专利名称：同轴连接器的探测器结构的制作方法
技术领域：
本实用新型是有关于一种同轴连接器的探测器结构，尤指一种可有效防止探测器的探针受力冲击损坏的同轴连接器的探测器结构。
背景技术：
同轴端子的设计提供两电子装置对接组装上极大的方便性，但两同轴端子组接时，可能会因为尺寸上的误差或插拔力不足等因素，造成两同轴端子无法对接组设或组设后容易松脱等情形，因此，同轴端子制作完成后需要经过同轴连接器的探测检验，以确保出厂的同轴连接器的品质。请参阅中国台湾公告第1291269号的“同轴连接器及测定用同轴探测器”，即为一般常见的同轴探测器；但是，该中国台湾公告第1291269号的“同轴连接器·及测定用同轴探测器”，其中心导体探测器凸露于外壳，当该同轴探测器往下位移，以与下方插座对应插设时，该凸露于外壳的中心导体探测器最先进入插座，若下方插座的中心孔·稍有偏斜，则该中心导体探测器便会最先承受撞击力，虽然其上方有螺旋弹簧可为其缓冲该撞击力，但由于该中心导体探测器细如针状，结构强度极低，以致该中心导体探测器受到撞击后即使未产生断裂亦会产生歪斜状况，导致其下次再做探测时的不准确性。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种同轴连接器的探测器结构，可有效防止探测器的探针受力冲击损坏。为了达到上述实施目的，本实用新型的技术解决方案是一种同轴连接器的探测器结构，设有主套筒，并于主套筒的套孔内套设有防护套筒，且于主套筒的套孔底端向内成形有抵靠缘，以与防护套筒上端所设止挡缘挡止定位，又于主套筒的套孔上端组设有连结件，并于该连结件组接探针部的探针，且该探针穿设入防护套筒的套孔，并藏于该防护套筒的套孔中，主套筒的套孔内于连结件与防护套筒的止挡缘间设有防护套筒弹性件。上述的同轴连接器的探测器结构，其中，该探针部包含探针及轴套，该轴套设有轴孔，该探针上端穿设于该轴孔内，且该轴套的轴孔底端向内成形有抵靠缘，于该探针上端设有挡块，该挡块与该轴套底端的抵靠缘挡止定位，该轴套上端组接于该连结件，且于该轴套的轴孔内设有探针弹性件，该探针弹性件上端抵于连结件，该探针弹性件底端抵设于该探针的挡块。上述的同轴连接器的探测器结构，其中，该防护套筒的套孔内进一步组设有导柱，且该导柱中心设有导孔，该探针穿设于该导孔中。上述的同轴连接器的探测器结构，其中，该防护套筒的套孔底端形成锥型开口。上述的同轴连接器的探测器结构，其中，该主套筒的连结件的中心进一步设有穿孔，并于该连结件的穿孔中组设有一塞柱，且于该连结件的穿孔底缘与该塞柱间形成一接合段，该探针部的轴套上端组接于该接合段处。[0010]上述的同轴连接器的探测器结构，其中，该同轴连接器的探测器结构进一步包含组立座，该组立座设于该主套筒上方，并于该组立座中心设有通孔，以与该主套筒上端组设的连结件相组接，又于该组立座外侧组设接合盘，该主套筒外侧设有阶梯缘，并于该主套筒套设有主套筒弹性件，该主套筒弹性件上、下端分别抵设于该组立座底部及该主套筒的阶梯缘间。上述的同轴连接器的探测器结构，其中，该组立座上端处进一步设有螺纹段。上述的同轴连接器的探测器结构，其中，该防护套筒的套孔内进一步组设有导柱，该导柱中心设有导孔，该探针穿设于该导孔中。上述的同轴连接器的探测器结构，其中，该防护套筒的套孔内进一步组设有导柱，该导柱中心设有导孔，该探针穿设于该导孔中。上述的同轴连接器的探测器结构，其中，该同轴连接器的探测器结构进一步包含 组立座，该组立座设于该主套筒上方，并于该组立座中心设有通孔，以与该主套筒上端组设的连结件相组接，又于该组立座外侧组设接合盘，该主套筒外侧设有阶梯缘，并于该主套筒套设有主套筒弹性件，该主套筒弹性件上、下端分别抵设于该组立座底部及该主套筒的阶梯缘间。藉此，本实用新型的同轴连接器的探测器主要将探针隐藏于防护套筒内，待防护套筒接触到欲检测的同轴连接器后，方继续动作使探针凸伸出防护套筒，对同轴连接器进行检测，于此，便可有效避免脆弱的探针直接承受冲击力而损坏的缺陷。
图I为本实用新型的立体分解图；图2为本实用新型的立体图；图3为本实用新型的剖视图；图4为本实用新型的检测实施状态图；图5为本实用新型的探针伸出的检测状态图；图6为本实用新型的复位状态图。主要元件标号说明I :组立座11 :螺纹段12 :接合盘121 :锁孔13 :通孔2 :主套筒21 :套孔22 :连结件221 :穿孔222 :塞柱223 :接合段23 :抵靠缘24 :主套筒弹性件25 :阶梯缘3 :防护套筒31 :止挡缘32:防护套筒弹性件 33 :套孔331:开口34 :导柱341 :导孔4 :探针部41 :探针411 :挡块[0035]42 :轴套421 :轴孔422 :抵靠缘43 :探针弹性件5:同轴连接器51 :插孔
具体实施方式
为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本实用新型的具体实施方式
。首先，请参阅图I-图3所示，为本实用新型的同轴连接器的探测器结构，主要由组 立座I、主套筒2、防护套筒3及探针部4所组成；其中该组立座1，于外壁成形有螺纹段11，另外，组立座I位于螺纹段11下方组设有一接合盘12，且于该接合盘12上设有数个锁孔121，又于该组立座I中心设有通孔13 ；该主套筒2，位于组立座I下方，该主套筒2上端套接于组立座I的通孔13，另于主套筒2中心设有套孔21，且主套筒2的套孔21与组立座I的通孔13共同组设一连结件22，又于该连结件22中心设有穿孔221，并于连结件22的穿孔221中组设有一塞柱222，且于该连结件22的穿孔221底缘与塞柱222间形成一接合段223，又主套筒2于其套孔21底端处向内成形有抵靠缘23，另外，主套筒2外套设有主套筒弹性件24，且该主套筒弹性件24上、下二端分别抵设于组立座I底部及主套筒2于外壁适位处所设的阶梯缘25 ；该防护套筒3，套设于主套筒2的套孔21底端，该防护套筒3于其上端外壁处凸设有止挡缘31，以与主套筒2的套孔21底端所设抵靠缘23相互挡止定位，又该防护套筒3于其止挡缘31及主套筒2的套孔21所组设的连结件22底端间组设有防护套筒弹性件32，另于该防护套筒3的套孔33中套设有导柱34，且于该导柱34中心设有一导孔341，又该防护套筒3的套孔33底端形成锥型喇叭状的开口 331 ；该探针部4，包含一探针41，以容设于防护套筒3其导柱34的导孔341中而不外露，另该探针41上端穿设于一轴套42的轴孔421中，且该轴套42的轴孔421底端处向内成形有抵靠缘422，以与探针41上端所设挡块411挡止定位，另该轴套42上端组接于主套筒2的套孔21内所设的连结件22其穿孔221与塞柱222间形成的接合段223处，并且该轴套42的轴孔421内设有探针弹性件43，且该探针弹性件43上端抵于连结件22内的塞柱222，另其底端则抵设于探针41的挡块411。据此，当组装实施时，请再参阅图3所示，将防护套筒3先行套入主套筒2的套孔21中，藉由重力防护套筒3会落至主套筒2底端，此时，防护套筒3其上端外壁处凸设的止挡缘31便会与主套筒2其套孔21底端所设抵靠缘23挡止定位，又将防护套筒弹性件32套入主套筒2的套孔21中，以使该防护套筒弹性件32底端抵设于防护套筒3的止挡缘31，继将探针部4的探针41套设于其轴套42的轴孔421，探针41藉重力下落，而使探针41上端挡块411与轴套42底端所设抵靠缘422挡止定位，又于轴套42的轴孔421中套入探针弹性件43，再将轴套42上端组接于连结件22的接合段223，并抵设于已预先穿接于连结件22其穿孔221的塞柱222，续将与连结件22相组接的探针部4其探针41穿入防护套筒3其导柱34的导孔341而不露出防护套筒3外，同时连结件22底端套设于主套筒2的套孔21，而后将主套筒弹性件24套设于主套筒2外，再将主套筒2上端与组立座I的通孔13相套接，另连结件22上端亦套设组接于组立座I的通孔13，同时主套筒弹性件24的上、下端则分别抵设于组立座I底部及主套筒2的阶梯缘25定位，藉由组立座I的螺纹段11及其接合盘12以与升降动力源相组接。如此，当欲进行同轴连接器的品管检测时，请一并参阅图4所示，将欲检测的同轴连接器5输送至本实用新型的探测器下方，继之，与本实用新型的探测器相组接的升降动力源即驱动本实用新型的探测器往下位移，当本实用新型的探测器到达欲检测的同轴连接器5时，其防护套筒3底端呈锥型的开口 331是先抵触到欲检测的同轴连接器5，以导正本实用新型的探测器与欲检测的同轴连接器5间的相对位置，继之，利用设于主套筒2阶梯缘25与组立座I底部间的主套筒弹性件24，便可自动导正升降动力源施予组立座I上的作用力，而组立座I及与组立座I相组接的主套筒2可以平稳地往下位移动作，并经主套筒2内的连结件22以带动相接的探针部4同步往下位移动作，此时，请一并参阅图5所示，设于主套筒2的连结件22底端及防护套筒3其止挡缘31间的防护套筒弹性件32会受到压缩，另探针部4的探针41则会经防护套筒3的导孔341的导引平直地凸伸出防护套筒3，插设
于欲检测的同轴连接器5的插孔51中，藉以检测该同轴连接器5的插孔51孔位及其内电子元件的电性品质等，且利用探针41后端的探针弹性件43的弹性缓冲，以避免欲检测的同轴连接器5的插孔51孔位及其真直度等不正确时，对探针41造成的损坏。当本实用新型的探测器对欲检测的同轴连接器5完成检测后，请一并参阅图6所示，升降动力源即带动组接的组立座I往上复位，于同时与组立座I相组接的主套筒2亦被带动往上复位，另与主套筒2的连结件22相组接的探针部4亦会随着主套筒2 —并往上复位，而凸伸出防护套筒3的探针41渐缩入防护套筒3内，而于组立座I、主套筒2及探针部4往上复位之际，设于主套筒2的连结件22与防护套筒3的止挡缘31间的防护套筒弹性件32亦渐回复原状，以将防护套筒3往下抵推，而探针41完全缩入防护套筒3内，以待下一同轴连接器5的检测作业。故本实用新型的同轴连接器的探测器将结构强度低的探针41埋设于防护套筒3内，使探测器往下位移，以与下方欲检测的同轴连接器5相接时，先由防护套筒3抵触于欲检测的同轴连接器5上定位后，探针41方由防护套筒3伸出，以对欲检测的同轴连接器5进行同轴连接器5的插孔51孔位及其内电子元件的电性品质等检测，如此一来，即可有效防止结构强度脆弱的探针41因最先承受撞击力而易产生断裂、歪斜等损坏，而导致探测不准确的情形发生。以上所述的仅为本实用新型示意性的具体实施方式
，并非用以限定本实用新型的范围。任何本领域的技术人员，在不脱离本实用新型的构思和原则的前提下所作出的等同变化与修改，均应属于本实用新型保护的范围。
权利要求1.一种同轴连接器的探测器结构，其特征在于，该探测器结构设有主套筒，并于该主套筒的套孔内套设有防护套筒，且于该主套筒的套孔底端向内成形有抵靠缘，该抵靠缘与该防护套筒上端所设止挡缘挡止定位，又于该主套筒的套孔上端组设有连结件，并于该连结件组接探针部的探针，且该探针穿设入该防护套筒的套孔，并藏于该防护套筒的套孔中，该主套筒的套孔内于该连结件与该防护套筒的止挡缘间设有防护套筒弹性件。
2.如权利要求I所述的同轴连接器的探测器结构，其特征在于，该探针部包含探针及轴套，该轴套设有轴孔，该探针上端穿设于该轴孔内，且该轴套的轴孔底端向内成形有抵靠缘，于该探针上端设有挡块，该挡块与该轴套底端的抵靠缘挡止定位，该轴套上端组接于该连结件，且于该轴套的轴孔内设有探针弹性件，该探针弹性件上端抵于连结件，该探针弹性件底端抵设于该探针的挡块。
3.如权利要求2所述的同轴连接器的探测器结构，其特征在于，该防护套筒的套孔内进一步组设有导柱，且该导柱中心设有导孔，该探针穿设于该导孔中。
4.如权利要求3所述的同轴连接器的探测器结构，其特征在于，该防护套筒的套孔底端形成锥型开口。
5.如权利要求4所述的同轴连接器的探测器结构，其特征在于，该主套筒的连结件的中心进一步设有穿孔，并于该连结件的穿孔中组设有一塞柱，且于该连结件的穿孔底缘与该塞柱间形成一接合段，该探针部的轴套上端组接于该接合段处。
6.如权利要求5所述的同轴连接器的探测器结构，其特征在于，该同轴连接器的探测器结构进一步包含组立座，该组立座设于该主套筒上方，并于该组立座中心设有通孔，以与该主套筒上端组设的连结件相组接，又于该组立座外侧组设接合盘，该主套筒外侧设有阶梯缘，并于该主套筒套设有主套筒弹性件，该主套筒弹性件上、下端分别抵设于该组立座底部及该主套筒的阶梯缘间。
7.如权利要求6所述的同轴连接器的探测器结构，其特征在于，该组立座上端处进一步设有螺纹段。
8.如权利要求2所述的同轴连接器的探测器结构，其特征在于，该防护套筒的套孔内进一步组设有导柱，该导柱中心设有导孔，该探针穿设于该导孔中。
9.如权利要求I所述的同轴连接器的探测器结构，其特征在于，该防护套筒的套孔内进一步组设有导柱，该导柱中心设有导孔，该探针穿设于该导孔中。
10.如权利要求I所述的同轴连接器的探测器结构，其特征在于，该同轴连接器的探测器结构进一步包含组立座，该组立座设于该主套筒上方，并于该组立座中心设有通孔，以与该主套筒上端组设的连结件相组接，又于该组立座外侧组设接合盘，该主套筒外侧设有阶梯缘，并于该主套筒套设有主套筒弹性件，该主套筒弹性件上、下端分别抵设于该组立座底部及该主套筒的阶梯缘间。
专利摘要本实用新型是有关于一种同轴连接器的探测器结构，于主套筒的套孔内套设有防护套筒，且于主套筒的套孔底端向内成形有抵靠缘，以与防护套筒上端所设止挡缘挡止定位，又于主套筒的套孔上端组设探针，且该探针穿设藏于防护套筒的套孔中，藉此，将探针隐藏于防护套筒内，待防护套筒接触到欲检测的同轴连接器后，方继续动作使探针凸伸出防护套筒，以对同轴连接器进行检测，据此，以达到有效防止探针直接承受冲击力而损坏的效果。
文档编号G01R1/067GK202720286SQ201220364660
公开日2013年2月6日 申请日期2012年7月26日 优先权日2012年7月26日
发明者陈文锋 申请人:佳楠精密电子股份有限公司