液晶显示装置及其像素测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及液晶显示(LCD)装置以及用于测试该LCD装置的像素的方法，在该LCD装置中，在垂直方向(即，一个选通线的上下方向)上彼此相邻的像素被布置在显示区域中以共享选通线，并且自动探测测试图案被布置在非显示区域中。
【背景技术】
[0002]随着诸如移动终端和笔记本计算机的各种便携式电子装置的发展，针对可应用于这些装置的平板显示装置的需求不断增加。
[0003]在这些平板显示装置当中，IXD装置由于诸如用于大量生产的高度发展的技术、容易作为驱动手段、低功耗、高画面质量和大尺寸屏幕的各种优点而适用于便携式装置，并且IXD装置的应用领域已经增加。
[0004]LCD装置通过将从外部输入的图像信号转换成数据电压并且控制用于透射多个像素的液晶层的光的透射率来显示基于图像信号的图像。
[0005]IXD装置通过执行以下工艺来制造:在薄膜晶体管(TFT)阵列基板(下基板)上形成包括TFT的各种图案；在滤色器阵列基板上形成包括滤色器层的各种图案；将TFT阵列基板和滤色器阵列基板彼此接合并且在TFT阵列基板和滤色器阵列基板之间注入液晶的液晶单元工艺；以及将TFT阵列基板与驱动电路连接的模块工艺。
[0006]在制造了 TFT阵列基板之后，执行测试用于检测诸如形成在基板上的线的短路的线缺陷、TFT的缺陷和像素图案的缺陷的自动探测的工艺。
[0007]用于自动探测测试的测试图案被布置在液晶面板的非显示区域中。短路条被用作用于自动探测测试的测试图案，并且驱动信号通过短路条而施加到选通线和数据线，由此测试TFT阵列基板上的线和像素是否已经正常地形成。
[0008]图1简要例示了根据现有技术的布置有自动探测测试图案的LCD装置。图1示出了液晶面板的TFT阵列基板。
[0009]参照图1，根据现有技术的IXD装置的TFT阵列基板包括显示区域A/A和非显示区域 N/Ao
[0010]在显示区域A/A中，多个选通线12和多个数据线14被布置为彼此交叉，并且由选通线12和数据线14之间的交叉来限定多个像素16。薄膜晶体管TFT和存储电容器Cst被布置在所述多个像素中的每一个中。
[0011]图1示出了一次选通/ 一个数据的像素结构。红色、绿色和蓝色的像素被布置成条纹的形状。将来自相同的选通线的扫描信号提供给布置在一条水平线上的像素，由此它们的TFT被切换。布置在一条垂直线上的相同的颜色的像素通过从相同的数据线接收数据电压来显示图像。
[0012]在非显示区域N/A中，测试图案被布置为测试多个选通线12、多个数据线14和多个像素16是否已经正常地形成。多个使能开关20和多个数据短路条被布置为测试图案。所述多个使能开关20通过多个链接线40连接到所述多个数据短路条30，并且通过链接线和数据焊盘(未示出)连接到多个数据线14。
[0013]尽管图1例示了布置有三个数据短路条30，然而对数据短路条30的数量没有限制，并且两个数据短路条或六个数据短路条通常可以被布置为执行自动探测测试。
[0014]如果布置有两个数据短路条，则多个数据线可以被划分成偶数线和奇数线，并且全部像素被划分成1/2，由此对像素进行测试。如果布置有三个数据短路条，则多个数据线可以被划分成红色像素的数据线、绿色像素的数据线以及蓝色像素的数据线，由此针对各个颜色对像素进行测试。
[0015]在根据现有技术的IXD装置中，红色、绿色和蓝色的像素被设置为条纹的形状，并且测试图案被布置为适用于一般LCD装置的像素的结构，其中，像素不共享选通线和数据线。可以利用三个短路条30来针对红色、绿色和蓝色的像素的各个颜色对像素进行测试。
[0016]近来，虽然已经开发出在与选通线的延伸方向垂直的方向(即，垂直方向或者上下方向)上彼此相邻的像素共享选通线的两个数据/ 一次选通的像素结构，但是出现了不能通过图1所示的测试图案针对两个数据/一次选通的像素结构来执行自动探测测试的问题。也就是说，像素的布置结构以及针对自动探测测试的测试图案彼此不匹配，由此不能正常执行自动探测测试。
[0017]上述像素结构、测试图案以及用于测试像素的方法已经由本申请的发明人拥有以设计出本发明，或者是在设计本发明的过程期间获得的技术信息。因此，上述像素结构、测试图案以及用于测试像素的方法可以不被视为在本发明的提交日之前向一般公众公开的已知技术。
【发明内容】
[0018]因此，本发明致力于一种液晶显示(IXD)装置及其像素测试方法，该IXD装置及其像素测试方法基本上消除了由于现有技术的局限和缺点而导致的一个或更多个问题。
[0019]本发明的一个优点在于提供一种IXD装置，该IXD装置包括用于在与选通线的延伸方向垂直的方向(即，上下方向)上彼此相邻的像素共享选通线的两个数据/一次选通的像素结构的自动探测测试的测试图案。在本申请中，选通线的延伸方向被称为水平方向或行方向，而数据线的延伸方向被称为上下方向(即，垂直方向或列方向)。因此，根据本发明的测试图案使得能够测试多个选通线、多个数据线或者多个像素是否正常地形成。
[0020]本发明的另一个优点在于提供一种用于针对上下彼此相邻的像素共享选通线的两个数据/一次选通的像素结构的自动探测测试来测试像素的方法。
[0021]本发明的另外的优点和特征将在下面的描述中被部分地阐述，并且对于本领域普通技术人员而言在查阅下文之后部分地将变得明显或者可以从本发明的实践而得知。通过独立权利要求的特征来实现这些目的。可以通过在所撰写的说明书及其权利要求书以及附图中具体指出的结构来实现并获得本发明的目的和其它优点。
[0022]为了实现这些目的和其它优点，并且根据本发明的目的，如本文具体实现并广泛描述的，一种液晶显示(LCD)装置包括:多个像素，其被布置在显示区域中；以及测试图案，其被布置在非显示区域中，用于向所述多个像素中的每一个提供测试信号，该测试图案包括至少一个数据短路条和至少一个开关单元，以将所述测试信号按照颜色提供给所述多个像素中的每一个。可以通过彼此交叉的多个选通线和多个数据线来限定所述像素。另外，所述像素可以包括不同的颜色的像素，例如红色像素、绿色像素、蓝色像素或白色像素。优选地，所述多个像素当中的上下彼此相邻的两个像素被配置为共享单个选通线，并且从彼此不同的不同数据线接收数据电压。所述两个相邻像素可以具有相同的颜色。因此，与选通线垂直的方向上的两个相邻像素可以连接到同一选通线。也就是说，优选地，彼此相邻并且其间具有选通线的两个像素都连接到该选通线，但是连接到不同的数据线。优选地，不同颜色的像素被交替布置在行方向上(即，平行于所述选通线)，并且相同颜色的像素被布置在垂直方向上(即，在垂直于所述选通线或者平行于所述数据线的方向上)。优选地，一种颜色的像素被划分成两个像素组，第一组像素连接到偶数选通线，并且第二组像素连接到奇数选通线。因此，可以存在每种颜色两个像素组。优选地，水平线上的像素交替连接到第一(奇数编号的)选通线(例如，像素线上方或者沿着像素线的第一侧)以及第二(偶数编号的)选通线(例如，像素线下方或者沿着像素线的第二侧)。因此，可以根据像素颜色以及到偶数编号或者奇数编号的选通线的连接来将像素分组，使得像素组的总数量优选地对应于颜色的数量的两倍。因此，一个像素组的像素可以具有相同的颜色并且连接到相同类型的选通线(即，偶数编号的选通线或者奇数编号的选通线)，但是连接到两个不同的数据线。换句话说，可以存在每个像素组两个不同的数据线。
[0023]根据本发明的实施方式的LCD装置的测试图案可以包括:多个红色数据短路条，其将多个像素中的红色像素划分成两个组并且将测试信号提供给所述两个组；多个绿色数据短路条，其将多个像素中的绿色像素划分成两个组并且将测试信号提供给所述两个组；以及多个蓝色数据短路条，其将多个像素中的蓝色像素划分成两个组并且将测试信号提供给所述两个组。当然，除了红色像素、绿色像素和蓝色像素以外，还可以存在白色像素。因此，优选地，所述测试图案包括每种颜色两个短路条，使得相同颜色的像素被划分成两个组。因此，一个数据短路条可以将具有相同的颜色并且连接到偶数编号的选通线的像素分组，另一个数据短路条可以将也具有这种颜色并且连接到奇数编号的选通线的像素进行分组。也就是说，所述数据短路条可以将与数据线连接进而与具有相同的颜色并且连接到相同类型的选通线(即，奇数编号的选通线或者偶数编号的选通线)的像素连接的链接线进行连接。数据短路条的数量或者开关单元的数量可以对应于像素组的数量。
[0024]根据本发明的实施方式的LCD装置的测试图案可以包括单个开关单元，用于分别将从所述多个数据短路条分别输入到与所述数据短路条对应的像素的测试信号(例如，来自所述多个红色数据短路条的测试信号、来自所述多个绿色数据短路条的测试信号以及来自所述多个蓝色数据短路条的测试信号)选择性地提供给所述红色像素、所述绿色像素或所述蓝色像素。
[0025]根据本发明的实施方式的LCD装置的测试图案可以包括单个数据短路条，用于将测试信号提供给所述多个像素中的每一个。
[0026]根据本发明的实施方式的IXD装置的测试图案可以包括:多个红色开关单元，其将所述多个像素中的红色像素划分成两个组，并且将所述测试信号提供给所述红色像素；多个绿色开关单元，其将所述多个像素中的绿色像素划分为两个组，并且将所述测试信号提供给所述绿色像素；以及多个蓝色开关单元，其将所述多个像素中的蓝色像素划分成两个组，并且将所述测试信号提供给所述蓝色像素。因此，优选地，所述测试图案包括每种颜色两个开关单元，使得相同颜色的像素被划分成两个组。因此，一个开关单元可以将具有相同的颜色并且连接到偶数编号的选通线的像素进行连接，并且另一个开关单元可以将具有相同的颜色并且连接到奇数编号的选通线的像素进行连接。
[0027]在本发明中的另一个方面，一种用于测试液晶显示(LCD)装置的像素的方法包括以下步骤:利用至少一个数据短路条和至少一个开关单元来将测试信号按照颜色提