专利名称：具有振动测试功能的电子装置及建立振动测试算法的方法
技术领域：
本发明涉及ー种具有振动测试功能的电子装置及用以建立振动测试算法的方法，特别是涉及ー种具有振动测试功能的电子装置，其可用来测试电子装置本身的振动カ或其它电子装置的振动力。
背景技术：
许多电子装置，例如行动电话、个人数字助理、平板计算机等，皆具备振动功能。目前，电子装置的振动测试无论是在生产检验时或是終端用户使用时，均存在很多不足。举例而言，在生产检验时，主要还是依赖专门的振动测试仪器来测试电子装置的振动カ是否正常。由于利用专门的振动测试仪器来测试需要花费庞大的仪器购置成本以及操作时间(一台振动测试仪器通常只能同时测试ニ至四台电子装置)，导致无法对大量的电子装置进行百分之百的检验，进而无法筛选出所有的不良品。此外，在終端用户使用吋，由于往往是靠使用者主观感觉振动カ的大小，在缺少客观的判断机制下，使用者比较难察觉振动功能是 否正常。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是为了弥补现有技术的不足，提供ー种具有振动测试功能的电子装置及用以建立振动测试算法的方法。本发明的具有振动测试功能的电子装置采用以下技术方案所述具有振动测试功能的电子装置包括记忆单元、振动感测单元、显示单元以及处理单元，其中所述处理单元电连接于所述记忆单元、所述振动感测单元与所述显示单元。所述记忆単元用以存储振动测试算法。所述振动感测单元用以感测振动力。所述处理単元用以根据所述振动测试算法计算对应所述振动カ的补偿值，将所述振动カ与所述补偿值相加以产生补偿后振动力，并且将所述补偿后振动カ显示于所述显示单元上。所述振动测试算法可包括多个振动力与多个补偿值的对应关系。所述振动感测单元可以是加速度传感器。所述具有振动测试功能的电子装置还可包括振动单元，电连接于所述处理单元，用以产生所述振动力。所述振动単元可以是振动马达。所述振动カ可以是由邻近所述电子装置的另ー电子装置所产生。本发明的用以建立振动测试算法的方法采用以下技术方案所述用以建立振动测试算法的方法包括(a)以预设振动カ使电子装置产生振动；(b)利用振动测试仪器感测关于所述电子装置的第一振动カ；(c)利用内建于所述电子装置中的振动感测单元感测关于所述电子装置的第二振动力；(d)判断所述第二振动カ是否等于所述第一振动力；(e)若所述第二振动カ不等于所述第一振动力，计算所述第一振动カ与所述第二振动カ的差值，以所述差值修正所述振动感测单元的感测算法，并且回到步骤(a) ；(f)若所述第二振动カ等于所述第一振动力，重复步骤(a)至(d)，以多个不同的预设振动カ使所述电子装置产生振动，以计算多个第一振动カ与多个第二振动カ的多个差值；以及(g)根据所述第二振动カ与所述差值的对应关系，建立所述振动测试算法。所述步骤(a)还可包括将所述电子装置设置于振动平台上；以及利用所述振动平台以所述预设振动カ使所述电子装置产生振动。所述步骤(a)还可包括利用内建于所述电子装置中的振动单元以所述预设振动力使所述电子装置产生振动。根据上述技术方案，本发明的具有振动测试功能的电子装置及用以建立振动测试算法的方法至少具有下列优点及有益效果本发明提供用以建立振动测试算法的方法，并且将此振动测试算法安装于电子装置中，以使电子装置具有振动测试功能。因此，于生产大量的电子装置时，就可以利用每一台电子装置的振动测试功能自动测试电子装置本身的振·动カ大小，以对大量的电子装置进行百分之百的检验。此外，使用者可利用电子装置的振动测试功能来获取电子装置所产生的振动カ数据，以了解所使用的电子装置的实际振动强度。使用者也可以根据获取的振动カ数据与对应的使用感受来设定所需的振动强度。再者，使用者还可利用电子装置的振动测试功能来测试其它电子装置的振动强度。
图I是本发明一实施例的具有振动测试功能的电子装置的功能方块图。图2是本发明一实施例的用以建立振动测试算法的方法的流程图。图3是振动力与工作电流的对应关系图。其中，附图标记说明如下I电子装置 10记忆单元12振动感测单元14显示单元16处理单元18振动单元100 振动测试算法S10-S22 步骤11-15 工作电流 fel_fe5 第一振动カfzl-fz5 第二振动カ fdl_fd5 差值
具体实施例方式请參考图1，图I是本发明一实施例的具有振动测试功能的电子装置I的功能方块图。如图I所示，电子装置I包括记忆单元10、振动感测单元12、显示单元14、处理单元16以及振动单元18,其中处理单元16电连接于记忆单元10、振动感测单元12、显示单元14与振动单元18。记忆单元10用以存储振动测试算法100以及其它必要的程序或数据。振动感测单元12用以感测振动カ。处理单元16用以根据振动测试算法100计算对应振动感测単元12所感测的振动カ的补偿值，将振动カ与补偿值相加以产生补偿后振动力，并且将补偿后振动カ显示于显示単元14上。振动单元18用以产生振动力。于实际应用中，电子装置I可以是行动电话、个人数字助理、平板计算机或其它电子装置，记忆单元10可以是非挥发性内存或其它数据存储装置，振动感测単元12可以是三轴加速度传感器或其它振动传感器，显示单元14可以是液晶显示器或其它显示器，处理单元16可以是具有数据运算处理功能的处理器或控制器，且振动単元18可以是振动马达或其它振动体。请參考图2，图2是本发明一实施例的用以建立振动测试算法100的方法的流程图。首先，执行步骤S10，以预设振动カ使电子装置I产生振动。若电子装置I本身不具有振动功能(也就是说，电子装置I中无设置振动单元18)，则将电子装置I设置于振动平台(未显示)上，并且利用振动平台以预设振动カ使电子装置I产生振动。另ー方面，若电子装置I本身具有振动功能(也就是说，电子装置I中有设置振动单元18)，则利用内建于电子装置I中的振动单元18 (例如，振动马达)以预设振动カ使电子装置I产生振动，其中预设振动力可以通过施加于振动単元18的工作电压或电流来设定。接着，执行步骤S12，利用振动测试仪器(未显示)感测关于电子装置I的第一振动力。同时，执行步骤S14，利用内建于电子装置I中的振动感测単元12感测关于电子装置I的第二振动力。于实际应用中，振动感测単元12可以是三轴加速度传感器，用来感测电子装置于X、Y、Z三轴向上的加速度变化，通过放大和滤除噪声后，再将模拟数据转换为 数字数据，之后再输出至电子装置I的处理单元16，处理单元16就可以根据牛顿第二运动定律(f = ma,其中f表示力,m表示振动体质量,a表示振动加速度)计算出上述的第二振动力。接着，执行步骤S16，判断第二振动カ是否等于第一振动カ。于实际应用中，可利用计算机、电子装置本身或人工进行判断，视实际应用而定。若第二振动カ不等于第一振动力，则执行步骤S18，计算第一振动カ与第二振动カ的差值，以此差值修正振动感测単元12的感测算法，并且回到步骤S10。举例而言，若振动测试仪器感测关于电子装置I的第一振动カ是10N，且振动感测单元12感测关于电子装置I的第二振动カ是SN，则第一振动カ与第二振动カ的差值就是2N。换句话说，由于振动测试仪器感测关于电子装置I的第一振动力就是电子装置I的实际振动力，因此振动感测单元12的感测算法所算出的第二振动カ需再加上2N，才会符合电子装置I的实际振动力。需说明的是，若第二振动カ等于第一振动力，则可以第一振动カ与第二振动カ的差值等于O修正振动感测単元12的感测算法，或不修正振动感测単元12的感测算法，视实际应用而定。若第二振动カ等于第一振动カ，则执行步骤S20，重复步骤SlO至S16，以多个不同的预设振动カ使电子装置I产生振动，以计算多个第一振动カ与多个第二振动カ的多个差值。最后，执行步骤S22，根据第二振动カ与差值的对应关系，建立振动测试算法100。请參考图3，图3是振动力与工作电流的对应关系图。如图3所示，在横轴设定用以使电子装置I产生预设振动力的五个工作电流11-15(其中，15是电子装置I能正常振动的最大工作电流)，振动测试仪器感测关于电子装置I对应此五个工作电流11-15的第一振动カ是fel_fe5，且振动感测单元12感测关于电子装置I对应此五个工作电流11_15的第ニ振动カ是fzl-fz5(以Z轴向的振动カ为例，X、Y轴向的振动カ可以此类推)，则fel-fe5和fzl-fz5的差值就是fdl-fd5。需说明的是，工作电流11-15可施加于电子装置I的振动単元18，以使电子装置I本身产生振动，或者工作电流11-15可施加于上述的振动平台，以带动电子装置I产生振动。工作电流是13时，若振动测试仪器感测到的第一振动カfe3是19N，且振动感测单元12感测到的第二振动カfz3是18. 4N，则两者的差值fd3就是O. 6N。因此，若电子装置I的振动感测単元12感测到18. 4N的振动力，电子装置I的处理单元16就会根据振动测试算法100计算对应振动力18. 4N的补偿值O. 6N,将振动力18. 4N与补偿值O. 6N相加以产生补偿后振动カ19N，并且将补偿后振动カ19N显示于显示单元14上。工作电流是14时，若振动测试仪器感测到的第一振动カfe4是22N，且振动感测单元12感测到的第二振动カfz4是21. 7N,则两者的差值fd4就是O. 3N。此时，电子装置I的处理单元16就会根据振动测试算法100计算对应振动力21. 7N的补偿值O. 3N，将振动力21. 7N与补偿值O. 3N相加以产生补偿后振动カ22N，并且将补偿后振动カ22N显示于显示单元14上。换句话说，第一振动カfel_fe5与第二振动カfzl_fz5的差值fdl_fd5就是本发明的振动测试算法100用以补偿电子装置I的振动感测単元12所感测到的振动カ的补偿值。需说明的是，若电子装置I的振动感测単元12所感测到的振动カ介于fz3与fz4之间，则可根据内差法计算介于fd3与fd4之间的补偿值。此外，在所需的工作电流范围内测试越多组第一振动カ与第二振动カ(例如，可在图3中的工作电流0-15范围内选取十个工作电流来测试)，则所获得的补偿值就越精确。根据上述技术方案，本发明的具有振动测试功能的电子装置及用以建立振动测试·算法的方法至少具有下列优点及有益效果本发明提供用以建立振动测试算法的方法，并且将此振动测试算法安装于电子装置中，以使电子装置具有振动测试功能。因此，于生产大量的电子装置时，就可以利用每一台电子装置的振动测试功能自动测试电子装置本身的振动カ大小，以对大量的电子装置进行百分之百的检验。举例而言，在生产大量的本发明的电子装置时，可事先在每一台电子装置的测试界面下设定振动カ规格(例如，10N±1N)。接着，开启电子装置的振动单元产生振动，处理单元就会根据上述作用原理计算出对应的振动力，若计算出的振动カ落在事先设定的振动カ规格范围内，则处理単元可控制显示単元显示合格,反之，则控制显示单元显示不合格，表示此电子装置的振动单元质量有问题或电子装置没有组装好，以使作业人员可据以找出原因。此外，使用者可利用电子装置的振动测试功能来获取电子装置所产生的振动カ数据，以了解所使用的电子装置的实际振动强度。使用者也可以根据获取的振动カ数据与对应的使用感受来设定所需的振动强度。再者，使用者还可利用电子装置的振动测试功能来测试其它电子装置的振动强度。举例而言，使用者可将本发明的电子装置以及另一具有振动功能的电子装置邻近放置于同一平面上(例如，桌面)，在具有振动功能的电子装置开启振动后，本发明的电子装置就可以测试出此电子装置的振动カ(相对值而非绝对值)，例如5N。同理，使用者可利用本发明的电子装置测试出另一具有振动功能的电子装置的振动力，例如SN。此时，使用者就可以比对此两电子装置的振动カ的强弱关系。以上所述仅为本发明的优选实施例，凡依本发明权利要求所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.ー种具有振动测试功能的电子装置，其特征在于，所述具有振动测试功能的电子装置包括 记忆单元，用以存储振动测试算法； 振动感测単元，用以感测振动カ； 显示单元；以及 处理单元，电连接于所述记忆单元、所述振动感测单元与所述显示単元，用以根据所述振动测试算法计算对应所述振动カ的补偿值，将所述振动力与所述补偿值相加以产生补偿后振动力，并且将所述补偿后振动カ显示于所述显示单元上。
2.如权利要求I所述的具有振动测试功能的电子装置，其特征在于，所述振动测试算 法包括多个振动力与多个补偿值的对应关系。
3.如权利要求I所述的具有振动测试功能的电子装置，其特征在于，所述振动感测单元是加速度传感器。
4.如权利要求I所述的具有振动测试功能的电子装置，其特征在于，所述具有振动测试功能的电子装置还包括振动单元，电连接于所述处理单元，用以产生所述振动力。
5.如权利要求4所述的具有振动测试功能的电子装置，其特征在干，所述振动单元是振动马达。
6.如权利要求I所述的具有振动测试功能的电子装置，其特征在于，所述振动カ是由邻近所述电子装置的另ー电子装置所产生。
7.ー种用以建立振动测试算法的方法，其特征在于，所述用以建立振动测试算法的方法包括 (a)以预设振动カ使电子装置产生振动； (b)利用振动测试仪器感测关于所述电子装置的第一振动カ； (C)利用内建于所述电子装置中的振动感测单元感测关于所述电子装置的第二振动力； (d)判断所述第二振动カ是否等于所述第一振动カ； (e)若所述第二振动カ不等于所述第一振动力，计算所述第一振动カ与所述第二振动力的差值，以所述差值修正所述振动感测单元的感测算法，并且回到步骤(a)； (f)若所述第二振动カ等于所述第一振动力，重复步骤(a)至(d)，以多个不同的预设振动カ使所述电子装置产生振动，以计算多个第一振动カ与多个第二振动カ的多个差值；以及 (g)根据所述第二振动カ与所述差值的对应关系，建立所述振动测试算法。
8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述步骤(a)还包括 将所述电子装置设置于振动平台上；以及 利用所述振动平台以所述预设振动カ使所述电子装置产生振动。
9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述步骤(a)还包括 利用内建于所述电子装置中的振动单元以所述预设振动カ使所述电子装置产生振动。
全文摘要
本发明公开了一种具有振动测试功能的电子装置及用以建立振动测试算法的方法。所述具有振动测试功能的电子装置包括记忆单元、振动感测单元、显示单元以及处理单元，其中所述处理单元电连接于所述记忆单元、所述振动感测单元与所述显示单元。所述记忆单元用以存储振动测试算法。所述振动感测单元用以感测振动力。所述处理单元用以根据所述振动测试算法计算对应所述振动力的补偿值，将所述振动力与所述补偿值相加以产生补偿后振动力，并且将所述补偿后振动力显示于所述显示单元上。因此，于生产大量的电子装置时，就可以利用每一台电子装置的振动测试功能自动测试电子装置本身的振动力大小，以对大量的电子装置进行百分之百的检验。
文档编号G01H17/00GK102840910SQ201110171020
公开日2012年12月26日 申请日期2011年6月23日 优先权日2011年6月23日
发明者陈楠, 吕高峰 申请人:启碁科技股份有限公司, 启基永昌通讯(昆山)有限公司