换，即需要1000次“闭”动作和1000次“开”动作的循环切换。步骤S6，存储所述待测系统分别响应第一触发信号及第二触发信号的总次数。步骤S7，判断总次数是否达到测试要求。此处，如果总次数达到测试要求，则结束待测系统的点灯测试；如果还没达到，则继续待测系统的点灯测试。步骤S8，产生提示信息。此处，在结束待测系统的点灯测试的同时，本发明实施例点灯测试方法还包括产生提示信息以便提醒测试员测试结束的步骤。其中，该提示信息可以是蜂鸣器或扬声器的声音，也可以是LED灯的光亮。在点灯测试的过程中，根据所述时间配置信息，测试系统还未到达所述第一指定时间前，还具体包括以下步骤：S91、输出TTL电平信号。在步骤S91中，测试系统根据在步骤S1的初始化信息，输出TTL电平信号。S92、将TTL电平信号转化成后级待测模组所需的信号。在步骤S92中，此处的后级待测模组的测试主要是在可靠性实验条件下，测试液晶模组的各项机能是否符合产品规格。结合步骤S91和S92，除了TTL电平信号，测试系统还可以输出其他符合数据传输协议标准的电平信号，并还可以根据该电平信号，按照内置算法，转化成后级待测模组所需的信号。因此，本发明实施例提供的点灯测试方法不但可以满足普通的可靠性实验需求，而且也能满足在时间上比较特殊的可靠性实验需求。在此基础上，本实施例还提供一种点灯测试装置，请参考图3，图3为本发明实施例提供一种点灯测试装置的电路模块示意图。如图3所示，微处理器10分别与现场可编程门阵列20和时钟芯片30通讯，根据测试要求对现场可编程门阵列20和时钟芯片30输入初始化信息，并进一步的对时钟芯片30输入时间配置信息。初始化现场可编程门阵列20，一方面，清除先前测试余留在现场可编程门阵列20的内存的配置信息，另一方面，对现场可编程门阵列20配置与测试有关的参数。时钟芯片30在后续的测试步骤中，根据时间配置信息，按照指定时间产生触发信号。此处，所述时间配置信息包括处于不同时间段的指定时间，比如将用于对待测系统的点灯测试的时间段分为连续、并可循环的第一指定时间和第二指定时间。其中，每个指定时间是根据实际测试需要来限定时间值。现场可编程门阵列20在不同的指定时间产生触发信号，不断切换所述待测系统的开关状态。此处的开关状态包括待测系统的后级电源和信号输出的打开和关闭状态的两种状态。周期性开关机测试实验根据待测系统的性能要求，要完成电源或信号输出的“开”和“闭”这两个动作，根据待测系统在一定时间内执行“开”和“闭”这两个动作的总次数以检验待测系统是否符合测试目的。比如，当第一指定时间到达时，输出第一触发信号以关闭待测系统的后级电源和信号输出，这是“闭”的动作。当然，测试者还可以自定义此处为“开”动作，即第一指定时间到达时，触发信号打开待测系统的后级电源和信号输出。紧接着，到达第二指定时间时，产生第二触发信号，以打开待测系统的后级电源和信号输出，这是“开”的动作。至此，待测系统的后级电源和信号输出已经完成一个开关状态，即完成“闭”和“开”的两个动作。之后的另一个循环的第一指定时间和第二指定时间均按照前循环的第一指定时间和第二指定时间的开关模式来进行。测试的截止时间是根据测试要求来决定。比如需要完成待测系统1000次的开关状态切换，即需要1000次“闭”动作和1000次“开”动作的循环切换。存储模块40存储所述待测系统分别响应第一触发信号及第二触发信号的总次数。如果总次数是否达到测试要求，则结束待测系统的点灯测试；如果还没达到，则继续待测系统的点灯测试。此处存储模块40可以采用现场可编程门阵列20内置的存储器，或者也可以采用外设的存储器。至此，本发明实施例提供的点灯测试装置已完成复杂的周期性开关机的实验测试要求。在结束待测系统的点灯测试的同时，提示设备50产生提示信息以便提醒测试员测试结束。其中，该提示设备可以是蜂鸣器或扬声器，或者是LED灯。如果时钟芯片30还没到达第一指定时间时，现场可编程门阵列20初始化桥芯片60，并对桥芯片60输出TTL电平信号，桥芯片60将TTL电平信号转化成后级待测模组70所需的信号，用于驱动后级待测模组70。因此，该点灯测试装置也满足普通的液晶模组的各项机能点灯测试要求。时间显示模块80记录和显示测试时间和测试状况，以便测试员知悉测试时间。本发明实施例提供的点灯测试装置不仅能够满足复杂的周期性开关机的实验测试要求，而且还满足普通的液晶模组的各项机能点灯测试要求。因此，本发明还保护所述点灯测试装置在液晶显示面板点灯测试的应用。以上所述，仅是发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。