专利名称：测试设备的制作方法
技术领域：
本发明有关于一种测试装置，且特别是有关于一种输出重置讯号的测试装置。
背景技术：
随着集成电路制成的进步，各种电子装置的发展也越来越快，而整体市场 规模也越来越大。整个生产过程从晶片制作、封装、焊接到测试，都有着各自 的程序及过程。在测试过程中，常常会对电子装置输入一个重置讯号进行测试，随着重置 讯号高低电位间的变化，来测试电子装置是否可以正常运作。传统的测试设备100的系统请参照图1。传统测试设备100具有控制端102、检测讯号端104、 开关电路106与待测电子装置连接端108。控制端102用来控制开关电路106的开启与否，藉以决定检测讯号端104 的检测讯号是否流入待测电子装置连接端108。然而，当开关电路106损坏时， 待测电子装置连接端108将一直存在一个高电压。此时，可能会破坏待测的电 子装置。但传统测试设备100并无法主动回馈出开关电路106已经损坏的情形，只 有在测试时，当电子装置出现大量异常的损毁情形，才能推知开关电路106可 能出现问题，如此造成测试过程中时间上的浪费，更增加了电子装置的整体成本。因此如何改良测试设备，主动回馈出开关电路已经损坏的情形，藉以加快 电子装置的测试过程，并节省电子装置的整体成本，为现今厂商所想达到的目 的。发明内容因此本发明的目的就是在提供一种测试设备，其特征在于可主动回馈出开 关电路已经损坏的情形。本发明的另 一 目的是在提供一种测试设备，藉以避免大量电子装置于测试 中损坏，达成加快电子装置的测试过程，并节省电子装置整体成本。根据本发明的上述目的，提出一种测试设备，至少包含开关电路与警示装 置。开关电路用以控制检测讯号是否传送至待测电子装置。警示设备则连接于 开关电路与电子装置间，当开关电路损毁，警示装置将持续发出一个警示讯息。而根据本发明的目的，提出一个测试设备的实施例，此测试装置至少包含 开关电路与发光设备。开关电路用以控制检测讯号是否传送至待测电子装置。 发光设备连接于该开关电路与该电子装置之间，当开关电路损毁，发光设备将 持续发光状态。于测试装置上加装一个警示设备，当测试装置损毁时，警示装置会持续发 出警示讯息。透过警示装置，可以告知测试装置内的开关电路损毁，必须修理。 如此，测试设备主动回馈出开关电路已经损坏的情形，可避免大量电子装置于 测试中损坏，并藉以加快电子装置的测试过程，并节省电子装置的整体成本。
为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，结合附图详细说明如下图1为传统测试设备系统方块图。图2绘示了本发明测试设备系统方块图。图3绘示了本发明第一实施例的测试设备电路图。图4绘示了本发明第二实施例的测试设备电路图。
具体实施方式
本发明实施例是将传统测试装置加装一个警示设备，当测试装置的开关电 路损毁时，将使警示设备持续发出警示讯息，回馈出开关电路已经损坏的情形。 熟悉本技术领域者可在成本与实际操作的考量下，更改警示装置的种类及内部 元件参数，应亦符合本发明的精神并包含于本发明的范围中。请参照图2，此为本发明各实施例中测试设备200系统方块图。测试设备 200具有控制端202、检测讯号端204、开关电路220、待测电子装置连接端206 与警示设备210。控制端202用来控制开关电路220的开启与否，藉以决定检 测讯号端204的检测讯号是否流入待测电子装置连接端206。为了回馈出开关电路220已经损坏的情形，警示设备210连接于开关电路 220与待测电子装置连接端206之间。更进一步说明，警示设备210的一端连 接于开关电路220与待测电子装置连接端206之间，另一端则接地。由于当开 关电路220损毁时，待测电子装置连接端206会一直存在一个高电压。因此透 过适当的设计，可使警示设备210于开关电路220损毁时，透过此高电压来作 为动力源，让警示装置210持续发出一警示讯息。以下将列举数个实施例来说明本发明所实际带来的功效，其中相同的元件将以同样的标号标明。 第一实施例请参照图3，此为第一实施例的测试设备电路图。开关电路220包含一个N 型金属氧化半导体322以及一个P型金属氧化半导体324,两个金属氧化半导 体322及324并互相连结，藉以构成开关电路220，来控制检测讯号端204的 检测讯号是否流入待测电子装置连接端206。在本实施例中，警示设备220为一个发光设备。发光设备包含一个发光元 件312与电阻314。电阻314 —端连接于开关电路220与待测电子装置连接端 206之间，另一端与发光元件312相连。发光元件312相对于与电阻314相连 的另一端则接地。当开关电路220损毁时，待测电子装置连接端206会一直存 在一个高电压。因此电阻314的设置，可以使高电压先行降低至发光元件312 所需的电压，使得发光元件312可以正常工作。而由于此高电压会持续存在， 因此发光元件312将会持续发光状态，藉以回馈出开关电路220已经损毁的情 况。在本实施例中，发光元件312为一发光二极管。由于发光二极管的价格低 廉，因此可以在最低的成本下，改良整个测试装置。 第二实施例除了上述实施例中所提及的发光元件，警示设备亦可有其他的选择，来提 供多元化的警示讯息。请参照图4，此为第二实施例的测试设备电路图。在本实施例中，测试装 置210为一声频产生器412。声频产生器412的一端连接于开关电路220与待 测电子装置连接端206之间，另一端则接地。将原本的警示讯息由持续发光转 换为持续发出声响。而声频产生器412可以是喇叭或者是蜂鸣器。由上述本发明各个实施例可知，于测试装置上加装一个警示设备，当测试装置损毁时，警示装置会持续发出警示讯息。透过警示装置，可以告知测试装 置内的开关电路损毁，必须修理。如此，测试设备可主动回馈出开关电路已经 损坏的情形，避免大量电子装置于测试中损坏，并藉以加快电子装置的测试过 程，并节省电子装置整体成本。虽然本发明已以多个实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何熟 悉本技术领域者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰， 因此本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定为准。
权利要求
1. 一种测试装置，该测试装置包含一开关电路，用以控制一检测讯号是否传送至一待测电子装置连接端；其特征在于包含一警示设备，连接于该开关电路与该待测电子装置连接端之间，当该开关电路损毁，该警示装置将持续发出一警示讯息。
2. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该警示设备的一端连接于 该开关电路与该待测电子装置连接端之间，另一端接地。
3. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该开关电路至少包含一 N 型金属氧化半导体与一 P型金属氧化半导体并相互连接。
4. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该警示设备至少包含一发 光元件及 一 电阻，其中该电阻 一 端连接于该该开关电路与该待测电子装置连接 端之间，另一端与该发光元件相连，该发光元件相对于与电阻相连的另一端接 地。
5. 如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，该发光元件为一发光二极管。
6. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该警示设备至少包含一声 频产生器，该声频产生器的一端连接于该开关电路与该待测电子装置连接端之 间，另一端4妄地。
7. 如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，该声频产生器为一喇叭。
8. —种测试装置，该测试装置包含一开关电路，用以控制一检测讯号是否 传送至一待测电子装置连接端；其特征在于包含一发光设备，连接于该开关电路与该待测电子装置连接端之间，当该开关 电路损毁，该发光设备将持续发光状态。
9. 如权利要求8所述的测试装置，其特征在于，该开关电路至少包含一 N 型金属氧化半导体与一 P型金属氧化半导体并相互连接。
10. 如权利要求8所述的测试装置，其特征在于，该发光设备包含一发光二 极管与一电阻，该电阻一端连接于该开关电路与该待测电子装置连接端之间， 该电阻另一端与该发光二极管相连，该发光元件相对于与电阻相连的另一端接 地。
全文摘要
本发明提供一种测试装置，包含开关电路及警示设备。开关电路用来控制检测讯号是否传送至待测电子装置连接端。警示装置连接于开关电路与待测电子装置连接端之间，当开关电路损毁，警示装置将持续发出警示讯息，以防止进一步损坏待测电子装置。
文档编号G01R31/327GK101261309SQ20071003792
公开日2008年9月10日 申请日期2007年3月8日 优先权日2007年3月8日
发明者刘献忠 申请人:英华达(上海)科技有限公司