专利名称：面板电性测试设备的冶具的制作方法
技术领域：
本发明是关于一种冶具，特别是关于一种面板电性测试设备的冶具。
背景技术：
包括薄膜晶体管(TFT)、彩色超扭转向列液晶(CSTN，ColorSuper-TN)、单色超扭转向列液晶(MSTN，Mono Super-TN)以及有机发光二极管(OLED)等技术的中小尺寸面板的应用领域很广泛，例如手机、个人数字助理(PDA)、数字照相机、数字摄影机、掌上型电玩、车用娱乐或导航显示器、摄影机、电子辞典、复印机、传真机、打印机、汽车仪表板、电子表等都是其应用领域。
同时，由于消费性电子产品市场火热，因此虽然中小尺寸面板是客制化的产品，也呈现稳定成长的趋势。为了提高中小尺寸面板的优良率，在制造过程中必须经过包括电性测试以及出货前的可靠性测试等多项测试。
以电性测试来说，用于对面板进行电性测试的设备如台湾专利公告第586629号案、日本专利特开平10-54845以及特开平10-239352号案等已提出相关的面板电性测试设备。其中，上述面板电性测试设备都使用测试探针或测试薄膜对面板的电路表面进行测试。
如图6A以及图6B所示，一般以测试探针对面板的电路表面进行测试时，先将要测试面板40置于面板电性测试设备10的测试台101上，并令该要测试面板40的电路表面朝向该测试台101。该测试台101相对平面倾斜一定角度，并且具有多个大致环绕预定区域的定位部103(在此仅显示其中一部分)，将该要测试面板40定位在该测试台101。
同时，该测试台101还具有多个诸如孔洞的测试部105，供诸如探针的测试元件80由该测试部105进入，从而进行电性测试。此外，在该面板电性测试设备10设置定位板107，在该要测试面板40置于该测试台101后，由该定位板107压住该要测试面板40，在该测试元件80从该测试台101接触该测试面板40时，避免该测试面板40受力移动甚至掉落，这有可能会导致测试结果不正确甚至面板受损。
但是，上述现有技术是在该面板电性测试设备10增设该定位板107，除了增加设备成本之外，更须加入相对的控制机制与构件，以令该定位板107确实压实该要测试面板40。这样，所使用的设备将更复杂，令成本更高，并且增加维修的复杂度。
同时，由于上述现有技术必须增加控制该定位板107的机制以及反复移动该定位板107的程序，增加了操作手续，造成测试速度变慢，所以需要较长的测试时间。此外，上述现有技术以该定位板107压实该要测试面板40时，必须以相当精确的控制进行测试。但是，精度要求越高的控制需要付出越高的成本；然而如果不要求较高的控制精度，便会产生该测试元件80未正确接触该测试面板40，或者该测试元件80过度顶触该测试面板40，从而导致检测结果不正确，或者是损伤到该测试面板40电路表面。
而且，为了压实该测试面板40，上述现有技术必须使用更多构件，将使整体设备结构更复杂而庞大，从而存在占据更大的设置空间的缺点。另外，上述现有技术仅能用于定位测试特定的面板，对客制化产品的中小尺寸面板而言，不同的面板无法适用上述现有技术进行定位测试。
上述现有技术无论在操作、制造、维修以及成本上都有着种种缺点，且无法广泛应用在产业中，所以存在急待改善之处。
发明内容
为克服上述现有技术的问题，本发明的主要目的在于提供一种可降低测试成本的面板电性测试设备的冶具。
本发明的另一目的在于提供一种可提高测试速度的面板电性测试设备的冶具。
本发明的再一目的在于提供一种可提高测试精度的面板电性测试设备的冶具。
本发明的又一目的在于提供一种使用灵活的面板电性测试设备的冶具，广泛应用在产业中。
为达上述以及其它目的，本发明提供一种面板电性测试设备的冶具，该面板电性测试设备的冶具用于定位置放要测试面板，供面板电性测试设备对该要测试面板进行电性测试，该冶具包括冶具本体，具有容纳空间，用于容纳该要测试面板；以及第一定位部，形成于该冶具本体对应该容纳空间的一侧，用于至少压抵该要测试面板局部。
该冶具还包括第二定位部。该第二定位部形成于该冶具本体具有该第一定位部的侧边。其中，该第二定位部是与该第一定位部一体成型的结构，也可选择为固定至该第一定位部的个别结构。该第二定位部具有至少一个测试孔，供诸如探针的测试元件进出。该第二定位部具有至少一个凹槽，供调整不同尺寸的要测试面板在该容置空间中的位置。
该冶具还包括至少一个取出部，供取出该要测试面板。
该冶具还包括一个测试部。该测试部形成于该冶具本体具有该第二定位部的一侧，且该测试部可选择供不同测试元件进行电性测试。
在本发明中，利用该冶具定位置放该要测试面板，便可进行测试作业，且无需增加其它构件，可简化测试结构、降低测试成本。这样，便可解决现有技术使用许多额外构件的缺点，而且不会增加整体设备结构所占据的设置空间，更有助于维修。
同时，由于应用本发明可省去现有技术中控制定位板以及反复移动该定位板的程序，所以可提高测试速度，且无需要求精度更高的控制，更可避免现有技术中检测结果不正确，或者是损伤到面板表面的问题，进而提高测试精度。
此外，本发明能用于定位测试不同的面板，所以具备使用灵活性，能广泛应用在产业中。
图1是根据本发明的实施例1绘制的侧视图；图2A及图2B是图1的立体图，其中，图2A未置入要测试面板，图2B则已置入要测试面板；图3A是根据本发明的实施例2绘制的侧视图；图3B是图3A的变化实施例的示意图；图4A是图3A的立体图，显示已置入要测试面板；图4B是图3B的立体图，显示已置入要测试面板；图5A至图5D是第二定位部的不同结构的示意图；以及图6A及图6B是现有技术中面板电性测试设备的使用示意图。
具体实施例方式
以下实施例是进一步详细说明本发明的观点，但并非以任何观点限制本发明的范畴。
实施例1
图1至图2B是根据本发明的实施例1绘制。其中，应了解的是，本实施例中的面板电性测试设备的冶具1用于将要测试面板40定位置放在测试台101，供面板电性测试设备10对该要测试面板40进行电性测试。由于现有的面板、面板电性测试设备以及面板电性测试设备的测试程序等都是适用对象，所以，为使本发明的特征及结构更清晰易懂，在附图中仅显示要测试面板以及面板电性测试设备的部分结构，但并非以此限制本发明，测试步骤以及原理等说明则省略。
如图1所示，本实施例中的冶具1包括冶具本体11以及第一定位部13。该冶具本体11具有容纳空间111，该容纳空间111用于容纳该要测试面板40。该第一定位部13形成于该冶具本体11对应该容纳空间111的一侧，该第一定位部13用于至少压抵该要测试面板40局部。
该冶具1还可设有第一测试部15。如图1所示，该第一测试部15对应该第一定位部13而设在该冶具本体11底面，且该第一测试部15具有例如一个测试孔151，供诸如测试探针的测试元件(未标出)接触该要测试面板40的要测试的线路。
图2A是图1的立体示意图。如图2A所示，该容纳空间111可选择由该冶具本体11底面凹陷而成，但并非以此为限。该第一定位部13则可与该冶具本体11顶面共平面。当在该冶具1上定位置放该要测试面板40时，可将该要测试面板40由该容纳空间111置入，并由该第一定位部13加以定位，如图2B所示。
如此，即可使测试元件接触该要测试面板40进行电性测试时，不会令该要测试面板40受力移动以及掉落，从而可避免现有技术中导致测试结果不正确甚至面板受损的问题的发生。
进行电性测试的原理与技术都是现有技术，这里不再说明。同时，应了解的是，本实施例中的第一测试部15上的测试孔151的数量可根据需要设置，且该测试孔151的设置位置与数量可根据需要进行修改与变化。
此外，本实施例中是以诸如测试探针的测试元件进行电性测试为例，但并非局限于此，也适用于测试薄膜所进行的测试方式。
而且，本实施例中的第一定位部13供压抵该要测试面板40的局部，具体说就是，即该第一定位部13可选择压抵该要测试面板40要进行测试的部分，只要令测试可正确进行即可，而非以本实施例中所示的设置范围以及结构为限。
实施例2
图3A至图5D是根据本发明的实施例2绘制。本实施例的面板电性测试设备的冶具1′与上述实施例1最大不同之处在于，本实施例2的冶具1′在该冶具本体11具有该第一定位部13的侧边设有第二定位部17。其中，与实施例1相同之处不再说明，相同的元件则采用相同的符号表示，使本发明的特征更清楚易懂。
如图3A所示，该第二定位部17是用例如螺丝的锁固元件171固定至该冶具本体11。如图4A所示，该要测试面板40置入该冶具1′后，可由该第一定位部13以及该第二定位部17分别在垂直方向以及水平方向定位该要测试面板40。
在图3A及图4A中所示的第二定位部17大致呈L型结构，但并不以此为限。如图5A所示，该第二定位部17可例如是设有测试孔151的L型结构；如图5B所示，该第二定位部17可选择是设有浅凹槽173的L型结构；如图5C所示，该第二定位部17可选择是设有深凹槽175的结构；如图5D所示，该第二定位部17可选择是设有深凹槽177以及测试孔151的结构。其中，该测试孔151可供测试元件进出以进行测试，该浅凹槽175以及深凹槽177则可供定位不同尺寸的要测试面板40。
也就是，该第二定位部17可选择具有至少一个凹槽以及测试孔，供调整不同尺寸的要测试面板40在该容置空间中的位置。如此，便可灵活用于不同面板的测试。
在本实施例2中，该第二定位部17选择为固定至该第一定位部13的个别结构。因此，例如采用测试薄膜的方式进行测试时，可不使用该第二定位部17，而令该冶具本体11底面无该第二定位部17的部分，变成一个诸如开口的第二测试部19。本实施例2的第二测试部19邻接第一测试部15，可供选择采用薄膜测试或探针测试的方式进行电性测试。
此外，该第二定位部17也可以是与该第一定位部13一体成型的结构，如图3B及图4B所示。同时，该第二定位部17也可例如设置至少一个测试孔及/或测试开口(未标出)，供诸如探针的测试元件进出或直接接触测试薄膜。
同时，如图4A及图4B所示，该冶具1′还设有取出部21。该取出部21是例如凹槽的凹陷结构，供取出该要测试面板40。
此外，如实施例1的图1所示，该冶具1是由面板电性测试设备的测试台101所定位，但如实施例2的图3A所示，该冶具1′也可由诸如螺丝的锁固元件1011固定至该测试台101。当然，该冶具1以及1′也可采其它方式固定至该测试台101，而非以上述实施例为限。
由上可知，由于应用本发明的面板电性测试设备的冶具，可方便定位置放要测试面板，且无需增加其它构件，即可进行测试作业。如此，能够降低测试成本，同时简化定位该要测试面板的程序，进而提高测试速度。同时，本发明可供定位不同的面板，所以可提供具备使用灵活性的面板电性测试设备的冶具，从而具有广泛的产业利用性。
此外，不同实施例的构件或结构可互换，例如该取出部21也可设在实施例1；测试孔及测试开口的设置位置、数量以及结构也可根据需要变化。
权利要求
1.一种面板电性测试设备的冶具，用于定位置放要测试面板，供面板电性测试设备对该要测试面板进行电性测试，其特征在于，该冶具包括冶具本体，具有容纳空间，用于容纳该要测试面板；以及第一定位部，形成于该冶具本体对应该容纳空间的一侧，用于至少压抵局部该要测试面板。
2.如权利要求1所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该冶具还包括第二定位部。
3.如权利要求2所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该第二定位部形成于该冶具本体具有该第一定位部的侧边。
4.如权利要求3所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该第二定位部是与该第一定位部一体成型的结构。
5.如权利要求3所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该第二定位部固定至该第一定位部。
6.如权利要求5所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该第二定位部是呈L形的结构。
7.如权利要求2所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该第二定位部具有至少一个测试孔。
8.如权利要求2所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该第二定位部具有至少一个凹槽。
9.如权利要求1所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该冶具还包括取出部。
10.如权利要求9所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该取出部是呈凹陷的结构。
11.如权利要求1所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该冶具还包括至少一个测试部。
12.如权利要求11所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该测试部形成于该冶具本体具有该第二定位部的一侧。
13.如权利要求12所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该测试部是呈开口的结构。
14.如权利要求12所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该测试部具有至少一个测试孔。
15.如权利要求12所述的面板电性测试设备的冶具，其特征在于，该测试部设有至少一个测试孔以及开口。
全文摘要
一种面板电性测试设备的冶具包括冶具本体以及至少一个设于该冶具本体一侧的定位部，该定位部至少压抵局部该要测试面板，由该定位部将要测试面板定位置放在面板电性测试设备的测试台上，从而供该面板电性测试设备对该要测试面板进行电性测试；本发明可简化测试结构、降低测试成本，并且省去了现有技术中控制定位板以及反复移动该定位板的程序，所以可提高测试速度，且无需要求精度更高的控制，更可避免现有技术中检测结果不正确，或者是损伤到面板表面的问题，进而提高测试精度；此外，本发明能用于定位测试不同的面板，所以具备使用灵活性，能广泛应用在产业中。
文档编号G01R31/28GK1760678SQ20041008088
公开日2006年4月19日 申请日期2004年10月11日 优先权日2004年10月11日
发明者柯颖和 申请人:旭贸股份有限公司