专利名称：液晶面板及其检查方法
技术领域：
本发明涉及具有将液晶夹在中间的一对相对透明基板和在这些透明基板上形成的多个电极的液晶面板。另外，还涉及检查在该液晶面板内的透明基板上形成的多个电极的检查方法。
一般情况下，液晶面板是这样制造的，即利用密封剂将一对透明基板之间留有一定间隙粘接起来，并将液晶封入该间隙内。而且通过将液晶驱动用IC、背照光、盒等附带器件安装在该液晶面板上，制成液晶显示装置。
在该液晶面板中，将电压加在液晶上用的透明电极分别在各透明基板上形成。这些透明电极呈带状，或呈数字、字符、特定的图样等特殊形状。由于这些透明电极非常细小，所以往往会互相接触而发生短路，因此，制造液晶面板时，必须预先检查多个透明电极之间是否发生短路。
进行这种检查时，以往是使按规定间隔排列的2个检查探针分别与1个1个的透明电极、通常是与相邻的2个透明电极接触，检查两者之间是否导通而发生短路。例如，特开昭61-194484号公报所公开的检查方法是使检查探针与按一定间隔排列的检查用图形接触，进行短路等的检查。
可是，在上述现有的检查方法中，全部检查用的图形都是以一定的间隔排列的，具体地说，都是以与检查探针的间隔一致的一定间隔排列的，没有预料其间隔变化的情况。因此，当检查用的图形的间隔有偏差时，就必须使检查探针之间的间隔对应于该偏差而变化。可是，将检查探针这样配置是非常困难的。而且，这种特殊配置形态的检查探针虽然能适用于特殊电极图形，但不能用于其它电极图形，通用性显著下降。
作为使用检查探针的检查方法，是通过使按规定的检查间隔配置的2个检查探针相对于作为检查对象的多个透明电极进行扫描移动来进行检查的方法。该检查方法在全部检查用图形按检查探针之间的间隔即检查间隔排列的情况下能无障碍地进行检查，但当在检查探针的扫描区域内即检查区域内如果存在按与该检查间隔不同的间隔排列的检查用图形时，就不能使2个检查探针与这些检查用图形接触，从而不能对这些检查用图形进行检查。
本发明就是鉴于现有的检查方法中存在的上述问题而开发的，其目的在于即使在检查对象的透明电极中存在间距不同的透明电极时，也能用按一定间隔排列的通用的检查探针对全部电极无障碍地进行检查。
为了达到上述目的，本发明的液晶面板具有将液晶夹在中间的一对透明基板和在这些透明基板上形成的多个电极，该液晶面板的特征在于(1)对上述多个电极设定1个或多个检查区，(2)在1个或多个检查区内包含按一定的检查间隔排列的第1电极和按与该检查间隔不同的间隔排列的多个第2电极，(3)这些第2电极与在包含它们的检查区或除此以外的其它检查区内所包含的检用电极相连接，(4)该检查用电极按包含它们的检查区中固有的一定的检查间隔排列。
在上述结构中，所说的＂检查区＂与例如使2个检查探针对作为检查对象的多个电极进行扫描移动时的该扫描移动区一致。另外，使用将多个检查探针按一定间隔排列的检查装置时，这些检查探针排列的区域称为检查区，而且，所说的＂检查间隔＂在使用2个检查探针时相当于这2个检查探针之间的间隔，另一方面，在使用多个检查探针时相当于各个检查探针之间的间隔。
当在1个检查区内包含间隔即间距不同的电极时，可用该检查探针对按与检查探针的间隔一致的间隔配置的电极群进行检查。而且，虽然对间隔不同的其它电极群不能用该检查探针进行检查，但能用与这些电极连接的检查用电极进行检查。这些检查用电极当然是按包含它们的检查区中固有的检查间隔排列的，所以能无障碍地进行检查。
连接第2电极的检查用电极能在包含第2电极的检查区中形成，或者也可以在与包含第2电极的检查区不同的另外设定的检查区中形成。
本发明的液晶面板的检查方法是一种对具有上述这样的电极图形结构的液晶面板进行的检查方法，具体地说，其特征在于(1)根据按规定的检查间隔排列的多个检查探针，形成1个或多个检查区，(2)1个检查区内含有的多个电极，使上述检查探针与按上述检查间隔排列的多个第1电极接触进行检查，(3)在该检查区内当存在按与上述检查间隔不同的间隔排列的多个第2电极时，(4)便使用在包含这些第2电极的检查区或除此之外的其它检查区内包含的检查用电极即与上述第2电极连接的检查用电极进行检查，而且(5)这些检查用电极按照与构成包含它们的检查区的检查探针的检查间隔一致的间隔排列。
图1是本发明的液晶面板的一实施形态的分解斜视图。
图2是表示将图1所示的液晶面板组装后的状态的斜视图。
图3是表示构成图1所示的液晶面板的1个透明基板上的透明电极的配置图形的俯视图。
图4是表示构成图1所示的液晶面板的另1个透明基板上的透明电极的配置图形的俯视图。
图1表示本发明的液晶面板的一实施形态。该液晶面板有例如由透明的玻璃形成的第1透明基板和同样由透明的玻璃形成的第2透明基板。在其中的1个基板上用印刷等方法涂上密封剂3，将该密封剂3夹在中间而将第1透明基板1和第2透明基板2粘接起来。而且液晶被封入在第1透明基板1和第2透明基板2之间形成的间隙，即晶盒内。
用粘接剂等将偏振片4a粘接在第1透明基板1的外表面上，再用粘接剂等将偏振片4b粘接在第2透明基板2的外表面上。这里所说的粘接不是指进行不能取下来的那种程度的牢固的粘接，而是按用小的力就能容易地将其剥离的程度将其贴上。如上制成图2所示的液晶面板5。然后将液晶驱动用IC13粘接在该液晶面板5的第2基板2的伸出部分的IC安装位置9上。该粘接是通过将例如ACF(Anisotropic conductive film各向异性导电膜)夹在基板2和IC13之间，再将它们进行热压来进行。
如图3所示，在第1透明基板1的表面上形成多个带状电极6a和作为特定图案形成的特殊图形电极6b。这些电极与在基板1的端部形成的端子8相连接。另一方面，如图4所示，在第2透明基板2的表面上形成多个带状电极7a和多个特殊图形电极7b。这些电极与在IC安装位置9上形成的端子11相连接。另外，在第2透明基板2的前端部形成延伸到IC安装位置9的输入端子12。
如图2所示，在第1透明基板1和第2透明基板2被粘接的状态下，在第1透明基板1上的带状电极6a和第2透明基板2上的带状电极7a相交的各个交点处形成1个象素。另外，第1透明基板1上的特殊图形电极6b和第2透明基板2上的特殊图形电极7b相重合，形成各个特殊图形。
在图2中，未图示的挠性配线板例如被熔焊在输入端子12上，液晶驱动用电力及驱动信号通过该熔焊部分被送给液晶驱动用IC13。IC13根据送来的驱动信号，通过将电压加在所希望的适当的电极上，并将电压加在所希望的特殊图形电极上，从而将所希望的象显示在液晶面板上。
可是，为了在液晶面板上形成正常的象，不管是带状电极6a及7a还是特殊图形电极6b及7b，要求全部电极都不呈短路状态。为了检查电极是否呈短路状态，在本实施形态中，如下构成液晶面板的电极配线图形。且在以下的说明中考虑了检查在第2透明基板2上形成的透明电极的情况。
在图4中，首先在横切带状电极7a的位置设定1个检查区14a，再在与其不同的位置设定另1个检查区14b。第1检查区14a相当于使按检查间隔D1排列的2个检查探针16相对于基板2进行扫描移动时的移动区。另外，第2检查区14b相当于使按检查间隔D2排列的2个检查探针17相对于基板2进行扫描移动时的移动区。
检查探针16及17有比检查对象电极的面积小的或大致相等的面积的前端接触部分，并与未图示的检查电路连接。这些检查探针用其前端接触部分与检查对象即电极接触，并以电信号的形式将这些电极所具有的电气状态、例如是否短路等状态传递给检查电路。该检查电路包含能检测至少在一对检查探针之间是否发生短路即是否流过规定值以上的电流的电路。这样的电路可以采用现在众所周知的各种电路结构，故其详细说明从略。
第1检查区14a内包含的带状电极7a(第1电极)大体上按与检查探针16的检查间隔D1相同的间隔即间距排列，但左侧的3个电极7c、7d、7e(第2电极)之间的间隔与该检查间隔不同。而且，线路18从这些电极7c、7d、7e延伸，在这些线路的前端形成检查用电极19。
这些检查用电极19被包含在与第1检查区14a不同的第2检查区14b中。在该第2检查区14b中，与IC用端子11连接的电极21按形成第2检查区14b的检查探针17的间隔D2即第2检查区14b中固有的检查间隔D2排列。而且，3个检查用电极19之间的间隔也与该检查间隔D2相等。
进行检查时，检查探针16及检查探针17按所设置的检查间距被置于输送检查对象即第2透明基板2的规定的位置。然后通过使检查探针16及17相对于基板2平行移动，或使基板2相对于检查探针16及17平行移动，使各检查探针16及17沿各检查区14a、14b移动。
如果在多个带状电极7a内的任意的电极之间发生短路，则当在检查区14a内移动的检查探针16到达发生短路的电极处时便将该短路情况检测出来。另外，如果与IC端子11连接的电极21发生短路，则当在检查区14b内移动的检查探针17到达发生短路的电极处时便将该短路情况检测出来。
可是，在第1检查区14a中，即使检查探针16移动到了左端部的电极7c、7d及7e处，也不能用该检查探针16进行这些电极之间的检查。这是因为检查探针16的检查间隔D1与这些电极之间的间隔不同所致。可是在本实施形态中，与这些电极7c、7d及7e连接的检查用电极19被延伸到第2检查区14b，而且这些检查用电极19之间的间隔与第2检查区14b的检查间隔即第2检查探针17的检查间隔一致。因此，虽然不能用检查探针16直接进行电极7c、7d及7e之间的检查，但能用第2检查探针17进行检查。
另外，在本实施形态中，将与电极7c、7d及7e连接的检查用电极19延伸到第2检查区14b，用第2检查探针17进行检查。但也可以用下述方法代替，即配置检查用电极19使其包含在第1检查区14a中，且构成使这些电极19之间的间隔与第1检查区14a的检查间隔D1一致的电极图形。如果这样做，就能用第1检查探针16通过检查用电极19进行电极7c、7d及7e之间的检查。就是说，不需要设置多个检查区，只要有一个就可以了。
以上以优选实施形态为例说明了本发明，但本发明不受该实施形态限定，可以在本发明的技术范围内进行各种改变。
例如，在图4所示的实施形态中，在1个检查区14a中使用了2个检查探针16，但也可以采用这样的代替方法，即沿检查区14a按一定的检查间隔D1连续地排列多个检查探针，也能同时检查多个电极。另外，在图1所示的实施形态中，是将本发明应用于把液晶驱动用IC直接安装在透明基板上的所谓CoG(Chip on Glass)形式的液晶中，但本发明当然也能应用于除此以外的任意形式的液晶面板中。
在以上的说明中，示出了设置检查在图4所示的第2透明基板2上形成的电极7c、7d及7e用的检查用电极19的情况，而不设置检查在图3所示的第1透明基板1上形成的电极用的检查用电极。但是，如果需要，也可以设置有关第1透明基板1用的检查用电极。
如果采用本发明的液晶面板及液晶面板的检查方法，则即使在作为检查对象的透明电极中存在间距不同的透明电极时，也能用按一定间隔排列的通用的检查探针无障碍地进行检查。
权利要求
1.一种液晶面板，它具有将液晶夹在中间的一对相对的透明基板和在这些透明基板上形成的多个电极，该液晶面板的特征在于对上述多个电极设定1个或多个检查区，在1个或多个检查区内包含按一定的检查间隔排列的第1电极和按与该检查间隔不同的间隔排列的多个第2电极，这些第2电极与包含它们的检查区或除此以外的其它检查区内所包含的检用电极相连接，该检查用电极按包含它们的检查区中固有的一定的检查间隔排列。
2.根据权利要求1所述的液晶面板，其特征在于上述检查间隔相当于检查用探针之间的间隔，该检查用探针具有只能与检查对象的1个电极接触的接触部分。
3.一种液晶面板的检查方法，用来检查具有将液晶夹在中间的一对相对的透明基板和在这些透明基板上形成的多个电极的液晶面板中的这些电极，其特征在于根据按规定的检查间隔排列的多个检查探针，形成1个或多个检查区，使上述检查探针与1个检查区内含有的多个电极即按上述检查间隔排列的多个第1电极接触进行检查，在该检查区内当存在按与上述检查间隔不同的间隔排列的多个第2电极时，便使用在包含这些第2电极的检查区或除此之外的其它检查区内包含的检查用电极即与上述第2电极连接的检查用电极进行检查，这些检查用电极按照与构成包含它们的检查区的检查探针的检查间隔一致的间隔排列。
全文摘要
即使在检查对象电极中存在间距不同的透明电机,也能用按一定间隔排列的通用的检查探针无障碍地对全部电极进行检查。对透明基板2上的电极7a设定检查区14a,对电极21设定检查区14b。在检查工14a内包含按一定的检查间隔D1排列的第1电极7a和按与D1不同的间隔排列的多个第2电极7c、7d、7e,这些第2电极与第2检查区14b内的检查用电极19连接。检查用电极19按包含它的检查区中固有的一定的检查间隔D2排列,所以能用检查探针17检查。
文档编号G02F1/1343GK1178916SQ9711372
公开日1998年4月15日 申请日期1997年7月4日 优先权日1996年10月4日
发明者小林由文 申请人:精工爱普生株式会社