专利名称：一种真空两段式测试结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种直接应用于PCB (Printed Circuit Board,印制电路板)测试行业的测试结构，特别是涉及一种真空两段式测试结构。
背景技术：
现在应用于PCB测试行业的测试结构采用在线测试治具跟上电测试治具这两台治具，或者采用一台治具测试，但一台治具测试在测试下一步时要把不需要的探针拔除才能取得与两台治具相同的效果，这样就要花费很多时间且对治具的探针损害很大，如果使用两台治具则会增加测试成本和空间。·
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种真空两段式测试结构，其降低制造成本和减小空间，且对探针没有任何影响，还能快速的转换测试。本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的一种真空两段式测试结构，其特征在于，其包括上针板、下针板、电磁铁、上模挂钩、下模钩座、长针、短针、驱动板，上针板、下针板分别位于一个印制电路板的上下两侧，长针的长度大于短针的长度，电磁铁位于一个下针板的一端，上模挂钩与下模钩座连接，下模钩座与电磁铁电连接，长针、短针位于印制电路板的下方且与下针板垂直，上模挂钩、上针板都固定在驱动板的下方。优选地，所述印制电路板由一个上载板和一个下载板夹住，上载板位于上针板的下方。本实用新型的积极进步效果在于本实用新型降低制造成本和减小空间(即可以省去一台治具的成本及空间)，且两次测试都不需要进行拔针，对探针没有任何影响，还能快速的转换测试，即缩短测试时间和提高测试效率。
图I为本实用新型真空两段式测试结构的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图给出本实用新型较佳实施例，以详细说明本实用新型的技术方案。如图I所示，本实用新型真空两段式测试结构包括上针板I、下针板3、电磁铁6、上模挂钩7、下模钩座8、长针9、短针10、驱动板11，上针板I、下针板3分别位于一个印制电路板(PCB) 5的上下两侧，长针9的长度大于短针10的长度，电磁铁6位于一个下针板3的一端，上模挂钩7与下模钩座8连接，下模钩座8与电磁铁6电连接，长针9、短针10位于印制电路板5的下方且与下针板3垂直，上模挂钩7、上针板I都固定在驱动板11的下方。印制电路板5由一个上载板2和一个下载板4夹住,上载板2位于上针板I的下方。长针、短针可以由铍铜镀金制成。[0010]本实用新型根据长针跟短针测试理论，第一次在线测试时就把长针跟短针一起接触PCB，这样可以把所有网络能测试到。第二次上电测试时上针板升至一定距离时，电磁铁通电卡住上针板使上针板不能完全升完，具体来说电磁铁驱动上模挂钩使其与下模钩座固定不动，这样就只能把长针接触到PCB，不需要测试的东西就不会通上电，从而就不需要拔掉短针。本实用新型只采用一台治具进行测试，降低制造成本和减小空间(即可以省去一台治具的成本及空间)，且两次测试都不需要进行拔针，对探针没有任何影响，还能快速的转换测试，即缩短测试时间和提高测试效率。 本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改型和改变。因此，本实用新型覆盖了落入所附的权利要求书及其等同物的范围内的各种改型和改变。
权利要求1.一种真空两段式测试结构，其特征在于，其包括上针板、下针板、电磁铁、上模挂钩、下模钩座、长针、短针、驱动板，上针板、下针板分别位于一个印制电路板的上下两侧，长针的长度大于短针的长度，电磁铁位于一个下针板的一端，上模挂钩与下模钩座连接，下模钩 座与电磁铁电连接，长针、短针位于印制电路板的下方且与下针板垂直，上模挂钩、上针板都固定在驱动板的下方。
2.如权利要求I所述的真空两段式测试结构，其特征在于，所述印制电路板由一个上载板和一个下载板夹住，上载板位于上针板的下方。
专利摘要本实用新型公开了一种真空两段式测试结构，其包括上针板、下针板、电磁铁、上模挂钩、下模钩座、长针、短针、驱动板，上针板、下针板分别位于一个印制电路板的上下两侧，长针的长度大于短针的长度，电磁铁位于一个下针板的一端，上模挂钩与下模钩座连接，下模钩座与电磁铁电连接，长针、短针位于印制电路板的下方且与下针板垂直，上模挂钩、上针板都固定在驱动板的下方。本实用新型降低制造成本和减小空间，且对探针没有任何影响，还能快速的转换测试。
文档编号G01R1/067GK202794252SQ20122048644
公开日2013年3月13日 申请日期2012年9月21日 优先权日2012年9月21日
发明者张艳 申请人:张艳