10。
[0122]在该实施方式中，透镜移动装置可以包括用于检测线筒110沿第一方向移动的位移值的位移检测单元。位移检测单元可以包括位置传感器180和联接至线筒110的第二磁体190，该位置传感器180设置在壳体140的一个侧壁处使得位置传感器180布置在与第二磁体190对应的位置处，其中，在位置传感器180与第二磁体190之间具有预定的距离。
[0123]如图13和图14中所示，位置传感器180布置成靠近壳体140的拐角，布置在设置有位置传感器180的侧壁处的副磁体130b也靠近拐角布置，副磁体130b靠近其布置的拐角与位置传感器180靠近其布置的拐角相对，由此该副磁体130b以预定的距离与位置传感器180间隔开。
[0124]此外，布置在壳体140的共用靠近位置传感器180定位的拐角的一个侧壁处的主磁体130a布置成靠近与位置传感器180靠近其布置的拐角相对的拐角，由此主磁体130a以预定的距离与位置传感器180间隔开。
[0125]该一对主磁体130a可以布置成关于壳体140的中心点对称，并且该一对副磁体130b也可以布置成关于壳体140的中心点对称。
[0126]由于该结构，包括主磁体130a和副磁体130b的第一磁体130布置在壳体140中而以预定的距离与位置传感器180和第二磁体190间隔开。
[0127]因此，由第二磁体190产生的磁场能够保持其固有的特征值而不与由第一磁体130产生的磁场干扰。因此，包括位置传感器180以及第二磁体190的位置传感器可以更精确地检测线筒110在第一方向上的位移值。
[0128]此外，由于靠近位置传感器180和第二磁体190定位的主磁体130a和副磁体130b与位置传感器180和第二磁体190在空间上间隔开，因此这些主磁体130a和副磁体130b朝向壳体140的相应的拐角集中。因而，为了克服由于该集中的布置而导致的第一磁体130的磁场的不平衡，主磁体130a和副磁体130b可以设置成关于壳体140的中心点对称，如图14中所示。
[0129]根据以上实施方式的透镜移动装置可以应用于不同领域中的产品，例如相机模块。这种相机模块可以被应用至例如移动设备，比如手机。
[0130]根据实施方式的相机模块可以包括与线筒110联接的镜筒、图像传感器(未示出)、PCB(未示出)以及光学系统。
[0131 ] 镜筒为如上文描述的，并且PCB为安装图像传感器的部件，并且PCB可以构成相机模块的底表面。
[0132]光学系统可以包括用于将图像传输至图像传感器的至少一个透镜。光学系统可以设置有致动器模块，该致动器模块能够实现自动对焦和手抖校正的功能。运行以实现自动对焦功能的致动器模块可以以不同的方式构造，并且音圈单元马达主要用于致动器模块中。根据实施方式的透镜移动装置可以用作实现自动对焦和手抖校正两个功能的致动器模块。
[0133]相机模块还可以包括红外线筛滤器(screening filter,未示出)。红外线筛滤器用于阻挡红外区内的光在图像传感器上的入射。在图1中图示的基部210中，红外线筛滤器可以安装在与图像传感器对应的位置处，并且可以联接至保持器构件(未示出)。基部210可以支承保持器构件的下部。
[0134]基部210可以设置有用于与PCB的导电连接的附加的端子构件，并且端子可以使用表面电极一体地形成。基部210可以用作用于保护图像传感器的传感器保持器。在这种情况下，尽管可以沿着基部210的侧向侧表面向下形成突伸部，但该突伸部不是必要的部件。尽管在附图中未示出，可以在基部210的下方布置附加的传感器保持器以用作突伸部。
[0135]尽管已经参照实施方式的多个说明性示例对实施方式进行了描述，但是应当理解，本领域的技术人员可以想到将落入本公开的原理的精神和范围内的许多其他改型和实施方式。更具体地，在本公开内容、附图以及所附权利要求的范围内的主题组合结构的组成部件和/或结构方面的各种变型和改型都是可能的。除组成部件和/或结构方面的变型和改型以外，替代性用途对本领域的技术人员而言也将是明显的。
【主权项】
1.一种透镜移动装置，包括: 第一磁体； 壳体； 线筒，围绕所述线筒缠绕有线圈，并且，所述线筒在所述壳体中沿第一方向移动； 上弹性构件，所述上弹性构件布置在所述线筒的上表面和所述壳体的上表面上； 下弹性构件，所述下弹性构件布置在所述线筒的下表面和所述壳体的下表面的下方；以及 阻尼构件，所述阻尼构件布置在所述上弹性构件或所述下弹性构件与所述线筒之间。2.根据权利要求1所述的透镜移动装置，其中，所述阻尼构件联接在所述上弹性构件或所述下弹性构件与所述线筒之间，使得所述线筒能够相对于所述壳体沿所述第一方向在预定范围内移动。3.根据权利要求1所述的透镜移动装置，其中，所述阻尼构件以半固化凝胶状态联接在所述上弹性构件或所述下弹性构件与所述线筒之间。4.根据权利要求1所述的透镜移动装置，其中， 所述线筒包括形成在所述线筒的上表面或下表面上的凸台，并且，所述上弹性构件或所述下弹性构件的一部分围绕所述凸台的至少一部分， 所述阻尼构件在所述上弹性构件或所述下弹性构件围绕所述凸台的至少一部分的区域处联接至所述上弹性构件或所述下弹性构件。5.根据权利要求4所述的透镜移动装置，其中， 所述上弹性构件或所述下弹性构件包括内框架、外框架以及连接所述内框架与所述外框架的连接部， 所述阻尼构件联接至所述连接部和所述凸台。6.根据权利要求1所述的透镜移动装置，其中，所述第一磁体包括: 一对主磁体，所述一对主磁体设置在所述壳体的两相对侧壁处；以及 一对副磁体，所述一对副磁体设置在所述壳体的不同于设置所述一对主磁体的所述两相对侧壁的另外的两相对侧壁处， 其中，所述透镜移动装置还包括位置传感器，所述位置传感器设置在所述壳体的设置所述一对副磁体的所述两相对侧壁中的一个侧壁处，以便检测所述线筒在所述第一方向上的位移值。7.根据权利要求6所述的透镜移动装置，其中， 所述位置传感器靠近所述壳体的一个拐角布置， 所述一对副磁体中的布置在所述壳体的布置有所述位置传感器的侧壁处的一个副磁体布置成靠近与所述位置传感器靠近其布置的所述一个拐角相对的拐角处，从而与所述位置传感器间隔开预定的距离。8.一种透镜移动装置，包括: 第一磁体； 壳体； 线筒，围绕所述线筒缠绕有线圈，并且，所述线筒在所述壳体中沿第一方向移动； 上弹性构件，所述上弹性构件布置在所述线筒的上表面和所述壳体的上表面上； 下弹性构件，所述下弹性构件布置在所述线筒的下表面和所述壳体的下表面的下方； 阻尼构件，所述阻尼构件布置在所述上弹性构件或所述下弹性构件与所述线筒之间；以及 位移检测单元，所述位移检测单元用于检测所述线筒沿所述第一方向移动的位移值。9.根据权利要求8所述的透镜移动装置，其中，所述位移检测单元包括: 第二磁体，所述第二磁体联接至所述线筒；以及 位置传感器，所述位置传感器设置在所述壳体的一个侧壁处，并且所述位置传感器布置在与所述第二磁体对应的位置处，且在所述位置传感器与所述第二磁体之间具有预定的距离。10.根据权利要求9所述的透镜移动装置，其中，所述第一磁体包括: 一对主磁体，所述一对主磁体设置在所述壳体的两相对侧壁处；以及 一对副磁体，所述一对副磁体设置在所述壳体的不同于设置所述一对主磁体的所述两相对侧壁的另外的两相对侧壁处， 其中，所述位置传感器和所述一对副磁体中的一个副磁体布置在所述壳体的同一侧壁处，且在所述位置传感器与所述一对副磁体中的所述一个副磁体之间具有预定的距离。
【专利摘要】本发明提供了一种透镜移动装置，该透镜移动装置包括：第一磁体；壳体；线筒，围绕该线筒缠绕有线圈并且线筒在壳体中沿第一方向移动；上弹性构件，该上弹性构件布置在线筒的上表面和壳体的上表面上；下弹性构件，该下弹性构件布置在线筒的下表面和壳体的下表面的下方；以及阻尼构件，该阻尼构件布置在上弹性构件或下弹性构件与线筒之间。
【IPC分类】G02B7/02, G03B5/00
【公开号】CN105527776
【申请号】CN201510674290
【发明人】朴相沃, 李圣民, 李准泽, 孙秉旭
【申请人】Lg伊诺特有限公司
【公开日】2016年4月27日
【申请日】2015年10月16日
【公告号】US20160109680