专利名称：一种具有导电接触端部的夹持装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测试技术领域，尤其涉及一种对待测物进行检测的具有导 电接触端部的夹持装置。
背景技术：
利用软性印刷电路板(Flexible Printing Circuit Board, FPCB )上排列设置 复数发光二极管(Light-Emitting Diode, LED)晶粒而成的光棒(Light-Bar)
作为显示器背光板的光源，以取代传统的冷阴极灯管(CCFL),已普遍为业界、 使用者认同。再者，由于显示器制作日趋轻薄，所以显示器内部的电子零组件 必须跟着微型化，原本光棒上所布设的发光二极管就多达数十颗，在软性印刷 电路板的提供相对应电信号的线路布局已经被局限在有限的空间之中，如今跟 着微型化的趋势，线路就更显精密。
为了确保光棒的质量，通常通过外部光学装置测量光棒的特性及优劣，测 试项目可能包括亮度、色度、光均匀性等等，藉此淘汰不良品来提升出货产 品良率。由于每条光棒的发光二极管会划分为一组或是数组回路并由线路提供 电信号，这种设计将会依据不同公司或是使用者的需求有些许差异，不过相同 的特征是上述回路的导电线路将整合在软性电路板的一个区域位置上。所以， 测试者必须从此区域位置提供电信号，使光棒上的发光二极管点亮，以进行后 续的测试项目。
在实际操作中，前段提到软性电路板上的线路随着微型化更为精密，故测 试人员对各个回路分别供应电信号时将遭遇线路微型化的挑战。目前，测试方 式是通过检测机具将探针(Probe)对准软性电路板线路的位置上，以便透过探 针触压线路而提供电信号，此实施方式的缺陷在于1.更换待测物进行测试时，每一次均必须精准定位，效率不高。2.接触失败机率高。3.探针必须维持相同 的接触平面，故极易发生接触不良情况。4.无法全面提升测试速度。
因此，需要提供一种技术方案，能够解决接触定位精准的问题，并通过面 型的接触面提供电信号，可迅速对每一条待测光棒进行测试，以提升全面性的
测试速度。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种具有导电接触端部的夹持装置，旨在解决 现有技术中存在的接触定位效率不高、测试速度不快的问题。
本实用新型是这样实现的， 一种具有导电接触端部的夹持装置，该夹持装 置设置在一个基板上，且该基板上布置有一组导电区，通过该导电区提供待测 物测试的电信号，该夹持装置包括一基座以及与该基座搭配的一按压件，该基 座内设置有一面型导电接触端部，该面型导电接触端部与该导电区对应，覆盖 该基板上的导电区，该面型导电接触端部的下端面与该导电区相贴形成导通状 态，该面型导电接触端部的上端面露出于该基座上，测试时通过压制该按压件 使待测物的电极与该面型导电接触端部的上端面相贴导通，由基板上的导电区 提供待测物回路测试所需的电信号。
该基座两侧壁分设有孔位，该孔位与按压件两侧延伸出的枢轴结合，基座 与按压部之间设置有一弹性组件，该弹性组件的弹性在经过枢轴后变成对待测 物的夹持力道。
该基板上的导电区提供待测物回路测试所需的电信号为同时驱动或者分回 路间隔驱动的电信号。
本实用新型还提供了另 一种具有导电接触端部的夹持装置，该夹持装皇设 置在一个基板上，且该基板上布置有一组导电区，通过该导电区提供待测物测
试的电信号，该夹持装置包括
一基座，该基座两侧壁分设有孔位，并具有一开口部于测试时作为待测物
5的电极放置位置，该基座内设置有一面型导电接触端部，该面型导电接触端部 与该导电区对应，覆盖基板上的导电区，该面型导电接触端部的下端面与该基 板的导电区相贴，该面型导电接触端部上端面则露出于开口部；及
一按压件，该按压件两侧各延伸出一枢轴与该基座的孔位相接，在该基座
与该按压部之间设置一弹性组件；
该按压件将待测物的电极夹持在该基座的面型导电接触端部的上端面，该 面型导电接触端部对待测物上电气回路进行对应导接，该基板上的导电区提供 待测物测试所需的电信号。
该基板上的导电区提供待测物回路测试所需的电信号为同时驱动或者分回 路间隔驱动的电信号。
本实用新型还提供了第三种具有导电接触端部的夹持装置，该夹持装置设 置在一个基板上，且该基板上规划有一组导电区，透过导电区可提供待测物测
试的电信号，该夹持装置包括
一基座，该两侧壁分设有孔位，该基座上设有二面型导电接触端部，该二 面型导电接触端部的 一端与基板上的导电区电性相接，另 一端则跨设在该基座 上；及
一按压件，该按压件两侧各延伸出一枢轴与该基座的孔位相接，在该基座 与该按压部之间设置 一弹性组件；
该按压件将待测物的电极夹持在该基座的二面型导电接触端部的上端面， 该二面型导电接触端部对待测物上电气回路进行对应导接，该基板上的导电区 提供待测物测试所需的电信号。
该按压件通过至少 一 固定部以锁固组件固设在该基座上。
图l是本实用新型第一实施例组合图； 图2是本实用新型第一实施例分解6图3是本实用新型第二实施例组合图； 图4是本实用新型第二实施例分解图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图 及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体 实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。 .
请参阅图l及图2所示，分别为本实用新型第一较佳实施例提供的夹持装 置的组合图和分解图，并且以光棒(LightBar)作为待测物。该夹持装置10设 置在一个基板20上，主要由基座12以及与该基座12搭配的按压件14所组 成。该基板20上规划有一组导电区22，该导电区22可提供待测光棒30有关 测试的电信号，譬如以该电信号使待测光棒30发光，需将该电信号稳定的提 供给待测光棒30。再者，基座12设在基板20上，于基座12内设置有一面型 导电接触端部40,该面型导电接触端部40对应设置，覆盖于该导电区22上方， 其下端面与基板20的导电区22相贴将形成导通状态，上端面则露出于基座12 上的开口部120,而该开口部120于测试时作为待测光棒30的电极32的置放 位置，并可以使待测光棒30的电极32与面型导电接触端部40的上端面相贴导 通。基座12两侧壁分设有孔位122和孔124，分别与按压件14两侧延伸出的 枢轴142和枢轴144结合，该按压件14以枢轴142和枢轴144为分界， 一边是 对待测光棒30进行压持的压持部146、另一边是4吏压持部146开启的按压部 148，在基座12与按压部14之间将设置一弹性组件50,弹性组件50的弹性将 在经过枢轴142和枢轴144后变成压持部146对待测光4奉30的夹持力道。
透过上述结构组合，透过该面型导电接触端部40将可扩大与待测光棒30 的电极32的接触范围，该夹持装置10对待测光棒30进行测试时，透过按压件 14将待测光棒30的电极32夹持在基座12的面型导电接触端部40的上端面， 该面型导电接触端部40能够轻易对待测光棒30上复数组电气回路进行对应导从而让待测光棒30发光进行后续的检测项目。
由上述说明可知，该面型导电接触端部40可有效改善以往使用探针作为接
触的不足，也可通过该面型导电接触端部40本身的结构特色，譬如可应用日 本信越(Shin-Etsu)所生产的金属接触连接端( Metal contact connectors )，达到令^寺 测光棒30上回路同时点亮，或是分回路、分颗间隔点亮进行后续测试的目的。
请参阅图3及图4所示，分别为本实用新型第二较佳实施例提供的夹持装 置的组合图及分解图，同样以光棒(Light Bar)作为待测物据以说明。该夹持 装置10'主要由基座12'以及与该基座12'搭配的按压件14'所组成，并通过固 定部70以锁固组件60将按压件14'固设在基座12'上。于基座12'内设置有二 面型导电接触端部400和导电接触端部420，与第一较佳实施例不同在于该 二面型导电接触端部400和导电接触端部420为金属导体、并间隔分设于基座 12',由锁固组件60固定在基座12'上。该二面型导电接触端部400和导电接触 端部420的一端与供应电信号的部位电性相接形成导通状态，另一端则跨设在 基座12'上，测试时可以使待测光棒的电极与面型导电接触端部跨设在基座的 一端相贴导通。该按压件14'以枢轴142'和枢轴144'为分界， 一边是对待测光 棒的压持部146'、另一边是使压持部146'开启的按压部148',在基座12'与按 压部148'之间设置一弹性组件50'，将弹性组件50'之弹性将经过枢轴142'和枢 轴144'变成压持部146'对待测光棒的夹持力道。虽然按压件14'的结构与第一 实施例有些许差异，却不影响夹持装置10'整体功能。
本实施例同样可透过二面型导电接触端部400和导电接触端部420扩大与 待测光棒的电极接触范围，但此实施方式特别适合待测光棒的LED以单一回3各 设计。
纵上所述，本实用新型提供的技术方案在检测待测物时能够解决接触定位 精准的问题，并通过面型的导电接触端面可迅速对每一条待测物进行测试，并 有助于提升全面性的测试速度。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型， 凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应 包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1、一种具有导电接触端部的夹持装置，该夹持装置设置在一个基板上，且该基板上布置有一组导电区，通过该导电区提供待测物测试的电信号，该夹持装置包括一基座以及与该基座搭配的一按压件，其特征在于该基座内设置有一面型导电接触端部，该面型导电接触端部与该导电区对应，覆盖该基板上的导电区，该面型导电接触端部的下端面与该导电区相贴形成导通状态，该面型导电接触端部的上端面露出于该基座上，测试时通过压制该按压件使待测物的电极与该面型导电接触端部的上端面相贴导通，由基板上的导电区提供待测物回路测试所需的电信号。
2、 根据权利要求1所述的具有导电接触端部的夹持装置，其特征在于，该 基座两侧壁分设有孔位，该孔位与按压件两侧延伸出的枢轴结合，基座与按压 部之间设置有一弹性组件，该弹性组件的弹性在经过枢轴后变成对待测物的夹 持力道。
3、 根据权利要求1所述的具有导电接触端部的夹持装置，其特征在于，该 基板上的导电区提供待测物回路测试所需的电信号为同时驱动或者分回路间隔 驱动的电信号。
4、 一种具有导电接触端部的夹持装置，该夹持装置设置在一个基板上，且 该基板上布置有一组导电区，通过该导电区提供待测物测试的电信号，其特征 在于，该夹持装置包括一基座，该基座两侧壁分设有孔位，并具有一开口部于测试时作为待测物 的电极放置位置，该基座内设置有一面型导电接触端部，该面型导电接触端部 与该导电区对应，覆盖基板上的导电区，该面型导电接触端部的下端面与该基 板的导电区相贴，该面型导电接触端部上端面则露出于开口部；及一按压件，该按压件两侧各延伸出一枢轴与该基座的孔位相接，在该秦座 与该按压部之间设置 一 弹性组件；该按压件将待测物的电极夹持在该基座的面型导电接触端部的上端面，该面型导电接触端部对待测物上电气回路进行对应导接，该基板上的导电区提供 待测物测试所需的电信号。
5、 根据权利要求4所述的具有导电接触端部的夹持装置，其特征在于，该 基板上的导电区提供待测物回路测试所需的电信号为同时驱动或者分回路间隔 驱动的电信号。
6、 一种具有导电接触端部的夹持装置，该夹持装置设置在一个基板上，且 该基板上规划有一组导电区，透过导电区可提供待测物测试的电信号，其特征在于，该夹持装置包括一基座，该两侧壁分设有孔位，该基座上设有二面型导电接触端部，该二 面型导电接触端部的 一端与基板上的导电区电性相接，另 一端则跨设在该基座 上；及一按压件，该按压件两侧各延伸出一枢轴与该基座的孔位相接，在该基座与该按压部之间设置 一 弹性组件；该按压件将待测物的电极夹持在该基座的二面型导电接触端部的上端面， 该二面型导电接触端部对待测物上电气回路进行对应导接，该基板上的导电区 提供待测物测试所需的电信号。
7、 根据权利要求6所述的具有导电接触端部的夹持装置，其特征在于，该 按压件通过至少 一 固定部以锁固组件固设在该基座上。
专利摘要本实用新型适用于测试技术领域，提供了一种具有导电接触端部的夹持装置，该夹持装置设置在一个基板上，且该基板上布置有一组导电区，通过该导电区提供待测物测试的电信号，该夹持装置包括一基座以及与该基座搭配的一按压件，该基座内设置有一面型导电接触端部覆盖该基板上的导电区，下端面与该导电区相贴形成导通状态，上端面露出于该基座上，测试时通过压制该按压件使待测物的电极与该面型导电接触端部的上端面相贴导通，由基板上的导电区提供待测物回路测试所需的电信号。本实用新型提供的技术方案在检测待测物时能够解决接触定位精准的问题，并通过面型的导电接触端面可迅速对每一条待测物进行测试，有助于提升测试速度。
文档编号G01M11/02GK201259462SQ20082014749
公开日2009年6月17日 申请日期2008年9月19日 优先权日2008年9月19日
发明者张宇和, 翁秉玮, 胡咏家, 薛景元, 黄俊豪 申请人:中茂电子(深圳)有限公司