铝箔片表面缺陷检测系统的制作方法

文档序号:5934377阅读:432来源:国知局
专利名称:铝箔片表面缺陷检测系统的制作方法
技术领域
本实用新型涉及ー种检测系统,尤其是涉及ー种金属铝箔片表面缺陷检测系统。
背景技术
目前,金属铝箔片的生产过程中由于没有在线检测缺陷的装置,只能在生产完成后集中进行复卷,然后视觉检測。该方法需对产品进行再次分卷,容易造成产品损耗,且增加生产管理成本。

实用新型内容本实用新型提出一种跟踪并标记铝箔片表面缺陷所在位置的铝箔片表面缺陷检测系统,以解决产品损耗大、生产管理成本高的技术问题。本实用新型采用如下技术方案实现ー种铝箔片表面缺陷检测系统,其包括用于分别获取铝箔片的上表面和下表面的影像信息的两个检测装置,两个检测装置分别设置在铝箔片的上方和铝箔片的下方;用于对检测装置输出的影像信息进行分析,实时判断铝箔片的表面缺陷的检测处理模块,其分别连接两个检测装置。其中,在铝箔生产线的末端收卷处安装支架,在支架的上横杆和下横杆上分別固定ー个检测装置,而铝箔片位于两个检测装置之间。其中,每个检测装置均通过至少一个用于调节检测成像高度的锁定装置连接上横杆或下横杆。其中,支架的支撑杆与上横杆之间、以及支架的支撑杆与下横杆之间,均连接设置至少ー个用于调节检测成像角度的三角架装置。其中,每个检测装置包括光源基板;安装在光源基板上的若干个LED灯;安装在光源基板ー侧的遮光罩,贴固在光源基板另ー侧的散热板,且散热板的中心位置开设有通孔;其镜头安装在通孔之中的相机。其中,每个检测装置还包括在相机的镜头与铝箔片之间安装光学透明保护层。其中,遮光罩为圆筒状或圆锥筒状。与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果计算机软件会将正常图像资料过滤掉,而仅保留表面有缺陷的铝箔的图像相关信息,实现了缺陷部位数据的快速采集,质检人员通过查看铝箔的缺陷图像信息资料即可判断每卷材料的表面质量,从而減少材料复卷造成的损耗和运行成本。

图I是本实用新型一较佳实施例的结构示意图。图2是本实用新型另ー较佳实施例的照明装置的结构示意图。图3是贴固有光源基板的散热板的结构示意图。
具体实施方式
本实用新型提出的检测系统安装在铝箔生产线的末端收卷处。如图I所示,在铝箔生产线的末端收卷处安装支架1,在支架I的上横杆11和下横杆12上分別固定一个检测装置,以使两个检测装置分别设置在铝箔片2上侧面和下侧面。两个检测装置分别与检测处理模块连接,由两个检测装置分别采集铝箔片2上表面和下表面的影像信息,传送给检测处理模块对影像信息进行分析,以实时判断所生产的铝箔片2的表面质量,减少对铝箔片2进行复卷造成的损耗和运行成本。结合图2和图3所示,每个检测装置具有相同的结构。并且,每个检测装置包括光源基板31 ;安装在光源基板31上的若干个LED灯32 ;安装在光源基板31 —侧的遮光罩33,贴固在光源基板31另ー侧的散热板34,且散热板34的中心位置开设有通孔331 ;相机35,其镜头351安装在散热板34的通孔331之中;且镜头351与铝箔片2之间安装光学透明保护层36,用于对光源基板31和相机35的防尘。 其中,遮光罩33安装在所述支架I上,且遮光罩32为圆筒状(參见图I)或圆锥筒状(參见图2)。另外,其中一个检测装置中的遮光罩33通过至少一个锁定装置4连接上横杆11,另ー个检测装置中的遮光罩33也通过至少一个锁定装置4连接下横杆12,由锁定装置4调节遮光罩33的高度以此调节相机35与铝箔片2之间的高度,达到调节检测成像高度的目的。并且,在支架I中,两根垂直设置的支撑杆13与上横杆11之间、以及支撑杆13与下横杆12之间,均连接设置至少ー个用于调节检测成像角度的三角架装置5。工作吋,铝箔片2从该检测系统的中部进入该检测系统,所述LED灯32发出光线并通过光学透明保护层36照射在铝箔片2上,由检测处理模块控制启动相机35通过镜头351获取铝箔片2表面的影像信息,相机35将获得的影像信息传送至检测处理模块,检测处理模块对影像信息进行识别和分析,识别表面有缺陷的铝箔片2对应的影像信息。这样,质检人员只需查看铝箔片的缺陷影像信息资料即可判断每卷铝箔片2的表面质量。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种铝箔片表面缺陷检测系统,其特征在于,所述检测系统包括 用于分别获取铝箔片的上表面和下表面的影像信息的两个检测装置,两个检测装置分别设置在铝箔片的上方和铝箔片的下方; 用于对检测装置输出的影像信息进行分析,实时判断铝箔片的表面缺陷的检测处理模块,其分别连接两个检测装置。
2.根据权利要求I所述的铝箔片表面缺陷检测系统,其特征在于,在铝箔生产线的末端收卷处安装支架,在支架的上横杆和下横杆上分别固定一个检测装置,而铝箔片位于两个检测装置之间。
3.根据权利要求2所述的铝箔片表面缺陷检测系统,其特征在于,每个检测装置均通过至少一个用于调节检测成像高度的锁定装置连接上横杆或下横杆。
4.根据权利要求2所述的铝箔片表面缺陷检测系统,其特征在于,支架的支撑杆与上横杆之间、以及支架的支撑杆与下横杆之间,均连接设置至少一个用于调节检测成像角度的三角架装置。
5.根据权利要求I或2或3或4所述的铝箔片表面缺陷检测系统,其特征在于,每个检测装置包括光源基板;安装在光源基板上的若干个LED灯;安装在光源基板一侧的遮光罩,贴固在光源基板另一侧的散热板,且散热板的中心位置开设有通孔;其镜头安装在通孔之中的相机。
6.根据权利要求5所述的铝箔片表面缺陷检测系统,其特征在于,每个检测装置还包括在相机的镜头与铝箔片之间安装光学透明保护层。
7.根据权利要求5所述的铝箔片表面缺陷检测系统,其特征在于,遮光罩为圆筒状或圆锥筒状。
专利摘要本实用新型公开一种铝箔片表面缺陷检测系统,其包括一种铝箔片表面缺陷检测系统,其包括用于分别获取铝箔片的上表面和下表面的影像信息的两个检测装置,两个检测装置分别设置在铝箔片的上方和铝箔片的下方;用于对检测装置输出的影像信息进行分析,实时判断铝箔片的表面缺陷的检测处理模块,其分别连接两个检测装置。本实用新型在生产铝箔片时实时检测铝箔片的表面缺陷,减少了铝箔片复卷检测造成的损耗和运行成本。
文档编号G01N21/88GK202533374SQ201120530578
公开日2012年11月14日 申请日期2011年12月16日 优先权日2011年12月16日
发明者章敬文 申请人:章敬文
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